光盤和物理地址格式的制作方法

專利名稱：光盤和物理地址格式的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種用于以高密度記錄信息(例如，數字視頻信息)的光盤介質以及用于該光盤介質的一種光盤裝置和一種光盤再現方法。
背景技術：
近來，光盤介質的記錄密度已經變得不斷增高。一般地，可記錄光盤介質在其中事先有磁道凹槽，信息沿磁道凹槽記錄，即，記錄在磁道凹槽或介于磁道凹槽之間的區域(稱為“凸區”)上。磁道凹槽是正弦狀的擺動(wobble)，并且與基于擺動周期產生的時鐘同步地記錄信息。沿著磁道凹槽提供地址，以便在光盤介質的記錄表面上的規定位置上記錄信息。下面將描述用于提供地址的三個例示結構。
(1)日本公開文本No.6-309672公開了一種光盤，其中，在局部間歇地形成磁道凹槽，并可以將地址信息再現為所謂的預凹坑(pre-pit)。在這種情況下，在磁道凹槽上存在用于記錄信息的單地址區域和單數據區域。
(2)日本公開文本No.5-189934公開了一種光盤，其中，提供了頻率調制擺動，并采用擺動頻率記錄地址信息(子信息)。在這種情況下，將數據信息重寫在地址信息上。
(3)日本公開文本No.9-326138公開了一種光盤，其中，在相鄰磁道凹槽之間形成預凹坑，并由預凹坑形成地址。
考慮到在將來可能需要的更高的記錄密度，所有上述結構都有其自己的問題。
在(1)的結構中，用于數據的空間被地址所需的空間減少(所謂的“額外開銷”)。于是，存儲容量不可避免地被用于地址的空間所減少。
(2)的結構具有下列問題。擺動最初主要是為產生用于記錄信息的時鐘的目的而提供的，因此最好以一單個頻率來形成。當擺動以一單個頻率形成時，可以僅僅通過采用PLL等相乘并同步一個擺動再現信號來產生高度精確的記錄時鐘信號。然而，當擺動具有多個頻率分量時，PLL自身可以適應的頻帶相對于擺動具有一單個頻率的情況需要被減小，以避免PLL的偽鎖定。然后，可能出現不希望的情況，即PLL不能充分地跟隨盤馬達抖動或例如由盤的偏心產生的抖動。這導致抖動留在一個記錄信號中。
在在光盤的記錄表面上形成的記錄薄膜是一個相變薄膜的情況下，隨著重寫被重復，記錄薄膜的S/N比會不合需要地被減小。即使在這個出現時，對于一個較窄頻帶，具有一單個頻率的擺動允許采用帶通濾波器去除噪聲分量。然而，當擺動是頻率調制的時，要通過的頻帶需要被放大，以便考慮所調制的頻率。其結果是，噪聲分量與一個擺動再現信號混合，因此進一步增大抖動。抖動的這樣一種增大不可取，因為隨著記錄密度增大，抖動余量減小。
在(3)的結構中，預凹坑自然影響存儲在相鄰磁道凹槽中的信息的讀。因此，難以提供足夠數目的分別具有足夠長度的預凹坑。因此，存在一種不希望的可能性，即檢測誤差的數目在記錄密度相當高時尤其增大。
考慮到上述問題，本發明的目的是提供一種用于使額外開銷最小并以具有單一頻率的擺動描述地址的光盤介質、用于再現光盤介質的光盤裝置和光盤再現方法。
發明公開依據本發明的一個方面，光盤介質比較一個沿其記錄主信息的磁道凹槽。將磁道凹槽分成多個塊。多個塊中的每一塊包括多個幀。多個幀中的每一幀包括多個規定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動形狀。多個塊中的每一塊具有地址信息。地址信息由至少一片由多個幀中的至少一個的擺動形狀所代表的子信息所組成的串來表示。
在本發明的一個實施例中，多個塊中的每一塊包括多個扇區。多個扇區包括多個幀。地址信息由至少一片由至少一個扇區中包括的多個幀中的至少一個的擺動形狀所代表的子信息所組成的串來表示。
在本發明的一個實施例中，多個塊中的至少一個包括多片地址信息。多片地址信息是相同的。多片地址信息中的每一個由所述至少一片子信息所組成的串來表示。
在本發明的一個實施例中，多片地址信息中的每一個包括一個序號，序號指示各片地址信息在多片地址信息中的次序。
在本發明的一個實施例中，地址信息由多個位表示，多個位由所述至少一個子信息串從低位到高位表示。
在本發明的一個實施例中，多個塊中的每一塊包括多個扇區。多個扇區包括多個幀。地址信息由多個扇區中包括的所述至少一個串表示。指示在多個扇區中的扇區次序的信息由所述至少一片子信息的一部分表示。
在本發明的一個實施例中，指示誤差檢測代碼和誤差校正代碼中的至少一個的信息由所述至少一片子信息的一部分表示。
在本發明的一個實施例中，跟蹤凹槽具有在其中提供的指示多個塊中的每一塊的前端的標識標記。
在本發明的一個實施例中，標識標記通過切斷跟蹤凹槽來提供。
在本發明的一個實施例中，標識標記通過局部改變跟蹤凹槽的寬度來提供。
在本發明的一個實施例中，標識標記通過局部改變擺動形狀的振幅來提供。
在本發明的一個實施例中，多個擺動形狀包括在上升梯度和下降梯度的至少一個上彼此不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀，第一擺動形狀和第二擺動形狀指示彼此不同的子信息片。
在本發明的一個實施例中，多個擺動形狀包括在占空比上彼此不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀，第一擺動形狀和第二擺動形狀指示彼此不同的子信息片。
在本發明的一個實施例中，多個擺動形狀在跟蹤凹槽的一個邊緣上提供。
在本發明的一個實施例中，跟蹤凹槽包括一個指示所述至少一個子信息串的前端和后端中的至少一個的標識標記。
在本發明的一個實施例中，多個塊中的至少一個包括多個所述至少一個子信息串。標識標記指示所述至少一個子信息串的前端。標識標記與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標識標記具有相同的形狀。
在本發明的一個實施例中，多個塊中的至少一個包括多個所述至少一個子信息串。標識標記指示所述至少一個子信息串的前端。至少一個標識標記與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標識標記具有不同的形狀。
在本發明的一個實施例中，標識標記指示所述至少一個子信息串的后端。標識標記通過將在上升梯度和下降梯度中的至少一個上彼此不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀與具有正弦波形狀的第三擺動形狀組合來形成。
在本發明的一個實施例中，多個塊中的至少一個包括多個所述至少一個子信息串。標識標記指示所述至少一個子信息串的后端。標識標記與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標識標記具有相同的形狀。
在本發明的一個實施例中，多個塊中的至少一個包括多個所述至少一個子信息串。標識標記指示所述至少一個子信息串的后端。至少一個標識標記與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標識標記具有不同的形狀。
在本發明的一個實施例中，標識標記通過切斷磁道凹槽的相鄰部分之間的凸區的一部分來提供。
在本發明的一個實施例中，標識標記通過切斷磁道凹槽的相鄰部分之間的凸區來提供。
在本發明的一個實施例中，將單個頻率假數據記錄在標識標記上。
在本發明的一個實施例中，指示地址信息的一個較低位的子信息的片數大于指示地址信息的一個較高位的子信息的片數。
依據本發明的另一個方面，光盤介質將一個記錄再現區域和一個盤管理區域進行比較。記錄再現區域包括沿其記錄主信息的第一磁道凹槽。盤管理區域包括在光盤介質的內側區域和外側區域的至少一個中提供的第二磁道凹槽。第二磁道凹槽包括多個規定擺動形狀。光盤介質的管理信息由多個規定擺動形狀的組合來表示。
在本發明的一個實施例中，多個規定擺動形狀包括在上升梯度和下降梯度中的至少一個上彼此不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀、以及具有正弦波形狀的第三擺動形狀。
在本發明的一個實施例中，第一磁道凹槽包括多個規定擺動形狀。與在記錄和再現區域中相比，在盤管理區域中的指示1位信息的擺動形狀的數目不同。
在本發明的一個實施例中，第一磁道凹槽包括多個規定擺動形狀。第一磁道凹槽和第二磁道凹槽在擺動形狀的頻率上彼此不同。
在本發明的一個實施例中，第一磁道凹槽包括多個規定擺動形狀。第二磁道凹槽具有比第一磁道凹槽大的擺動形狀振幅。
在本發明的一個實施例中，第二磁道凹槽的相鄰部分在π/2×(2n+1)的擺動形狀上具有一個恒定的相差，其中n是一個整數。
在本發明的一個實施例中，第二磁道凹槽具有比第一磁道凹槽大的磁道間距。
在本發明的一個實施例中，標識標記通過改變磁道凹槽中的至少一個擺動形狀的相位來提供。
在本發明的一個實施例中，標識標記通過改變磁道凹槽中的至少一個擺動形狀的頻率來提供。
在本發明的一個實施例中，多個擺動形狀以相同的周期提供。
依據本發明的又一個方面，提供了一種用于再現一個光盤介質的光盤裝置，所述光盤介質包括沿其記錄主信息的磁道凹槽。將磁道凹槽分成多個塊。多個塊中的每一塊包括多個幀。多個幀中的每一幀包括多個規定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動形狀，多個塊中的每一塊具有地址信息。地址信息由至少一片由多個幀中的至少一個的擺動形狀所代表的子信息所組成的串來表示。光盤裝置包括一個變換部分，用于從光盤介質讀取主信息和子信息并產生一個再現信號；一個再現信號計算部分，用于從再現信號產生一個TE信號和一個RF信號；一個基準時鐘信號產生部分，用于從TE信號產生一個基準時鐘信號；一個電平限幅脈沖信號產生部分，用于從TE信號產生一個電平限幅脈沖信號；一個塊標記信號檢測部分，用于從RF信號檢測一個塊標記信號；以及，一個子信息產生部分，用于從基準脈沖信號、電平限幅脈沖信號和塊標記信號產生一個子信息信號。
依據本發明的又一個方面，提供了一種用于再現一個光盤介質的方法，所述光盤介質包括沿其記錄主信息的磁道凹槽。將磁道凹槽分成多個塊。多個塊中的每一塊包括多個幀。多個幀中的每一幀包括多個規定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動形狀，多個塊中的每一塊具有地址信息。地址信息由至少一片由多個幀中的至少一個的擺動形狀所代表的子信息所組成的串來表示。該方法包括如下步驟從光盤介質讀取主信息和子信息并產生一個再現信號；從再現信號產生一個TE信號和一個RF信號；從TE信號產生一個基準時鐘信號；從TE信號產生一個電平限幅脈沖信號；從RF信號檢測一個塊標記信號；以及，從基準脈沖信號、電平限幅脈沖信號和塊標記信號產生一個子信息信號。
附圖簡要說明

圖1顯示了依據本發明的例子1的光盤介質中的磁道凹槽；圖2顯示了依據本發明的例子1的光盤介質；圖3顯示了依據本發明的例子2的光盤介質中的磁道凹槽；圖4顯示了依據本發明的例子3的光盤介質中的磁道凹槽；圖5顯示了依據本發明的例子4的光盤介質中的磁道凹槽；圖6顯示了依據本發明的例子5的光盤介質中的磁道凹槽；圖7顯示了依據本發明的例子6的光盤介質中的磁道凹槽；圖8顯示了依據本發明的例子7的光盤介質中的磁道凹槽；圖9顯示了依據本發明的例子7的光盤介質；圖10顯示了依據本發明的例子7的光盤介質的地址結構；圖11顯示了依據本發明的例子8的光盤介質中的磁道凹槽；圖12顯示了依據本發明的例子8的光盤介質的地址結構；圖13顯示了依據本發明的例子9的光盤介質中的磁道凹槽；圖14顯示了依據本發明的例子9的光盤介質的地址結構；圖15顯示了依據本發明的例子10的光盤介質中的磁道凹槽；圖16顯示了依據本發明的例子7的光盤介質的地址結構；圖17顯示了依據本發明的例子12的光盤介質中的磁道凹槽；圖18顯示了依據本發明的例子12的光盤介質中的磁道凹槽；圖19顯示了依據本發明的例子12的光盤介質中的磁道凹槽；圖20顯示了依據本發明的例子12的光盤介質中的磁道凹槽；圖21顯示了依據本發明的例子13的光盤介質的地址結構；圖22顯示了依據本發明的例子11的光盤介質的地址結構；
