一種觸摸屏、觸摸檢測方法及裝置制造方法

一種觸摸屏、觸摸檢測方法及裝置制造方法
【專利摘要】本發明涉及一種觸摸屏、觸摸檢測方法及裝置。所述方法包括：對掃描區域進行直軸掃描，當檢測到至少一個觸摸時，記錄被隔斷的掃描光線的直軸；根據所述被隔斷的掃描光線的直軸縮小所述掃描區域；對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置。所述裝置相應地包括掃描單元、記錄單元及區域縮小單元。本發明能夠降低觸摸屏的功耗。
【專利說明】一種觸摸屏、觸摸檢測方法及裝置

【技術領域】
[0001] 本發明涉及計算機觸控領域，特別涉及一種觸摸屏、觸摸檢測方法及裝置。

【背景技術】
[0002] 紅外觸摸屏屬于計算機觸摸屏，作為一種人性化的輸入設備，紅外觸摸屏具有廣 闊的發展前景。紅外觸摸屏因安裝簡易、易于維護、抗爆性高、可靠性強等優點而被廣泛應 用在各個領域。
[0003] 紅外觸摸屏的基本結構，是在一個適合安裝的顯示表面四周邊緣按照一定的順序 安裝若干對紅外發射和紅外接收元件。這些發射和接收元件按照一一對應的方式組成發射 接收對，沿著顯示表面的邊緣構成一個互相垂直的發射接收陣列，在微型計算機系統的控 制下按照一定的順序分別接通每一對發射和接收元件，檢測每對發射和接收元件之間的紅 外線是否被隔斷，以此來判定是否有觸摸事件發生。
[0004] 現有技術中，一種檢測觸摸屏上觸摸點的方法包括：啟動紅外觸摸屏，按照順序依 次選擇接通每對紅外發射和接收元件，掃描整個觸摸區域；分別記錄每一次紅外線被隔斷 時所接通的發射和接收對元件的內部坐標值；根據所記錄的上述內部坐標值，將縱橫坐標 值組合以得到觸摸點的坐標值并儲存；對整個觸摸區域進行至少一次的重新掃描以剔除虛 假觸摸點；將所得到的真實觸摸點的坐標值轉換為安裝所述觸摸屏的計算機系統所能接受 的數據，并通過所述觸摸屏的接口傳輸到所述計算機系統之中。觸摸屏的微處理器實際在 一個掃描周期內對整個觸摸區域實際是進行至少兩次掃描的，包括至少一次直軸掃描和至 少一次離軸掃描；即使觸摸區域上沒有存在觸摸，也是在一個掃描周期內設置多次掃描。
[0005] 現有技術檢測觸摸的技術方案至少存在如下缺陷：
[0006] 在對觸摸的一次檢測需要進行整個觸摸區域范圍內的多次掃描，耗費觸摸屏的功 耗較高；
[0007] 在待發生觸摸的空閑時間內，觸摸屏的微處理器實際也在一個掃描周期進行多次 直軸掃描和離軸掃描，其掃描周期由此是比較長的；掃描周期過長不但會為觸摸屏增加不 必要的功耗，還會延長觸摸屏響應時間，從而降低設備的使用性能。


【發明內容】

[0008] 本發明技術方案所解決的技術問題是：如何降低觸摸屏的功耗。
[0009] 為了解決上述技術問題，本發明技術方案提供了一種觸摸檢測方法，包括：
[0010] 對掃描區域進行直軸掃描，當檢測到至少一個觸摸時，記錄被隔斷的掃描光線的 直軸；
[0011] 根據所述被隔斷的掃描光線的直軸縮小所述掃描區域；
[0012] 對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置。
[0013] 可選的，所述被隔斷的掃描光線的直軸是通過記錄對應觸摸的軸向位置獲取的。
[0014] 可選的，所述記錄被隔斷掃描光線的直軸包括記錄對應觸摸在軸向上的起始位置 和終止位置、或記錄對應觸摸在軸向上的起始位置和寬度、或記錄對應觸摸在軸向上的寬 度和終止位置。
[0015] 可選的，所述縮小后的掃描區域包括由所述被隔斷的掃描光線的直軸相交而成的 至少一個封閉區域，每個封閉區域包括至少一個所述直軸掃描檢測到的觸摸。
[0016] 可選的，所述縮小后的掃描區域是由所述被隔斷的掃描光線的直軸相交形成的最 大四邊形區域。
[0017] 可選的，所述對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置包括：
[0018] 對所述縮小后的掃描區域進行直軸掃描以獲取若干待篩選的觸摸；
[0019] 對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描并利用離軸掃描的結果剔除所述待篩選 的觸摸中的虛假觸摸以確定真實觸摸；
[0020] 輸出所述真實觸摸的位置。
