具有觸摸檢測功能的顯示裝置的制造方法
【專利摘要】本發明披露了具有觸摸檢測功能的顯示裝置。一種具有觸摸檢測功能的顯示裝置，包括：多個液晶顯示元件，執行顯示操作；多個觸摸檢測電極，并且每一個都基于由外部接近物體所引起的靜電電容的變化來輸出檢測信號；導電膜，與所述觸摸檢測電極絕緣或以高電阻與其連接，并且被設置為覆蓋觸摸檢測電極；以及觸摸檢測電路，通過對檢測信號進行采樣來檢測外部接近物體。導電膜具有等于或小于預定電阻值的薄層電阻，并且具有大于由觸摸檢測電路中的采樣定時所限定的預定最小時間常數的時間常數。
【專利說明】具有觸摸檢測功能的顯示裝置
[0001 ]本申請是申請日為2011年9月7日、申請號為201110264222.0、發明名稱為“具有觸摸檢測功能的顯示裝置以及電子單元”的申請的分案申請，其全部內容結合于此作為參考。
技術領域
[0002]本發明涉及具有觸摸檢測功能的顯示裝置，具體地，涉及基于由外部接近物體而引起的靜電電容的變化來檢測觸摸事件的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，以及包括這樣的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的電子單元。
【背景技術】
[0003]近年來，能夠通過將接觸檢測裝置(所謂的觸摸面板)安裝在諸如液晶顯示裝置的顯示裝置上或將觸摸面板與顯示裝置進行集成并且代替通常的機械按鈕在顯示裝置上顯示各種按鈕圖像等來輸入信息的顯示裝置已經引起了人們關注。包括這種觸摸面板的顯示裝置不需要諸如鍵盤、鼠標及鍵區的輸入裝置，因此，存在將這樣的顯示裝置的使用擴展至除計算機之外的諸如手機的便攜式信息終端的趨勢。
[0004]作為用在觸摸檢測裝置的方法，存在諸如光學法和電阻法的一些方法。然而，靜電電容型觸摸檢測裝置是很有前景的，其具有相對簡單的結構，能夠一次檢測多個位置處的觸摸事件，并且能夠實現低功耗(這對于移動終端等是非常重要的)。例如，日本未審查專利申請公開第2008-129708 (JP-A-2008-129708)號披露了一種觸摸檢測裝置，包括多個X方向電極及被設置為面向X方向電極的多個Y方向電極，并且通過使用由外部接近物體所引起的靜電電容的變化來檢測觸摸事件，靜電電容形成在X方向電極與Y方向電極之間的每個交叉點處。另外，例如，在日本未審查專利申請公開第2009-244958(JP-A-2009-244958)號中，已經提出了一種結合觸摸檢測功能的顯示裝置，其中，設置在顯示裝置中用于原始顯示的公共電極作為用于觸摸傳感器的一對電極中的一個被共用，而這對電極的另一個(觸摸檢測電極)被設置為與公共電極交叉。
[0005]通常，防靜電放電(ESD)措施在電子單元中是很重要的。例如，在制造電子單元及其由用戶使用的過程中，靜電很可能被施加至電子單元。對于觸摸檢測裝置，已經提出了一些ESD保護措施。例如，在日本未審查專利申請公開第2009-86077(JP-A-2009-86077)號中，已經描述了在液晶顯示面板上安裝了電阻膜型觸摸檢測裝置的顯示裝置。在該顯示裝置中，為了消除在液晶顯示面板的制造處理中粘結偏光板時所生成的靜電，在液晶顯示面板上形成透明導電膜，使其處于電浮置狀態，在粘結了偏光板之后，允許夾具(jig)與透明導電膜接觸。
【發明內容】
[0006]然而，在上述涉及具有各種優點的靜電電容型觸摸檢測裝置的JP-A-2008-129708和JP-A-2009-244958中，并沒有描述ESD保護措施。在JP-A-2008-129708或JP-A-2009-244958中所描述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中，響應于由ESD引起的靜電，顯示可能被干擾。具體地，由于靜電很難被釋放，所以在與用于觸摸檢測的電極分開的區域中，顯示受至IJ很長時間的干擾。此外，像JP-A-2008-129708中所描述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置，在區域中設置用于改進光學特性的虛擬電極的情況下，由于虛擬電極充有靜電，所以顯示可能受到更長時間的干擾。
[0007]在JP-A-2009-86077中所描述的顯示裝置中，透明導電膜處于電浮置狀態。因此，例如，在其使用中，在帶電手指觸摸觸摸面板的情況下或其他情況下，存在靜電在透明導電膜中充電并很難從透明導電膜中釋放的可能性。另外，在JP-A-2009-86077中，描述了安裝了電阻膜型觸摸檢測裝置的情況下的透明導電膜的配備;然而，并沒有描述靜電電容型觸摸檢測裝置的情況。
[0008]期望提供一種即使在施加了靜電的情況下也能夠減小顯示干擾的具有觸摸檢測功能的顯示裝置以及電子單元。
[0009]根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置包括多個液晶顯示元件、多個觸摸檢測電極、導電膜以及觸摸檢測電路。液晶顯示元件執行顯示操作。多個觸摸檢測電極基于由外部接近物體所引起的靜電電容的變化來輸出檢測信號。導電膜與觸摸檢測電極絕緣或以高電阻與其連接，并且被設置在觸摸檢測電極和觸摸檢測表面之間以覆蓋在觸摸檢測電極上。觸摸檢測電路通過對檢測信號進行采樣來檢測外部接近物體。其中，導電膜具有等于或小于預定電阻值的薄層電阻，當所述薄層電阻大于所述預定電阻值時，所述導電膜不提供通過所述導電膜的有效的靜電放電路徑。導電膜具有大于由觸摸檢測電路中的采樣定時所限定的預定最小時間常數的時間常數。
[0010]根據發明實施方式的電子單元包括上述具有觸摸檢測功能的顯示裝置，并且例如對應于電視裝置、數碼相機、個人計算機、攝像機以及諸如手機的便攜式終端裝置。
[0011]在根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置和電子單元中，當施加了靜電時，將導電膜的薄層電阻設定為預定電阻值或更小以通過導電膜將靜電釋放至觸摸檢測電極。另外，為了抑制由于導電膜的設置而引起的觸摸檢測靈敏度的降低，將導電膜的時間常數設定為大于預定的最小時間常數。
