一種存儲器目標測試方法
【技術領域】
[0001]本發明涉及計算機內存可靠性測試技術領域，具體提供一種存儲器目標測試方法。
【背景技術】
[0002]隨著IT領域技術的不斷發展，傳統信息化服務以及日趨強大的云計算服務，對服務器的安全可靠要求越來越高。作為服務器產品提供商，一款服務器無論是在研發階段還是生產階段都需要對產品進行安全性測試，從而嚴格保證該產品的安全性，其主要體現在RAS性能上。
[0003]RAS特性中重要的一點就是內存的RAS特性。內存是一種電子器件，在其工作過程中難免會出現錯誤，而對于穩定性要求高的用戶來說，內存錯誤可能會引起致命性的問題。內存錯誤根據其原因還可分為硬錯誤和軟錯誤。硬件錯誤是由于硬件的損害或缺陷造成的，因此數據總是不正確；軟錯誤是隨機出現的，例如在內存附近突然出現電子干擾等因素都可能造成內存軟錯誤的發生。
【發明內容】
[0004]本發明的技術任務是針對上述存在的問題，提供一種操作簡單，實用性強，能有效確保服務器的可靠性和安全性的存儲器目標測試方法。
[0005]為實現上述目的，本發明提供了如下技術方案:
一種存儲器目標測試方法，所述測試方法使用ITP工具給內存注入Bit ECC Error，模擬實際應用中內存出錯情況，通過讀取寄存器的值來考量存儲器目標功能是否成功實現。
[0006]開啟存儲器目標功能的情況下，給內存注入單Bit ECC Error來模擬實際應用中出現的內存ECC Error，在ECC Error數目達到閾值時該功能仍然可以糾正一個bit的錯誤，從而不會發生服務器宕機現象。該測試方法操作簡單，實用性較強，有效確保了服務器的可靠性和安全性。
[0007]作為優選，所述方法適用于帶有XDP接口，支持存儲器目標功能的X86服務器產品Ο
[0008]本發明具有以下突出的有益效果:使用ΙΤΡ工具給內存注入單Bit ECC Error，模擬實際應用中內存出錯情況，通過讀取寄存器的值來考量存儲器目標功能，使服務器不會發生宕機現象；該方法操作簡單，實用性強，能有效確保服務器的可靠性和安全性，防止服務器內存出現硬錯誤或者軟錯誤等致命性的錯誤，提高服務器的易用性。
【具體實施方式】
[0009]下面結合實施例對本發明所述存儲器目標測試方法作進一步詳細說明。
實施例
[0011]本發明所述存儲器目標測試方法，使用ITP工具給內存注入Bit ECC Error,模擬實際應用中內存出錯情況，通過讀取寄存器的值來考量存儲器目標功能是否成功實現。
[0012]開啟存儲器目標功能的情況下，給內存注入單Bit ECC Error來模擬實際應用中出現的內存ECC Error，在ECC Error數目達到閾值時該功能仍然可以糾正一個bit的錯誤，從而不會發生服務器宕機現象。該測試方法操作簡單，實用性較強，有效確保了服務器的可靠性和安全性。
[0013]作為優選，所述方法適用于帶有XDP接口，支持存儲器目標功能的X86服務器產品Ο
[0014]本發明的存儲器目標測試方法的實際工作過程為:
(1)準備好Windows測試機和Windows控制端；
(2)用ITP工具連接測試機和控制端；
(3)設置存儲器目標為Enable;
(4)控制端輸入指令，給測試機的某根內存rank注入單BitECC Error ；
(5)輸入指令查看該rank上ECCError數目增加1 ;
(6)繼續給該rank注錯，直至Error數目達到閥值；
(7)查看該rank上ECCError數目變為0 ;
(8)Windows系統沒有藍屏或者宕機現象；
(9)Windows 端查看寄存器有 DEVTAG-CNTL-0.bit7=l，DEVTAG-CNTL-0.bit6=0。
[0015]以上所述的實施例，只是本發明較優選的【具體實施方式】，本領域的技術人員在本發明技術方案范圍內進行的通常變化和替換都應包含在本發明的保護范圍內。
【主權項】
1.一種存儲器目標測試方法，其特征在于:所述測試方法使用ITP工具給內存注入BitECC Error,模擬實際應用中內存出錯情況，通過讀取寄存器的值來考量存儲器目標功能是否成功實現。2.根據權利要求1所述的存儲器目標測試方法，其特征在于:所述方法適用于帶有XDP接口，支持存儲器目標功能的X86服務器產品。
【專利摘要】本發明公開了一種存儲器目標測試方法，屬于計算機內存可靠性測試技術領域。所述存儲器目標測試方法，使用ITP工具給內存注入Bit？ECC？Error，模擬實際應用中內存出錯情況，通過讀取寄存器的值來考量存儲器目標功能是否成功實現。本發明所述存儲器目標測試方法，操作簡單，實用性強，有效確保了服務器的可靠性和安全性，具有很好的推廣應用價值。
【IPC分類】G06F11/26
【公開號】CN105302686
【申請號】CN201510903925
【發明人】齊煜
【申請人】浪潮電子信息產業股份有限公司
【公開日】2016年2月3日
【申請日】2015年12月9日