數據校驗檢測器和數據校驗檢測方法

數據校驗檢測器和數據校驗檢測方法
【專利摘要】本發明公開一種數據校驗檢測器以及數據校驗檢測方法。數據校驗檢測器，其特征在于，包括：存儲器，存儲待檢測數據；比較器，比較預設訓練序列和所述待檢測數據；以及校驗運算器，當所述待檢測數據中的一部分序列與所述預設訓練序列一致時，所述校驗運算器開始計算所述待檢測數據中所述部分序列后的數據。
【專利說明】
數據校驗檢測器和數據校驗檢測方法
技術領域
[0001]本發明涉及數據校驗領域，特別是用于芯片上的數據校驗檢測器和數據校驗檢測方法。
【背景技術】
[0002]在芯片的設計中，很多數據都需要精確的測試，以判定芯片上各個模塊的正確與否。特別是在發射端的芯片上，因為數據會最終通過模擬器件發射出去，所以不易被精確檢測。
[0003]在現有的芯片設計中，通常采用軟件或者狀態機來控制啟動校驗檢測的時機。在具有高速數據流的芯片或集成電路里面，采用傳統的方法很難保證準確的截取想要檢測的數據，特別是在發射端芯片上的數模轉換器(DAC)的輸入端，在此測試點上，一般不存在精確的控制校驗檢測器開啟的指示信號。
[0004]由此，有必要設計一種能夠準確地啟動校驗檢測時機的方法。

【發明內容】

[0005]有鑒于此，本發明提供一種數據校驗檢測器和數據校驗檢測方法。
[0006]本發明一實施例提供一種數據校驗檢測器，包括:存儲器，存儲待檢測數據；比較器，比較預設訓練序列和所述待檢測數據；以及校驗運算器，當所述待檢測數據中的一部分序列與所述預設訓練序列一致時，所述校驗運算器開始計算所述待檢測數據中所述部分序列后的數據。
[0007]本發明一實施例提供一種數據校驗檢測方法，包括:存儲待檢測數據；比較預設訓練序列和所述待檢測數據；以及當所述待檢測數據中的一部分序列與所述預設訓練序列一致時，開始計算所述待檢測數據中所述部分序列后的數據。
[0008]本發明所提供的數據校驗檢測器和數據校驗檢測方法，能夠精確地控制校驗運算的開啟時機，提高驗證芯片的準確度。
[0009]對于已經閱讀后續由各附圖及內容所顯示的較佳實施方式的本領域的技術人員來說，本發明的各目的是明顯的。
【附圖說明】
[0010]圖1為根據本發明一實施例的數據校驗檢測器的框圖。
[0011]圖2為根據本發明一實施例的數據校驗檢測方法的流程圖。
[0012]圖3為根據本發明另一實施例的數據校驗檢測方法的流程圖。
[0013]圖4為根據本發明的數據校驗檢測器的一【具體實施方式】的示意圖。
【具體實施方式】
[0014]在權利要求書及說明書中使用了某些詞匯來指稱特定的組件。所屬領域中的技術人員應可理解，硬件制造商可能會用不同的名詞來稱呼同樣的組件。本權利要求書及說明書并不以名稱的差異來作為區分組件的方式，而是以組件在功能上的差異來作為區分的準貝1J。在權利要求書及說明書中所提及的「包括」為開放式的用語，故應解釋成「包括但不限定于」。另外，「耦接」一詞在此包括任何直接及間接的電氣連接手段。因此，若文中描述第一裝置耦接于第二裝置，則代表所述第一裝置可直接電連接于所述第二裝置，或通過其他裝置或連接手段間接地電連接至所述第二裝置。