[0012]在根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中，例如，期望預定電阻值為1012ω/8(1。此外，例如，觸摸檢測電路可以基于在檢測時段的起始定時處的采樣結果與其結束定時處的檢測結果之差來檢測外部接近物體。檢測時段被設定為在其內包括檢測信號的變換定時，并且預定最小時間常數可以被設定為檢測時段的時間。在這種情況下，例如，導電膜的時間常數可以等于或大于預定最小時間常數的十倍或百倍。
[0013]此外，例如，根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置可以進一步包括偏光板，并且導電膜可以與偏光板一體形成。此外，例如，期望將導電膜設置為至少覆蓋液晶顯示元件執行顯示操作的有效顯示區。
[0014]另外，例如，根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置可以進一步包括并排設置為在與多個觸摸檢測電極交叉的方向上延伸的多個驅動電極，并且靜電電容可以形成在多個觸摸檢測電極與多個驅動電極的每個交叉點處。在這種情況下，例如，導電膜可以設置在檢測電極層的與驅動電極相對的一側上，檢測電極層包括觸摸檢測電極，并且期望驅動電極與檢測電極之間的距離大于導電膜與檢測電極層之間的距離。
[0015]例如，根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置可以進一步包括虛擬電極，它們設置在多個觸摸檢測電極之間，并且處于電浮置狀態。在這種情況下，例如，彼此鄰近的觸摸檢測電極與虛擬電極之間的間隔期望等于或小于50μπι。另外，例如，在有效顯示區中，觸摸檢測電極與虛擬電極的總設置面積期望為有效顯示區面積的50%或更大。
[0016]例如，期望導電膜被提供有恒定電壓。另外，觸摸檢測電極可以以1mm以下的節距并排設置。
[0017]例如，液晶顯示元件可以被構造為包括液晶層和像素電極，像素電極被設置為面向驅動電極，液晶層介于其間。另外，例如，液晶顯示元件可以被構造為包括液晶層和像素電極，其中，像素電極設置在液晶層和驅動電極之間，或設置在與液晶層相對的側上使得驅動電極介于其間。
[0018]在根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置和電子單元中，導電膜的薄層電阻被設定為預定電阻值或更小，并且時間常數被設定為預定最小時間常數或更大。因此，可以實現即使當施加了 ESD時也能降低對顯示的干擾的具有觸摸檢測功能的顯示裝置和電子單元。
[0019]可以理解的是，前面的概述和以下詳細的描述都是示例性的，并意在對要求保護的技術提供進一步說明。
【附圖說明】
[0020]附圖被包括以提供對發明的進一步理解，并結合在說明書中構成說明書的一部分。附圖示出了實施方式，并且與說明書一起用于說明技術原理。
[0021]圖1為用于描述在根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中的觸摸檢測方法的基本原理的示圖，并且為示出了手指沒有接觸或接近顯示裝置的狀態的示圖。
[0022]圖2為用于描述在根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中的觸摸檢測方法的基本原理的示圖，并且為示出了手指接觸或接近顯示裝置的狀態的示圖。
[0023]圖3為用于描述在根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中的觸摸檢測方法的基本原理的示圖，并且為示出了驅動信號和觸摸檢測信號的波形的一個實例的示圖。
[0024]圖4為示出了根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的結構實例的框圖。
[0025]圖5為示出了圖4中所示的具有觸摸檢測功能的顯示部的示意性截面結構的截面圖。
[0026]圖6為示出了圖4中所示的具有觸摸檢測功能的顯示部的像素排列的電路圖。
[0027]圖7為示出了圖4中所示的具有觸摸檢測功能的顯示部的驅動電極和觸摸檢測電極的結構實例的透視圖。
[0028]圖8為示出了圖4中所示的具有觸摸檢測功能的顯示部的觸摸檢測電極的結構實例的平面圖。
[0029]圖9為示出了圖5中所示的偏光板的結構實例的截面圖。
[0030]圖10為示出了圖4中所示的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中的觸摸檢測操作的操作實例的定時波形圖。
[0031 ]圖11為示出了圖9中所示的偏光板中的靜電的流動的實例的示意圖。
[0032]圖12為用于描述圖9中所示的導電膜的時間常數的示意圖。
[0033]圖13為示出了導電膜的時間常數與觸摸檢測信號的S/N比之間的關系的示圖。
[0034]圖14A和圖14B為示出了根據變形例的偏光板的結構實例的截面圖。
[0035]圖15為示出了根據另一個變形例的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的結構實例的平面圖和截面圖。
[0036]圖16為示出了在應用了本實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中的應用實例I的外觀結構的透視圖。
[0037]圖17A和圖17B為示出了應用實例2的外觀結構的透視圖。
[0038]圖18為示出了應用實例3的外觀結構的透視圖。
[0039]圖19為示出了應用實例4的外觀結構的透視圖。
[0040]圖20A?圖20G為示出了應用實例5的外觀結構的正視圖、側視圖、俯視圖以及仰視圖。
[0041]圖21為示出了根據實施方式變形例的具有觸摸檢測功能的顯示部的示意性截面結構的截面圖。
