專利名稱：盤盒和盤驅動器的制作方法
技術領域：
本發明涉及用于接收光盤等信息記錄/再現介質的盤片和用于在/自盤片上記錄/再現信息的盤驅動器，特別涉及具有指示盤片種類的改進的鑒別裝置的盤盒和盤驅動器。
背景技術：
近年來，在盤驅動器中使用的、用于接收光盤或磁光盤等記錄/再現介質的盤盒，被廣泛地用作圖像和聲音的記錄/再現裝置。
隨著多媒體技術的發展和對大容量盤盒的需求，各種具有改進記錄密度的盤盒被制作出來。例如，制作出了各種具有不同記錄密度的用于DVD-RAM的盤盒。盤片的實例包括在盤片一個側面記錄信息的普通單面盤片，在盤片的前后側面記錄信息的雙面盤片，在一個側面上形成雙重記錄層并在每個記錄層上記錄信息的單面盤片，將具有雙記錄層的單面盤片施加到盤片的兩側所構成的具有雙記錄層的雙面盤片，以及具有窄信道間距的單面盤片。
當記錄密度改變時，在盤驅動器中使用的記錄和再現方法也要改變。例如，在盤驅動器中記錄和再現信息的方法根據地盤片上的信道間距格式和記錄層而變化。因此，在將盤盒安裝到盤驅動器中時需要鑒別盤盒種類的裝置。
圖1所示的用于鑒別盤片種類的裝置在日本特許公開第11-120733A中公開。參看圖1，鑒別盤片種類的鑒別磁體5設置在盤盒1上，盤盒1將盤片2存放位于殼體3中。磁傳感器7設置在盤驅動器6內，以檢測鑒別磁體5。當盤盒1安裝到盤驅動器6中時，磁傳感器7檢測鑒別磁體5的磁場以確定盤盒的種類，其中的盤盒是大容量盤盒。磁傳感器7將結果傳送給盤驅動器6的控制器(未示出)，以根據盤盒的種類進行操作。鑒別磁體5不設置在小容量盤盒上。在這種情況下，當小容量盤盒安裝在盤驅動器6中時，磁傳感器7檢測不到磁場，于是所裝的盤盒被鑒別為小容量盤盒。
常規方法通過根據鑒別磁體5存在與否來設定磁傳感器7的接通/斷開，從而鑒別盤盒的種類。所以，常規方法只能識別諸如大容量盒和小容量盒等兩種盤盒。當用常規方法鑒別多種盤盒時，磁體數目根據盤盒的種類數目而變化，多個磁傳感器7被設置以檢測所設置的最大數目的磁體。而后，根據磁傳感器7的數目鑒別盤盒的種類。在其它情況下，鑒別磁體5的磁場基于盤盒的種類而變化，同時需要在磁傳感器7中設置精密電路以區分鑒別磁體5的磁場強度。
但是，增加磁體和磁傳感器的數目將導致增大盤驅動器的尺寸和重量、同時增加制造和生產成本。另外，在設置精密鑒別電路需要之外而對鑒別磁體的磁場強度的改變會因磁體磁場強度的下降而錯誤地鑒別盤盒的種類。因此，需要一種新的、結構簡單的盤盒和盤驅動器，能鑒別各種盤盒。
發明內容
為了解決上述問題，本發明的目的是提供一個盤盒和盤驅動器，以便通過簡單的結構，鑒別各種盤盒。
為了實現本發明的上述目的，盤盒具有一個用作信息記錄介質的盤片和一個接收該盤片的殼體，該殼體包括反射部分，反射部分將入射光反射到光檢測器，以便利用反射光的特性鑒別盤片種類。
為了實現本發明的上述目的，盤驅動器包括一個記錄/再現單元，用于在盤盒中的盤片上記錄/再現信息；一個光檢測器，通過向盤盒的反射部分發射光束，并檢測從反射部分反射的光束而鑒別盤片種類。
下面結合優選實施例所作為的詳細說明將使本發明的上述目的和優點變得更加清楚，在附圖中圖1是具有常規盤片鑒別裝置的盤盒和盤驅動器的透視圖；圖2是具有本發明實施例的盤片鑒別裝置的盤盒和盤驅動器的透視圖；