[0015]圖1為根據本發明一實施例的數據校驗檢測器100的框圖。數據校驗檢測器100包括存儲器102、比較器104以及校驗運算器106。存儲器102用來存儲最新的待檢測數據，其存儲的待檢測數據的長度可以等于預設訓練序列N的長度，也可以大于預設訓練序列的長度，本發明不限于此。比較器104用來比較預設訓練序列和存儲器102中的待檢測數據，如果待檢測數據中的一部分序列與預設訓練序列N —致，比較器104則對校驗運算器106發送開始信號。請注意，預設訓練序列N可以是預先存儲在比較器中，也可以由另一裝置發送給比較器，本發明不以此為限。校驗運算器106則開始對當前接收的待檢測數據(如，該部分序列之后的數據)，并進行計算，以獲得計算結果。本實施例的數據校驗檢測器100，可以根據比較器104的比較結果，在適當的時機自動地開啟校驗運算器106，尤其是在高數據流的芯片或集成電路中，能夠準確地截取想要檢測的數據，從而提高檢測的準確度。
[0016]校驗運算器106可以是循環冗余校驗(Cyclic Redundancy Check，CRC)運算器、奇偶校驗運算器，MD5 (message-digest-algorithm-5)校驗運算器。在本發明一實施例中，例如，校驗運算器106可是CRC運算器，CRC運算器可對待檢測數據中的該部分序列以后的數據進行多項式計算，以得到計算結果。
[0017]在本發明一較佳實施例中，數據校驗檢測器100還包括計數器108和結果寄存器110。當待檢測數據中的一部分序列與預設訓練序列N —致時，比較器104還同時對計數器108發送開始信號，計數器108則開始計數。校驗運算器106每對一個待檢測數據完成計算，計數器108則在計數值上加I，并將該計數值與待檢測數據的預設窗口長度L進行比較。當計數值不等于預設窗口長度L時，校驗運算器106繼續進行計算；當計數值等于預設窗口長度L時，計數器108向校驗運算器106發送結束信號，校驗運算器106結束計算，并將計算結果保存到結果寄存器106中。結果寄存器110中寄存的計算結果，可由其他裝置或模塊來讀取，并將該計算結果與預設結果做比較，其他裝置或模塊可由硬件或軟件來實施。如果該計算結果與該預設結果相同，則說明待檢測數據是正確的；如果該計算結果與該預設結果不一致，則說明待檢測數據有誤。
[0018]舉例而言，本發明提供的數據校驗檢測器，可以設置在發射芯片中數模轉換器(DAC)的輸入路徑上，通過判斷待檢測數據中有符合預設訓練序列的數據后，自動開啟校驗運算器，執行數據校驗，可以提供精確的檢測結果，將檢測結果與預設結果比較后，便可獲知發射芯片的功能是否正確。
[0019]圖2為根據本發明一實施例的數據校驗檢測方法的流程圖200。在步驟S210中，存儲最新的待檢測數據，其存儲的待檢測數據的長度可以等于預設訓練序列N的長度，也可以大于預設訓練序列的長度，本發明不限于此。在步驟S220中，比較預設訓練序列和所述待檢測數據。若所述待檢測數據中的一部分序列與所述預設訓練序列一致時，跳至步驟S230 ;反之則跳至步驟S210。在步驟S230中，計算所述待檢測數據中所述部分序列后的數據。上述步驟S210、S220和S230可分別采用如圖1所示的存儲器102、比較器104以及校驗運算器106來實施。
[0020]圖3為根據本發明另一實施例的數據校驗檢測方法的流程圖300。在步驟S310中，啟動數據校驗檢測器。在步驟S312中，存儲最新的N個待檢測數據，其中存儲的N個待檢測數據的長度等于預設訓練序列N的長度。在步驟S314中，將存儲的N個待檢測數據與預設訓練序列N進行比較，如果二者一致，則跳至步驟S316，反之則回到步驟S312。在步驟S316中，接收隨后的待檢測數據，并對待檢測數據進行計算。在步驟S318中，計數器的計數值加I。在步驟S320中，將計數值與預設窗口長度L進行比較，如果計數值等于L，則跳至步驟S322，反之則回到步驟S316。在步驟S322中，存儲步驟S316中的計算結果。在步驟S324中，讀取存儲的計算結果，并與預設結果相比較，如果兩個結果相同，則表示待檢測數據是正確的；如果兩個結果不一致，則表示待檢測數據是錯誤的。