[0021] 可選的，所述對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置包括：
[0022] 根據對掃描區域的直軸掃描的結果獲取若干待篩選的觸摸；
[0023] 對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描并利用離軸掃描的結果剔除所述待篩選 的觸摸中的虛假觸摸以確定真實觸摸；
[0024] 輸出所述真實觸摸的位置。
[0025] 為了解決上述技術問題，本發明技術方案還提供了一種觸摸檢測裝置，其特征在 于，包括：
[0026] 掃描單兀，用于對掃描區域進行直軸掃描以檢測至少一個觸摸；
[0027] 記錄單元，用于當檢測到至少一個觸摸時，記錄被隔斷的掃描光線的直軸；
[0028] 區域縮小單元，用于根據所述被隔斷的掃描光線的直軸縮小所述掃描區域；
[0029] 所述掃描單元還用于對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置，所 述掃描單元包括所述第一子掃描單元。
[0030] 為了解決上述技術問題，本發明技術方案還提供了 一種觸摸屏，包括午
[0031] 觸摸區域以及微處理器；
[0032] 所述微處理器包括上述觸摸檢測裝置。
[0033] 本發明技術方案至少有如下有益效果：
[0034] 本發明技術方案在待發生觸摸的空閑時間僅對觸摸區域進行以一次直軸掃描為 掃描周期的"預"掃描，而非如現有技術一般既進行直軸掃描也進行離軸掃描，待觸摸發生 后才對觸摸區域重新進行掃描以縮短待發生觸摸的空閑時間內觸摸屏的掃描周期，可有效 縮短觸摸屏在待發生觸摸的空閑時間內的掃描周期，也有效減少離軸掃描的時間及區域， 縮短觸摸屏響應時間，減少硬件損耗，降低觸摸屏的功耗。
[0035] 本發明技術方案在檢測到觸摸的時間內僅對可能發生觸摸的區域進行掃描，即縮 小了掃描區域的范圍，這從耗能角度上看，縮小掃描區域必定減少所使用的發射元件和接 收元件的數目，相應進行離軸掃描的區域也大大縮小，據此進一步降低觸摸屏的功耗；從掃 描時間角度來看，因掃描區域的縮小使掃描光線覆蓋的區域變小，掃描所需時間也降低了， 進一步縮短觸摸屏響應時間，提高觸摸屏的檢測效率；從檢測精度角度上看，在選定發射元 件和接收元件的數目的前提下，掃描區域縮小使掃描光線密度增加，能夠提高觸摸檢測的 精確度。
[0036] 考慮到掃描區域的縮小需與直軸掃描檢測到可能存在的觸摸位置相關，利用所記 錄的被隔斷的掃描光線的直軸的信息則能夠提高界定所述縮小區域的準確定位。
[0037] 在可選方案中，縮小后的掃描區域可以是由所述被隔斷的掃描光線的直軸相交形 成的最大四邊形區域，也可以是由至少一個四邊形區域構成(該四邊形區域是由所述被隔 斷的掃描光線的直軸相交形成的最小四邊形區域）：前者算法簡單，也能達到很好的低功率 效果；后者則定位更為精確，有利后續的準確性檢測。
[0038] 在對縮小后的掃描區域進行軸掃描的過程中，所選取的接收元件和發射元件的數 目在優選方案中也是大大減少的；具體的，只要選擇接通能夠覆蓋所述縮小后掃描區域的 相對應的接收元件和發射元件就可以了，這使觸摸屏的整體功耗又得到了節省；當然，更為 優選的是，只要選擇有經過縮小后的掃描區域的相對應的接收元件和發射元件，此時所選 擇的元件是能夠實現對縮小后的掃描區域進行相應掃描的最小數目的元件，是啟動元件的 最小功率。
[0039] 本發明技術方案邏輯簡單，易于實現硬件加速；未改變現有觸摸屏的其他結構，可 完成多個觸摸點的檢測掃描，具有應用成本極低、適用性廣闊的優點。

【專利附圖】

【附圖說明】
[0040] 圖1為實施例1的觸摸檢測方法的流程示意圖；
[0041] 圖2為實施例1的一種觸摸屏的結構示意圖；
[0042] 圖3為圖2所示觸摸屏所處一種使用狀態的示意圖；
[0043] 圖4為圖2所示觸摸屏所處另一種使用狀態的示意圖；
[0044] 圖5為實施例1的觸摸檢測方法中實現步驟S102的流程示意圖；
[0045] 圖6為實施例1的一種選擇直軸掃描發射元件及對應接收元件的觸摸屏的示意 圖；
[0046] 圖7為實施例1第一種選擇離軸掃描發射元件及對應接收元件的觸摸屏的示意 圖；
[0047] 圖8為實施例1第二種選擇離軸掃描發射元件及對應接收元件的觸摸屏的示意 圖；
[0048] 圖9為實施例1第三種選擇離軸掃描發射元件及對應接收元件的觸摸屏的示意 圖；