圖23A顯示了依據本發明的例子14的光盤裝置的結構；圖23B是顯示依據本發明的例子14的用于再現光盤介質上的信息的方法的流程圖；圖24顯示了依據本發明的例子15的光盤介質；圖25A顯示了依據本發明的例子15的光盤介質中的磁道凹槽；圖25B顯示了依據本發明的例子15的光盤介質中的磁道凹槽；圖26A顯示了依據本發明的例子15的光盤介質中的磁道凹槽；圖26B顯示了依據本發明的例子15的光盤介質中的磁道凹槽；圖27A顯示了依據本發明的例子16的光盤介質中的磁道凹槽；圖27B顯示了依據本發明的例子16的光盤介質中的磁道凹槽；圖28A顯示了依據本發明的例子17的光盤介質中的磁道凹槽；圖28B顯示了依據本發明的例子17的光盤介質中的磁道凹槽；圖29A顯示了依據本發明的例子18的光盤介質中的磁道凹槽；圖29B顯示了依據本發明的例子18的光盤介質中的磁道凹槽；圖30顯示了一個常規光盤介質；圖31顯示了依據本發明的例子20的光盤介質中的磁道凹槽；圖32顯示了依據本發明的例子21的光盤介質中的磁道凹槽；圖33顯示了依據本發明的例子22的光盤介質中的磁道凹槽；圖34顯示了依據本發明的例子14的光盤裝置；圖35顯示了依據本發明的例子19的光盤介質中的磁道凹槽；以及圖36顯示了依據本發明的例子15的光盤介質中的磁道凹槽。
具體實施例方式
此后，將參考附圖以例示方式描述本發明。(例子1)圖2顯示了依據本發明的例子1的光盤介質20。光盤介質20具有一個記錄表面101，在記錄表面101中形成有一個螺旋形磁道凹槽102。如圖1所示，磁道凹槽102的形狀在逐塊基礎上不同。在圖1中，塊標記(標識標記)210是磁道凹槽102中的一個切斷部分，顯示出一個指示每塊的前端的附錄。
將每塊分成N個扇區25(N＝32或16)，將每個扇區25(子塊)分成M個幀#0到#25(M＝26)。每幀(基本單元)以周期方式具有規定數目的擺動26或27。擺動26和27具有彼此不同的規定形狀，并代表子信息(“0”、“1”或“S”)。一種類型的子信息(“0”、“1”或“S”)由一種擺動形狀26或27表示。子信息的類型和擺動形狀(擺動26或27)是一對一的關系。更具體地，擺動26和27都具有通常為鋸齒形的形狀，并具有不同的上升形狀(或上升梯度)和下降形狀(下降梯度)。擺動26或27根據子信息的類型(“0”或“1”)來形成。一串子信息由擺動26和27的組合來表示。
擺動26和27之間的上升梯度和下降梯度上的差別可以容易地由一個差分推挽檢測信號如下來檢測。將一個掃描激光束指向磁道凹槽102，并產生一個差分信號(即，推挽信號)，該差分信號指示由沿垂直于光盤介質20的磁道凹槽102的方向(徑向)劃分的光接收元件的檢測區域接收的光量之間的差。因此，獲得一個具有根據子信息是“0”還是“1”而變化的上升梯度和下降梯度的檢測信號。上升梯度和下降梯度上的這個差別例如可以通過對檢測信號求差分來容易地識別。
于是，子信息的類型可以由作為差分結果而獲得的值的尺寸來檢測。然而，當使用差分時，噪聲分量也自然增大。在具有較差S/N比的光盤介質中，檢測誤差被合理地預期。在這個例子中，擺動26和27的每個模式被重復多次，以便增強檢測的可靠性。
主信息(例如，可重寫用戶數據)從塊標記210開始沿磁道凹槽102被記錄在塊單元241中。塊單元241具有一個規定長度，例如64kB(或32kB)。主信息可以被記錄為記錄標記28。記錄標記28通過執行記錄層的相變來記錄。塊單元是用于信息處理的單元，例如是一個ECC塊。當N＝32時，塊單元241被分成32個扇區25(或當N＝16時是16個扇區25)。每個扇區25是一個具有2kB長度的子塊。當M＝26時，將每個扇區25分成26個幀#0到#25。
一幀是在磁道凹槽102上記錄的信息的基本單元。在圖1中，幀#0由標號22表示，幀#1由標號23表示。如幀22和23所例示的，每幀包括事先以周期方式形成的一種擺動類型。這樣，在每幀22和23中描述1位子信息“0”、“1”或“S”。在每個扇區25中包括的26位(M＝26)子信息組指示對應的塊單元241的塊ID(地址信息)。在幀#0到#25的每一個的前端，記錄一個SYNC標記。SYNC標記是一個被記錄的同步信號，在將主信息記錄為記錄標記28時表示每一幀主信息的前端。擺動周期用作用于使光盤介質20的旋轉同步和記錄信號的基準時鐘，也用作再現地址信息的同步信號。
除了表示地址的信息之外，塊ID可以包括用于校正或檢測檢測信號的誤差校正代碼、誤差檢測代碼或奇偶校驗碼等。
幀22只包括具有平緩上升梯度和陡峭下降梯度的擺動26。幀23只包括具有陡峭上升梯度和平緩下降梯度的擺動27。例如，當一幀包括8個擺動時，一個扇區25包括8×26＝208個擺動(包括擺動26和27)。
只要208個擺動26和27之間的上升梯度和下降梯度中的差別可以被檢測為由噪聲引起的檢測誤差，記錄在扇區25中的子信息組就可以被正確地識別。讀的可靠性通過重復同一塊ID32次(當N＝32時)或16次(當N＝16時)來進一步提高。依據用于識別子信息組的例示特定技術，在每次上升和每次下降時采樣和保持推挽信號的差分波形，并將上升梯度的邏輯積和下降梯度的邏輯積相互進行比較。這樣，取消噪聲分量，可以只提取出子信息分量。
這樣，塊標記210是磁道凹槽102中的切斷部分，因此重寫塊標記210中的主信息不是最可取的。其原因是因為反射的光量根據是否有凹槽而變化非常大，這個顯著差別充當對一個再現信號的外部干擾。在這個例子中，將包括塊標記210的區域指定為VFO記錄區域21。VFO記錄區域21用于記錄VFO211，VFO211是用于調整用于再現記錄在VFO記錄區域21之后的主信息的PLL的頻率的一單個頻率信號。即使在有輕微的外部波動時，VFO211僅僅充當一個局部抖動，不直接引起任何誤差。另外，VFO211具有一單個頻率，因此可以從頻率上分離由塊標記210引起的外部干擾。
在這個例子中，一個塊單元241(一塊)被分成32個(或16個)扇區25，每個扇區25被分成26幀(幀#0到#25)。在幀#0到#25的每一個中，事先形成具有對應于子信息的形狀的擺動26或27。由于記錄在一個扇區25中的子信息組表示一個塊ID，所以可以在塊單元241中包括的32個(或16個)扇區25中重復地形成同一塊ID(地址信息)。
在這種情況下，子信息組可以包括一個指示重復的塊ID(地址信息)的次序的序號，即每個塊ID是否是第五、第十、等等。這種序號可用于根據大多數最終確定地址號。另外，這樣一個號提供用于信號處理的有用信息，例如，塊中的哪個扇區25現在在被讀取，或塊中的哪一子信息組是不正確的。
在具有多個記錄表面或層的光盤介質的情況下，記錄層的序號可以被包括在子信息組中。這樣，記錄表面可以被容易地識別。
如上所述，在這個例子中，將一個信息塊分成32(N＝32)或16(N＝16)個扇區，將一個扇區分成26(M＝26)幀。在26幀的每一幀中，事先形成對應于子信息的擺動形狀。在塊中的32(或16)個扇區中重復地形成一個塊ID(地址信息)。因此，沒有任何額外開銷地或不需要在凹槽之間所必需的預凹坑來形成一個地址。
雖然擺動根據子信息類型而具有不同的上升梯度和下降梯度，這個例子中所用的擺動具有一個恒定單個頻率。因此，具有減少的抖動的用于記錄的時鐘信號可以首先采用一個只允許擺動頻率通過以便去除噪聲分量的帶通濾波器然后使用PLL同步和相乘所得的頻率來提取出來。
塊ID的讀取可靠性可以通過重復同一塊ID來提高。
在這個例子中，與幀的數目一樣，塊ID具有26位。地址信息的位數并不限于26個，而是可以是例如依據要記錄在光盤介質上的數據量或誤差校正代碼的類型和系統的任何所需數目。
在這個例子中，對于N＝32，將塊單元分成32個扇區(或對于N＝16是16個扇區)。本發明并不限于這樣一個扇區數。
在這個例子中，對于M＝26，子信息被記錄在每個扇區中包括的26幀中。本發明并不限于這樣一個幀數。
在這個例子中，子信息在被調制成鋸齒形狀的擺動之后被記錄。本發明并不限于這樣一個擺動形狀。如下所述，子信息可以在被調制成具有例如如圖4或7中所示形狀的擺動之后被記錄。
在這個例子中，塊標記是磁道凹槽的切斷部分。本發明并不限于這樣一種形式的塊標記。例如，如下所述，塊標記可以被調制成具有例如如圖5或6中所示形狀的擺動。(例子2)圖3顯示了依據本發明的例子2的磁道凹槽10。代替圖1所示的磁道凹槽102，磁道凹槽10可以在圖2所示的光盤介質20中形成。在這個例子中，除了幀22中指示子信息“0”的擺動26和幀23中指示子信息“1”的擺動27之外，磁道凹槽10具有指示記錄在幀24中的子信息“S”的擺動28。與在例子1中一樣，地址信息由子信息“0”和子信息“1”的組合來表示。子信息“S”在塊的前端提供，用于代替圖1所示的塊標記210來指示塊的前端。這樣，可以消除塊標記210所需的額外開銷。在這個例子中，表示子信息“S”的擺動28具有陡峭的上升梯度和陡峭的下降梯度。(例子3)圖4顯示了依據本發明的例子3的磁道凹槽11。代替圖1所示的磁道凹槽102，磁道凹槽11可以在圖2中所示的光盤介質20中形成。在第一和第二個例子中，對應于一種子信息類型周期性地重復一種擺動類型，將具有不同上升梯度和不同下降梯度的擺動用于不同類型的子信息。在這個例子中，形成擺動29和30，以便依據子信息的類型具有不同的占空比。更具體地，如圖4所示，指示記錄在幀32中的子信息“0”的擺動29在波峰或波谷中的一個上較寬(在圖4的例子中是波谷)，指示記錄在幀34中的子信息“1”的擺動30在波峰或波谷中的另一個上較寬(在圖4的例子中是波峰)。這樣一個特征消除了對用于識別子信息類型的再現信號差分的必要性。再現信號可以通過采用時鐘定時器等測量占空比來簡單地識別。因此，可以減輕噪聲的影響。(例子4)圖5顯示了依據本發明的例子4的磁道凹槽200。代替圖1所示的磁道凹槽102，磁道凹槽200可以在圖2中所示的光盤介質20中形成。在例子1中，切斷磁道凹槽102的一部分，以便形成塊標記210。在這個例子中，采用通過局部增大磁道凹槽200的寬度而形成的塊標記212來替代塊標記210。為了記錄或再現主信息，可以通過檢測塊標記212來識別塊的前端。塊標記212的使用避免磁道凹槽200被切斷，因此主信息也可以被記錄在塊標記212中。其結果是，可以減少額外開銷。(例子5)圖6顯示了依據本發明的例子5的磁道凹槽201。代替圖1所示的磁道凹槽102，磁道凹槽201可以在圖2中所示的光盤介質20中形成。在例子1中，切斷磁道凹槽102的一部分，以便形成塊標記210。在這個例子中，采用通過局部增大擺動的振幅而形成的塊標記213來替代塊標記210。為了記錄或再現主信息，可以通過檢測塊標記213來識別塊的前端。與在例子4中一樣，塊標記213的使用避免磁道凹槽201被切斷，因此主信息也可以被記錄在塊標記213中。(例子6)圖7顯示了依據本發明的例6的磁道凹槽202和凸區203。在這個例子中，光盤介質具有僅僅沿磁道凹槽202的一個邊緣形成的擺動220和230。例子1到5涉及凹槽記錄類型的光盤介質，其中，主信息被記錄在磁道凹槽中。被稱為凸區-凹槽類型的另一種類型的光盤介質是可用的。在這種類型的光盤介質中，主信息沿磁道凹槽202被記錄在凹槽和凸區(放在兩個相鄰凹槽中間的區域)中。例子1到5可以與在這個例子中描述的凹槽-凸區類型的光盤介質組合起來。
在圖7中，子信息“0”和子信息“1”沿磁道凹槽202的一個邊緣被記錄。在幀221中形成的擺動220指示子信息“0”，在幀231中形成的擺動230指示子信息“1”。以這種方式，磁道凹槽202和與磁道凹槽202相鄰的凸區203用相同的地址表示。主信息被記錄在磁道凹槽202和凸區203中。通過以這種方式記錄主信息，磁道間距變窄，這樣實現了更高密度的記錄。(例子7)圖9顯示了依據本發明的例7的光盤介質800。光盤介質800具有在其中形成有螺旋形磁道凹槽802的記錄面801。如圖8中所示，磁道凹槽802具有逐塊不同的形狀。在圖8中，塊標記(標識標記)810為磁道凹槽802中的一個切斷部分并且顯示指示每一個塊的前端的附錄。
每一個塊被分成N個扇區825(N＝32或16)，并且每一個扇區825被分成M個幀#0到#25(M＝26)。每一個幀具有規定數量的周期方式的擺動826或827。擺動826和827具有彼此不同的規定的形狀，表示子信息(“0”、“1”或“S”)。一種類型的子信息(“0”、“1”或“S”)由一種擺動形狀826或827來表示。子信息的類型和擺動形狀(擺動826或827)是一一對應的關系。更具體地，擺動826或827都具有通常的鋸齒形狀并且具有不同的上升形狀(或上升梯度)和下降形狀(下降梯度)。擺動826或827依據子信息的類型(“0”或“1”)形成。子信息串由擺動826和827的組合表示。子信息串由擺動826和827的組合表示。