圖3到圖5是表示圖2所示盤片鑒別裝置實例的剖視圖；圖6是具有本發明第二實施例的盤片鑒別裝置的盤盒和盤驅動器的透視圖；圖7到圖9是表示圖6所示盤片鑒別裝置實例的剖視圖；圖10是具有本發明第三實施例的盤片鑒別裝置的盤盒和盤驅動器的透視圖；圖11A和11B是表示圖10所示盤盒的主體部分的放大透視圖；圖12是表示圖10所示盤片鑒別裝置實例的剖視圖；圖13是具有本發明第四實施例的盤片鑒別裝置的盤盒和盤驅動器的透視圖；圖14是表示圖13所示盤片鑒別裝置實例的剖視圖。
具體實施例方式
圖2到5表示具有本發明優選實施例的盤片鑒別裝置的盤盒和盤驅動器。
參看圖2，盤盒10將用作信息記錄/再現介質的盤片12放在殼體11中。盤盒10在其上、下表面具有反射部分13，以便反射來自預定光源的入射光。通過附著或者印制能夠反射光束的標簽，或者涂覆由鋁構成的反射膜，來構成反射部分13，用以對盤片12的種類進行鑒別。反射部分13的角度根據盤片12的種類而變化。換言之，反射部分13可如圖3所示地與殼體11的水平面平行，或如圖4和5所地以預定角度傾斜。由于反射光束根據光束反射角的變化而變化，所以通過檢測反射光束的變化可鑒別盤片的種類。其詳細結構將在下文說明。盤盒10還包括可使盤驅動器100的銷114進入的孔14、和開/閉活門15。
上述盤盒130被安裝在托盤130上并插入盤驅動器100。盤驅動器100具有借助預定凸輪(未示出)沿A、B方向轉動的轉動底架110。轉動底架110包括轉動臺112，其上可安裝盤片12；主軸電動機111，用于轉動轉動臺112；記錄/再現單元，具有用于在/從盤片12記錄/再現信息的光學頭113；光學檢測器120，用于向反射部分13發射光束并檢測其反射光束，以鑒別盤片12的種類。當托盤130如圖2所示地從盤驅動器100彈出時，轉動底架110沿A方向轉動而下降。當托盤130插入盤驅動器100時，轉動底架110沿B方向轉動而上升，以便將盤盒10的盤片12安裝在轉動臺112上，同時銷114進入孔14。
當盤盒10安裝到盤驅動器100中時，光檢測器120位于反射部分13a、13b、和13c的下面，如圖3-5所示。在這種情況下，光檢測器120由發光二極管(LED)123和相對LED123對稱設置的第一和第二光檢測器121和122構成。由第一和第二光檢測器121和122檢測的信號在差動放大器124中求和并作為預定結果輸出。
下面說明利用反射部分13和光檢測器120對盤片種類進行鑒別的過程。當通過安放在托盤130上而將盤盒10插入盤驅動器100時，轉動底架110沿B方向轉動而上升，以便將盤片安裝在轉動臺112上。在這種情況下，光檢測器120位于反射部分下面。在反射部分13a如圖3所示地與殼體11的水平面平行的情況下，當LED123向反射部分13a發射光束時，光束從反射部分13a對稱地反射到第一和第二光檢測器121和122。于是，第一和第二光檢測器121和122分別接收相同數量的反射光束，差動放大器124輸出的求和結果為零。根據該結果，盤驅動器100將安裝在盤驅動器100內的盤盒10中的盤片12鑒別為具有水平的用作鑒別標記的反射部分13a的A型盤片。
在盤片10具有如圖4所示的向右側傾斜的反射部分13b的情況下，當從LED123發射的光束反射到第一和第二光檢測器121和122時，第二光檢測器122接收較大量的反射光。因此，差動放大器124輸出的求和結果為負值。根據該結果，盤驅動器100將安裝在盤驅動器100內的盤盒10中的盤片12鑒別為，具有向右側傾斜的用作鑒別標記的反射部分13b的B型盤片。