[0049] 圖10為實施例2的觸摸檢測方法的流程示意圖；
[0050] 圖11為實施例2的觸摸檢測方法中實現步驟S202的流程示意圖。

【具體實施方式】
[0051] 現有技術中，檢測觸摸屏上觸摸的方法包括在掃描周期內對整個觸摸區域的至少 一次直軸掃描和至少一次離軸掃描，且待發生觸摸的空閑時間內發生的掃描周期和已發生 觸摸的時間內發生的掃描周期是一致的，且二者掃描周期內所進行的直軸掃描和離軸掃描 的對象、所依次選擇接通的元件均是相同的。這種檢測方式不僅在已發生觸摸的時間內需 要多次掃描，在待發生觸摸的空閑時間內也對整個觸摸區域進行多次重復的掃描，不但增 加了不必要的功耗而且會增加檢測掃描的周期，進而延長觸摸屏響應時間。
[0052] 實施例1
[0053] 本實施例提供了一種如圖1所示的觸摸檢測方法，包括：
[0054] 步驟S100,對掃描區域進行直軸掃描，當檢測到至少一個觸摸時，記錄被隔斷的掃 描光線的直軸。
[0055] 本步驟中，所述直軸掃描為一個掃描周期內的直軸掃描。
[0056] 本實施例觸摸檢測方法所基于的觸摸屏，其結構如圖2所示：
[0057] 如圖2所示的一種觸摸屏100,所示觸摸屏100由安裝在觸摸區域101周圍的發射 元件陣列（l〇2a、102b)、接收元件陣列（103a、103b)構成的矩形觸摸屏組成。其中，觸摸區 域101 -般是如計算機顯示器、投影機屏幕的顯示區域，發射元件和接收元件一一對應而 構成發射和接收對。在具體實施過程中，發射元件陣列（102a、102b)安裝于發射板（104a、 104b)上，發射元件具體為一發射紅外掃描光線的發射燈，接收元件陣列）103a、103b)安裝 于接收板（l〇5a、105b)上，發射元件具體為一接收紅外掃描光線的接收燈。
[0058] 在本步驟中，觸摸屏100在待發生觸摸的空閑時間內對觸摸區域101進直軸掃描， 此時，由于未檢測到任何接觸，進行直軸掃描的掃描區域是整個觸摸區域101。所謂直軸掃 描，就是由成對的發射元件和接收元件來發射及接收掃描光線(成對的發射元件和接收元 件也可稱為同對的發射元件和接收元件)。本申請中，定義直軸掃描時掃描光線的直軸是與 成對發射元件和接收元件的光軸線方向一致且用以指向掃描光線經歷的觸摸區域范圍的 區域。比如圖2中，發射元件121和接收元件131成對，發射元件122和接收元件132成對， 由于掃描光線實際具有一定寬度，對應發射元件121和接收元件131所產生的光線的直軸 為107,對應發射元件122和接收元件132所產生的光線的直軸為106。
[0059] 在本步驟中，所述被隔斷的掃描光線的直軸是通過記錄對應觸摸的軸向位置獲 取的，其中，由于被隔斷的掃描光線的直軸所在觸摸區域的位置均可能存在觸摸，因此，僅 取所述可能存在觸摸在軸上的位置信息，所述軸向對于二維觸摸區域來說包括橫向和縱向 (也可以是X向和Y向），當然對于三維觸摸區域來說包括Z向、X向和Y向。觸摸的軸向位 置信息可以作為直軸的邏輯數據以指導本實施例對于縮小后的掃描區域的定位。觸摸的軸 向位置信息實際是通過將直軸數據進行去環境光、歸一化等數據處理生成的。
[0060] 所述對應觸摸的軸向位置包括對應觸摸在該軸上的起始位置和終止位置，也可以 包括對應觸摸在該軸上的起始位置和寬度，還可以包括對應觸摸在該軸上的寬度和終止位 置。以圖2的直軸106為例，直軸106中，對應觸摸在X軸上的起始位置為ql，在X軸上的 終止位置為q2,其在X軸上的寬度為s。直軸106的邏輯數據的表達形式可以為（ql，q2)， 也可以為（ql，s)，還可以為（s，q2)，其他直軸的邏輯數據表達形式則類似。
[0061] 本步驟實際包括了兩個階段的掃描過程：即待發生觸摸的空閑階段和在檢測到存 在觸摸時進入已發生觸摸的階段。
[0062] 與現有技術不同的是，現有技術中，在待發生觸摸的空閑階段是對整個觸摸區域 進行直軸掃描和離軸掃描的，在掃描到存在觸摸時，再對整個觸摸區域重新進行直軸掃描 和離軸掃描以得到觸摸位置。而本發明技術方案則在待發生觸摸的空閑階段只進行直軸掃 描，而在已發生觸摸的階段才涉及進行離軸掃描；現有技術的離軸掃描在待發生觸摸的空 閑階段有檢測觸摸是否存在的功能，而本發明技術方案的離軸掃描在待發生觸摸的空閑階 段則不存在上述功能。
