本發明涉及分辨率測試,尤其涉及一種x射線源焦點尺寸確定方法、裝置、電子設備及存儲介質。
背景技術:
1、目前常使用線對卡進行x射線源焦點或分辨率測試。
2、現有線對卡測試方法中,主要根據測試者對圖案的觀察來確定焦點尺寸,存在主觀性和偶然性。
3、在實現本發明的過程中,發現現有技術中至少存在以下技術問題:上述現有技術方案,存在焦點尺寸準確度低的問題。
技術實現思路
1、本發明提供了一種x射線源焦點尺寸確定方法、裝置、電子設備及存儲介質,以提升焦點尺寸的準確度。
2、根據本發明的一方面,提供了一種x射線源焦點尺寸確定方法,包括:
3、獲取線對卡測試圖像對應的測試剖面曲線圖;
4、獲取線對卡圖像對應的理想剖面曲線圖;
5、基于所述線對卡測試圖像對應的測試剖面曲線圖和所述線對卡圖像對應的理想剖面曲線圖進行反卷積處理,得到目標卷積核函數曲線;
6、基于所述目標卷積核函數曲線確定x射線源焦點尺寸。
7、根據本發明的另一方面,提供了一種x射線源焦點尺寸確定裝置,包括:
8、測試剖面曲線圖獲取模塊,用于獲取線對卡測試圖像對應的測試剖面曲線圖;
9、理想剖面曲線圖獲取模塊,用于獲取線對卡圖像對應的理想剖面曲線圖;
10、曲線反卷積處理模塊,用于基于所述線對卡測試圖像對應的測試剖面曲線圖和所述線對卡圖像對應的理想剖面曲線圖進行反卷積處理,得到目標卷積核函數曲線;
11、x射線源焦點尺寸確定模塊,用于基于所述目標卷積核函數曲線確定x射線源焦點尺寸。
12、根據本發明的另一方面,提供了一種電子設備,所述電子設備包括:
13、至少一個處理器;
14、以及與所述至少一個處理器通信連接的存儲器;
15、其中,所述存儲器存儲有可被所述至少一個處理器執行的計算機程序,所述計算機程序被所述至少一個處理器執行,以使所述至少一個處理器能夠執行本發明任一實施例所述的x射線源焦點尺寸確定方法。
16、根據本發明的另一方面,提供了一種計算機可讀存儲介質,所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機指令,所述計算機指令用于使處理器執行時實現本發明任一實施例所述的x射線源焦點尺寸確定方法。
17、本發明實施例的技術方案,通過反卷積方法,實現了目標卷積核函數曲線的確定,進而根據目標卷積核函數曲線確定x射線源焦點尺寸,實現了焦點尺寸的自動確定,使焦點尺寸的確定有據可依,提升了焦點尺寸的準確度。
18、應當理解,本部分所描述的內容并非旨在標識本發明的實施例的關鍵或重要特征,也不用于限制本發明的范圍。本發明的其它特征將通過以下的說明書而變得容易理解。
1.一種x射線源焦點尺寸確定方法,其特征在于,包括:
2.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取線對卡測試圖像對應的測試剖面曲線圖,包括:
3.根據權利要求2所述的方法,其特征在于,所述基于所述線對卡測試圖像中各像素的灰度值生成所述線對卡測試圖像對應的測試剖面曲線圖,包括:
4.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述獲取線對卡圖像對應的理想剖面曲線圖,包括:
5.根據權利要求1所述的方法,其特征在于,所述基于所述目標卷積核函數曲線確定x射線源焦點尺寸,包括:
6.根據權利要求5所述的方法,其特征在于,所述基于所述目標卷積核函數曲線對應的高斯擬合曲線確定x射線源焦點尺寸,包括:
7.根據權利要求1-6中任一所述的方法,其特征在于,在所述獲取線對卡測試圖像對應的測試剖面曲線圖之前,所述方法還包括:
8.一種x射線源焦點尺寸確定裝置,其特征在于,包括:
9.一種電子設備,其特征在于,所述電子設備包括:
10.一種計算機可讀存儲介質,其特征在于,所述計算機可讀存儲介質存儲有計算機指令,所述計算機指令用于使處理器執行時實現權利要求1-7中任一項所述的x射線源焦點尺寸確定方法。