擺動826或827之間在上升梯度和下降梯度上的差別可以由差分推挽檢測信號容易地檢測如下。一個掃描激光束射向磁道凹槽802，產生了一個指示由沿垂直于光盤介質800的磁道凹槽802的方向(徑向)劃分的光接收元件的檢測區域接收的光量之間的差的差分信號(即推挽信號)。這樣，獲得了具有依據子信息是“0”或“1”來變化的上升梯度和下降梯度的檢測信號。上升梯度和下降梯度中的這個差別例如可以通過對檢測信號進行差分來容易地識別。
這樣，子信息的類型可以利用作為差分結果而獲得的值的大小來檢測。但是，當使用差分時，噪聲分量自然地增加了。在具有較差S/N比的光盤介質中，檢測錯誤被合理地預期到。在這個例子中，擺動826或827的每一種模式被重復多次以增強檢測的可靠性。
主信息被記錄在從塊標記810起沿磁道凹槽802的塊單元841中。塊單元841具有規定的長度，例如64kB(或32kB)。主信息可以被記錄為記錄標記28。塊單元是用于信息處理的單元，例如是一個ECC塊。當N＝32時塊單元841被分成32個扇區825(或當N＝16時分成16個扇區)。每一個扇區25是具有2kB長度的子塊。當M＝26時每一個扇區25被分成#0到#25的26個幀。在每一個幀#0到#25的前端，SYNC標記被記錄為用于再現數據的同步信號。
幀是記錄在磁道凹槽802上的信息的基本單元。在圖8中，幀#0由標號822表示，幀#1由標號823表示。如幀822和823所示例，每一個幀包括預先以周期方式形成的一種類型的擺動。以這種方式，在每一個幀822和823中描述1位子信息“0”、“1”或“S”。包括在每一個扇區825中的26位(M＝26)子信息組指示對應的塊單元841的塊ID(地址信息)的至少一部分。
1位信息被分配給幀#0到#25中的每一個。例如，8幀(即8位)被分配作為塊ID的1字節部分。接著的8幀被分配作為塊ID的1字節奇偶校驗。接著的5幀被分配作為5位字節扇區號。剩下的5幀被分配作為扇區號的5位奇偶校驗。扇區號指示多個扇區中扇區的次序(即第5扇區、第10扇區等)。每一個奇偶校驗指示誤差檢測碼或誤差校正碼中的至少一個。
例如，如上面所描述的被分配的一個扇區的子信息被排列在4個扇區825(即扇區組825’)上。通過排列塊ID的一部分，即4個扇區的每一個有1個字節，可以表示一個32位塊ID(8位×4＝32位)。
圖10顯示了記錄在塊單元841中的扇區825和幀#0到#25中的子信息的示例格式。在圖10中，最左部分顯示了扇區號。其右邊，顯示了記錄在每一個扇區的幀中的子信息。假設塊單元841包括32個扇區。括號“()”中的扇區號是在塊單元841包括16個扇區的情況中的扇區號。幀#0到#25的每一個包括1位子信息。在這個例子中，塊單元841是一個ECC塊。
將描述扇區0的內容。在扇區0的幀#0到#25中，在幀#0到#7中，從LSB開始順序地填蓋了ECC塊地址的4字節(32位)中第一個1字節。在幀#8到#15中，填蓋了ECC塊地址的奇偶校驗的4字節中第一個1字節的子信息。在幀#16到#20中，填蓋了代表扇區號的5位子信息。在幀#21到#25中，填蓋了代表扇區號的奇偶校驗的5位子信息。如圖8中所示，在扇區0中，1字節“01h”被填蓋為塊ID的一部分。
將描述扇區1的內容。在扇區1的幀#0到#25中，在幀#0到#7中，從最低位開始順序地填蓋了ECC塊地址的4字節(32位)中第二個1字節。在幀#8到#15中，填蓋了ECC塊地址的奇偶校驗的4字節中第二個1字節的子信息。在幀#16到#20中，填蓋了代表扇區號的5位子信息。在幀#21到#25中，填蓋了代表扇區號的奇偶校驗的5位子信息。如圖8中所示，在扇區1中，1字節“23h”信息被填蓋為塊ID的一部分。
將描述扇區2的內容。在扇區2的幀#0到#25中，在幀#0到#7中，從最低位開始順序地填蓋了ECC塊地址的4字節(32位)中第三個1字節。在幀#8到#15中，填蓋了ECC塊地址的奇偶校驗的4字節中第三個1字節的子信息。在幀#16到#20中，填蓋了代表扇區號的5位子信息。在幀#21到#25中，填蓋了代表扇區號的奇偶校驗的5位子信息。如圖8中所示，在扇區2中，1字節“45h”信息被填蓋為塊ID的一部分。
將描述扇區3的內容。在扇區3的幀#0到#25中，在幀#0到#7中，從最低位開始順序地填蓋了ECC塊地址的4字節(32位)中第四個1字節。在幀#8到#15中，填蓋了ECC塊地址的奇偶校驗的4字節中第四個1字節的子信息。在幀#16到#20中，填蓋了代表扇區號的5位子信息。在幀#211到#25中，填蓋了代表扇區號的奇偶校驗的5位子信息。如圖8中所示，在扇區3中，1字節“67h”信息被填蓋為塊ID的一部分。
以這種方式，一個32位塊ID“76543210h”通過組合來自4個扇區825中的每一個的1字節信息來表示。
扇區825中的4字節塊ID最好以讀取順序排列，即順序地從第一個被讀取的扇區825到最后一個被讀取的扇區825，并且從塊ID的最低位到最高位。
將描述扇區4以及下列等等的內容。在扇區4到7中，扇區0到3的內容將被重復地描述。類似地，在扇區8到11，12到15，16到19，20到23，24到27以及28到31中，扇區0到3的內容將被重復描述。
以這種方式，在4個扇區中的信息被描述8次(當塊單元841包括16個扇區時是4次)。這樣用于實現誤差校正的奇偶校驗信息將被加到每一個塊單元841。可以增強塊ID的讀取可靠性。
由于描述了扇區號，即使當塊ID的1字節丟失，丟失的這個1字節也可以通過讀取扇區號來容易地識別。這樣，可以增強塊ID的讀取可靠性。
由于描述了扇區號，所以提供了下面的優點。例如當在搜索操作后數據沒有被連續地讀取時，在搜索操作后扇區825的扇區號可以立即被讀取，替代了在前端從塊標記810開始讀取塊單元841。由于這樣的操作，塊ID可以通過讀取從任意扇區825開始的4個扇區825的子信息來最終確定。
由于通過僅僅讀取每一個都包括4個扇區(8kB＝2kB×4)的扇區組825’的任意一個來最終確定塊ID，后處理(數據讀取、數據記錄等)可以被迅速地完成。
即使當由于盤劃痕(缺陷)造成塊ID的大約4個扇區被不正確地讀取時，正確的塊ID也可以由沒有缺陷的扇區組來讀取。這樣，保證了顯著高水平讀取塊ID的可靠性。
替代扇區號，將描述指示一個扇區組825’中的4個扇區825中扇區的次序(即，第一扇區、第二扇區等)的ID號。其中圖10顯示了幀#16到#25中的5位扇區號和扇區號的5位奇偶校驗，圖16顯示了幀#16到#25中的指示重復的塊ID的次序的2位ID號、ID號的2位奇偶校驗和6位序號。
當使用ID號時，每一個扇區號需要的5位子信息可以減少到2位。使用剩下的8位(幀#18到#25)，可以提高ID號的誤差校正能力，或可以描述塊ID的序號。
由于描述了ID號，可以提供如下的優點。例如當在搜索操作后數據沒有被連續地讀取時，在搜索操作后扇區825的扇區號可以立即被讀取，替代了在前端從塊標記810開始讀取塊單元841。由于這樣的操作，塊ID可以通過讀取從任意扇區825開始的4個扇區825的子信息來最終確定。
在子信息包括塊ID的序號的情況中，序號可以根據大多數被用于最終確定地址號。此外，這樣一個號提供了用于信號處理的有用信息，例如，塊中的哪一個扇區825現在被讀取或塊中哪一個子信息組是不正確的。
在具有多個記錄面或層的光盤介質的情況中，記錄層的序號可以包括在子信息組中。以這種方式，記錄面可以被容易地識別。例如，圖16中的四個相同序號中的一個可以用記錄層的序號替代。這樣，記錄面可以容易地識別。
在這個例子中，塊ID有32位。地址信息的位的數量不局限于32，而是可以是依據例如將要記錄在光盤介質上的數據量或誤差校正碼的類型和系統的任何需要的數量。
在這個例子中，當N＝32時塊單元被分為32個扇區(或當N＝16時分為16個扇區)。本發明不局限于這樣數量的扇區。
在這個例子中，當M＝26時子信息被記錄在包括在每一個扇區中的26個幀中。本發明不限于這樣的一個數量的幀。
在這個例子中，子信息在被調制為鋸齒狀擺動之后被記錄。本發明不局限于這樣的一個擺動形狀。子信息可以在被調制為具有例如圖4或7中所示的形狀的擺動后被記錄。
在這個例子中，塊標記是磁道凹槽的一個切斷部分。本發明不局限于這樣的一個塊標記的形式。例如，塊標記可以被調制為例如具有如圖5或6中所示的形狀的擺動。(例子8)
圖11顯示了依據本發明的例8的磁道凹槽1102。磁道凹槽1102可以在圖2中所示的光盤介質20中形成來代替圖1中所示的磁道凹槽102。如圖11中所示，磁道凹槽1102具有逐塊不同的形狀。在圖11中，塊標記(標識標記)1110為磁道凹槽1102中的一個切斷部分并且顯示指示每一個塊的前端的附錄。
每一個塊被分成N個扇區1125(N＝32或16)，并且每一個扇區1125被分成M個幀#0到#25(M＝26)。每一個幀具有規定數量的周期方式的擺動1126或1127。擺動1126或1127具有彼此不同的規定的形狀，表示子信息(“0”、“1”或“S”)。一種類型的子信息(“0”、“1”或“S”)由一種擺動形狀1126或1127來表示。子信息的類型和擺動的形狀(擺動1126或1127)是一一對應的關系。更具體地，擺動1126和1127都具有通常的鋸齒形狀并且具有不同的上升形狀(或上升梯度)和下降形狀(下降梯度)。擺動1126或1127依據子信息的類型(“0”或“1”)形成。子信息串由擺動1126和1127的組合表示。
擺動1126和1127之間上升梯度和下降梯度中的差別可以由差分推挽檢測信號容易地檢測如下。一個掃描激光束射向磁道凹槽1102，產生了一個指示由沿垂直于光盤介質20的磁道凹槽1102的方向(徑向)劃分的光接收元件的檢測區域接收的光量之間的差的差分信號(即推挽信號)。這樣，獲得了具有依據子信息是“0”或“1”來變化的上升梯度和下降梯度的檢測信號。上升梯度和下降梯度中的差別例如可以通過差分檢測信號容易地識別。
這樣，子信息的類型可以利用作為差分的結果獲得的值的大小來檢測。但是當使用差分時，噪聲成分自然地增加了。在具有較差S/N比的光盤介質中，檢測錯誤被合理地預期到。在這個例子中，擺動1126和1127的每一種模式被重復多次以增強檢測的可靠性。
主信息被記錄在從塊標記1110起沿磁道凹槽1102的塊單元1141中。塊單元1141具有規定的長度，例如64kB(或32kB)。主信息可以被記錄為記錄標記28。塊單元是用于信息處理的單元，例如是一個ECC塊。當N＝32時塊單元1141被分成32個扇區1125(或當N＝16時分成16個扇區)。每一個扇區1125是具有2kB長度的子塊。當M＝26時每一個扇區1125被分成#0到#25的26個幀。在每一個幀#0到#25的前端，SYNC標記被記錄為用于再現數據的同步信號。
幀是記錄在磁道凹槽1102上的信息的基本單元。在圖11中，幀#0由標號1122表示，幀#1由標號1123表示。如幀1122和1123所示例，每一個幀包括預先以周期方式形成的一種類型的擺動。以這種方式，1位子信息“0”、“1”或“S”在每一個幀1122和1123中描述。包括在每一個扇區1125中的26位(M＝26)子信息組指示了對應的塊單元1141的塊ID(地址信息)的至少一部分。
除指示地址的信息外，塊ID可以包括用于校正或檢測檢測信號的誤差校正碼、誤差檢測碼或奇偶校驗碼等。
例如，每一個扇區1125中的26個幀被分成第一個13幀(幀#0到#12；第一幀組)和第二個13幀(幀#13到#25；第二幀組)。1位子信息被記錄在每13幀中作為塊ID的一部分。這樣，2位子信息被記錄在每一個扇區1125中作為塊ID的一部分。
圖12顯示了記錄在塊單元1141中的扇區1125和幀#0到#25中的子信息的示例格式。在圖12中，最左部分顯示了扇區號。其右邊，顯示了記錄在每一個扇區的幀中的子信息。1位子信息被記錄在第一個13幀中，以及1位子信息被記錄在第二個13幀(幀組)中。在這個例子中，塊單元1141是一個ECC塊。B0到B31的每一個指示ECC塊地址中的位的序號(即，對應的位是否是第一個位、第二個位等)。
將描述扇區0的內容。在扇區0的幀#0到#25中，在幀#0到#12(第一幀組)中，填蓋了ECC塊地址(LSB)的32位中第一個1位。在幀#13到#25(第個幀組)中，填蓋了ECC塊地址的3個位中第二個1位的子信息。如圖11中所示，在扇區0中，2位信息(“0”或“1”)被填蓋為塊地址的一部分。
在扇區0的第一幀組中，指示ECC塊地址的開始的SYNC碼“S”被填蓋來替代ECC塊地址(LSB)的第一個1位。SYNC碼“S”可以用作用于再現ECC塊地址的同步信號或用于檢測ECC塊地址的開始的檢測標記。