[0063] 步驟S101，根據所述被隔斷的掃描光線的直軸縮小所述掃描區域。
[0064] 假設圖2的觸摸屏100在觸摸區域101上發生了如圖3所示的觸摸200和觸摸 300 ：
[0065] 此時，在步驟S100的直軸掃描時(假使觸摸200及觸摸300被有效檢測到)，在二 維的掃描區域(整個觸摸區域1 〇 1)上在橫向和縱向各有兩對發射元件和接收元件之間的光 線被隔斷，其中，橫向縱向實際是相對的概念，橫向為圖中的X軸方向，縱向為圖中的Y軸方 向；在圖3中，觸摸200將掃描光線1^1、1^2、1^5、1^6隔斷，觸摸300將掃描光線1^3、1^4、1^7、1^8 隔斷(掃描光線L1?L8圖中未標出）。
[0066] 需要說明的是，本申請所述被隔斷的掃描光線是指被觸摸完全或部分隔斷的掃描 光線(在觸摸邊緣被全部或部分遮擋的掃描光線)，這些掃描光線所形成的掃描數據經去環 境光，歸一化等數據處理，生成表示掃描光線所對應軸(直軸或離軸）的觸摸信息邏輯數據。
[0067] 繼續參考圖3,被隔斷的掃描光線L1?L8對應的元件分別是發射元件al和接收 元件bl、發射元件a2和接收元件b2、發射元件a3和接收元件b3、發射元件a4和接收元件 b4、發射元件a5和接收元件b5、發射元件a6和接收元件b6、發射元件a7和接收元件b7、發 射元件a8和接收元件b8,被隔斷的掃描光線L1?L8分別對應直軸108?115。
[0068] 由于發射元件陣列（102a、102b)及接收元件陣列（103a、103b)在觸摸屏微控制 器中以其序號或掃描地址與坐標度量單元的內部坐標系Χ0Υ中尋得其位置信息（也即坐標 值)，將發射元件al?a8及接收元件bl?b8的序號或掃描地址與內部坐標系Χ0Υ上坐標 對應，可得到直軸108?115在內部坐標系Χ0Υ上的表達方程。當然，相較于直軸106的邏 輯數據(與步驟S100中所記錄被隔斷的掃描光線的直軸信息相對應)這一信息，通過發射元 件及接收元的序號或掃描地址與內部坐標系Χ0Υ對應得到的位置信息屬于所述掃描數據， 所述掃描數據經去環境光，歸一化等數據處理，生成表示掃描光線所對應軸(這里是直軸） 的邏輯數據。
[0069] 本步驟根據所述被隔斷的掃描光線的直軸對原始掃描區域(即觸摸區域101)進行 縮小得到的縮小后的掃描區域，可以是以所述被隔斷的掃描光線的直軸相交所得的至少一 個封閉區域，每個封閉區域包括至少一個所述直軸掃描檢測到的觸摸。在本實施例中，縮小 后的掃描區域是由所述被隔斷的掃描光線的直軸相交形成的最大四邊形區域。參考圖3,區 域sql顯然是直軸108?115相交得到的最大四邊形區域，該最大四邊形區域能夠包圍所 有可能觸摸，這是一種最為簡單地確定縮小后的觸摸區域的方式。
[0070] 上述最大四邊形區域的獲取是通過直軸108?115在內部坐標系Χ0Υ的表達方程 確定的：由于直軸108?115在內部坐標系Χ0Υ的表達方程在坐標系上以直線形式呈現，依 據直軸108?115的在內部坐標系Χ0Υ的表達方程取這些直線在內部坐標系Χ0Υ上形成的 最大封閉區域，基于直軸所覆蓋掃描區域的形態，理論上是該最大封閉區域所覆蓋掃描區 域的形態是四邊形區域。
[0071] 當然，在其他實施例中，本步驟根據所述被隔斷的掃描光線的直軸對原始掃描區 域（即觸摸區域101)進行縮小得到的縮小后的掃描區域還可以進一步由至少一個四邊形區 域構成，所述四邊形區域是由所述被隔斷的掃描光線的直軸相交形成的最小四邊形區域。 這種實施方式實際提高了所確定的縮小后的掃描區域的定位準確度。參考圖4,圖4是圖3 所示觸摸屏檢測觸摸狀態的另一所確定的縮小后的掃描區域示意圖。區域sq2?sq5顯然 是直軸108?115相交得到的最小四邊形區域，該最小四邊形區域也能夠包圍所有可能觸 摸并實際比區域sql更為準確地定位可能觸摸的位置。
[0072] 上述最小四邊形區域的獲取也是通過直軸108?115的在內部坐標系Χ0Υ的表達 方程確定的，依據直軸108?115的在內部坐標系Χ0Υ的表達方程取內部坐標系Χ0Υ上形 成的最小封閉區域，基于直軸所覆蓋掃描區域的形態，理論上是該最小封閉區域所覆蓋掃 描區域的形態也是四邊形區域。
[0073] 當然，當觸摸區域101所發生的觸摸非多個，而是僅一個觸摸時，上述兩種情況重 合。應當可以理解，此時所述最大四邊形區域和最小四邊形區域均指此時直軸形成的唯 個封閉區域。
