一種lcd異物缺陷檢測方法
【專利摘要】本發(fā)明公開了LCD異物缺陷檢測方法，包含如下步驟：圖像縮放：利用雙線性插值算法將圖像縮放；標簽檢測：檢測出標簽位置，消除標簽，得到圖像OI；圖像重建：利用奇異值分解方法對圖像OI進行重建得到重建圖像CI，并用圖像OI減去重建圖像CI獲取差圖DI；點狀異物缺陷檢測：對獲取的差圖DI進行閾值化缺陷分割，并通過輪廓檢測統(tǒng)計輪廓數(shù)量并計算缺陷的總面積，判斷是否存在點狀異物缺陷；區(qū)域狀異物缺陷檢測：將差圖DI分成num個窗口，對每個窗口進行區(qū)域異物缺陷檢測，統(tǒng)計每個窗口中的平均灰度值和方差；線狀異物缺陷檢測：對差圖DI使用邊緣檢測算法進行邊緣檢測，判斷是否發(fā)生線狀異物缺陷。
【專利說明】—種LCD異物缺陷檢測方法
【技術領域】
[0001]本發(fā)明涉及一種LCD缺陷檢測領域，特別是一種LCD異物(mura)缺陷檢測方法。【背景技術】
[0002]近些年來，隨著技術的進步，良品率不斷提高，液晶顯示屏蓬勃發(fā)展，隨處可見并且已經全面取代笨重的CRT顯示屏占領了顯示屏市場。特別是TFT-1XD (Thin FilmTransistor)即薄膜場效應晶體管液晶顯示屏，是目前唯一在亮度、對比度、功耗、壽命、體積和重量等綜合性能上全面趕上和超過CRT的顯示器件。隨著液晶顯示屏市場的火爆升溫，人們越來越關注液晶顯示屏行業(yè)，而檢測作為生產工序中必不可少的一環(huán)，同樣也受到了國內外許多研究人員的關注。為了取代傳統(tǒng)的人工檢測方法，研究人員開始尋求新的途徑，設計出符合實際的自動檢測系統(tǒng)。檢測的常見LCD缺陷包括:點缺陷檢測、線缺陷檢測、mura缺陷檢測,其中mura缺陷是最難檢測的一種缺陷，它又包括點狀mura、線狀mura、塊狀mura。獲取的IXD圖片檢測往往會受到光照紋理的因素影響，這些信息對mura缺陷的檢測具有非常強烈的干擾。因此如何能夠有效的檢測出所有三種mura缺陷是一個很值得研究的問題。
【發(fā)明內容】
[0003]發(fā)明目的:本發(fā)明所要解決的技術問題是針對現(xiàn)有技術的不足，提供一種LCD異物缺陷檢測方法，能夠有效檢測出LCD是否有mura缺陷。
[0004]為了解決上述技術問題，本發(fā)明公開了 IXD mura缺陷檢測方法，包含如下步驟:
[0005]步驟1，圖像縮放:利用雙 線性插值算法將圖像縮放。
[0006]步驟2，標簽檢測:檢測出標簽位置，消除標簽，得到圖像01。
[0007]步驟3，圖像重建:利用奇異值分解方法(SINGULAR VALUE DECOMPOSITION)對圖像OI進行重建得到重建圖像Cl，并用圖像OI減去重建圖像Cl獲取差圖DI。
[0008]步驟4，點狀異物(mura)缺陷檢測:對獲取的差圖DI進行閡值化缺陷分割，并通過輪廓檢測統(tǒng)計輪廓數(shù)量并計算缺陷的總面積，判斷是否存在點狀異物缺陷。
[0009]步驟5，區(qū)域狀mura缺陷檢測:將差圖Dl分成num個窗口，對每個窗口進行區(qū)域異物缺陷檢測，統(tǒng)計每個窗口中的平均灰度值和方差，num取值為大于等于2的自然數(shù)。
[0010]步驟6，線狀mura缺陷檢測:對差圖DI使用邊緣檢測算法進行邊緣檢測，判斷是否發(fā)生線狀異物缺陷。
[0011]步驟I圖像縮放具體包括如下步驟:
[0012]首先使用模板對原圖像使用均值濾波，
【權利要求】
1.一種LCD異物缺陷檢測方法，其特征在于，包含如下步驟: 步驟1，圖像縮放:利用雙線性插值算法將圖像縮放； 步驟2，標簽檢測:檢測出標簽位置，消除標簽，得到圖像OI ； 步驟3，圖像重建:利用奇異值分解方法對圖像OI進行重建得到重建圖像Cl，并用圖像OI減去重建圖像Cl獲取差圖DI ； 步驟4，點狀異物缺陷檢測:對獲取的差圖DI進行閾值化缺陷分割，并通過輪廓檢測統(tǒng)計輪廓數(shù)量并計算缺陷的總面積，判斷是否存在點狀異物缺陷； 步驟5，區(qū)域狀異物缺陷檢測:將差圖DI分成num個窗口，對每個窗口進行區(qū)域異物缺陷檢測，統(tǒng)計每個窗口中的平均灰度值和方差，num取值為大于等于2的自然數(shù)； 步驟6，線狀異物缺陷檢測:對差圖DI使用邊緣檢測算法進行邊緣檢測，判斷是否發(fā)生線狀異物缺陷。
2.根據(jù)權利要求1所述的一種LCD異物缺陷檢測方法，其特征在于，步驟3圖像重建具體步驟如下: 對圖像OI進行奇異值分解，選擇最大的前k個特征值，k>l，對圖像OI進行重建，得到重建圖像Cl，用圖像OI減去重建圖像Cl，得到差圖DI ;DI=01-CI+S，δ表示偏移量取值128。
3.根據(jù)權利要求2所述的一種LCD異物缺陷檢測方法，其特征在于，步驟4包括以下步驟: 使用以下公式對獲取的差圖DI進行閾值化缺陷分割:
4.根據(jù)權利要求3所述的一種LCD異物缺陷檢測方法，其特征在于，步驟5包括如下步驟: 使用w*h大小的窗口在圖像DI上以Λ w和Ah步長進行水平和垂直滑動，Aw和Ah分別為水平方向和垂直方向步長；Λ w和Λ h為分別等于w和h, w和h為分別小于M和N的正整數(shù)，統(tǒng)計每個窗口 Wdi的平均灰度值U2(Wdi)和方差
5.根據(jù)權利要求4所述的一種LCD異物缺陷檢測方法，其特征在于，步驟6包括如下步驟: 對差圖DI使用canny算子進行邊緣檢測，圖片中若有邊緣，則邊緣像素為I非邊緣像素為0，再用線檢測算法來檢測圖片中是否有線判斷是否發(fā)生缺陷。
【文檔編號】G06T7/00GK103440654SQ201310379001
【公開日】2013年12月11日 申請日期:2013年8月27日 優(yōu)先權日:2013年8月27日
【發(fā)明者】楊育彬, 高陽, 趙九洋 申請人:南京大學