將描述扇區1的內容。在扇區1的幀#0到#25中，在幀#0到#12中，填蓋了ECC塊地址32位中的第三個1位。在幀#13到#25中，填蓋了ECC塊地址的32位中的第四個1位的子信息。如圖11中所示，在扇區1中，2位信息(“0”或“1”)被填蓋為塊地址的一部分。
以這種方式，一個32位塊ID通過組合來自16個扇區1125中的每一個的2位信息來表示。
在ECC塊具有32kB的長度并且一個塊單元1141被分成16個扇區1125的情況中，32位塊可以通過在每一個扇區1125中記錄2位子信息來獲得。
在ECC塊具有32kB的長度的情況中，一個塊ID如上所述由16個扇區表示。在ECC塊具有64kB的長度的情況中，一個塊單元1141具有32個扇區1125。在扇區16到31中，扇區0到15的內容被重復地描述。即，在16個扇區中的信息(子信息組)被描述兩次。
因為子信息被重復記錄在塊單元1141中，塊ID通過僅僅讀取16個扇區、即32kB(2k×16)來最終確定。因此，后處理(數據讀取、數據記錄等)可以迅速地完成。因為塊ID在塊單元1141中被重復兩次，可以增強塊ID的讀取的可靠性。
替代在塊單元1141中記錄兩次，可以包括除塊ID之外的信息。例如，塊ID的序號可以包括在子信息組中。序號可以用于基于大多數來最終確定地址數。另外，這樣的一個數提供了對于信號處理有用的信息，例如，塊中哪一個扇區1125現在被讀取或塊中哪一個子信息組是不正確的。
在具有多個記錄面或層的光盤介質的情況中，記錄層的序號可以包括在子信息組中。以這種方法，記錄面可以如上面參照圖16所描述的容易地被識別。
在這個例子中，塊ID具有32位。地址信息的位數不局限于32，而可以是依據例如將要記錄在光盤介質上的數據量或誤差校正碼的類型和系統的任意需要的數量。
在這個例子中，N＝32時塊單元被分成32個扇區(或N＝16時分成16個扇區)。本發明不局限于這樣的扇區數量。
在這個例子中，M＝26時子信息被記錄在包括在每一個扇區中的26個幀中。本發明不不局限于這樣的幀數量。
在這個例子中，子信息在被調制為鋸齒形狀的擺動后被記錄。本發明不局限于這樣的擺動形狀。子信息可以在被調制為具有一個例如圖4或7中顯示的形狀后被記錄。
在這個例子中，塊標記是磁道凹槽的切斷部分。本發明不局限于這樣一種形式的塊標記。例如，塊標記可以被調制為具有例如圖5或6中顯示的形狀的擺動。(例子9)圖13顯示了依據本發明的例子9的磁道凹槽1302。磁道凹槽1302可以在圖2中所示的光盤介質20中形成來代替圖1中所示的磁道凹槽102。如圖13中所示，磁道凹槽1302具有逐塊不同的形狀。在圖13中，塊標記(標識標記)1310為磁道凹槽1302中的一個切斷部分并且顯示指示每一個塊的前端的附錄。
每一個塊被分成N個扇區1325(N＝32或16)，并且每一個扇區1325被分成M個幀#0到#25(M＝26)。每一個幀具有規定數量的周期方式的擺動1326或1327。擺動1326或1327具有彼此不同的規定的形狀，表示子信息(“0”、“1”或“S”)。一種類型的子信息(“0”、“1”或“S”)由一種形狀的擺動1326或1327來表示。子信息的類型和擺動的形狀(擺動1326或1327)是一一對應的關系。更具體地，擺動1326和1327都具有通常的鋸齒形狀并且具有不同的上升形狀(上升梯度)和下降形狀(下降梯度)。擺動1326或1327依據子信息的類型(“0”或“1”)形成。子信息串由擺動1326和1327的組合表示。
擺動1326和1327之間的上升梯度和下降梯度的差別可以容易地由差分推挽檢測信號來檢測如下。掃描激光束射到磁道凹槽1302，產生了指示由沿著垂直于光盤介質20的磁道凹槽1302的方向(徑向)劃分的光接收元件的檢測區域接收的光量之間的差的差分信號(即，推挽信號)。這樣，獲得了具有依據子信息是“0”或“1”來變化的上升梯度和下降梯度的檢測信號。例如，上升梯度和下降梯度中的這個差別可以通過差分檢測信號容易地識別。
這樣，子信息的類型可以利用作為差分的結果獲得的值的大小來檢測。但是，當使用差分時，噪聲成分自然地增加了。在具有較差S/N比的光盤介質中，檢測錯誤被合理地預期到。在這個例子中，擺動1326和1327的每一種模式被重復多次以增強檢測的可靠性。
主信息被記錄在從塊標記1310開始沿磁道凹槽1302的塊單元1341中。塊單元1341具有規定的長度，例如64kB(或32kB)。主信息可以被記錄為記錄標記28。塊單元是用于信息處理的一個單元，例如是ECC塊。當N＝32時塊單元1341被分成32個扇區1325(或當N＝16時分成16個扇區1325)。每一個扇區1325是一個具有2kB長度的子塊。當M＝26時每一個扇區1325被分成26個幀#0到#25。在每一個幀#0到#25的前端，SYNC標記被記錄為用于再現數據的同步信號。
幀是記錄在磁道凹槽1302上的信息的基本單元。在圖13中，幀#0由標號1322表示，幀#1由標號1323表示。如幀1322和1323所示例的，每一個幀包括預先以周期的形式形成的一種類型的擺動。以這種方式，1位子信息“0”、“1”或“S”在每一個幀1322和1323中描述。包括在每一個扇區1325中的一個26位(M＝26)子信息組指示對應的塊單元1341的塊ID(地址信息)的至少一部分。
例如，每一個扇區1325中的26個幀被分成第一個13幀(幀#0到#12；第一幀組)和第二個13幀(幀#13到#25；第二幀組)。在第一幀組中的13個幀中，預先以周期的方式形成相同形狀的擺動。在第二幀組中的13個幀中，預先以周期的方式形成相同形狀的擺動。這樣，2位子信息“0”、“1”或“S”在每一個扇區1325中描述。在每一個扇區1325中的32位子信息指示對應的塊單元1341的塊ID(地址信息)的至少一部分。
除指示地址的信息外，塊ID還可以包括用于校正或檢測檢測信號的誤差校正碼、誤差檢測碼或奇偶校驗碼等。
圖14顯示了記錄在塊單元1341中的扇區1325和幀#0到#25中的子信息的一個示例格式。在圖14中，最左邊部分顯示了扇區號。其右邊顯示了記錄在每一個扇區的幀中的子信息。
接著將描述扇區0的內容。在扇區0的所有幀#0到#25中，在ECC塊地址(LSB)的32位中的第一個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區0中，1位子信息B0(“0”或“1”)被填蓋。
接著將描述扇區1的內容。在扇區1的所有幀#0到#25中，在ECC塊地址(LSB)的32位中的第一個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區1中，1位子信息B0(“0”或“1”)被填蓋。
在扇區1中，填蓋在扇區0中的子信息B0被重復描述。
接著將描述扇區2的內容。在扇區2的所有幀#0到#25中，在ECC塊地址的32位中的第二個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區2中，1位子信息B1(“0”或“1”)被填蓋。
接著將描述扇區3的內容。在扇區3的所有幀#0到#25中，在ECC塊地址的32位中的第二個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區3中，1位子信息B1(“0”或“1”)被填蓋。
在扇區3中，填蓋在扇區2中的子信息B1被重復描述。
以這種方式，在直到扇區12的偶數扇區中，ECC塊地址的32位中第三、第四、第五、第六和第七個1位分別地被填蓋。在直到扇區13的奇數(N)扇區中，與偶數(N-1)扇區中相同的子信息被填蓋。
扇區14到24的內容將被描述。
扇區14的內容將被描述。在扇區14的所有幀#0到#25中，在ECC塊地址的32位中的第8個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區14中，1位子信息B7(“0”或“1”)被填蓋。
扇區15的內容將被描述。在扇區15的所有幀#0到#25中，在ECC塊地址的32位中的第9個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區15中，1位子信息B8(“0”或“1”)被填蓋。
直到扇區24的1位子信息被類似地描述。
扇區25到31的內容將被描述。
扇區25的內容將被描述。在扇區25的幀#0到#25中，在幀#0到#12(第一幀組)中，在ECC塊地址的32位中的第19個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區25的第一幀組中，1位子信息B18(“0”或“1”)被填蓋。
在扇區25的幀#0到#25中，在幀#13到#25(第二幀組)中，在ECC塊地址的32個位中的第20個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區25的第二幀組中，1位子信息B19(“0”或“1”)被填蓋。
扇區26的內容將被描述。在扇區26的幀#0到#25中，在幀#0到#12(第一幀組)中，在ECC塊地址的32位中的第21個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區26的第一幀組中，1位子信息B20(“0”或“1”)被填蓋。
在扇區26的幀#0到#25中，在幀#13到#25(第二幀組)中，在ECC塊地址的32位中的第22個1位被填蓋。如圖14中所示，在扇區26的第二幀組中，1位子信息B21(“0”或“1”)被填蓋。
直到扇區31的1位子信息被類似地描述。
如上所述，在這個例子中，其中描述子信息的扇區的數量和幀的數量依據塊ID的位的位置(即，較低位或較高位)而變化。在這個例子中，子信息B0是LSB，子信息B31是HSB。
在用于讀取存儲在例如光盤中的連續數據的一個系統中，被連續讀取的數據的塊ID從較低位順序地增大。在兩個相鄰塊ID之間，塊ID的值僅僅差“1”。因此，塊ID可以僅僅通過讀取所讀取的塊ID的幾個較低位來確定，因為剩下的較高位可以由從緊挨著的前一個塊ID讀取的值或由從先于當前塊ID一個確定數的塊ID的值來估算。在這種情況中，塊ID的幾個較低位的讀取可靠性很重要。在這個例子中，塊ID的較低位被排列在多個扇區上，即以大于其他較高位的數目來排列，如圖14所示。因此，可以提高塊ID的較低位的讀取可靠性，因而提高塊ID的讀取效率。
在這個例子中，塊ID具有32位。地址信息的位數不局限于32，而可以是依據例如將要被記錄在光盤介質上的數據量或誤差校正碼的類型和系統任意需要的數量。
在這個例子中，當N＝32時塊單元被分成32個扇區(N＝16時為16個扇區)。本發明不局限于這樣的扇區數量。
在這個例子中，M＝26時子信息被記錄在包括在每一個扇區中的26個幀中。本發明不局限于這樣的幀的數量。
在這個例子中，子信息在被調制為鋸齒形狀的擺動后被記錄。本發明不局限于這樣的擺動的形狀。子信息可以在被調制為具有一個例如圖4或7中顯示的形狀后被記錄。
在這個例子中，塊標記是磁道凹槽的切斷部分。本發明不局限于這樣一種形式的塊標記。例如，塊標記可以被調制為具有例如圖5或6中顯示的形狀的擺動。(例子10)圖15顯示了依據本發明的例子10的磁道凹槽1502。磁道凹槽1502可以在圖2中所示的光盤介質20中形成來代替圖1中所示的磁道凹槽102。如圖15中所示，磁道凹槽1502具有逐塊不同的形狀。在圖15中，塊標記(標識標記)1510為磁道凹槽1502中的一個切斷部分并且顯示指示每一個塊的前端的附錄。
每一個塊被分成N個扇區1525(N＝32或16)，每一個扇區1525被分成M個幀#0到#25(M＝26)。每一個幀以周期的方式具有規定數量的擺動1526和1527。擺動1526和1527彼此具有不同的規定的形狀，并且代表子信息(“0”、“1”或“S”)。一種類型的子信息(“0”、“1”或“S”)由一種形狀的擺動1526或1527來表示。子信息的類型和擺動的形狀(擺動1526和1527)具有一一對應的關系。更具體地，擺動1526和1527都具有通常的鋸齒形狀，并且具有不同的上升形狀(或上升梯度)和下降形狀(或下降梯度)。擺動1526或1527依據子信息(“0”或“1”)的類型來形成。子信息串由擺動1526和1527的組合來表示。