【具體實施方式】
[0042]下文中，將參照附圖詳細描述發明的優選實施方式。需要注意，將以下面順序進行描述。
[0043]1.靜電電容型觸摸檢測的基本原理
[0044]2.實施方式
[0045]3.應用實例
[0046][1.靜電電容型觸摸檢測的基本原理]
[0047]首先，將參照圖1?圖3描述根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置中的觸摸檢測的基本原理。作為靜電電容型觸摸傳感器來實現觸摸檢測方法，如圖1的(A)中所示，使用彼此面對的一對電極(驅動電極El和觸摸檢測電極E2)并使得介電體D介于其間來構成電容元件。該結構被表示為圖1的(B)中所示的等效電路。電容元件CI由驅動電極E1、觸摸檢測電極E2以及介電體D構成。電容元件Cl的一端連接至交流信號源(驅動信號源)S，而另一端P通過電阻器R接地，并且連接至電壓檢測器(觸摸檢測電路)DET。當將具有預定頻率(例如，約幾kHz至幾十kHz)的交流矩形波Sg(圖3的(B))從交流信號源S施加至驅動電極El(電容元件Cl的一端)時，圖3的(A)中示出的輸出波形(觸摸檢測信號Vdet)出現在觸摸檢測電極E2(電容元件Cl的另一端P)中。需要注意的是，交流矩形波Sg對應于隨后所描述的驅動信號Vcom。
[0048]如圖1所示，在手指未接觸(或未接近)顯示裝置的狀態下，根據電容元件Cl的電容值的電流1響應于對電容元件Cl的充電和放電而流動。此時電容元件Cl的另一端P具有類似于圖3的(A)中的波形VO的電位波形，并且所述波形由電壓檢測器DET檢測。
[0049]另一方面，如圖2所示，在手指接觸(或接近)顯示裝置的狀態下，以與電容元件Cl串聯的方式加入了由手指所形成的電容元件C2。在這種狀態下，電流Il和12分別響應于對電容元件Cl和C2的充電和放電而流動。此時電容元件Cl的另一端P具有類似于圖3的(A)中的波形Vl的電位波形，并且所述波形由電壓檢測器DET檢測。此時，點P的電位為通過流過電容元件Cl和C2的電流11和12的值所確定的分壓(partial potential)。因此，波形Vl為比非接觸狀態下的波形VO小的值。電壓檢測器DET將所檢測的電壓與預定閾值電壓Vth進行比較，當所檢測的電壓等于或大于閾值電壓時，確定為非接觸狀態，而當所檢測電壓小于閾值電壓時，確定為接觸狀態。通過這種方式，能夠實現觸摸檢測。
[0050][2.實施方式]
[0051][結構實例]
[0052](通用結構實例)
[0053]圖4示出了根據發明實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置I的結構實例。具有觸摸檢測功能的顯示裝置使用液晶顯示元件作為顯示元件，并且為所謂的內嵌型(in-celltype)，其中，將由液晶顯示元件所構成的液晶顯示部與靜電電容型觸摸檢測部集成。
[0054]具有觸摸檢測功能的顯示裝置I包括控制部11、柵極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14、具有觸摸檢測功能的顯示部10以及觸摸檢測電路40。
[0055]控制部11為根據從外部所提供的圖像信號Vdisp將控制信號提供至柵極驅動器
12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14以及觸摸檢測電路40的每一個，并控制這些部分彼此同步地進行操作的電路。
[0056]柵極驅動器12具有基于從控制部11所提供的控制信號順序選擇作為具有觸摸檢測功能的顯示部10的顯示驅動目標的一條水平線的功能。具體地，如后所述，柵極驅動器12通過掃描信號線GCL將掃描信號Vscan提供至像素Pix的TFT元件Tr的柵極，從而順序選擇在具有觸摸檢測功能的顯示部10的液晶顯示部20中以矩陣形式所形成的像素Pix中的一行(一條水平線)作為顯示驅動的目標。
[0057]源極驅動器13為基于從控制部11所提供的控制信號將像素信號Vpix提供至具有觸摸檢測功能的顯示部10中的每個像素Pix(隨后描述)的電路。具體地，如隨后所述，源極驅動器13通過像素信號線SGL將像素信號Vpix提供至構成由柵極驅動器12順序選擇的一條水平線的每個像素Pix。隨后，在像素Pix中，響應于所提供的像素信號Vpix，執行水平線的顯不O
[0058]驅動電極驅動器14為基于從控制部11所提供的控制信號將驅動信號Vcom提供至具有觸摸檢測功能的顯示部10的驅動電極COML(隨后描述)的電路。具體地，驅動電極驅動器14以分時方式(time-divis1nal manner)將驅動信號Vcom順序施加至驅動電極COML。隨后，觸摸檢測部30從多個觸摸檢測電極TDL(隨后描述)基于驅動信號Vcom輸出觸摸檢測信號Vdet，并且將信號提供至觸摸檢測電路40。
[0059]具有觸摸檢測功能的顯示部10為結合了觸摸檢測功能的顯示部。具有觸摸檢測功能的顯示部10包括液晶顯示部20和觸摸檢測部30。如隨后所描述的，液晶顯示部20為根據從柵極驅動器12所提供的掃描信號Vscan以一條水平線為單位執行順序掃描以執行顯示的部件。觸摸檢測部30基于靜電電容型觸摸檢測的上述基本原理進行操作，并輸出觸摸檢測信號Vdet。如后所述，觸摸檢測部30根據從驅動電極驅動器14所提供的驅動信號Vcom執行順序掃描以執行觸摸檢測。
