一種無接觸測試的方法和系統的制作方法
【專利摘要】本發明提供了一種無接觸測試的方法和系統，包括：將測試目標固定在零件自動固定規正機構上后，傳感器檢測到當前存在測試目標，向測試裝置發送開始測試信號；測試裝置接收到開始測試信號后，開始檢測，測試裝置向圖像采集系統發送圖像采集消息；所述圖像采集系統對測試目標進行照相，并將測試目標的圖像發送給測試裝置；所述測試裝置接收了測試目標的圖像，并根據標準圖像，對測試目標的圖像進行檢測，確定該測試目標是否存在缺陷。本發明的測試方法提高了測試的穩定性和準確性。
【專利說明】一種無接觸測試的方法和系統
【技術領域】
[0001]本發明屬于計算機領域，特別涉及一種無接觸測試的方法和系統。
【背景技術】
[0002]目前，在進行生產制造過程，通常需要測量制造出來的產品的各個部分的尺寸，以及測試制造出來的產品。現有技術中，都是通過能夠接觸到測試目標的測量系統進行測量，但是這種接觸式的測量的準確度不高、效率低。
【發明內容】
[0003]基于現有技術中存在的上述技術問題。本發明的目的在于提出一種無接觸測試的方法和系統，提高了產品測試的準確性及效率。
[0004]本發明提供了一種無接觸測試的方法，包括:
[0005]將測試目標固定在零件自動固定規正機構上后，傳感器檢測到當前存在測試目標，向測試裝置發送開始測試信號；
[0006]測試裝置接收到開始測試信號后，開始檢測，測試裝置向圖像采集系統發送圖像采集消息；
[0007]所述圖像采集系統對測試目標進行照相，并將測試目標的圖像發送給測試裝置；
[0008]所述測試裝置接收了測試目標的圖像，并根據標準圖像，對測試目標的圖像進行檢測，確定該測試目標是否存在缺陷。
[0009]進一步的，根據標準圖像，對測試目標的圖像進行檢測，確定該測試目標是否存在缺陷具體包括:
[0010]測試裝置對接收到的圖像進行預處理；測試裝置對預處理后的圖像進行二值化處理；測試裝置根據標準圖像的標準點的坐標，對坐標系統進行校正；測試裝置結合標準圖像和校正后的坐標系統，進行算法選擇，并根據選擇的算法，對測試目標進行測試，并通過比對測試目標的圖像的測量結果和標準圖像，獲得測試目標的圖像與標準圖像的差異；測試裝置根據所述差異，確定所述差異是否是一種缺陷，如果是一種缺陷，識別該差異對應的缺陷，將識別到的缺陷發送給數據庫，進行保存。
[0011 ] 進一步的，還包括:測試裝置還根據識別的缺陷，對存在缺陷的部位進行標注。
[0012]本發明還提供一種無接觸測試的系統，包括:傳感器，圖像采集系統和測試裝置；其中傳感器，用于檢測測試位置處是否有測試目標需要檢測，如果有的話，將向測試裝置發送開始測試信號；所述測試裝置，用于接收到開始測試信號后，啟動圖像采集系統采集測試目標的圖像，并接收圖像采集系統發送到采集到的測試目標的圖像，以及根據標準圖像，對測試目標的圖像進行檢測，確定該測試目標是否存在產品缺陷。
[0013]進一步的，圖像采集系統包括CXD照相機和LED光源，當圖像采集系統接收到了對測試目標進行照相時，測試裝置將打開LED光源，該LED光源為CCD照相機提供光源。
[0014]本發明的有益效果是:本發明的測試方法提高了測試的穩定性和準確性，并提高了測試效率。
【專利附圖】
【附圖說明】
[0015]圖1為本發明的一種無接觸測試的方法的流程圖；
[0016]圖2為本發明的一種無接觸測試的系統的結構示意圖。
[0017]圖中，1，傳感器，2，測試裝置，3，圖像采集系統，4，待測目標。
【具體實施方式】
[0018]下面結合附圖和實施例對本發明作進一步說明，應指出的是，所描述的實施例僅旨在便于對本發明的理解，而對其不起任何限定作用。
[0019]下面結合附圖和【具體實施方式】對本發明作進一步詳細的說明。
[0020]如圖1所示，本發明提供了一種無接觸測試的方法，包括:
[0021]步驟101、在零件加工完畢后，將零件固定在零件自動固定規正機構上后，傳感器檢測到當前有測試目標了，因此向測試裝置發送開始測試信號。具體的，該開始測試信號可以是一個高低電平的觸發信號。
[0022]步驟102、測試裝置接收到開始測試信號后，開始檢測，測試裝置通過USB接口實現對圖像采集系統的控制和圖像采集。具體的，測試裝置向圖象采集系統發送圖像采集消息，圖像采集系統對測試目標(固定的零件)進行照相，獲得該測試目標的圖像，將該測試目標的圖像發送給測試裝置。
[0023]步驟103、測試裝置接收了該測試目標的圖像，并根據標準圖像，對測試目標的圖像進行檢測，確定該測試目標是否存在缺陷。
[0024]測試裝置對測試目標的圖像進行檢測的具體的過程，包括如下:
[0025]測試裝置對接收到的圖像進行預處理，這里的預處理可以為圖像平滑、銳化和降噪等。
[0026]測試裝置對預處理后的圖像進行二值化處理。