在盤片10具有如圖5所示的向左側傾斜的反射部分13c的情況下，當從LED123發射的光束反射到第一和第二光檢測器121和122時，第一光檢測器121接收較大量的反射光。因此，差動放大器124輸出的求和結果為正值。根據該結果，盤驅動器100將安裝在盤驅動器100內的盤盒10中的盤片12鑒別為，具有向左側傾斜的用作鑒別標記的反射部分13c的C型盤片。
由于反射部分13的傾斜改變了反射角度，所以差動放大器輸出不同的結果。因此，由于每個反射角對應一種盤片，所以反射部分13完全可作為鑒別盤片種類的鑒別標記。
另外，通過改變反射部分所反射的光量，可形成較多的組合。如果改變反射部分13的顏色，則不需改變反射角即可變化反射量。所以，由于可從差動放大器124輸出多個值，因此，根據對輸出值進行的標度，能夠鑒別出盤片的種類。在圖3所示的水平反射部分的情況下，由于不論反射量的變化如何，差動放大器124的輸出均是零，所以改變反射部分13的顏色的方法不能用于圖3所示的水平反射部分13a。為了改變反射光束的量，反射部分13的材料、面積以及顏色均可被改變。結果，通過改變反射光束的量可使反射部分13用作鑒別標記。尤其是，為了鑒別各種盤片，當用于改變反射光束量的方法與用于改變反射角度的方法組合時，可增加從差動放大器124輸出值的數量。
在圖2-5所示的優選實施例中，反射部分13設置在殼體11的上、下表面，這是考慮到盤盒10中的盤片12是雙面盤片的情況。所以，不管盤盒10的插入狀態如何，光學檢測器120均能鑒別盤片12的種類。如果用于單面盤片的盤盒以相反的狀態插入，則檢測不到反射部分，從而產生錯誤信息。因此，用戶可判別以相反狀態插入的盤盒。
圖6-9表示具有本發明第二實施例的盤片鑒別裝置的盤盒和盤驅動器。在圖6-9中，相同的標號表示優選實施例中相同的部件。
第二實施例中，除反射部分13d、13e和13f和光學檢測器120分別安裝在盤盒10和盤驅動器100的側面之外，其他結構與第一優選實施例相同。
當通過將盤盒10安裝在托盤130上而插入盤驅動器100時，轉動底架沿B方向轉動而上升，以便將盤片12安裝到轉動臺112上。在這種情況下，光學檢測器120位于反射部分的側面。在如圖7所示的反射部分13d沿平行方向設置的情況下，從LED123向反射部分13d發射的光束對稱地反射到第一和第二光檢測器121和122。所以，差動放大器124輸出的求和結果為零。根據該結果，盤驅動器100將安裝在盤驅動器100內的盤盒10中的盤片12鑒別為具有水平的用作鑒別標記的反射部分13d的A型盤片。
在盤片10具有如圖8所示的向右側傾斜的反射部分13e的情況下，當從LED123發射的光束反射到第一和第二光檢測器121和122時，第二光檢測器122接收較大量的反射光。因此，差動放大器124輸出的求和結果為負值。根據該結果，盤驅動器100將安裝在盤驅動器100內的盤盒10中的盤片12鑒別為，具有向右側傾斜的用作鑒別標記的反射部分13e的B型盤片。
在盤片10具有如圖9所示的向左側傾斜的反射部分13f的情況下，當從LED123發射的光束反射到第一和第二光檢測器121和122時，第一光檢測器121接收較大量的反射光。因此，差動放大器124輸出的求和結果為正值。根據該結果，盤驅動器100將安裝在盤驅動器100內的盤盒10中的盤片12鑒別為，具有向左側傾斜的用作鑒別標記的反射部分13f的C型盤片。
由于通過改變反向部分的材料、尺寸或顏色可改變從反射部分所反射的光束的數量，所以可形成較多的組合。
圖10-12表示具有本發明第三實施例的盤片鑒別裝置的盤盒和盤驅動器。