[0060]觸摸檢測電路40為基于從控制部11所提供的控制信號和從具有觸摸檢測功能的顯示部10的觸摸檢測部30所提供的觸摸檢測信號Vdet檢測關于觸摸檢測部30的觸摸事件的存在的電路，并且當檢測到觸摸事件時，觸摸檢測電路40確定觸摸檢測區中的坐標等。觸摸檢測電路40包括模擬LPF (低通濾波器)部42、A/D轉換部43、信號處理部44、坐標提取部45以及檢測定時控制部46。模擬LPF部42為去除包含在從觸摸檢測部30所提供的觸摸檢測信號Vdet中的高頻分量(噪聲分量)以提取觸摸分量并輸出每個觸摸分量的低通模擬濾波器。用于施加直流電位(OV)的電阻器R連接在模擬LPF部42的每個輸入終端與地線之間。順便提及，例如，通過提供開關代替電阻器R并在預定時間接通開關，從而可以提供直流電位(0V)。A/D轉換部43為在與驅動信號Vcom同步的定時通過采樣將從模擬LPF部42所輸出的每個模擬信號轉換成數字信號的電路。信號處理部44為基于A/D轉換部43的輸出信號檢測關于觸摸檢測部30的觸摸事件的存在的邏輯電路。坐標提取部45為當通過信號處理部44檢測到觸摸事件時確定觸摸面板坐標的邏輯電路。檢測定時控制部46控制這些電路彼此同步操作。
[0061](具有觸摸檢測功能的顯示部10)
[0062]接下來，將詳細描述具有觸摸檢測功能的顯示部10的結構實例。
[0063]圖5示出了具有觸摸檢測功能的顯示部10的相關部分的截面結構的實例。具有觸摸檢測功能的顯示部10具有像素基板2、設置為面向像素基板2的對向基板3以及插入在像素基板2與對向基板3之間的液晶層6。
[0064]像素基板2包括作為電路基板的TFT基板21和以矩陣形式排列在TFT基板21上的多個像素電極22。盡管未示出，但是在TFT基板21上形成了用于每個像素的薄膜晶體管(TFT)以及諸如用于將像素信號Vpix提供至每個像素電極22的像素信號線SGL和用于驅動每個TFT的掃描信號線GCL的配線。
[0065]對向基板3包括玻璃基板31、形成在玻璃基板31表面上的濾色器32以及形成在濾色器32上的多個驅動電極C0ML。例如，通過周期性排列紅色(R)、綠色(G)以及藍色(B)的三個濾色器層來構成濾色器32，一組三個顏色R、G以及B對應于每個顯示像素。驅動電極COML用作用于液晶顯示部20的共用驅動電極，并且也用作觸摸檢測部30的驅動電極。需要注意的是，在該實例中，盡管驅動電極COML被共享用于顯示和用于觸摸檢測，但是可以分開設置用于顯示和用于觸摸檢測的驅動電極。另外，例如，代替驅動電極C0ML，掃描信號線GCL或像素信號線SGL可以被共享作為用于觸摸檢測部30的驅動電極。在這些情況下，當掃描信號線GCL或像素信號線SGL由諸如Mo或Al的低電阻材料制成時，能夠實現低電阻驅動電極。驅動電極COML通過接觸導電柱(未示出)連接至TFT基板21，并且具有交流矩形波形的驅動信號Vcom通過接觸導電柱從TFT基板21施加至驅動電極COML。在玻璃基板31的另一個表面上，形成了作為觸摸檢測部30的檢測電極的觸摸檢測電極TDL ο每個觸摸檢測電極TDL由ITO (氧化銦錫)、IZ0、Sn0、有機導電膜等構成，并具有透光性。需要注意的是，例如，每個觸摸檢測電極TDL可以在電極中對應于具有低透射率的彩色光的像素(在ITO情況下為藍色(B)的像素)的部分處具有開口部。此外，偏光板35設置在觸摸檢測電極TDL上。順便提及，在偏光板35上，可以設置由玻璃、薄膜、塑料等構成的覆蓋窗。
[0066]液晶層6根據電場狀態對通過其中的光進行調制，并且使用諸如TN(扭曲向列)、VA(垂直配向)以及ECB (電控雙折射)的各種模式的液晶。
[0067]順便提及，在液晶層6與像素基板2之間及液晶層6與對向基板3之間設置配向膜。另外，入射側偏光板設置像素基板2的底面側，圖中未示出。
[O O6 8 ]圖6示出了液晶顯示部2 O中的像素結構的結構實例。液晶顯示部2 O具有以矩陣形式排列的多個像素Pix。每個像素Pix具有TFT元件Tr和液晶元件LC13TFT元件Tr由薄膜晶體管構成，并且在該實例中，TFT元件Tr由η溝道MOS(金屬氧化物半導體)TFT構成。TFT元件Tr的源極連接至像素信號線SGL，其柵極連接至掃描信號線GCL，而其漏極連接至液晶元件LC的一端。液晶元件LC的一端連接至TFT元件Tr的漏極，而其另一端連接至驅動電極COML。
[0069]每個像素Pix通過掃描信號線GCL互相連接至處于液晶顯示部20的相同行中的其他像素Pix。掃描信號線GCL連接至柵極驅動器12，并且從柵極驅動器12提供掃描信號Vscan。另外，每個像素Pix通過像素信號線SGL互相連接至處于液晶顯示部20的相同列中的其他像素Pix。像素信號線SGL連接至源極驅動器13，并且從源極驅動器13提供像素信號Vpix0
[0070]此外，每個像素Pix通過驅動電極COML互相連接至處于液晶顯示部20的相同行中的其他像素Pix。驅動電極COML連接至驅動電極驅動器14，并且從驅動電極驅動器14提供驅動信號Vcom。
[0071]通過這種結構，在液晶顯示部20中，柵極驅動器12驅動掃描信號線GCL，以分時方式執行線順序掃描，從而選擇一條水平線。隨后，源極驅動器13將像素信號Vpix提供至所選的水平線中的像素Pix，從而以水平線為單位執行顯示。
[0072]圖7為示出了觸摸檢測部30的結構實例的透視圖。觸摸檢測部30由設置在對向基板3中的驅動電極COML和觸摸檢測電極TDL構成。每個驅動電極COML由在圖的橫向上延伸的條形電極圖案構成。當執行觸摸檢測操作時，驅動信號Vcom通過驅動電極驅動器14被順序提供至每個電極圖案，從而以分時方式執行順序掃描驅動。每個觸摸檢測電極TDL由在與每個驅動電極COML的電極圖案的延伸方向正交的方向上延伸的電極圖案構成。如隨后所述，虛擬電極37(未示出)設置在觸摸檢測電極TDL之間。每個觸摸檢測電極TDL的電極圖案被連接至觸摸檢測電路40 ο互相交叉的驅動電極COML的電極圖案和觸摸檢測電極TDL的電極圖案在每個交叉點處形成靜電電容。
[0073]通過這種結構，在觸摸檢測電極30中，驅動電極驅動器14將驅動信號Vcom提供至驅動電極COML，以從觸摸檢測電極TDL輸出觸摸檢測信號Vdet，從而執行觸摸檢測。驅動電極COML對應于圖1?圖3中所示的觸摸檢測的基本原理中的驅動電極EI，觸摸檢測電極TDL對應于觸摸檢測電極E2，觸摸檢測部30根據基本原理檢測觸摸事件。如圖7所示，彼此交叉的電極圖案以矩陣形式構成了靜電電容型觸摸傳感器。因此，在觸摸檢測部30的整個觸摸檢測表面上執行掃描，使得也能夠檢測外部接近物體的接觸位置或接近位置。