[0027]測試裝置進行視覺定位。
[0028]測試裝置根據標準圖像的標準點的坐標，對坐標系統進行校正。
[0029]測試裝置結合標準圖像和校正后的坐標系統，進行算法選擇，并根據選擇的算法，對測試目標進行測試。例如:這里選擇了邊緣檢測的算法，進行測試測試目標。測試裝置首先對二值化后的圖像進行邊緣分割，并根據校正后的坐標系統，根據邊緣檢測的算法，從而獲取各個邊緣點，測試裝置進行測量運算，得到了圖像的測量結果，并通過比對測試目標的圖像的測量結果和標準圖像，獲得測試目標的圖像與標準圖像的差異。
[0030]測試裝置根據該差異，確定該差異是否是一種缺陷，如果是一種缺陷，識別該差異對應的缺陷是什么，將測試結果發送給數據庫，進行保存，并且根據識別的缺陷，對存在缺陷的部位進行標注。
[0031]如圖2所示，本發明還提供了一種無接觸測試的系統，包括:傳感器，圖像采集系統和測試裝置。圖像采集系統包括了(Charge-coupled Device,電荷稱合元件)CCD照相機和LED光源，當圖像采集系統接收到了對測試目標進行照相時，測試裝置將打開LED光源，該LED光源為CCD照相機提供光源，這樣CCD照相機就可以用LED光源的光來對照測試目標的圖像。具體的，C⑶照相機可以是德商映美精1394C⑶工業相機，該款相機性能可靠，圖像清晰穩定。例外，CCD照相機可以上下、左右進行調整，由于采用非螺釘固定結構，因此調整可以隨時進行。LED光源可以是日本CCS系列LED光源系統，光源照明系統可以采用高亮無頻閃日本CCSLED UV系列方形光源和配套控制器。C⑶照相機和LED光源通過支架進行固定，支架的底盤質量大，因此其支架的慣性也大。測試裝置可以包含CCD，該CCD可以逐行掃描，具體的，該測試裝置的CXD具有640x480像素和高達60幀/秒的幀率。
[0032]具體的，傳感器，用于檢測測試位置處是否有測試目標需要檢測，如果有的話，將向測試裝置發送開始測試信號。測試裝置，用于接收到開始測試信號后，啟動圖像采集系統采集測試目標的圖像，并接收圖像采集系統發送到采集到的測試目標的圖像，以及根據標準圖像，對測試目標的圖像進行檢測，確定該測試目標是否存在產品缺陷。具體的測試目標的圖像進行檢測的過程如上述實施例所介紹的內容。
[0033]本發明提高了測試的穩定性和準確性，并提高了測試效率。
[0034]上面描述僅是本發明的一個具體實施例，顯然在本發明的技術方案指導下本領域的任何人所作的修改或局部替換，均屬于本發明權利要求書限定的范圍。
【權利要求】
1.一種無接觸測試的方法，其特征在于，包括: 將測試目標固定在零件自動固定規正機構上后，傳感器檢測到當前存在測試目標，向測試裝置發送開始測試信號； 測試裝置接收到開始測試信號后，開始檢測，測試裝置向圖像采集系統發送圖像采集消息； 所述圖像采集系統對測試目標進行照相，并將測試目標的圖像發送給測試裝置； 所述測試裝置接收了測試目標的圖像，并根據標準圖像，對測試目標的圖像進行檢測，確定該測試目標是否存在缺陷。
2.如權利要求1所述的無接觸測試的方法，其特征在于，所述根據標準圖像，對測試目標的圖像進行檢測，確定該測試目標是否存在缺陷具體包括: 測試裝置對接收到的圖像進行預處理；測試裝置對預處理后的圖像進行二值化處理；測試裝置根據標準圖像的標準點的坐標，對坐標系統進行校正；測試裝置結合標準圖像和校正后的坐標系統，進行算法選擇，并根據選擇的算法，對測試目標進行測試，并通過比對測試目標的圖像的測量結果和標準圖像，獲得測試目標的圖像與標準圖像的差異； 測試裝置根據所述差異，確定所述差異是否是一種缺陷，如果是一種缺陷，識別該差異對應的缺陷，將識別到的缺陷發送給數據庫，進行保存。
3.如權利要求2所述的無接觸測試的方法，其特征在于，還包括:測試裝置還根據識別的缺陷，對存在缺陷的部位進行標注。
4.一種無接觸測試的系統，其特征在于，包括:傳感器，圖像采集系統和測試裝置；其中傳感器，用于檢測測試位置處是否有測試目標需要檢測，如果有的話，將向測試裝置發送開始測試信號；所述測試裝置，用于接收到開始測試信號后，啟動圖像采集系統采集測試目標的圖像，并接收圖像采集系統發送到采集到的測試目標的圖像，以及根據標準圖像，對測試目標的圖像進行檢測，確定該測試目標是否存在產品缺陷。
5.如權利要求4所述的無接觸測試的系統，其特征在于，所述圖像采集系統包括CCD照相機和LED光源，當圖像采集系統接收到了對測試目標進行照相時，測試裝置將打開LED光源，該LED光源為CCD照相機提供光源。
【文檔編號】G06T7/00GK103698335SQ201310675426
【公開日】2014年4月2日 申請日期:2013年12月11日 優先權日:2013年12月11日
【發明者】王曉濤, 王承剛, 于良 申請人:大連運明自動化技術有限公司