如圖10-12所示，存放盤片12的殼體11具有包括多個反射器A1、A2、A3、B1、B2和B3的反射部分16。反射器A1、A2、A3、B1、B2和B3位于埋置在殼體11內的槽11a中，以避劃傷反射器A1、A2、A3、B1、B2和B3。在這種情況下，反射器A1、A2、A3、B1、B2和B3可通過附著或者印制能反射光束的標簽或涂覆由鋁構成的反射膜而形成。通過改變反射器A1、A2、A3、B1、B2和B3的顏色、材料或面積而改變從反射器A1、A2、A3、B1、B2和B3所反射的光束量，從而鑒別盤片12的種類。特別是，在本發明的實施例中，可組合從反射器A1、A2、A3、B1、B2和B3得到的信號，來對盤片12的種類進行鑒別。例如，通過給殼體11上的反射器A1和B1設置滑動開/閉部件16a而使反射器A1和B1用于鑒別盤片12的可記錄性。如圖11A所示，當開/閉部件16a覆蓋反射器A1和B1時，反射光束量減小。如圖11B所示，當開/閉部件16a不覆蓋反射器A1和B1時，反射光束量增加。利用反射光束量的差異可鑒別盤片12的可記錄性。反射器A2和B2用于鑒別面對光學頭的盤片12的表面的狀態，即作為操作表面或是非操作表面。在這種情況下，根據從反射器A2和B2所反射的光束量，可鑒別盤片12的操作表面或非操作表面。此外，反射器A3和B3用于鑒別盤片12的容量。
當本發明第三實施例的盤盒10安裝在盤驅動器100中時，光學檢測器150向反射部分16發射光束，以檢測從反射器A1、A2、A3、B1、B2和B3反射的光束，如圖12所示。在這種情況中，光檢測器150安裝在盤驅動器100的蓋140上，并包括LED151和光檢測器152。如果高數值光束被反射器A1、A2和A3反射，則控制器將所裝盤片的狀態識別為高密度盤片、且操作表面面對光學頭113。如果盤盒10以相反狀態安裝并從反射器B1、B2和B3反射高、低和高數值光束，則控制器將所裝盤片的狀態識別為高密度盤片、且非操作表面面對光學頭113。于是，控制器輸出安裝錯誤信號。雖然本實施例示出將光學檢測器設置在蓋140上來檢測盤盒10上表面上的反射部分16，但是，光學檢測器150也可設置在轉動底架110上來檢測盤盒10上表面上的反射部分16。
圖13和14表示具有本發明第四實施例的盤片鑒別裝置的盤盒和盤驅動器。圖13和14中的相同標號表示與第三實施例中相同的部件。
除了反射部分16和光學檢測器150分別設置在盤盒10和盤驅動器100的側面上之外，第四實施例的盤盒和盤驅動器的結構與第三實施例的相應結構相同。
當本發明第四實施例的盤盒安裝到盤驅動器100中時，包括LED151和光檢測器152的光學檢測器150向反射部分16發射光束，以檢測從反射器A1、A2、A3、B1、B2和B3反射的光束，如圖13所示。
如果高數值光束被反射器A1、A2和A3反射，則控制器將所裝盤片的狀態識別為高密度盤片，且操作表面面對光學頭113。如果盤盒10以相反狀態安裝并從反射器B1、B2和B3反射高、低和高數值光束，則控制器將所裝盤片的狀態識別為高密度盤片，且非操作表面面對光學頭113。于是，控制器輸出安裝錯誤信號。
本發明的上述盤盒和盤驅動器通過改變從盤盒上的反射部分所反射光束的角度和數值，而提供用于鑒別盤片種類的多個鑒別標記。于是，可借助用光學反射器檢測反射光束的簡單結構鑒別盤片的種類。
權利要求
1.一種盤盒，它具有用作信息記錄介質的盤片和安裝該盤片的殼體，其特征在于，該殼體包括反射部分，所述反射部分將入射光反射到預定的光學檢測器，以便利用反射光束的特性鑒別盤片的種類。