[0074]圖8示出了觸摸檢測電極TDL的結構實例。例如，觸摸檢測電極TDL以5mm節距并排設置在有效顯示區S中。虛擬電極37設置在觸摸檢測電極TDL之間，而虛擬電極38設置在有效顯示區S兩側所設置的每個觸摸檢測電極TDL的外側。虛擬電極37和38使得很難從外部看到觸摸檢測電極TDL，并且處于電浮置狀態。偏光板35設置在比有效顯示區S寬的區域中。換句話說，在偏光板35中所形成的導電層52(隨后描述)被設置為覆蓋有效顯示區S。需要注意的是，圖8中示出了 8個觸摸檢測電極TDL，然而，有效顯示區S中的觸摸檢測電極TDL數量并不限于此，而例如，可以為9個以上或7個以下。另外，在圖8中，盡管在設置了導電層52(偏光板35)的區域中形成了觸摸檢測電極TDL和虛擬電極37，但是并不限于此。可以在設置了導電層52的區域外部形成觸摸檢測電極TDL和虛擬電極37。
[0075]圖9示出了偏光板35的結構實例。偏光板35具有偏光層54和導電層52。偏光層54為具有偏光功能的層。覆蓋層55形成在偏光層54表面上，而硬涂層56形成在覆蓋層55上。覆蓋層53形成在偏光層54的與形成有覆蓋層55的表面相對的表面上，而導電層52形成在覆蓋層53上。導電層52為具有透光性和導電性的層，并且由ITO、IZO、SnO、有機導電膜等構成。如后所述，提供導電層52用于ESD保護。導電層52抑制由于從外部施加并隨后傳輸至液晶層的靜電而導致的顯示干擾，并且將觸摸檢測靈敏度的劣化抑制為最小。在導電層52上，設置了粘合層51以將導電層52與設置有觸摸檢測電極TDL和虛擬電極37和38的玻璃基板31粘合。如圖9所示，導電層52與觸摸檢測電極TDL之間的距離dl被設定為比觸摸檢測電極TDL與驅動電極COML之間的距離d2小。
[0076]這里，液晶元件LC對應于本發明的“液晶顯示元件”的具體實例。導電層52對應于本發明的“導電膜”的具體實例。
[0077][操作和功能]
[0078]接下來，將描述實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置I的操作和功能。
[0079](一般操作概述)
[0080]控制部11基于從外部提供的圖像信號Vdisp將控制信號提供至柵極驅動器12、源極驅動器13、驅動電極驅動器14以及觸摸檢測電路40的每一個，并且控制這些部分彼此同步操作。柵極驅動器12將掃描信號Vscan提供至液晶顯示部20，以順序選擇用于顯示的待被驅動的一條水平線。源極驅動器13將像素信號Vpix提供至構成由柵極驅動器12所選的水平行線的每個像素Pix。驅動電極驅動器14將驅動信號Vcom順序施加至驅動電極C0ML。具有觸摸檢測功能的顯示部10執行顯示操作，并基于驅動信號Vcom執行觸摸檢測操作，以從觸摸檢測電極TDL輸出觸摸檢測信號Vdet。模擬LPF部42從觸摸檢測信號Vdet中去除高頻分量以輸出所得信號。A/D轉換部43在與驅動信號Vcom同步的定時處將從模擬LPF部42中所輸出的模擬信號轉換成數字信號。信號處理部44基于來自A/D轉換部43的輸出信號檢測關于觸摸檢測部30的觸摸事件的存在。坐標提取部45響應于信號處理部44的觸摸檢測來確定觸摸面板坐標。檢測定時控制部46控制模擬LPF部42、A/D轉換部43、信號處理部44以及坐標提取部45彼此同步操作。
[0081]圖10示出了觸摸檢測操作的操作實例，其中，(A)示出了驅動信號Vcom的波形，而(B)示出了觸摸檢測信號Vdet的波形。驅動電極驅動器14將具有圖10的(A)中所示的交流矩形波形的驅動信號Vcom施加至驅動電極C0ML。驅動信號Vcom通過靜電電容被傳輸至觸摸檢測電極TDL，這引起了感應電流流動。隨后，觸摸檢測信號Vdet發生變化(圖10的(B)) j/D轉換部43在檢測時段Pdet期間在與驅動信號Vcom同步的采樣定時tsl和ts2處對來自模擬LPF部42(其已經接收到觸摸檢測信號Vdet)的輸出信號進行采樣，以執行A/D轉換(圖10的(B))。采樣定時tsl對應于觸摸檢測時段Pdet的起始定時，并且在驅動信號Vcom的變換定時前立即被設定。相對地，采樣定時ts2對應于觸摸檢測時段Pdet的結束定時，并且在驅動信號Vcom的變換定時之后立即被設定。觸摸檢測電路40的信號處理部44基于采樣定時tsl處的A/D轉換結果與采樣定時ts2處的A/D轉換結果之差來執行觸摸檢測。這里，觸摸檢測時段Pdet對應于本發明的“檢測時段”的具體實例。
[0082]接下來，將描述導電層52。在制造具有觸摸檢測功能的顯示裝置I及其使用過程中提供導電層52以用于ESD保護。在制造過程中，通常，例如，當在偏光板粘合前從偏光板上去除覆蓋膜時，當利用透明粘合劑將覆蓋玻璃(覆蓋膜、或覆蓋塑料)粘合至面板時，或者當檢查時人的手指觸摸觸摸檢測表面(硬涂層56的表面)時，偏光板可能被充電。另外，在使用具有觸摸檢測功能的顯示裝置I的過程中，當用戶帶電的手指觸摸觸摸檢測表面時，偏光板可能被充電。導電層52用來釋放靜電。下面，將描述導電層52的功能及用于實現這種功能的電特性。
[0083]圖11示意性地示出了當施加靜電時的靜電流動。在具有觸摸檢測功能的顯示裝置I中，例如，施加至偏光板35的表面(硬涂層56)的靜電SE首先通過覆蓋層55、偏光層54以及覆蓋層53被傳輸至導電層52。隨后，靜電SE通過導電層52和虛擬電極37被傳輸至設置在其周圍的觸摸檢測電極TDL。此后，使傳輸至觸摸檢測電極TDL的靜電SE通過設置在觸摸檢測電路40的輸入處的電阻器R(圖4)或設置在其輸入部中的ESD保護電路(未示出)釋放至具有觸摸檢測功能的顯示部的電源或GND。換句話說，在未設置導電層52的情況下，例如，靜電被充電至偏光板自身，由靜電所引起的電場會干擾液晶層6的液晶分子的配向，從而會干擾顯示。但是，通過設置導電層52，很容易將靜電釋放，從而可以降低顯示干擾的可能性。如圖8所示，導電層52被設置為覆蓋有效顯示區S，從而使得在有效顯示區S的整個表面上，靜電很容易被釋放，從而降低了對顯示的干擾。