在擺動1526和1527之間的上升梯度和下降梯度中的差別可以由差分推挽檢測信號容易地檢測如下。一個掃描激光束射向磁道凹槽1502，產生了一個指示由沿垂直于光盤介質20的磁道凹槽102的方向(徑向)劃分的光接收元件的檢測區域接收的光量之間的差的差分信號(即推挽信號)。這樣，獲得了具有依據子信息是“0”或“1”來變化的上升梯度和下降梯度的檢測信號。上升梯度和下降梯度中的差別例如可以通過差分檢測信號容易地識別。
這樣，子信息的類型可以通過作為差分的結果獲得的值的大小來檢測。但是，當使用差分時，噪聲成分自然增加了。在具有較差S/N比的光盤介質中，檢測錯誤被合理地預期到。在這個例子中，擺動1526和1527的每一個模式被重復多次以增強檢測的可靠性。
主信息從塊標記1510沿著磁道凹槽1502被記錄在塊單元1541中。塊單元1541具有規定的長度，例如64kB(或32kB)。主信息可以被記錄為記錄標記28。塊單元是用于信息處理的單元，并且例如是一個ECC塊。當N＝32時塊單元1541被分成32個扇區1525(或當N＝16時分成16個扇區1525)。每一個扇區1525都是具有2kB長度的子塊。當M＝26時每一個扇區1525被分為26個幀#0到#25。在每一個幀#0到#25的前端，SYNC標記被記錄為用于再現數據的同步信號。
幀是記錄在磁道凹槽1502上的信息的基本單元。在圖15中，幀#0由標號1522表示，幀#1由標號1523表示。如幀1522和1523所示例，每一幀包括預先以周期的方式形成的一種類型的擺動。以這種方式，1位的子信息“0”、“1”或“S”在每一個幀1522和1523中描述。子信息被描述為SYNC信息。包括在每一個扇區1525中的26位(M＝26)子信息組指示了對應的塊單元1541的塊ID(地址信息)的至少一部分。
1位子信息被分配給一個幀，這樣32位塊ID被填蓋在連續的32個幀(子信息組)中。
除了指示地址的信息外，塊ID可以包括用于校正或檢測檢測信號的誤差校正碼、誤差檢測碼或奇偶校驗碼等。
如上所述，塊ID通過組合分配給32幀中的每一個的1位信息來表示。即整個塊ID由32位子信息組來表示。
當ECC塊具有64kB的長度時，每一個塊包括32個扇區。因此，一個塊包括832個幀(＝32×26)。當塊ID由32個幀(一個幀組)來表示時，塊ID可以在塊單元1541中被重復26次(即相同的塊ID在26個幀組中描述)。
當ECC塊具有32kB的長度時，每一個塊包括16個扇區。因此，一個塊包括416個幀(＝16×26)。當塊ID由32個幀(一個幀組)來表示時，塊ID可以在塊單元1541中被重復13次(即相同的塊ID在13個幀組中描述)。
以這種方式，塊ID由32個幀(一個幀組)來表示，并且該ID塊在塊單元1541中被描述很多次。
這樣，塊ID最后通過僅僅讀取32個幀來確定。因此，可以很快地執行后處理(數據讀取、數據記錄等)。
由于塊ID在塊單元1541中被重復多次，可以增強塊ID的讀取可靠性。
如上面參照圖16描述的，可以包括不同于塊ID的信息，盡管在塊單元1541中重復塊ID的次數在這種情況中減少了。例如，塊ID的序號可以包括在子信息組中。序號可以用于在大多數的基礎上最后確定地址號。此外，這樣一個號提供了用于信號處理的有用的信息，例如，塊中的哪一個扇區1525現在被讀取或塊中哪一個子信息組是不正確的。
在具有多個記錄面或層的光盤介質的情況中，記錄層的序號可以包括在子信息組中。以這種方式，記錄面可以容易地被識別。例如，圖16中的四個相同序號中的一個可以用記錄層的序號替代。這樣，記錄面可以容易地識別。在這個例子中，塊ID有32位。地址信息的位數不局限于32，而是可以是依據例如將要記錄在光盤介質上的數據量或誤差校正碼的類型和系統的任何需要的數量。
在這個例子中，當N＝32時塊單元被分為32個扇區(或當N＝16分為16個扇區)。本發明不局限于這樣的扇區數量。
在這個例子中，當M＝26時子信息被記錄在包括在每一個扇區中的26個幀中。本發明不限于這樣的幀數量。
在這個例子中，子信息在被調制為鋸齒狀擺動后被記錄。本發明不局限于這樣的一個擺動形狀。子信息可以在被調制為具有例如圖4或7中所示的形狀的擺動后被記錄。
在這個例子中，塊標記是磁道凹槽的一個切斷部分。本發明不局限于這樣的一種塊標記的形式。例如，塊標記可以被調制為具有例如圖5或6中所示的形狀的擺動。(例子11)圖22顯示了依據本發明的例子11的磁道凹槽1602。磁道凹槽1602可以在圖2中所示的光盤介質20中形成來替代圖1中所示的磁道凹槽102。如圖22中所示，磁道凹槽1602具有逐塊不同的形狀。
參照圖22，一個作為形成塊地址的單元的ECC塊被分成4個PID部分PID0到PID3。PID部分PID0、PID1、PID2和PID3分別由標號2202、2204、2206和2208來指示。PID部分2202、2204、2206和2208的前面分別被加上附錄部分0到3。附錄部分0、1、2和3分別由標號2201、2203、2205和2207來指示。附錄部分2201、2203、2205和2207的每一個都包括一個塊標記(標識標記)2220。在圖22中，塊標記(標識標記)2220是磁道凹槽1602中的一個切斷部分并且顯示了指示每一個PID部分的前端的附錄。
如上所述，塊被分為四個PID部分(N＝4)，并且每一個PID部分進一步被分成M個幀(M＝52)。每一個幀(例如，每一個幀2222、2223、2224和2225)從塊標記2220沿磁道凹槽1602具有規定數量的擺動2226、2227、2229或2230。擺動2226、2227、2229和2230具有彼此不同的規定的形狀，代表子信息(“0”、“1”、“S”或“B”)。一種類型的子信息(“0”、“1”、“S”或“B”)由一種擺動形狀2226、2227、2229或2230來表示。子信息的類型和擺動的形狀(擺動2226、2227、2229或2230)是一一對應的關系。更具體地，擺動2226、2227和2228都具有通常的鋸齒形狀，擺動2230具有正弦波形狀。擺動2226、2227、2228或2230具有不同的上升形狀(或上升梯度)和下降形狀(或下降梯度)。擺動2226、2227、2229或2230依據子信息(“0”、“1”、“S”或“B”)的類型來形成。
擺動2226、2227、2229和2230中的上升梯度和下降梯度中的差別可以通過差分推挽檢測信號容易地檢測如下。一個掃描激光束射向磁道凹槽1602，產生了一個指示由沿垂直于光盤介質20的磁道凹槽1602的方向(徑向)劃分的光接收元件的檢測區域接收的光量之間的差的差分信號(即推挽信號)。這樣，獲得了具有依據子信息是“0”、“1”、“S”或“B”來變化的上升梯度和下降梯度的檢測信號。上升梯度和下降梯度中的差別例如可以通過差分檢測信號容易地識別。
這樣，子信息的類型可以通過作為差分結果的值的大小來檢測。但是，當使用差分時，噪聲成分自然地增加了。在具有較差S/N比的光盤介質中，檢測錯誤被合理地預期到。在這個例子中，擺動2226、2227、2229和2230的每一個模式被重復多次以增強檢測的可靠性。
PID部分的內容將被描述。每一個PID部分包括每一個都具有372個字節的52個幀，這樣具有19344字節的長度(＝372字節×52)。PID部分2202(PID0)包括8位PID信息2209、24位塊地址信息2210、16位IED信息2211和4位地址標記(AM)2212。
PID信息2209表示對應的PID部分的號(即，PID部分是否是PID0、PID1、PID2或PID3)。塊地址信息2210是分配給每一個塊的地址信息，并且在相同的ECC塊的PID0到PID3中是共同的。IED信息2211是從PID信息2209和塊地址信息2210產生的ID誤差檢測碼。
地址標記2212位于PID部分2202的后端(后端)并且用于檢測緊隨PID部分2202的PID部分2204的前端。除子信息“0”、“1”或“S”之外，地址標記2211包括使用正弦波形狀的擺動、例如在幀2225中的擺動2230的子信息“B”。地址標記2212通過組合由幀2224中的擺動2229記錄的子信息“S”和子信息“B”來表示。例如，地址標記2212具有4位信息“SBBS”。當這種模式被檢測時，準備下面的附錄部分或PID部分的檢測。
由于子信息“B”僅僅被用于地址標記，地址標記容易與具有其他信息的部分區別開。這樣，可以增強地址標記的檢測精度。
附錄部分的內容將被描述。不象PID部分，每一個附錄部分具有預先記錄在盤上的塊標記2220。塊標記2220例如是一個鏡像標記，它是如在下面描述的圖17中所示的磁道凹槽1602中的切斷部分。附錄部分2201位于PID部分2202(PID0)之前并且也是ECC塊的前端。
附錄部分0到3預先分別在PID0到PID3之前被提供，并且每一個都具有93字節的長度。塊標記(鏡像標記)2220具有大約2個字節的長度。在每一個附錄部分，假數據可以被記錄以增加塊標記2220的檢測精度。
可使用的假數據例如可以是包括簡單重復的4T標記和4T空間的信息。這樣，單個頻率分量的記錄標記和塊標記可以是在頻率分開的，以便更容易檢測。這樣，塊標記可以更容易地被檢測。
如上所述，一個ECC塊被分成4個PID部分，并且每一個PID部分前面加上了附錄部分。在每一個附錄部分，形成了指示PID部分的前端的塊標記。在ECC塊中重復這樣的PID部分。因為塊ID最終通過僅僅讀取ECC塊的1/4來確定，后處理(數據讀取，數據記錄等)可以快速地執行。
因為塊ID在ECC塊中重復多次，增強了塊ID的讀取的可靠性。
在這個例子中，一個ECC塊被分成4個PID部分。本發明不局限于這樣數量的PID部分。一個ECC塊可以被分成任意整數多個PID部分。
在這個例子中，子信息在被調制成鋸齒形狀的擺動后被記錄。本發明不局限于這樣的擺動形狀。子信息可以在被調制成具有例如圖4或7中顯示的形狀的擺動后被記錄。
在這個例子中，塊標記是磁道凹槽的切斷部分。本發明不局限于這樣的塊標記的形式。例如，塊標記可以被調制成具有例如圖5或6中顯示的形狀的擺動。或者，塊標記可以被調制成具有例如圖17、18或19中顯示的形狀的擺動。(例子12)圖17顯示了依據本發明的例子12的磁道凹槽1702。磁道凹槽1702通過改變圖22中顯示的磁道凹槽1602的附錄部分來獲得。
在圖17中，標號1701表示附錄部分0，1705表示附錄部分1到3中的每一個。具有連續多個正弦波狀擺動的形狀的磁道凹槽1702預先在盤中形成，每一個附錄部分具有93字節的長度。附錄部分包括9個擺動。附錄部分0具有每一個都作為磁道凹槽1702的切斷部分的塊標記1703和1704，附錄部分1到3每一個都具有作為磁道凹槽1702的切斷部分的塊標記1706。
如例子11中所描述的，附錄部分0到3先于各自的PID部分并且可以是地址信息的前端。因此，需要提供對附錄部分0到3的令人滿意的高水平的讀取可靠性。在塊標記在附錄部分中重復多次(例如，兩次)的情況中，即在附錄部分中提供了多個相同的塊標記的情況中，即使當一個塊標記由于外部干擾例如噪聲或故障而不能被檢測時，塊標記也能以高水平的穩定性被檢測。在塊標記以特定的間隔被重復多次的情況中，正確的塊標記可以容易地區別于由噪聲、故障等產生的假的塊標記。
在附錄部分0到3中形成的塊標記的數量和形狀可以相同。例如，一個塊標記1703可以在附錄部分1到3的每一個中提供。或者，如圖17中所示，在附錄部分0到3中形成的塊標記的數量和形狀可以在附錄部分0到3之間不同。例如，附錄部分0中的塊標記的數量可以與附錄部分1到3中的塊標記的數量不同。在這種情況中，可以在附錄部分0中提供比其他附錄部分中更多數量的塊標記，以增強作為ECC塊的前端的附錄部分0的讀取的可靠性。在圖17中，在附錄部分0中提供了兩個塊標記1703和1704，而在附錄部分1到3的每一個中提供了一個塊標記1706。當在附錄部分0中形成的塊標記的數量或形狀不同于附錄部分1到3中形成的時，附錄部分0中的塊標記可以容易地區別于其他附錄部分的塊標記。這樣，可以不用讀取PID部分的全部而最終地確定ECC塊的前端地址。
在圖17中，按照擺動的相位在相同的位置提供多個塊標記。或者，如圖18中所示，塊標記可以在具有擺動的180度相差的位置提供(塊標記1703和1804)。
在這個例子中，每一個塊標記具有2個字節的物理長度，但是本發明不局限于這樣的長度。可以選擇基于光點直徑確定的最佳設計長度。例如，如圖19中所示，塊標記可以具有4個字節的物理長度。