[0074] 本步驟所涵蓋的技術內容中，與現有技術不同的是：現有技術中，在已發生觸摸的 階段仍是對整個觸摸區域進行直軸掃描和離軸掃描的，但發明人認為，此時現有技術仍舊 將整個觸摸區域作為掃描區域進行掃描檢測是沒有必要的；現有技術在待發生觸摸的空閑 階段僅利用交替的直軸掃描和離軸掃描對觸摸區域檢測是否存在觸摸，發明人在本實施例 賦予直軸掃描不同的功用，其還有對觸摸的定位功能，利用新賦予空閑階段直軸掃描的定 位功能，能夠在已發生觸摸的階段更為有效且低耗地實現觸摸的檢測。
[0075] 步驟S102,對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置。
[0076] 所述軸掃描包括直軸掃描和離軸掃描，所謂離軸掃描，就是由一對發射兀件和接 收元件中的發射元件來發射掃描光線，而由另一對發射元件和接收元件中的接收元件來接 收掃描光線。同樣，本申請也定義離軸掃描時的離軸是與成對發射元件和接收元件的光軸 線偏離一定角度（以下簡稱偏角，當然，對于直軸掃描可以認為是偏角為〇°的掃描，本申請 所提及的偏角的取值大于等于〇° )且用以指向掃描光線經歷的觸摸區域范圍的區域。
[0077] 參見圖5,所述對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置包括：
[0078] 步驟S120,對所述縮小后的掃描區域進行直軸掃描以獲取若干待篩選的觸摸；
[0079] 步驟S121，對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描并利用離軸掃描的結果剔除所 述待篩選的觸摸中的虛假觸摸以確定真實觸摸；
[0080] 步驟S122,輸出所述真實觸摸的位置。
[0081] 本步驟S120?S122涉及對縮小后的掃描區域進行軸掃描的發射元件和接收元件 的選取問題。
[0082] 步驟S120中，所述對所述縮小后的掃描區域進行直軸掃描包括：依次選擇接通若 干同對的接收元件和發射元件以進行覆蓋所述縮小后的掃描區域的直軸掃描。
[0083] 參見圖6,圖6示意了進入直軸掃描的觸摸屏100。以X軸方向的發射元件陣列 (102b)為例：依次選擇接通發射元件陣列ml及其同對的接收元件，可知其所產生的掃描光 線（圖中示意了對應掃描光線的直軸，但未標識）覆蓋了所述縮小后的掃描區域sql。
[0084] 但更為節省功耗的是，所述若干同對的接收元件和發射元件能夠發生經過所述縮 小后的掃描區域的掃描光線。比如圖6中，僅挑取上述發射元件陣列ml中的子集：即接收 元件陣列m2及其同對的接收元件為選擇接通的元件。
[0085] 步驟S121中，所述對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描包括：依次選擇接通若 干不同對的發射元件與接收元件以進行能夠以設定偏角覆蓋所述縮小后的掃描區域的離 軸掃描。
[0086] 參見圖7,圖7示意了進入離軸掃描的觸摸屏100。仍舊以X軸方向的發射元件 陣列（102b)為例：依次選擇接通發射元件陣列m3及與其光軸線呈設定偏角的不同對的對 應接收元件，可知其所產生的掃描光線（圖中示意了對應掃描光線的直軸，但未標識）覆蓋 了所述縮小后的掃描區域sql，在一次掃描中，設定偏角是固定值，比如為圖7所示的偏角 Θ 1，其中，線Lo為對應發射兀件〇的光軸線。每一次離軸掃描依據設定的偏角不同，其選 擇接通的發射元件陣列m3及與其光軸線呈設定偏角的不同對的對應接收元件可以是不同 的。
[0087] 但更為節省功耗的是，所述若干不同對的發射元件與接收元件能夠發生以設定偏 角經過所述縮小后的掃描區域的掃描光線。比如，圖8中，依次選擇接通發射元件陣列m4 及與其光軸線呈設定偏角的不同對的對應接收元件，可知其所產生的掃描光線（圖中示意 了對應掃描光線的直軸，但未標識）均以設定偏角θπι覆蓋了所述縮小后的掃描區域sql。
[0088] 當然，每一次離軸掃描依據設定的偏角不同，其選擇接通的發射元件陣列也可以 是相同的陣列：如圖9所示，依次選擇接通發射元件陣列m5,在每一次的離軸掃描(每一次 離軸掃描對應不同設定偏角）中，發射元件陣列m5中的發射元件固定不變。
[0089] 對于發射元件陣列m5的具體選取方式可參考如下：
[0090] 設發射元件以最大預設偏角進行離軸掃描；