[0084]順便提及，導電層52可以被設置為覆蓋包括有效顯示區S的寬的區域。例如，通過將導電層52設置為覆蓋在像素基板2上設置的電路區，可以防止當制造過程中施加靜電時的電路的擊穿，并且可以降低在電路使用過程中施加靜電時電路的故障。
[0085]為了容易地釋放靜電，彼此相鄰的觸摸電極TDL與虛擬像素37或38之間的每個間隔期望盡可能的窄，例如，期望被設定為50μπι以下。此外，為了容易地釋放靜電，期望觸摸檢測電極TDL和虛擬像素37和38被設置為在有效顯示區S中具有盡可能寬的總設置面積。例如，期望總設置面積為有效顯示區S的面積的50%以上。
[0086]為了將所施加的靜電SE容易地釋放至設置在其周圍的觸摸檢測電極TDL，期望使導電層52具有充分低的電阻。換句話說，鑒于ESD保護，導電層52的電阻具有上限。通常，眾所周知，為了有效地釋放靜電，導電層52的薄層電阻(sheet resistance)值期望等于或小于I X 112 Ω /sq，并且優選等于或小于I X 111 Ω /sq0
[0087]另一方面，如果導電層52的電阻過低，則會降低觸摸檢測靈敏度。如圖7所示，具有觸摸檢測功能的顯示裝置I通過使用由外部接近物體而引起的驅動電極COML與觸摸檢測電極TDL之間的靜電電容的變化來檢測觸摸事件。因此，如果設置在觸摸檢測電極TDL與外部接近物體之間的導電層52的電阻過低，則導電層52用作屏蔽層，從而靜電電容很難響應于外部接近物體而變化。換句話說，在觸摸檢測信號Vdet中，表示觸摸事件存在的觸摸分量被屏蔽層削弱，S/N比降低，從而觸摸檢測靈敏度相應地降低。如上所述，鑒于觸摸檢測靈敏度，導電層52的電阻具有下限。
[0088]換句話說，導電層52的電阻需要被設定為在鑒于ESD保護而限定的上限與鑒于觸摸檢測靈敏度而限定的下限之間的范圍內的一個值。
[0089]接下來，將詳細描述導電層52的電阻的下限。
[0090 ]圖12示意性地示出了導電層52的電阻和導電層52與驅動電極COML之間的電容。為了防止觸摸檢測信號Vdet的觸摸分量被導電層52削弱(以提高S/N比)，例如，如圖10所示，當觸摸檢測信號Vdet在觸摸檢測時段Pdet期間根據驅動信號Vcom的變換而變化時，導電層52的電壓需要表現出充分小的變化。導電層52的電壓依賴于導電層52的時間常數τ(=R52.C52)而變化。因此，為了提高S/N比，導電層52的時間常數τ需要大于對應于觸摸檢測時段Pdet的時間tdet。
[0091]圖13示出了S/N比與導電層52的時間常數τ之間的關系。水平軸表示以時間tdet為單位的導電層52的時間常數τ。垂直軸表示當時間常數τ為無窮(對應于沒有設置導電層52的情況)時的S/N比被定義為100時的S/N比(相對值)。需要注意的是，在這個研究中，假設噪聲沒有受到導電層52的影響，并且為常數。
[0092]如圖13所示，當時間常數1小時，S/N比變小。這是因為，如上所述，導電層52由于很小的時間常數τ而具有類似于屏蔽層的功能，從而觸摸分量相應地被削弱。另一方面，當時間常數τ變大時，導電層52的影響降低，并且S/N比相應地增大。
[0093]如圖13所示，盡管所需S/N比依賴于具有觸摸檢測功能的顯示裝置I的使用，然而例如，期望時間常數τ至少大于時間tdet。此時，S/N比(相對值)等于或大于37。此外，時間常數τ優選等于或大于時間tdet的10倍，此時的S/N比等于或大于90。此外，更優選時間常數τ等于或大于時間tdet的100倍。此時，S/N比(相對值)等于或大于99，并且觸摸檢測可以被執行而幾乎不受導電層52的影響。
[0094]以這樣的方式，導電層52的時間常數τ被設定為上述值或更大值，從而獲得了對應于各個值的S/N比，并且確保了觸摸檢測靈敏度。
[0095]另外，如圖8所示，導電層52被設置為覆蓋有效顯示區S。因此，在有效顯示區S中發生觸摸事件的任意部分中，導電層52對S/N比的影響恒定，從而將依賴于觸摸位置的觸摸檢測靈敏度的差異抑制為最小。
[0096][效果]
[0097]如上所述，在該實施方式中，設置了導電層，使得即使在靜電被施加的情況下，也能降低顯示的干擾。
[0098]此外，在該實施方式中，導電層的時間常數被設定為大于觸摸檢測時段的時間，使得將觸摸檢測靈敏度的降低抑制為最小。
[0099]此外，在該實施方式中，導電層被設置在偏光板中，實現了集成，從而有利于制造處理。另外，集成使得導電層與驅動電極之間的距離減小。結果，隨著電容C52的增大，時間常數τ增大，因此，提高了S/N比。此外，當電阻R52隨著電容C52的增大而減小時，允許容易地釋放靜電。
[0100]此外，在該實施方式中，導電層被設置為覆蓋有效顯示區。因此，可以抑制整個有效顯示區中的顯示的干擾，并且可以降低依賴于觸摸位置的觸摸檢測靈敏度的差異。
[Ο?Ο?]此外，在該實施方式中，導電層與觸摸檢測電極之間的距離dl被設定為小于觸摸檢測電極與驅動電極之間的距離d2。因此，允許容易地釋放靜電。另外，例如，在導電層52的電阻隨著允許靜電被容易地釋放而增大的情況下，可以抑制導電層透射性的降低或渾濁。
[0102][變形例I]
[0103]在上述實施方式中，盡管導電層52設置在粘合層51與覆蓋層53之間，但并不限于此。可選地，例如，如圖14A所示，導電層52可以設置在覆蓋層55與硬涂層56之間，或者如圖14B所示，通過使用包括導電顆粒57的粘合劑構成粘合層51C來形成導電層52。同樣，在這種情況下，通過調節粘合劑中所包含的導電顆粒57的大小或數量以及導電顆粒57的特性(諸如導電性)，可以有效地釋放靜電，從而可以將觸摸檢測靈敏度的降低抑制為最小。
[0104][變形例2]
[0105]在上述實施方式中，盡管通過觸摸檢測電極TDL釋放所施加的靜電，但并不限于此。可以提供其他途徑來釋放靜電。圖15示出了根據變形例2的具有觸摸檢測功能的顯示裝置IB的結構實例，其中，(A)為平面圖，并且⑶為圖15的(A)的XV-XV箭頭方向上的示意性截面圖。具有觸摸檢測功能的顯示裝置IB具有GND線58 AND線58設置在偏光板35的周圍，電連接至偏光板35的導電層52，并且被連接至具有觸摸檢測功能的顯示裝置IB的GND。因此，在具有觸摸檢測功能的顯示裝置IB中，所施加的靜電可以通過導電層52容易地釋放至GND。
