專利名稱：一種模擬實時時鐘的mcu的計數器的校驗裝置及其校驗方法
技術領域：
本發明涉及電子產品領域，尤其涉及一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置及其校驗方法。
背景技術：
隨著電子行業激烈競爭的加劇，廠家在不影響產品正常功能的前提下，需要考慮盡可能的降低產品生產成本，其中，包括對產品中硬件RTC (real time clock，實時時鐘)模組的節約等。但是，節約掉硬件RTC模組后，客戶又需要相應的實時時鐘功能，因此一種能模擬的RTC模組的實時時鐘功能的部件亟待開發。眾所周知，MCU (Micro Control Unit,微控制單元)的Timer (計數器)本身就是一個計數器，當配置外部12M晶振作為MCU的Timer頻率源時,可以推算出Timer計數12M次就約等于單位時間IS ;理論上，配置Timer的翻轉計數次數(即達到翻轉時所需的計數次數)為12000000次，也就是當Timer計數到12000000次的時候，又會重新翻轉到O計數，如此反復運行。現有技術中，采用電子產品中的MCU的Timer功能模擬和替代RTC模組的功能的方法很多。但是，在實際應用當中，由于晶振本身以及MCU運行時均有一定誤差，這導致這類方法和產品產生的誤差不一，MCU的計數器并不能得到精確的1S，存在實時誤差較大的問題。
發明內容
本發明的主要目的在于提供一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置。本發明的另一目的在于提供一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法，旨在解決現有的MCU的計數器模擬實時時鐘功能時存在計時不精確的問題。為了實現上述目的，本發明提供模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置，包括標桿模塊，用于將所述標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數；獲取模塊，用于獲取所述標桿的標準翻轉計數次數；調節模塊，用于根據獲取模塊獲取的所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。優選的，所述調節模塊還用于根據所述其他待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數調節待校驗的MCU的計數器，使得待校驗的MCU的計數器完成一次翻轉的時間與所述標桿的計數器完成一次翻轉的時間一致。一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法，包括以下具體步驟將任意一個MCU的計數器制作成標桿，且將所述標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數；根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。優選的，所述根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數的步驟之后還包括根據所述其他待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數調節其自身MCU的計數器，使得待校驗的MCU的計數器完成一次翻轉的時間與所述標桿的計數器完成一次翻轉的時間一致。優選的，所述標桿的制作步驟包括( I)取一待校驗的MCU的計數器為待校驗標桿，且預先設置所述待校驗標桿的計數器I秒內的假定翻轉計數次數；(2)將所述待校驗標桿與標準時間進行比對一定時長，獲取所述待校驗標桿的總誤差秒數，并計算出所述待校驗標桿的校正翻轉計數次數；(3)將所述校正翻轉計數次數作為所述待校驗標桿的計數器I秒內的假定翻轉計數次數，重復執行步驟(2)及(3)，直到所述總誤差秒數為零時，確定該待校驗標桿為標桿，并將所述校正翻轉計數次數作為所述標桿的標準翻轉計數次數。優選的，上述步驟(2)中，所述計算包括將所述總誤差秒數除以一定時長的總秒數再乘以所述假定翻轉計數次數，得出所述待校驗標桿I秒內的平均計數次數誤差，用所述假定翻轉計數次數減去平均計數次數誤差，得到所述待校驗標桿的校正翻轉計數次數。優選的，所述確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數的方法包括以下具體步驟所述標桿發送第一次脈沖給待校驗MCU的計數器，同時所述標桿的計數器開始計數，待校驗MCU的計數器接收到第一次脈沖后也開始計數；所述標桿到達預定的測試時間后給待校驗MCU的計數器發送第二次脈沖，同時所述標桿的計數器停止計數，待校驗MCU的計數器接收到第二次脈沖后也停止計數；獲取所述待校驗MCU的計數器的每秒內的計數次數，將所述標桿的標準翻轉計數次數減去待校驗MCU的計數器的每秒內的計數次數得到待校驗MCU的計數器I秒內的計數誤差，最后將所述標準翻轉計數次數減去計數誤差得到待校驗MCU的計數器每次翻轉的計數次數。本發明提供了一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置及其校驗方法，該方法，首先將任意一個MCU的計數器制作成標桿，且將所述標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數；根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。本發明通過對待校驗的MCU計數器進行精準校驗，經校驗后的MCU的計數器模擬實時時鐘功能可以與硬件RTC模組精度相媲美，完全可以實現MCU的計數器對模擬硬件RTC模組的替代。
圖1是本發明的模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法較佳實施例的流程示意圖；圖2為本發明一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置的較佳實施例的結構示意圖。