當塊標記可以具有如圖19中所示的4個字節的物理長度時，附錄部分0中的塊標記的物理長度可以與附錄部分1到3中的不同。這樣，附錄部分0中的塊標記的讀取可靠性可以被增強。當在附錄部分0中形成塊標記的長度與附錄部分1到3中的不同時，附錄部分0中的塊標記可以容易地區別于其他附錄部分的塊標記。
參照圖20，將描述其中塊標記是在凸區中形成的預凹坑的光盤介質。圖20顯示了在這樣的光盤介質中的磁道凹槽2002。磁道凹槽2002通過改變圖22中顯示的磁道凹槽1602的附錄部分來獲得。在圖20中，標號2001表示附錄部分0，2005表示附錄部分1到3中的每一個。塊標記2004在附錄部分0的磁道凹槽2002的相鄰部分之間的凸區2003中形成。塊標記2004是凸區2003中的切斷部分。當用光點2007掃描磁道凹槽2002時，塊標記2004在從光點2007的中心偏移了半個磁道的狀態中被掃描。
如圖20中所示在凸區2003上形成的塊標記2004可以使用指示由光接收元件的兩個分開的檢測區域接收的光量之間的差的差分信號(即，推挽信號)來檢測。使用這樣的一個差分信號來檢測上述的PID部分。塊地址可以使用一個類似的差分信號來檢測。因此，塊地址和PID部分可以被檢測而不用將差分信號切換成一個總和信號。這樣，一個信號檢測部分可以具有更簡單的電路配置。
在類似圖20中的塊標記2004的一個附錄部分中提供多個相同的塊標記的情況中，塊標記的數量可以在附錄部分0中的數量和附錄部分1到3中的數量之間變化。
例如，當附錄部分0包括兩個塊標記2204并且附錄部分1到3中的每一個都具有一個塊標記2204時，可以增強附錄部分0中的塊標記的讀取穩定性。當在附錄部分0中形成的塊標記的數量不同于在附錄部分1到3中形成的時，附錄部分0中的塊標記可以容易地區別于其他附錄部分的塊標記。
在每一個附錄部分中，假數據可以被記錄以增加塊標記的檢測精度。
可使用的假數據例如可以是包括簡單地循環的4T標記和4T空間的信息。這樣，單頻率分量的記錄標記和塊標記可以是在頻率分開的，以便更容易檢測。這樣，塊標記可以更容易地被檢測。(例子13)圖21顯示了依據本發明的例子13的光盤介質的PID部分2100。PID部分2100通過改變圖22中所示的PID0到PID3來獲得。PID部分2100包括每一個都具有372個字節的52個幀，這樣具有19344字節的長度(＝372字節×52)。PID部分2100包括8位PID信息2209、24位塊地址信息2210、16位IED信息2211和作為標識標記的4位地址標記(AM)2212。PID信息2209、塊地址信息2210和IED信息2211類似于例子11中的對應部分。
地址標記2211位于PID部分2100的后端并且用于檢測緊隨PID部分2100的PID部分的前端。地址標記2211是除子信息“0”、“1”或“S”之外還包括子信息“B”的4個信息單元。地址標記2211通過組合子信息“S”和子信息“B”來表示。地址標記可以是每一個PID部分2100中的子信息的不同組合。例如，如圖21中所示，PID3的地址標記2107包括4位信息“SSSS”。當這種組合被檢測時，識別出這是PID3的地址標記2107。這樣，可以準備緊隨其后的PID0之前的附錄部分中的標識標記或PID0的地址的檢測。
PID0的地址標記2101、PID1的地址標記2103和PID2的地址標記2105中的每一個都包括不同于PID3的地址標記2107中的“SBBS”。由于PID3的地址標記的內容不同于地址標記PID0到PID2的內容，所以PID3的地址標記容易地區別于其他PID部分的地址標記。這樣，增加了PID3的地址標記的檢測精度。即，塊的前端可以更容易地由子信息的這樣一個不同的組合來檢測。
PID0到PID2的地址標記可以由相同形狀的擺動來形成(即，子信息的相同的組合)。例如，PID0到PID2的地址標記可以都包括“SBBS”。
圖21中所示的具有用磁道凹槽的擺動表示的信息的地址標記2101、2103、2105和2107可以使用指示由光接收元件的兩個分開的檢測區域接收的光量之間的差的差分信號(即，推挽信號)來檢測。使用這樣的一個差分信號來檢測PID信息2209、塊地址信息2210和IED信息2211。在每一個PID部分之前的塊地址或標識標記可以使用一個類似的差分信號來檢測。因此，每一個PID部分的前端、塊的前端和塊地址都可以被檢測而不用把差分信號切換成一個總和信號和一個差分信號。這樣，一個信號檢測部分可以具有一個更簡單的電路配置。
為了增加地址標記2101、2103、2105和2107的檢測精度，假數據可以被記錄在對應于地址標記的磁道凹槽的部分。
可使用的假數據例如可以是包括簡單地循環的4T標記和4T空間的信息。這樣，單頻率分量的記錄標記和塊標記可以在頻率上分開，以便更容易檢測。這樣，塊標記可以更容易地被檢測。圖21中顯示的地址標記可以使用上述的差分信號來檢測。因此，地址標記可以通過在對應于地址標記的磁道凹槽的部分中記錄正確的用戶數據以替代假數據來檢測。
附錄部分中的標識標記和地址標記可以組合使用。例如，附錄部分中的標識標記是一個2字節的鏡象標記，這樣以非常高水平的位置精度來提供。因此，這樣的一個組合使用可以增加在鏈接時開始記錄的位置的精度以供額外地寫或重寫。(例子13)圖23A顯示了依據本發明的例子14的光盤裝置2300。光盤裝置2300再現利用前面的例子中描述的多個擺動形狀的組合記錄在光盤介質上的子信息，以便記錄和再現主信息。圖23是顯示在圖23A中顯示的光盤裝置2300的操作的流程圖。
光盤裝置2300包括變換部分2330、再現信號計算部分2308、聚焦位置控制部分2309、跟蹤位置控制部分2310、子信息檢測部分2312、激光驅動部分2313、再現信號處理部分2314和地址信息/盤管理信息處理部分2315。變換部分2330包括半導體激光器2302、準直透鏡2303、光束分裂器2304、會聚部分2305、光收集透鏡2306、光檢測部分2307以及傳動器2311。光盤裝置2300將一個光束射向光盤介質2301使得讀取記錄在光盤介質2301上的主信息和子信息并且把該主信息和子信息轉換為再現信號。
參照圖23A和23B，半導體激光器2302發射出的光束在光盤介質2301的信息表面上通過準直透鏡2303、光束分裂器2304和光會聚部分2305被收集。然后所收集的光被光盤介質2301反射和折射并且通過光會聚部分2305、光束分裂器2304和光收集透鏡2306在光檢測部分2307上被收集。光檢測部分2307的光接收元件A、B、C和D的每一個都依據接收到的光的總量來輸出一個電壓信號作為再現信號2320(步驟S100)。
再現信號計算部分2308利用加、減、乘或除來處理再現信號2320。從再現信號計算部分2308輸出的作為這樣的計算結果的FE(聚焦誤差)信號2321被發送到聚焦位置控制部分2309。從再現信號計算部分2308輸出的作為這樣的計算結果的TE(跟蹤誤差)信號2322被發送到跟蹤位置控制部分2310。從再現信號計算部分2308輸出的作為這樣的計算結果的RF(射頻)信號2323被發送到子信息檢測部分2312和再現信號處理部分2314(步驟S200)。
聚焦位置控制部分2309通過依據FE信號2321輸出的電壓驅動傳動器2311，以便控制在光盤介質2301的信息表面上的光點的聚焦位置。跟蹤位置控制部分2310通過依據TE信號2322輸出的電壓驅動傳動器2311，以便控制在光盤介質2301的信息表面上的光點的跟蹤位置。根據聚焦位置和跟蹤位置控制的光點被用于讀取預凹坑或光盤介質2301上的標記和空間。作為一種相差類型的光盤介質2301中的標記和空間以不同的反射比反射光。這樣，記錄在光盤介質2301上的信息被讀取。在推挽系統的情況中，TE信號2322是由光檢測部分2307的兩個光接收部分接收的光的總量之間的差的輸出。這兩個光接收部分的每一個都包括四個光接收元件A、B、C和D中的兩個并且由平行于跟蹤方向的一條線來定義。這里，差為(A+D)-(B+C)。RF信號2323是由四個光接收元件A、B、C和D接收的光的總量的和的輸出。這里，和為(A+B+C+D)。在一個象散系統的情況中，FE信號2321是(A+C)-(B+D)的一個輸出。
子信息用下面的方式再現。
由再現信號計算部分2308產生的TE信號2322和RF信號2323被輸出到子信息檢測部分2312并且被用于譯碼子信息。由子信息檢測部分2312檢測的子信息被輸出到地址信息/盤管理信息處理部分2315和激光驅動部分2313。
如圖34中所示，子信息檢測部分2312包括基準時鐘產生部分3410、電平限幅脈沖信號產生部分3411、作為塊標記信號檢測部分的第三BPF(帶通濾波器)3403和子信息產生部分3412。
基準時鐘產生部分3410包括第一BPF3401和同步檢測部分3404。電平限幅脈沖信號產生部分3411包括第二BPF3402、比較器3405和積分器3408。子信息產生部分3412包括多數確定部分3406和子信息譯碼器3407。
第一BPF3401被設計為具有這樣的一個濾波常數，以便提取出調制成TE信號2322的擺動信號。基于TE信號2322，第一BPF3401產生一個包含具有與磁道凹槽中的擺動同步的正弦波形的基波分量的輸出信號3401’。同步檢測部分3404接收輸出信號3401’并且產生與從光盤介質2301(圖23A)讀取的信號同步的基準時鐘信號3404’(步驟S300)。基準時鐘信號3404’被用于同步子信息信號。
第二BPF3402是用于檢測被調制為TE信號2322的鋸齒波形的陡邊的差分濾波器。根據陡邊的相位(或方向)，第二BPF3402產生一個向上或向下差分脈沖信號3402’。差分脈沖信號3402’被輸出到比較器3405。比較器3405比較通過積分器3408反饋的調節限幅電壓和差分脈沖信號3402’，并且產生電平限幅脈沖信號3405’，差分脈沖信號3402’的向上狀態和向下狀態為“0”和“1”(步驟S400)。電平限幅脈沖信號3405’被輸出到多數確定部分3406。
第三BPF3403濾波RF信號2323以檢測塊標記信號3403’并且最終確定子信息組的前端(步驟S500)。所檢測的塊標記信號3403’被輸出到多數確定部分3406，在那里所檢測的塊標記信號3403’被用于計時同步。
基于從基準時鐘信號3404’和塊標記信號3403’產生的同步信號，在特定的時間區間內，多數確定部分3406比較電平限幅脈沖信號3405’的“0”脈沖和“1”脈沖的數量。然后，多數確定部分3406把在特定的時間區間內占用所有脈沖的大多數的脈沖輸出到子信息譯碼器3407作為電平限幅數據信號3406’。子信息譯碼器3407檢查在電平限幅數據信號3406’中是否有錯誤。當在電平限幅數據信號3406’中沒有錯誤時，子信息譯碼器3407輸出電平限幅數據信號3406’作為子信息信號3420(例如，地址信息)(步驟S600)。
通過上述過程，記錄在光盤介質2301上的子信息信號3420被再現。基于包括在再現的子信息信號3420中的地址信息，光盤裝置2300可以確定在磁道凹槽中的信息的哪一塊現在被再現。當在光盤介質2301上記錄主信息時，確定緊挨在要記錄主信息的塊之前的塊的地址，然后預測出下一塊是要記錄主信息的塊。這樣，可以從目標塊的塊的前端開始記錄主信息。(例子15)將描述依據本發明的例子15的光盤介質的引入區域和引出區域。
參照圖30，常規的光盤介質3001的引入區域和引出區域將被描述。光盤介質3001包括在內周邊區域中提供的引入區域3003、在外周邊區域中提供的引出區域3004和在引入區域3003和引出區域3004之間提供的記錄和再現區域。在圖30中，部分3007被放大了。引入區域3003具有預先形成的預凹坑3006。通過讀取在預凹坑和保留區域之間的反射比之間的差，“0”和“1”的信息被讀取。引入區域3003具有預先記錄的盤管理信息。例如，盤管理信息包括盤再現功率信息、伺服信息和最佳記錄功率的信息。記錄和再現區域3004具有預先形成的磁道凹槽3002。通過沿磁道凹槽3002執行跟蹤控制，可重寫數據被記錄在磁道凹槽3002中或記錄在磁道凹槽3002中的數據被擦除。
在常規的光盤介質3001中，引入區域3003和引出區域3005與記錄和再現區域3004在預凹坑3006的形狀和磁道凹槽3002的形狀方面不同。因此，兩個跟蹤系統不得不以切換的方式使用。更具體地，差分相位系統(DPD)被用于引入區域3003和引出區域3005，利用磁道凹槽3002的衍射的推挽系統的跟蹤被用于記錄和再現區域3004。