[0106]在根據上述實施方式的具有觸摸檢測功能的顯示裝置I中，例如，在與觸摸檢測電極TDL連接的觸摸檢測電路40的輸入中設置開關并且僅在檢測定時接通開關的情況下，當開關處于接通狀態時，確保了用于釋放靜電的通路。然而，當開關處于斷開狀態時，該通路被中斷，因此，存在靜電沒有被充分釋放的可能性。即使在這種情況下，在根據變形例2的具有觸摸檢測功能的顯示裝置IB中，由于GND線58—直連接至導電層52，所以一直保證了用于釋放靜電的通路，從而允許容易地釋放靜電。
[0107][其他變形例]
[0108]在上述實施方式中，盡管觸摸檢測電極TDL以5mm節距并排設置，但并不限于此。當觸摸檢測電極TDL之間的節距很寬時，鑒于ESD保護，如圖11所示，由于用于將靜電SE通過導電層52釋放至觸摸檢測電極TDL的通路很長而導致了靜電SE可能很難釋放。另外，鑒于觸摸檢測功能，觸摸檢測的位置分辨率降低。因此，觸摸檢測電極TDL之間的節距優選等于或小于1mmο
[0109]在上述實施方式中，盡管導電層52設置在偏光板35中，但并不限于此。可選地，導電層可以與偏光板分開配置。
[0110]在上述實施方式中，盡管虛擬電極37設置在觸摸檢測電極TDL之間，但并不限于此。可選地，可以不設置虛擬電極。
[0111][3.應用實例]
[0112]接下來，將參照圖16?圖20G描述在實施方式和變形例中所描述的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的應用實例。上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置能夠應用于任意領域的電子單元，諸如電視裝置、數碼相機、筆記本式個人計算機、諸如手機的便攜式終端裝置以及攝像機。換句話說，上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置能夠應用于各種領域的電子單元，用于將從外部輸入的圖像信號或內部生成的圖像信號作為圖像或畫面來顯示。
[0113](應用實例I)
[0114]圖16示出應用了上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的電視裝置的外觀。例如，電視裝置具有包括正面面板511和濾光玻璃512的圖像顯示屏部510。圖像顯示屏部510由根據上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置構成。
[0115](應用實例2)
[0116]圖17A和圖17B示出應用了上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的數碼相機的外觀。例如，數碼相機具有用于閃光的發光部521、顯示部522、菜單開關523以及快門按鈕524。顯示部522由根據上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置構成。
[0117](應用實例3)
[0118]圖18示出應用了上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的筆記本式個人計算機的外觀。例如，筆記本式個人計算機具有主體531、用于輸入字符等操作的鍵盤532以及用于顯示圖像的顯示部533。顯示部533由根據上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置構成。
[0119](應用實例4)
[0120]圖19示出應用了上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的攝像機的外觀。例如，攝像機具有主體541、用于拍攝設置在主體541的正面的物體的透鏡542、拍攝啟動/停止開關543以及顯示部544。同樣，顯示部544由根據上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置構成。(應用實例5)
[0121]圖20A?圖20G示出應用了上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置的手機的外觀。在該手機中，例如，頂側外殼710和底側外殼720通過連接部(鉸鏈部)730連接。手機具有顯示器740、副顯示器750、圖像燈760以及相機770。顯示器740或副顯示器750由根據上述實施方式等的具有觸摸檢測功能的顯示裝置構成。
[0122]在上文中，盡管已經參照實施方式、變形例以及對于電子單元的應用實例描述了發明，但是發明并不限于此，而是可以進行各種修改。
[0123]例如，在上述實施方式等中，具有觸摸檢測功能的顯示裝置為所謂的內嵌型，其中，集成了液晶顯示部與觸摸檢測部。但是，并不限于此，可選地，具有觸摸檢測功能的顯示裝置可以為所謂的外掛型(on-cell)，其中，觸摸檢測部設置在液晶顯示部的表面上，或者可以在液晶顯示部的表面上外部設置有觸摸檢測部。
[0124]例如，在上述實施方式等中，通過將觸摸檢測部30與使用諸如TN、VA以及ECB的各種模式的液晶的液晶顯示部20集成來構成具有觸摸檢測功能的顯示部10。可選地，可以將觸摸檢測部與使用諸如FFS(邊緣電場切換)和IPS(平面內切換)的橫向電場模式的液晶的液晶顯示部集成。例如，在使用橫向電場模式的液晶的情況下，可以如圖21所示構成具有觸摸檢測功能的顯示部90。圖21示出了具有觸摸檢測功能的顯示部90中相關部分的截面結構的實例，并且示出了液晶層6B夾在像素基板2B與對向基板3B之間的狀態。由于其他部分的名稱、功能等與圖5的情況相同，所以省略其描述。在該實例中，與圖5的情況不同，共用于顯示以及觸摸檢測的驅動電極COML直接設置在TFT基板21上，并且構成像素基板2B的一部分。像素電極22通過絕緣層23設置在驅動電極COML上。需要注意的是，該結構不限于這個實例，可選地，例如，像素電極22可以設置在TFT基板21上，而驅動電極COML可以通過絕緣層23而設置在像素電極22上。在這些情況下，設置在驅動電極COML與觸摸檢測電極TDL之間的包括液晶層6B的所有介電體對于電容元件Cl的形成有貢獻。