本發明目的的實現、功能特點及優點將結合實施例，參照附圖做進一步說明。
具體實施例方式應當理解，此處所描述的具體實施例僅僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。本發明提出一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法。請參閱圖1，圖1為本發明模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法較佳實施例的流程示意圖，該方法包括如下步驟。步驟SlO :將任意一個MCU的計數器制作成標桿，且將所述標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數；其中，將任意一個MCU的計數器制作成標桿，具體步驟如下 (I)取一個待校驗的MCU的計數器為待校驗標桿，假定其翻轉計數次數為12 000000 次。(2)將該待校驗標桿與標準北京時間進行比對一定時長，如進行比對15天，獲取待校驗標桿的總誤差秒數，將總誤差秒數除以一定時長內總秒數，得出I秒內的待校驗標桿的計數器平均計數次數誤差，用計數器的假定翻轉計數次數減去平均計數次數誤差，得到校正翻轉計數次數。(3)將步驟(2)得到的校正翻轉計數次數設置到產品中作為標桿的計數器I秒內新的假定翻轉計數次數，重復步驟(2)。其中，將步驟(2)以及(3)重復循環多次，直到待校驗模擬實時時鐘一定時長內的誤差時間與標準北京時間為零為止，最終獲取含準確翻轉計數次數的待校驗標桿為標桿，并以標桿的翻轉計數次數為標準翻轉計數次數。具體舉例來說，假設15天內，待校驗模擬實時時鐘與標準北京時間相比，總誤差時間16秒，可推算出待校驗模擬實時時鐘每秒誤差時間內計數器的I秒內計數誤差次數為148次，即16秒+ (15天X 24小時/天X 3600秒/小時)X 12 000 000次/秒=148次/秒；此時，將待校驗模擬實時時鐘的計數器I秒內的假定翻轉計數次數重新設定為11999 852次，S卩12 000 000次/秒-148次/秒=11 999 852次/秒；將該假定的翻轉計數次數重復步驟(2)，如此循環，直到待校驗模擬實時時鐘15天內的誤差時間與標準北京時間為零為止，最終獲取含標準計數次數的MCU計數器作為標桿。步驟S20 :根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。其中，可以將標桿做成治具的形式，用治具的一個頂針頂在待校驗的MCU的計數器的測試點上。標桿發送第一次脈沖給待校驗的MCU的計數器，同時標桿的自身計數器開始計數，待校驗的MCU的計數器接收到第一次脈沖后也開始計數。當達到一定測試時間后標桿給待校驗的MCU的計數器發送第二次脈沖，同時標桿自身的計數器停止計數，待校驗的MCU的計數器接收到第二次脈沖后也停止計數。通過獲取待校驗MCU的計數器的每秒內的計數次數，并將所述標桿的標準翻轉計數次數減去待校驗MCU的計數器的每秒內的計數次數得到待校驗MCU的計數器I秒內的計數誤差，最后將所述標準翻轉計數次數減去計數誤差得到待校驗MCU的計數器每次翻轉的計數次數。在具體計算過程中，例如，假設待校驗的MCU的計數器模擬實時時鐘的測定計數次數為719 999 460次，標桿的測定計數次數為720 000 000次，反復進行比對測試的時間為lmin，那么可計算出待確定Timer的I秒誤差(720 000 000-719 999 460)/60 = 9，跟據Timer原理，可以確定出待校驗實時時鐘的Timer的翻轉計數次數為12 000 000-9=11 999 991。進一步的，根據待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數相應調節待校驗MCU的計數器，使得待校驗的MCU的計數器完成一次翻轉的時間與所述標桿的計數器完成一次翻轉的時間一致。在上述實施例中，待校驗好的MCU的計數器完成一次翻轉對應的時間為I秒，計數器翻轉后重新從零開始計數，如此循環反復。其中，MCU的計數器每完成一次翻轉，秒鐘變量的數值增加I并不斷進行累加；當秒鐘變量數值大于59后進行歸零，同時分鐘變量的數值增加I并不斷進行累加；當分鐘變量數值大于59后進行歸零，同時小時變量的數值增加I并不斷進行累加；當小時變量的數值大于23后進行歸零，最終得到模擬實時時鐘功能的MCU的計數器。上述實施例通過將任意一個MCU的計數器制作成標桿，且將所述標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數；根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。通過對待校驗的MCU計數器進行精準校驗，經校驗后的MCU的計數器模擬實時時鐘功能可以與硬件RTC模組精度相媲美，完全可以實現MCU的計數器對模擬硬件RTC模組的替代。本發明進一步提出一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置。參閱圖2，圖2為本發明一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置的較佳實施例的結構示意圖。本實施例中，一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置具體包括標桿模塊01，用于將標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數；獲取模塊02，用于獲取所述標桿的標準翻轉計數次數；調節模塊03，用于根據獲取模塊獲取的所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。