[0091] 根據縮小后的掃描區域sql的位置信息及離軸的偏角信息，計算經過所述縮小后 的掃描區域sql外邊緣區域的離軸信息；
[0092] 使用內部坐標以直線方程表達所述經過縮小后的掃描區域sql外邊緣區域的離 軸信息并得到產生該離軸對應掃描光線的發射元件序號或掃描地址信息(根據本實施例的 相關論述可知，發射元件及接收元件在觸控屏微控制器中以其序號或掃描地址與坐標度量 單元的內部坐標系Χ0Υ中尋得其位置信息，即內部坐標和元件的序號或掃描地址是對應關 系）；
[0093] 根據所得到的發射元件序號或掃描地址信息，選取得到所述發射元件陣列（m5)。
[0094] 參見圖9,可知：假設最大設定偏角為Θ m，可知發射元件〇1?〇4均能以最大設定 偏角發生經過縮小后的掃描區域sql外邊緣區域的掃描光線(對應離軸601?605);利用 離軸601?605的離軸信息并得到產生該離軸對應掃描光線的發射元件是發射元件〇1? 〇4,此時可確定若干個發射元件陣列，比如發射元件陣列[ 01，02]&[03,04](即發射元件陣 列[01，02]并上發射元件陣列[03, 04])或發射元件陣列[01，04]等，（〇1?〇4僅是示意 發射元件對應的序號或掃描地址)，但為了避免由于過多的小區間導致掃描的間斷，選取發 射元件陣列[01，04]，即發射元件陣列m5為宜。
[0095] 進一步的，步驟S120中所述對所述縮小后的掃描區域進行直軸掃描以獲取若干 待篩選的觸摸具體包括如下過程：
[0096] 仍以圖3所示的觸摸屏的觸摸區域狀態為例，若直軸掃描時(假使觸摸200及觸摸 300被有效檢測到)，分別在橫向和縱向各有至少兩對發射元件和接收元件之間的光線被隔 斷，其中，觸摸200將光線L1及光線L3隔斷，觸摸300將光線L2及光線L4隔斷，實際在橫 向和縱向各有兩對發射元件和接收元件之間的光線被隔斷。
[0097] 繼續參考圖3,觸摸屏微控制器在得到被隔斷的光線所對應的橫向和縱向的發射 元件和接收元件對后將分別得到的是觸摸在橫向的坐標值或縱向的坐標值：即發射元件 al?a8、接收元件bl?b8對應內部坐標系的坐標值。
[0098] 步驟S120的直軸掃描過程將會出現四個可能的觸摸的位置信息，即所述待篩選 的觸摸：觸摸200、觸摸300、觸摸400、觸摸500,從圖3可知：觸摸200、觸摸300是真實觸 摸，觸摸400、觸摸500是虛假觸摸(虛假觸摸以白色圓表示，真實觸摸用黑色圓表示)。 [0099] 步驟S121用以剔除上述虛假觸摸以得到真實觸摸：
[0100] 離軸掃描過程中的觸摸屏100在以偏角Θ 1的掃描光線對觸摸區域進行掃描時， 可以很容易地剔除虛假觸摸400、500 ;可參考圖7,可知白色圓未隔斷以設定偏角θ 1的離 軸掃描光線，可判斷白色圓所表示的觸摸為虛假觸摸，觸摸屏微處理器會對該觸摸內部坐 標記錄進行剔除。
[0101] 在采用離軸掃描對虛假觸摸的內部坐標記錄進行剔除后，基于真實觸摸的內部坐 標輸出得到該觸摸的位置。
[0102] 對應上述觸摸檢測的方法，本實施例還對應地提供了一種觸摸檢測裝置，包括：
[0103] 掃描單兀，用于對掃描區域進行直軸掃描以檢測至少一個觸摸；
[0104] 記錄單元，用于當檢測到至少一個觸摸時，記錄被隔斷的掃描光線的直軸；
[0105] 區域縮小單元，用于根據所述被隔斷的掃描光線的直軸縮小所述掃描區域；
[0106] 所述掃描單元還用于對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置，所 述掃描單元包括所述第一子掃描單元。
[0107] 本實施例中，所述掃描單元可以進一步包括；
[0108] 第一子掃描單兀，用于對所述縮小后的掃描區域進行直軸掃描以獲取若干待篩選 的觸摸；
[0109] 第二子掃描單元，用于對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描并利用離軸掃描的 結果剔除所述待篩選的觸摸中的虛假觸摸以確定真實觸摸；
[0110] 輸出單元，用于輸出所述真實觸摸的位置；
[0111] 所述第一子掃描單元還用于對掃描區域進行直軸掃描以檢測至少一個觸摸。
[0112] 基于上述觸摸識別的裝置，本實施例還對應地提供了一種觸摸屏，該觸摸屏包括 觸摸區域及微處理器，所述微處理器包括本實施例的觸摸檢測裝置。實施例2