[0021]圖4為根據本發明的數據校驗檢測器的一【具體實施方式】的示意圖。在本實施例中，采用CRC運算器來實現校驗運算器，其中CRC運算器的多項式可配置為X~16+X~15+X~2+l，初始狀態配置為15’h4000。另外，數據校驗檢測器可配置一個長度N =2的預設訓練序列{數據1，數據2}，待檢測數據的預設窗口長度L配置為L = 7。啟動數據校驗檢測器之后，存儲器會存儲待檢測數據，比較器將待檢測數據與預設訓練序列進行比對，當待檢測數據中第一次出現預設訓練序列{數據1，數據2}之后，CRC運算器就開始對隨后出現的7個待檢測數據{數據3，數據4....數據9}從最高比特到最低比特進行CRC計算。當這7個待檢測數據的CRC計算完成后，數據校驗檢測器給出一個結束信號，并且把計算所得的CRC結果寄存到結果寄存器中，另外可使用其他軟件來從結果寄存器中讀取CRC結果。
[0022]本領域的技術人員在閱讀本說明書的基礎上，應能了解如何使用如圖1所示的數據校驗檢測器100來具體實施如圖3和圖4所示的范例，
【申請人】在此不再贅述。
[0023]以上所述僅為本發明的較佳實施方式，凡依本發明權利要求所做的均等變化和修飾，均應屬本發明的涵蓋范圍。
【主權項】
1.一種數據校驗檢測器，其特征在于，包括: 存儲器，存儲待檢測數據； 比較器，比較預設訓練序列和所述待檢測數據；以及 校驗運算器，當所述待檢測數據中的一部分序列與所述預設訓練序列一致時，所述校驗運算器開始計算所述待檢測數據中所述部分序列后的數據。2.如權利要求1所述的數據校驗檢測器，其特征在于，還包括: 計數器，計數所述校驗運算器完成計算所述待檢測數據的個數。3.如權利要求2所述的數據校驗檢測器，其特征在于，還包括: 運算結果寄存器，存儲所述校驗運算器的計算結果。4.如權利要求3所述的數據校驗檢測器，其特征在于， 當所述計數器的計數值等于所述待檢測數據的預設窗口長度時，所述計數器向所述校驗運算器發送結束信號。5.如權利要求4所述的數據校驗檢測器，其特征在于， 所述校驗運算器接收到所述結束信號之后，所述校驗運算器結束計算，并將計算結果存儲至所述運算結果寄存器中。6.如權利要求1所述的數據校驗檢測器，其特征在于，所述校驗運算器是循環冗余校驗運算器、奇偶校驗運算器或MD5校驗運算器。7.一種數據校驗檢測方法，其特征在于，包括: 存儲待檢測數據； 比較預設訓練序列和所述待檢測數據；以及 當所述待檢測數據中的一部分序列與所述預設訓練序列一致時，開始計算所述待檢測數據中所述部分序列后的數據。8.如權利要求7所述的數據校驗檢測方法，其特征在于，還包括: 計數完成計算所述待檢測數據的個數。9.如權利要求8所述的數據校驗檢測方法，其特征在于，當所述計數的次數等于所述待檢測數據的預設窗口長度時，結束所述計算，并保存計算結果。10.如權利要求9所述的數據校驗檢測方法，其特征在于，還包括: 比較所述計算結果與預設結果，如果所述計算結果與所述預設結果一致，則所述待檢測數據是正確的；如果不一致，則所述待檢測數據是錯誤的。
【文檔編號】G06F11/10GK105988888SQ201510061297
【公開日】2016年10月5日
【申請日】2015年2月5日
【發明人】曾箏, 林博, 晏國鑫
【申請人】聯發科技（新加坡）私人有限公司