在本發明的例子15中，提供了允許同樣的跟蹤系統被用于引入區域、引出區域和記錄和再現區域的光盤介質。這樣的光盤介質可以簡化跟蹤操作。
下面，將描述依據例子15的光盤介質。
圖24顯示了依據例子15的光盤介質2400。光盤介質2400包括一個引入區域2401、一個記錄和再現區域2402和一個引出區域2403。引入區域2401和引出區域2403具有預先記錄的盤管理信息。引入區域2401和引出區域2403中的每一個可以進一步具有不同于用于記錄用戶數據的區域的一個區域，即用于試驗記錄的一個區域。在圖24中，引入區域2401可以在從具有距光盤介質2400的中心22.59mm的半徑的圓的邊緣到具有距光盤介質2400的中心24.02mm的半徑的圓的邊緣的區域中提供。引入區域2401包括一個具有預先記錄的盤管理信息的盤管理區域(從具有距中心22.59mm的半徑的圓的邊緣到具有距中心24.000mm的半徑的圓的邊緣的區域)。引入區域2401還可以包括一個用于在光盤介質或驅動器上試驗記錄的可重寫區域。在盤管理區域中的信息原則上被禁止重寫。在這個例子中，引入區域2401和引出區域2403意味著盤管理區域。
參照圖36，將描述以螺旋方式在光盤介質2400的記錄表面中形成的磁道凹槽3631。磁道凹槽3631在引入區域2401和引出區域2403中形成。磁道凹槽3631以周期方式帶有規定形狀的擺動3626、3627和3628。擺動3626、3627和3628具有彼此不同的規定的形狀，表示子信息(“0”，“1”，“S”或“B”)。一種類型的子信息(“0”，“1”，“S”或“B”)由一種擺動形狀3626、3627或3628來表示。子信息的類型和擺動的形狀(擺動3626、3627或3628)是一一對應的關系。更具體地，具有通常的鋸齒形狀的擺動3626和3627和具有通常的正弦波形的擺動3628具有如圖36中所示的不同的上升形狀(或上升梯度)和下降形狀(下降梯度)。盤管理信息由擺動3626、3627和3628的組合所示的子信息串表示。
在擺動3626、3627和3628中的上升梯度和下降梯度的差別可以容易地被差分推挽檢測信號檢測如下。掃描激光束直射到磁道凹槽3631，產生了指示由沿垂直于光盤介質3400的磁道凹槽3631的方向(徑向)劃分的光接收元件的檢測區域接收的光量之間的差的差分信號(即，推挽信號)。這樣，獲得了具有依據子信息是“0”還是“1”變化的上升梯度和下降梯度的檢測信號。例如，這個上升梯度和下降梯度的差可以由檢測信號的差分容易地確定。子信息的類型可以由作為差分的結果獲得的值的大小來檢測。在引入區域2401和引出區域2403中，子信息被用作記錄和再現區域2402的盤管理信息。
在圖36中，包括塊標記3630的幀3620具有預先形成的9個擺動3628以指示子信息“B”。在塊標記3630后的52個幀3621的每一個具有總共36個擺動3626和3627以指示子信息“0”和子信息“1”。在CLV格式的這個例子中的光盤介質2400的情況中，形成擺動3626和3627的物理頻率從最里面的磁道到最外面的磁道恒定在fb。
參照圖25A和25B，引入區域2401和引出區域2403將與記錄和再現區域2402比較。
圖25A顯示了記錄和再現區域2402中的磁道凹槽2502。包括塊標記2520的幀2510具有預先形成的9個擺動2528(正弦波形)以指示子信息“B”。在塊標記2520后的52個幀2511的每一個具有總共36個擺動2526和2527(鋸齒波形)以指示子信息“0”和子信息“1”。在CLV格式的這個例子中的光盤介質2400的情況中，形成擺動2526、2527和2528的物理頻率從最里面的磁道到最外面的磁道(1個擺動124個信道位)恒定在fa。擺動的擺動量恒定在22.5nmpp。
在記錄和再現區域2402中，記錄標記在調制后被記錄。在這個例子中，運行周期被限制為2T(最小長度)的46D調制的信號被記錄在磁道凹槽2502中。在這點上信道位長度為0.0771μm。用于記錄和再現信號的激光具有405nm(+10nm，-5nm)的波長的平均值和0.85±0.01的數值孔徑(NA)。
圖25B顯示了引入區域2401和引出區域2403中的磁道凹槽3631。磁道凹槽3631的細節如上述參照圖36所描述的。形成引入區域2401和引出區域2403中的擺動2526、2527和2528的物理頻率fb比形成記錄和再現區域2402中的擺動2526、2527和2528的物理頻率fa高10倍。通過把擺動的頻率設置得更高，可以增加包括在單位區域中的信息量。
在引入區域2401和引出區域2403中，多個擺動指示1位子信息。在引入區域2401和引出區域2403與記錄和再現區域2402之間，指示作為子信息的最小單元的1位信息的擺動的數量可以不同。與記錄和再現區域2402相比，通過減小引入區域2401和引出區域2403中指示1位信息的擺動的數量，指示盤管理信息的擺動可以在引入區域2401和引出區域2403中相對小的區域中有效地形成。
如上所述，引入區域2401和引出區域2403包括具有規定的以周期形式形成的擺動形狀的磁道凹槽3631，并且在磁道凹槽3631中每一個擺動形狀表示盤管理信息。因為擺動也以周期形式在包括在記錄和再現區域2402中的磁道凹槽2502中形成，因此相同系統的跟蹤可以用于整個光盤介質2400。因為在引入區域2401和引出區域2403中擺動的頻率比記錄和再現區域2402中的高10倍，并且一個擺動指示1位子信息，所以記錄在單位區域中的信息量增加了。這樣，指示盤管理信息的擺動可以有效地記錄在引入區域2401和引出區域2403中的有限的區域內。
在這個例子中，在引入區域2401和引出區域2403中的擺動的頻率比記錄和再現區域2402中的高10倍，本發明不局限于這樣的數值。
在這個例子中，描述了鋸齒形狀的擺動。依據本發明擺動不局限于這樣的形狀。
在這個例子中，一個擺動指示1位信息。多個擺動可以指示1位信息。
或者，如圖26A和26B中所示，引入區域2401和引出區域2403中的擺動的頻率fb可以低于記錄和再現區域2402中的擺動的頻率fa。以這種方式，可以增大在檢測引入區域2401和引出區域2403中的擺動時的S/N比。這樣，在引入區域2401和引出區域2403中的盤管理信息的可靠性可以被增強。
在這個例子中，在引入區域2401和引出區域2403中的擺動有相同的頻率，該頻率與記錄和再現區域2402中的擺動的頻率不同。在盤管理信息僅僅記錄在引入區域2401中的情況中，僅僅在引入區域2401中的擺動的頻率可以與記錄和再現區域2402中的擺動的頻率不同。
在這個例子中，光盤介質2400包括引入區域2401和引出區域2403。除記錄和再現區域2402之外，光盤介質2400可以僅僅包括引入區域2401或僅僅包括引出區域2403。(例子16)圖27A和27B顯示了依據本發明的例子16的光盤介質的磁道凹槽2502和2731。
在圖27A中所示的磁道凹槽2502與上面參照圖25A描述的磁道凹槽2502相同，是在圖24中所示的光盤介質2400的記錄和再現區域2402中形成的。圖27B中所示的磁道凹槽2731可以在引入區域2401和引出區域2403中形成。
包括塊標記2520的幀2510具有9個正弦波形狀的擺動2528’，以指示子信息“B”。跟在塊標記2520之后的52幀2511中的每一個具有總共36個鋸齒形狀的擺動2526’和2527’，以指示子信息“0”和子信息“1”。在這個例子中的CLV格式的光盤介質2400的情況下，形成擺動2526、2527和2528的物理頻率從最內側磁道向最外側磁道恒定為fa(1個擺動124個信道位)。表示擺動的擺動量的擺動振幅恒定為Ca。
圖27A和27B中所示的磁道凹槽在表示擺動的擺動量的擺動振幅上與圖25A和25B中所示的不同。其中，圖27A中的記錄和再現區域2402中的磁道凹槽2502的擺動振幅為Ca，圖27B中的引入區域2401和引出區域2403中的磁道凹槽2731的擺動振幅為為Cb，其中Cb＞Ca。
再現時的擺動信號振幅與擺動量成比例。因此，當引入區域2401和引出區域2403的擺動振幅大于記錄和再現區域2402中的擺動振幅時，提高了在再現的時候檢測擺動時的S/N比。這樣，可以增強盤管理信息的讀取可靠性。
在這個例子中，光盤介質2400包括引入區域2401和引出區域2403。除記錄和再現區域2402之外，光盤介質2400可以僅僅包括引入區域2401或僅僅包括引出區域2403。(例子17)圖28A和28B顯示了依據本發明的例子17的光盤介質的磁道凹槽2502和2831。
在圖28A中，擺動2826用CLV格式形成，擺動2826的物理頻率從最里面的磁道到最外面的磁道是恒定的。因此，兩個相鄰擺動2826的相位依據磁道位置和徑向位置來偏移。在再現的時候，相鄰磁道的干擾的影響由于相差而變得明顯，由再現信號檢測到的擺動信號振幅以周期的方式在相差上變化。在變化的擺動信號振幅為最小的擺動中，S/N比減小了。
在圖28A和28B中所示的磁道凹槽與圖25A和25B中所示的磁道凹槽有下面幾點不同。在磁道凹槽2831中，擺動2827由CAV格式形成，這樣兩個相鄰磁道之間的擺動2827的相差總是π/2。
當記錄和再現區域2402、引入區域2401和引出區域2403中的擺動由CAV格式形成時，在再現時的擺動信號振幅為常數。這樣，增強了擺動的檢測可靠性。
在這個例子中，相差是π/2。在上升處在相位為0的位置上和在下降處相位為π的位置上擺動通常具有陡峭的邊緣。當在π/2和3×π/2以及π/2×(2n+1)(n是一個整數)的位置安排陡峭邊緣時，可以減小來自相鄰磁道的串擾的影響。相差不局限于這樣的值，而可以是任意其他的常數值。
在記錄和再現區域2402、引入區域2401和引出區域2403中的擺動可以由在DVD-RAM中使用的ZCLV格式替代CAV格式來形成。
通過由CAV格式或ZCLV格式替代CLV格式形成擺動，從記錄和再現區域2402再現的地址信息的可靠性可以被增強。
在這個例子中，光盤介質2400包括引入區域2401和引出區域2403。除記錄和再現區域2402之外，光盤介質2400可以僅僅包括引入區域2401或僅僅包括引出區域2403。(例子18)圖29A和29B顯示了依據本發明的例子18的光盤介質的磁道凹槽2502和2931。
圖29A中所示的磁道凹槽2502與上面參照圖25A描述的相同并且在圖24中所示的光盤介質2400的記錄和再現區域2402中形成。在圖29B中所示的磁道凹槽2931可以在引入區域2401和引出區域2403中形成。
在圖29A中所示的磁道凹槽2502具有TPa的磁道間距(兩個相鄰磁道之間的距離)。主信息通過凹槽記錄系統記錄在磁道凹槽2502中。
在圖29A和29B中所示的磁道凹槽與圖25A和25B中所示的磁道凹槽在磁道間距上不同。其中圖29A中記錄和再現區域2402中的磁道凹槽2502的磁道間距是TPa，圖29B中引入區域2401和引出區域2403中的磁道凹槽2931的磁道間距是TPb，其中TPb＞TPa。例如，當使用具有405nm的波長和0.85的NA作為光學常數的光點來再現記錄在具有磁道間距TPa＝0.32μm(兩個相鄰凹槽之間的距離)的凹槽記錄系統光盤介質上的信息時，由推挽系統獲得的跟蹤誤差信號的振幅相當小。當磁道間距增大時，跟蹤誤差信號的振幅因此而增大。當擺動的擺動量恒定時，擺動信號振幅基本上與跟蹤誤差信號的振幅成比例地增大。因此，當磁道間距增加時，再現時的擺動信號振幅增大了。
這樣，與記錄和再現區域2402中的磁道間距TPa相比，通過增加引入區域2401和引出區域2403中的磁道間距TPb，當檢測擺動時的S/N比可以被增強。
或者，當TPb＜TPa時，指示盤管理信息的擺動可以有效地記錄在引入區域2401和引出區域2403中的有限的區域中。
在例子15到18中，引入區域2401和引出區域2403中的擺動頻率、擺動振幅、相對于相鄰磁道中的相位的擺動相差、磁道間距等與記錄和再現區域2402中的不同。引入區域和引出區域2401和2403與記錄和再現區域2402之間的多個這樣的因素可以不同。
在引入區域2401和引出區域2403的盤管理區域中的磁道中，沒有形成記錄標記。這樣，盤管理區域的再現信號的S/N比可以被增加，其結果是，盤管理區域的讀取可靠性可以被增強。
在這個例子中，光盤介質2400包括引入區域2401和引出區域2403。除記錄和再現區域2402之外，光盤介質2400可以僅僅包括引入區域2401或僅僅包括引出區域2403。(例子19)圖35顯示了依據本發明的例子19的光盤介質的磁道凹槽3531。