[0113] 在本實施例中提供了一種如圖10所示的觸摸檢測方法，包括：
[0114] 步驟S200,與實施例1的步驟S100 -致；
[0115] 步驟S201，與實施例1的步驟S101 -致；
[0116] 步驟S202,對縮小后的掃描區域進行離軸掃描以獲得所述觸摸的位置。
[0117] 其中，在本實施例中，步驟S202所進行的軸掃描僅限于離軸掃描。參見圖11，所述 對縮小后的掃描區域進行離軸掃描以獲得所述觸摸的位置包括：
[0118] 步驟S220,根據對掃描區域的直軸掃描的結果獲取若干待篩選的觸摸；
[0119] 步驟S221，對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描并利用離軸掃描的結果剔除所 述待篩選的觸摸中的虛假觸摸以確定真實觸摸；
[0120] 步驟S222,輸出所述真實觸摸的位置。
[0121] 在本實施例中，與實施例1不同的是，步驟S202不同于步驟S102,所述若干待篩選 的觸摸是通過步驟S200的直軸掃描結果得到的。由于步驟S200的直軸掃描結果涉及被隔 斷的光線所對應的橫向和縱向的發射元件和接收元件在內部坐標系上的坐標值，步驟S220 的具體過程可參考步驟S120,此處不再贅述。
[0122] 本實施例的其他技術內容可參考實施例1的相關記載。
[0123] 對應上述觸摸檢測的方法，本實施例提供了一種觸摸檢測裝置，包括：
[0124] 掃描單元，用于對掃描區域進行直軸掃描以檢測至少一個觸摸；
[0125] 記錄單元，用于當檢測到至少一個觸摸時，記錄被隔斷的掃描光線的直軸；
[0126] 區域縮小單元，用于根據所述被隔斷的掃描光線的直軸縮小所述掃描區域；
[0127] 所述掃描單元還用于對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置，所 述掃描單元包括所述第一子掃描單元。
[0128] 本實施例中，所述掃描單元可以進一步包括：
[0129] 第一子掃描單兀，用于對掃描區域進行直軸掃描以檢測至少一個觸摸；
[0130] 獲取單元，用于根據對掃描區域的直軸掃描的結果獲取若干待篩選的觸摸；
[0131] 第二子掃描單元，用于對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描并利用離軸掃描的 結果剔除所述待篩選的觸摸中的虛假觸摸以確定真實觸摸；
[0132] 輸出單元，用于輸出所述真實觸摸的位置。
[0133] 基于上述觸摸識別的裝置，本實施例也對應地提供了一種觸摸屏，該觸摸屏包括 觸摸區域及微處理器，所述微處理器包括本實施例的觸摸檢測裝置。
[0134] 本發明雖然已以較佳實施例公開如上，但其并不是用來限定本發明，任何本領域 技術人員在不脫離本發明的精神和范圍內，都可以利用上述揭示的方法和技術內容對本發 明技術方案做出可能的變動和修改，因此，凡是未脫離本發明技術方案的內容，依據本發明 的技術實質對以上實施例所作的任何簡單修改、等同變化及修飾，均屬于本發明技術方案 的保護范圍。
【權利要求】
1. 一種觸摸檢測方法，其特征在于，包括： 對掃描區域進行直軸掃描，當檢測到至少一個觸摸時，記錄被隔斷的掃描光線的直 軸； 根據所述被隔斷的掃描光線的直軸縮小所述掃描區域； 對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置。
2. 如權利要求1所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述被隔斷的掃描光線的直軸是 通過記錄對應觸摸的軸向位置獲取的。
3. 如權利要求2所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述記錄被隔斷掃描光線的直軸 包括記錄對應觸摸在軸向上的起始位置和終止位置、或記錄對應觸摸在軸向上的起始位置 和寬度、或記錄對應觸摸在軸向上的寬度和終止位置。
4. 如權利要求1所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述縮小后的掃描區域包括由所 述被隔斷的掃描光線的直軸相交而成的至少一個封閉區域，每個封閉區域包括至少一個所 述直軸掃描檢測到的觸摸。