[0125]本發明包含與2010年9月14日向日本專利局提交的日本在先專利申請JP2010-205573中披露的主題相關的主題，其全部內容結合于此作為參考。
[0126]本領域技術人員應該理解的是，根據設計的需要和其他因素，可以進行各種變形、組合、子組合和修改，只要它們在所附權利要求或其等同替換的范圍內。
【主權項】
1.一種具有觸摸檢測表面的顯示裝置，包括: 多個液晶顯示元件，執行顯示操作； 多個觸摸檢測電極，基于由接觸所述觸摸檢測表面或接近所述觸摸檢測表面的外部接近物體所引起的靜電電容的變化來輸出檢測信號； 導電膜，與所述觸摸檢測電極絕緣或經由高電阻層與所述觸摸檢測電極連接，并且被設置在所述觸摸檢測電極和所述觸摸檢測表面之間以覆蓋在所述觸摸檢測電極上；以及觸摸檢測電路，通過對所述檢測信號進行采樣來檢測所述外部接近物體，其中， 所述導電膜具有等于或小于預定電阻值的薄層電阻，當所述薄層電阻大于所述預定電阻值時，所述導電膜不提供通過所述導電膜的有效的靜電放電路徑，并且 所述導電膜具有大于由所述觸摸檢測電路中的采樣定時所限定的最小時間常數的時間常數。2.根據權利要求1所述的顯示裝置，其中，所述預定電阻值為1012Q/sq。3.根據權利要求2所述的顯示裝置，其中， 所述觸摸檢測電路基于檢測時段的起始定時處的采樣結果與所述檢測時段的結束定時處的采樣結果之間的差值來檢測所述外部接近物體，所述檢測時段被設定為在其內包括所述檢測信號的變換定時，并且 采用所述檢測時段的時間長度作為所述最小時間常數。4.根據權利要求3所述的顯示裝置，其中，所述導電膜的時間常數具有等于或大于所述最小時間常數10倍的值。5.根據權利要求3所述的顯示裝置，其中，所述導電膜的時間常數具有等于或大于所述最小時間常數100倍的值。6.根據權利要求1至3任意一項所述的顯示裝置，進一步包括偏光板， 其中，所述導電膜與所述偏光板一體形成。7.根據權利要求1至3任意一項所述的顯示裝置，其中，所述導電膜被設置為至少覆蓋在所述液晶顯示元件能夠執行顯示操作的有效顯示區上。8.根據權利要求7所述的顯示裝置，進一步包括虛擬電極，設置在所述多個觸摸檢測電極之間，并保持在電浮置狀態。9.根據權利要求8所述的顯示裝置，其中，彼此相鄰的所述觸摸檢測電極與所述虛擬電極之間的間隔大小等于或小于50μπι。10.根據權利要求8所述的顯示裝置，其中，所述有效顯示區內的所述觸摸檢測電極和所述虛擬電極的總設置面積為所述有效顯示區的面積的50%以上。11.根據權利要求1至3任意一項所述的顯示裝置，其中，所述導電膜被連接至恒定的電壓源。12.根據權利要求1至3任意一項所述的顯示裝置，其中，所述觸摸檢測電極以1mm以下的節距并排設置。13.根據權利要求1所述的顯示裝置，其中，所述液晶顯示元件包括液晶層和像素電極。14.一種具有觸摸檢測表面的顯示裝置，包括: 多個液晶顯示元件，執行顯示操作； 多個觸摸檢測電極，基于由接觸所述觸摸檢測表面或接近所述觸摸檢測表面的外部接近物體所引起的靜電電容的變化來輸出檢測信號； 導電膜，與所述觸摸檢測電極絕緣或經由高電阻層與所述觸摸檢測電極連接，并且被設置在所述觸摸檢測電極和所述觸摸檢測表面之間以覆蓋在所述觸摸檢測電極上；以及 觸摸檢測電路，基于用于觸摸檢測的驅動信號來檢測所述外部接近物體，其中， 所述導電膜具有等于或小于預定電阻值的薄層電阻，當所述薄層電阻大于所述預定電阻值時，所述導電膜不提供通過所述導電膜的有效的靜電放電路徑，并且 所述導電膜具有大于由用于觸摸檢測的所述驅動信號的定時所限定的最小時間常數的時間常數。15.根據權利要求14所述的顯示裝置，其中，所述預定電阻值為1012Q/sq。16.根據權利要求15所述的顯示裝置，其中， 所述觸摸檢測電路基于檢測時段的起始定時處的采樣結果與所述檢測時段的結束定時處的采樣結果之間的差值來檢測所述外部接近物體，所述檢測時段被設定為在其內包括所述檢測信號的變換定時，并且 采用所述檢測時段的時間長度作為所述最小時間常數。17.根據權利要求16所述的顯示裝置，其中，所述導電膜的時間常數具有等于或大于所述最小時間常數10倍的值。18.根據權利要求16所述的顯示裝置，其中，所述導電膜的時間常數具有等于或大于所述最小時間常數100倍的值。19.根據權利要求14至16任意一項所述的顯示裝置，進一步包括偏光板， 其中，所述導電膜與所述偏光板一體形成。20.根據權利要求14至16任意一項所述的顯示裝置，其中，所述導電膜被設置為至少覆蓋在所述液晶顯示元件能夠執行顯示操作的有效顯示區上。21.根據權利要求20所述的顯示裝置，進一步包括虛擬電極，設置在所述多個觸摸檢測電極之間，并保持在電浮置狀態。22.根據權利要求21所述的顯示裝置，其中，彼此相鄰的所述觸摸檢測電極與所述虛擬電極之間的間隔大小等于或小于50μπι。23.根據權利要求21所述的顯示裝置，其中，所述有效顯示區內的所述觸摸檢測電極和所述虛擬電極的總設置面積為所述有效顯示區的面積的50%以上。24.根據權利要求14至16任意一項所述的顯示裝置，其中，所述導電膜被連接至恒定的電壓源。25.根據權利要求14至16任意一項所述的顯示裝置，其中，所述觸摸檢測電極以1mm以下的節距并排設置。26.根據權利要求14所述的顯示裝置，其中，所述液晶顯示元件包括液晶層和像素電極。
【文檔編號】G06F3/044GK105912153SQ201610192397
【公開日】2016年8月31日
【申請日】2011年9月7日
【發明人】石崎剛司, 野口幸治, 石毛理
【申請人】株式會社日本顯示器