太陽能硅片數量檢測系統的制作方法

本發明涉及太陽能硅片生產技術領域，特別是一種太陽能硅片數量檢測系統。

背景技術：

硅片是太陽能電池片的載體，硅片質量的好壞直接決定了太陽能電池片轉換效率的高低，因此需要對來料硅片進行檢測。該工序主要用來對硅片的一些技術參數進行在線測量，這些參數主要包括硅片表面不平整度、少子壽命、電阻率、p/n型和微裂紋等。該組設備分自動上下料、硅片傳輸、系統整合部分和四個檢測模塊。其中，光伏硅片檢測儀對硅片表面不平整度進行檢測,同時檢測硅片的尺寸和對角線等外觀參數；微裂紋檢測模塊用來檢測硅片的內部微裂紋；另外還有兩個檢測模組，其中一個在線測試模組主要測試硅片體電阻率和硅片類型，另一個模塊用于檢測硅片的少子壽命。在進行少子壽命和電阻率檢測之前，需要先對硅片的對角線、微裂紋進行檢測，并自動剔除破損硅片。硅片檢測設備能夠自動裝片和卸片，并且能夠將不合格品放到固定位置，從而提高檢測精度和效率。

技術實現要素：

本發明需要解決的技術問題是提供一種精確度高的太陽能硅片數量檢測系統。

為解決上述的技術問題，本發明的太陽能硅片數量檢測系統，包括計數器，所述計數器與a/d轉換器輸入端相連接，所述a/d轉換器輸出端與下位機輸入端相連接，所述下位機輸出端與光電耦合單元輸入端相連接，所述光電耦合單元輸出端通過電磁閥與擋片相連接。

進一步的，所述計數器為兩個。

更進一步的，所述計數器與a/d轉換器之間設置有檢測保護單元。

更進一步的，所述檢測單元包括電壓比較器lm293，所述其中一個計數器通過電阻r4和電容c3的串聯電路接地，電阻r4和電容c3的中間連接點與電壓比較器lm293的2號管腳相連接，電源v1通過電阻r2和電阻r3的串聯電路接地，電阻r2和電阻r3中間連接點與電壓比較器lm293的3號和5號管腳相連接，所述電阻r3兩端并聯電容c2；另外一個計數器通過電阻r1和電容c1的串聯電路接地，電阻r1和電容c1的中間連接點與電壓比較器lm293的6號管腳相連接，所述電壓比較器lm293的1號和7號管腳與a/d轉換器輸入端相連接。

進一步的，所述下位機通過rs232接口與上位機相連接。

采用上述結構后，本發明通過設置兩個計數器，可以將數據進行對比，另外通過檢測保護單元可以很好的保護計數器，提高了太陽能硅片數量檢測的精度。

附圖說明

下面結合附圖和具體實施方式對本發明作進一步詳細的說明。

圖1為本發明太陽能硅片數量檢測系統的結構框圖。

圖2為本發明檢測保護單元的電路原理圖。

圖中：1為計數器，2為檢測保護單元，3為a/d轉換器，4為下位機，5為光電耦合單元，6為電磁閥，7為擋片，8為rs232接口，9為上位機

具體實施方式

如圖1所示，本發明的太陽能硅片數量檢測系統，包括計數器1，所述計數器1與a/d轉換器3輸入端相連接，所述a/d轉換器3輸出端與下位機4輸入端相連接，所述下位機4輸出端與光電耦合單元5輸入端相連接，所述光電耦合單元5輸出端通過電磁閥6與擋片7相連接。

進一步的，為了提高硅片計數的準確性和精度，所述計數器1為兩個，這樣可以將兩個計數器1采集的數據進行對比，如果兩個計數器采集到的數據相差較大，說明有計數器不能正常工作，需要更換使用。

更進一步的，為了更好的保護計數器，所述計數器1與a/d轉換器3之間設置有檢測保護單元2。如圖2所示，所述檢測單元包括電壓比較器lm293，所述其中一個計數器通過電阻r4和電容c3的串聯電路接地，電阻r4和電容c3的中間連接點與電壓比較器lm293的2號管腳相連接，電源v1通過電阻r2和電阻r3的串聯電路接地，電阻r2和電阻r3中間連接點與電壓比較器lm293的3號和5號管腳相連接，所述電阻r3兩端并聯電容c2；另外一個計數器通過電阻r1和電容c1的串聯電路接地，電阻r1和電容c1的中間連接點與電壓比較器lm293的6號管腳相連接，所述電壓比較器lm293的1號和7號管腳與a/d轉換器輸入端相連接。所述電壓比較器lm293的1號和7號管腳通過電容c5接地，所述電壓比較器lm293的1號和7號管腳通過電阻r5與電源v1相連接，電源v1為5v。其中，in1和in2為計數器檢測到的測試信號。當下位機檢測到硅片數量計數不正確時，則產生保護信號，斷開電磁閥，使得擋片停止放行。

進一步的，為了上傳和保存硅片檢測數據，所述下位機4通過rs232接口8與上位機9相連接。

雖然以上描述了本發明的具體實施方式，但是本領域熟練技術人員應當理解，這些僅是舉例說明，可以對本實施方式作出多種變更或修改，而不背離發明的原理和實質，本發明的保護范圍僅由所附權利要求書限定。

技術特征：

技術總結
本發明涉及太陽能硅片生產技術領域，特別是太陽能硅片數量檢測系統，包括計數器，所述計數器與A/D轉換器輸入端相連接，所述A/D轉換器輸出端與下位機輸入端相連接，所述下位機輸出端與光電耦合單元輸入端相連接，所述光電耦合單元輸出端通過電磁閥與擋片相連接。采用上述結構后，本發明通過設置兩個計數器，可以將數據進行對比，另外通過檢測保護單元可以很好的保護計數器，提高了太陽能硅片數量檢測的精度。

技術研發人員：張兆民
受保護的技術使用者：張兆民
技術研發日：2017.06.26
技術公布日：2017.11.07