5. 如權利要求1或4所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述縮小后的掃描區域是由所 述被隔斷的掃描光線的直軸相交形成的最大四邊形區域。
6. 如權利要求1或4所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述縮小后的掃描區域由至少 一個四邊形區域構成，所述四邊形區域是由所述被隔斷的掃描光線的直軸相交形成的最小 四邊形區域。
7. 如權利要求1所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述對縮小后的掃描區域進行軸 掃描以獲得所述觸摸的位置包括： 對所述縮小后的掃描區域進行直軸掃描以獲取若干待篩選的觸摸； 對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描并利用離軸掃描的結果剔除所述待篩選的觸 摸中的虛假觸摸以確定真實觸摸； 輸出所述真實觸摸的位置。
8. 如權利要求1所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述對縮小后的掃描區域進行軸 掃描以獲得所述觸摸的位置包括： 根據對掃描區域的直軸掃描的結果獲取若干待篩選的觸摸； 對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描并利用離軸掃描的結果剔除所述待篩選的觸 摸中的虛假觸摸以確定真實觸摸； 輸出所述真實觸摸的位置。
9. 如權利要求7所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述對所述縮小后的掃描區域進 行直軸掃描包括：依次選擇接通若干同對的接收元件和發射元件以進行覆蓋所述縮小后的 掃描區域的直軸掃描。
10. 如權利要求7或8所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述對所述縮小后的掃描區 域進行離軸掃描包括：依次選擇接通若干不同對的發射元件與接收元件以進行能夠以設定 偏角覆蓋所述縮小的后掃描區域的離軸掃描。
11. 如權利要求9所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述若干同對的接收元件和發射 元件能夠發生經過所述縮小后的掃描區域的掃描光線。
12. 如權利要求10所述的觸摸檢測方法，其特征在于，所述若干不同對的發射元件與 接收元件能夠發生以設定偏角經過所述縮小后的掃描區域的掃描光線。
13. -種觸摸檢測裝置，其特征在于，包括： 掃描單元，用于對掃描區域進行直軸掃描以檢測至少一個觸摸； 記錄單元，用于當檢測到至少一個觸摸時，記錄被隔斷的掃描光線的直軸； 區域縮小單元，用于根據所述被隔斷的掃描光線的直軸縮小所述掃描區域； 所述掃描單元還用于對縮小后的掃描區域進行軸掃描以獲得所述觸摸的位置。
14. 如權利要求13所述的觸摸檢測裝置，其特征在于，所述掃描單元包括： 第一子掃描單元，用于對所述縮小后的掃描區域進行直軸掃描以獲取若干待篩選的觸 摸； 第二子掃描單元，用于對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描并利用離軸掃描的結果 剔除所述待篩選的觸摸中的虛假觸摸以確定真實觸摸； 輸出單元，用于輸出所述真實觸摸的位置； 所述第一子掃描單元還用于對掃描區域進行直軸掃描以檢測至少一個觸摸。
15. 如權利要求13所述的觸摸檢測裝置，其特征在于，所述掃描單元包括： 第一子掃描單元，用于對掃描區域進行直軸掃描以檢測至少一個觸摸； 獲取單元，用于根據對掃描區域的直軸掃描的結果獲取若干待篩選的觸摸； 第二子掃描單元，用于對所述縮小后的掃描區域進行離軸掃描并利用離軸掃描的結果 剔除所述待篩選的觸摸中的虛假觸摸以確定真實觸摸； 輸出單元，用于輸出所述真實觸摸的位置。
16. -種觸摸屏，其特征在于，包括： 觸摸區域以及微處理器； 所述微處理器包括如權利要求13?15任一項所述的觸摸檢測裝置。
【文檔編號】G06F3/042GK104216572SQ201310217383
【公開日】2014年12月17日 申請日期:2013年5月31日 優先權日:2013年5月31日
【發明者】張宇明, 趙雷, 徐姣 申請人:上海精研電子科技有限公司