在圖35中所示的磁道凹槽3531可以在圖24中所示的光盤介質2400的引入區域2401和引出區域2403中形成。
在圖35中所示的磁道凹槽3531與圖25B中所示的磁道凹槽3631不同，因為磁道凹槽3531具有以一次寫入的方式記錄在引入區域2401和引出區域2403(即，磁道凹槽3531)中的單頻率記錄標記。例如，具有0.0771μm的記錄信道位長度的記錄標記以一次寫入的方式通過提供具有在具有盤管理信息的磁道凹槽3531中重復的8T記錄標記和8T空間的信號來記錄。這樣，信息可以由不允許推挽系統的跟蹤的再現裝置(DPD系統跟蹤的裝置)來再現。裝置之間的兼容性可以提高。
在這個例子中，光盤介質2400包括引入區域2401和引出區域2403。除記錄和再現區域2402之外，光盤介質2400可以僅僅包括引入區域2401或僅僅包括引出區域2403。(例子20)圖31顯示了依據本發明的例子20的光盤介質的磁道凹槽3101。
在例子1中，塊標記210通過切斷磁道凹槽102來提供。在這個例子中，塊標記3104通過局部地反轉磁道凹槽3101中的擺動3126的相位來形成。這樣形成的塊標記3104不切斷磁道凹槽3101，這樣信息可以被記錄在塊標記3104上。結果，額外開銷可以被減小。(例子21)圖32顯示了依據本發明的例子21的光盤介質的磁道凹槽3201。
在例子1中，塊標記210通過切斷磁道凹槽102來提供。在這個例子中，多個塊標記3204a和3204b通過局部地反轉磁道凹槽3201中的擺動3226的相位來形成。這樣形成的塊標記3204a和3204b不切斷磁道凹槽3201，另外，除在塊標記3204a和3204b之間插入的部分外，保持擺動3226相位的連續性。因此，再現可以在沒有實質地改變擺動的時鐘的相位并且不在PLL中產生相差的情況下完成。主信息可以被記錄在塊標記3204a和3204b上。結果，額外開銷可以被減小。(例子22)圖33顯示了依據本發明的例子22的光盤介質的磁道凹槽3301。
在例子1中，塊標記210通過切斷磁道凹槽102來提供。在這個例子中，塊標記3304由具有比擺動26局部增大的頻率的擺動3326來形成。這樣形成的塊標記3304不切斷磁道凹槽3301，這樣信息可以被記錄在塊標記3304上。結果，額外開銷可以被減小。
在例子1、4、5、7到12、15、16以及19到22中，公開了具有塊標記的磁道凹槽。磁道凹槽可以在不具有塊標記的光盤介質上提供。
工業實用性如上所述，依據本發明，在以逐塊為基礎記錄主信息的磁道凹槽上形成多個規定形狀的擺動。擺動顯示出在通過以規定數K除所述塊所獲得的一幀中描述的特定子信息。通過在該塊的多個幀中、即多次形成指示子信息的擺動，可以在沒有或幾乎沒有額外開銷的情況下形成地址信息。可以獲得單頻率擺動再現信號(即，同步信號)。這樣，可以提供適合于高密度記錄的光盤介質。
作為子信息組的一部分的子信息指示一個ID號的扇區號。當數據未被連續讀取時，例如，在一個尋找操作之后，緊接在尋找操作之后的扇區的扇區號或ID號可以被讀取，而不是在該塊的前端的塊標記。這樣，可以從一個任意扇區讀取塊ID。通過僅僅讀取包括塊中的多個扇區的一個扇區組來最終確定塊ID，可以迅速地執行后處理(數據讀取、數據記錄等等)。
塊ID在一個塊中被重復多次。這樣，可以增強塊ID的讀取可靠性。
在引入區域和引出區域中，盤管理信息由預先形成的鋸齒形狀的擺動來指示。這樣，相同的跟蹤系統可以用于整個盤。光盤裝置可以被簡化。
使擺動頻率在引入和引出區域和記錄和再現區域之間不同。盤管理區域可以被有效地記錄在盤內側部分中的引入區域和盤外側部分的引出區域的有限區域中。
權利要求
1.一種光盤介質，包括一個沿其記錄主信息的磁道凹槽，其中將磁道凹槽分成多個塊，多個塊中的每一塊包括多個幀，多個幀中的每一幀包括多個規定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動形狀，多個塊中的每一塊具有地址信息，以及地址信息由至少一片由多個幀中的至少一個的擺動形狀所代表的子信息所組成的串來表示。
2.如權利要求1所述的光盤介質，其中多個塊中的每一塊包括多個扇區，多個扇區包括多個幀，以及地址信息由至少一片由至少一個扇區中包括的多個幀中的至少一個的擺動形狀所代表的子信息所組成的串來表示。
3.如權利要求1所述的光盤介質，其中多個塊中的至少一個包括多片地址信息，多片地址信息是相同的，以及多片地址信息中的每一個由所述至少一片子信息所組成的串來表示。
4.如權利要求3所述的光盤介質，其中，多片地址信息中的每一個包括一個序號，序號指示各片地址信息在多片地址信息中的次序。
5.如權利要求1所述的光盤介質，其中，地址信息由多個位表示，多個位由所述至少一個子信息串從低位到高位表示。
6.如權利要求1所述的光盤介質，其中多個塊中的每一塊包括多個扇區，多個扇區包括多個幀，地址信息由多個扇區中包括的所述至少一個串表示，以及指示在多個扇區中的扇區次序的信息由所述至少一片子信息的一部分表示。
7.如權利要求1所述的光盤介質，其中，指示誤差檢測代碼和誤差校正代碼中的至少一個的信息由所述至少一片子信息的一部分表示。
8.如權利要求1所述的光盤介質，其中，跟蹤凹槽具有在其中提供的指示多個塊中的每一塊的前端的標識標記。
9.如權利要求8所述的光盤介質，其中，標識標記通過切斷跟蹤凹槽來提供。
10.如權利要求8所述的光盤介質，其中，標識標記通過局部改變跟蹤凹槽的寬度來提供。
11.如權利要求8所述的光盤介質，其中，標識標記通過局部改變擺動形狀的振幅來提供。
12.如權利要求1所述的光盤介質，其中，多個擺動形狀包括在上升梯度和下降梯度的至少一個上彼此不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀，第一擺動形狀和第二擺動形狀指示彼此不同的子信息片。
13.如權利要求1所述的光盤介質，其中，多個擺動形狀包括在占空比上彼此不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀，第一擺動形狀和第二擺動形狀指示彼此不同的子信息片。
14.如權利要求1所述的光盤介質，其中，多個擺動形狀在跟蹤凹槽的一個邊緣上提供。
15.如權利要求1所述的光盤介質，其中，跟蹤凹槽包括一個指示所述至少一個子信息串的前端和后端中的至少一個的標識標記。
16.如權利要求15所述的光盤介質，其中多個塊中的至少一個包括多個所述至少一個子信息串，標識標記指示所述至少一個子信息串的前端，以及標識標記與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標識標記具有相同的形狀。
17.如權利要求15所述的光盤介質，其中多個塊中的至少一個包括多個所述至少一個子信息串，標識標記指示所述至少一個子信息串的前端，以及至少一個標識標記具有與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標識標記的形狀不同的形狀。
18.如權利要求15所述的光盤介質，其中標識標記指示所述至少一個子信息串的后端，以及標識標記通過將在上升梯度和下降梯度中的至少一個上彼此不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀與具有正弦波形狀的第三擺動形狀組合來形成。
19.如權利要求15所述的光盤介質，其中多個塊中的至少一個包括多個所述至少一個子信息串，標識標記指示所述至少一個子信息串的后端，以及標識標記與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標識標記具有相同的形狀。
20.如權利要求15所述的光盤介質，其中多個塊中的至少一個包括多個所述至少一個子信息串，標識標記指示所述至少一個子信息串的后端，以及至少一個標識標記具有與一塊中的所述至少一個子信息串中的另一個標識標記的形狀不同的形狀。
21.如權利要求8所述的光盤介質，其中，標識標記通過切斷磁道凹槽的相鄰部分之間的凸區的一部分來提供。
22.如權利要求15所述的光盤介質，其中，標識標記通過切斷磁道凹槽的相鄰部分之間的凸區來提供。
23.如權利要求15所述的光盤介質，其中，將單頻率假數據記錄在標識標記上。
24.如權利要求1所述的光盤介質，其中，指示地址信息的一個較低位的子信息的片數大于指示地址信息的一個較高位的子信息的片數。
25.一種光盤介質，包括一個記錄再現區域和一個盤管理區域，其中記錄再現區域包括沿其記錄主信息的第一磁道凹槽，盤管理區域包括在光盤介質的內側區域和外側區域的至少一個中提供的第二磁道凹槽，第二磁道凹槽包括多個規定擺動形狀，以及光盤介質的管理信息由多個規定擺動形狀的組合來表示。
26.如權利要求25所述的光盤介質，其中，多個規定擺動形狀包括在上升梯度和下降梯度中的至少一個上彼此不同的第一擺動形狀和第二擺動形狀、以及具有正弦波形狀的第三擺動形狀。
27.如權利要求25所述的光盤介質，其中第一磁道凹槽包括多個規定擺動形狀，以及與在記錄和再現區域中相比，在盤管理區域中的指示1位信息的擺動形狀的數目不同。
28.如權利要求25所述的光盤介質，其中第一磁道凹槽包括多個規定擺動形狀，以及第一磁道凹槽和第二磁道凹槽在擺動形狀的頻率上彼此不同。
29.如權利要求25所述的光盤介質，其中第一磁道凹槽包括多個規定擺動形狀，以及第二磁道凹槽具有比第一磁道凹槽大的擺動形狀振幅。
30.如權利要求25所述的光盤介質，其中，第二磁道凹槽的相鄰部分在π/2×(2n+1)的擺動形狀上具有一個恒定的相差，其中n是一個整數。
31.如權利要求25所述的光盤介質，其中，第二磁道凹槽具有比第一磁道凹槽大的磁道間距。
32.如權利要求8所述的光盤介質，其中，標識標記通過改變磁道凹槽中的至少一個擺動形狀的相位來提供。
33.如權利要求8所述的光盤介質，其中，標識標記通過改變磁道凹槽中的至少一個擺動形狀的頻率來提供。
34.如權利要求1所述的光盤介質，其中，多個擺動形狀以相同的周期提供。
35.一種用于再現一個光盤介質的光盤裝置，所述光盤介質包括沿其記錄主信息的磁道凹槽，其中，將磁道凹槽分成多個塊，多個塊中的每一塊包括多個幀，多個幀中的每一幀包括多個規定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動形狀，多個塊中的每一塊具有地址信息，地址信息由至少一片由多個幀中的至少一個的擺動形狀所代表的子信息所組成的串來表示，光盤裝置包括一個變換部分，用于從光盤介質讀取主信息和子信息并產生一個再現信號；一個再現信號計算部分，用于從再現信號產生一個TE信號和一個RF信號；一個基準時鐘信號產生部分，用于從TE信號產生一個基準時鐘信號；一個電平限幅脈沖信號產生部分，用于從TE信號產生一個電平限幅脈沖信號；一個塊標記信號檢測部分，用于從RF信號檢測一個塊標記信號；以及一個子信息產生部分，用于從基準脈沖信號、電平限幅脈沖信號和塊標記信號產生一個子信息信號。
36.一種用于再現一個光盤介質的方法，所述光盤介質包括沿其記錄主信息的磁道凹槽，其中，將磁道凹槽分成多個塊，多個塊中的每一塊包括多個幀，多個幀中的每一幀包括多個規定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動形狀，多個塊中的每一塊具有地址信息，地址信息由至少一片由多個幀中的至少一個的擺動形狀所代表的子信息所組成的串來表示，所述方法包括如下步驟從光盤介質讀取主信息和子信息并產生一個再現信號；從再現信號產生一個TE信號和一個RF信號；從TE信號產生一個基準時鐘信號；從TE信號產生一個電平限幅脈沖信號；從RF信號檢測一個塊標記信號；以及從基準脈沖信號、電平限幅脈沖信號和塊標記信號產生一個子信息信號。
全文摘要
一種光盤介質，包括一個沿其記錄主信息的磁道凹槽。將磁道凹槽分成多個塊。多個塊中的每一塊包括多個幀。多個幀中的每一幀包括多個規定擺動形狀中的指示子信息的一種擺動形狀。多個塊中的每一塊具有地址信息。地址信息由至少一片由多個幀中的至少一個的擺動形狀所代表的子信息所組成的串來表示。
文檔編號G11B20/12GK1471709SQ01817886
公開日2004年1月28日 申請日期2001年8月29日 優先權日2000年8月31日
發明者中村敦史, 一, 南野順一, 衛, 古宮成, 東海林衛, 道, 石田隆, 石橋広道 申請人:松下電器產業株式會社