2.如權利要求1的盤盒，其特征在于，針對入射光束，所述反射部分根據盤片種類而具有不同的反射角，以產生反射光束的差異，所述光學檢測器檢測該差異。
3.如權利要求1的盤盒，其特征在于，所述反射部分根據盤片種類而產生不同數量的反射光束，以產生反射光束的差異，所述光學檢測器檢測該差異。
4.如權利要求3的盤盒，其特征在于，所述反射部分根據盤片種類而具有不同的面積來反射光束。
5.如權利要求3的盤盒，其特征在于，所述反射部分根據盤片種類而具有不同的顏色。
6.如權利要求1的盤盒，其特征在于，所述反射部分通過附著反射光束的標簽、印制這種反射標簽以及涂覆反射膜中的至少一種方法形成。
7.如權利要求1的盤盒，其特征在于，所述反射部分至少設置在所述殼體的上、下表面中的一個表面上。
8.如權利要求1的盤盒，其特征在于，所述反射部分設置在所述殼體的側面上。
9.一種盤驅動器，包括一個記錄/再現單元，用于在/從盤盒中的盤片上記錄/再現信息；和一個光學檢測器，通過向盤盒上的反射部分發射光束并檢測該反射部分所反射的光束而鑒別所述盤片的種類。
10.如權利要求9的盤驅動器，其特征在于，所述光學檢測器包括發光器件和接收光的光檢測器。
11.如權利要求10的盤驅動器，其特征在于，至少一對所述接收光的光檢測器相對所述發光器件對稱地設置。
12.一種鑒別盤盒內的盤片種類的方法，包括在盤盒上設置用來鑒別盤片種類的反射部分；和在用來在/從該盤片記錄/再現的盤驅動器中，設置光學檢測器，通過向所述反射部分發射光束并檢測該反射光束而鑒別盤片的種類。
13.如權利要求1的盤盒，其特征在于，所述反射部分包括多個反射器，以便通過組合反射器的反射結果而構成盤片鑒別信號。
14.如權利要求13的盤盒，其特征在于，所述反射器根據盤片種類而產生不同數量的反射光束，從而形成所述反射光束的差異，該差異由所述光學檢測器檢測。
15.如權利要求13的盤盒，其特征在于，所述反射器根據盤片種類而具有不同的面積用來反射光束。
16.如權利要求13的盤盒，其特征在于，所述反射器根據盤片種類而具有不同的顏色。
17.如權利要求13的盤盒，其特征在于，所述反射部分通過附著反射光束的標簽、印制這種反射標簽以及涂覆反射膜中的至少一種方法形成。
18.如權利要求13的盤盒，其特征在于，所述反射部分還包一個開/閉部件，該開/閉部件至少開/閉一個反射器，以便選擇性地阻擋所述光束的輸入和反射。
19.如權利要求13的盤盒，其特征在于，所述反射部分排成一行，并沿與托盤的插入方向相同的方向而設置。
20.如權利要求13的盤盒，其特征在于，所述反射部分至少設置在所述殼體上、下表面中的一個表面上。
21.如權利要求13的盤盒，其特征在于，所述反射部分設置在所述殼體的側面上。
全文摘要
本發明提出一個盤盒和盤驅動器。該盤盒具有用于鑒別盤片種類的反射部分，該盤驅動器具有光學檢測器、以便通過向反射部分發射光束并檢測相應的反射光束而鑒別盤片種類。盤盒和盤驅動器提供多個鑒別標記、以便通過改變從盤盒的反射部分所反射的光束的角度和量值而鑒別盤片種類。因此，盤片的種類、盤片格式的類型、以及盤片的容量均能被鑒別。
文檔編號G11B17/04GK1412767SQ02143279
公開日2003年4月23日 申請日期2002年9月25日 優先權日2001年10月17日
發明者崔漢國, 金宣模, 李容勛, 鄭鐘三, 金石中 申請人:三星電子株式會社