標桿模塊01用于將標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數，其中標桿為任意一個MCU計數器制作而成，調節模塊03，根據獲取模塊02獲取的所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。其中，調節模塊03還用于根據所述其他待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數調節待校驗的MCU的計數器，使得待校驗的MCU的計數器完成一次翻轉的時間與所述標桿的計數器完成一次翻轉的時間一致。本實施例中，將任意一個MCU的計數器制作成標桿，以及根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數的具體過程可參照上述實施例，在此不再贅述。應當理解的是，本發明可用其他的不違背本發明的精神或主要特征的具體形式來概述。因此，無論從哪一點來看，本發明的上述實施例只能認為是對本發明的說明而不能限制本發明，權利要求書指出了本發明的范圍，而上述的說明并未指出本發明的范圍，因此在與本發明的權利要求書相當的含義和范圍內的任何改變，都應認為是包括在權利要求書的范圍內。
權利要求
1.一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置，其特征在于，包括 標桿模塊，用于將標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數； 獲取模塊，用于獲取所述標桿的標準翻轉計數次數； 調節模塊，用于根據獲取模塊獲取的所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。
2.根據權利要求1所述的模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置，其特征在于，所述調節模塊還用于根據所述其他待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數調節待校驗的MCU的計數器，使得待校驗的MCU的計數器完成一次翻轉的時間與所述標桿的計數器完成一次翻轉的時間一致。
3.一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法，其特征在于包括以下具體步驟 將任意一個MCU的計數器制作成標桿，且將所述標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數； 根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。
4.根據權利要求3所述的模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法，其特征在于，所述根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數的步驟之后還包括 根據所述其他待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數調節其自身MCU的計數器，使得待校驗的MCU的計數器完成一次翻轉的時間與所述標桿的計數器完成一次翻轉的時間一致。
5.根據權利要求4所述的模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法，其特征在于，所述標桿的制作步驟包括 (1)取一待校驗的MCU的計數器為待校驗標桿，且預先設置所述待校驗標桿的計數器I秒內的假定翻轉計數次數； (2)將所述待校驗標桿與標準時間進行比對一定時長，獲取所述待校驗標桿的總誤差秒數，并計算出所述待校驗標桿的校正翻轉計數次數； (3)將所述校正翻轉計數次數作為所述待校驗標桿的計數器I秒內的假定翻轉計數次數，重復執行步驟(2)及(3)，直到所述總誤差秒數為零時，確定該待校驗標桿為標桿，并將所述校正翻轉計數次數作為所述標桿的標準翻轉計數次數。
6.根據權利要求5所述的模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法，其特征在于，步驟(2)中，所述計算包括將所述總誤差秒數除以一定時長的總秒數再乘以所述假定翻轉計數次數，得出所述待校驗標桿I秒內的平均計數次數誤差，用所述假定翻轉計數次數減去平均計數次數誤差，得到所述待校驗標桿的校正翻轉計數次數。
7.根據權利要求3所述的模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗方法，其特征在于，所述確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數的方法包括以下具體步驟 所述標桿發送第一次脈沖給待校驗MCU的計數器，同時所述標桿的計數器開始計數，待校驗MCU的計數器接收到第一次脈沖后也開始計數； 所述標桿到達預定的測試時間后給待校驗MCU的計數器發送第二次脈沖，同時所述標桿的計數器停止計數，待校驗MCU的計數器接收到第二次脈沖后也停止計數；獲取所述待校驗MCU的計數器的每秒內的計數次數，將所述標桿的標準翻轉計數次數減去 待校驗MCU的計數器的每秒內的計數次數得到待校驗MCU的計數器I秒內的計數誤差，最后將所述標準翻轉計數次數減去計數誤差得到待校驗MCU的計數器每次翻轉的計數次數。
全文摘要
本發明公開了一種模擬實時時鐘的MCU的計數器的校驗裝置及其校驗方法。本發明公開的方法，首先將任意一個MCU的計數器制作成標桿，且將所述標桿的計數器每次翻轉的計數次數作為標準翻轉計數次數；根據所述標桿的標準翻轉計數次數對其他待校驗的MCU的計數器進行校驗，確定其它待校驗的MCU的計數器每次翻轉的計數次數。本發明通過對待校驗的MCU計數器進行精準校驗，經校驗后的MCU的計數器模擬實時時鐘功能可以與硬件RTC模組精度相媲美，完全可以實現MCU的計數器對模擬硬件RTC模組的替代。
文檔編號G06F1/04GK103019301SQ20121059365
公開日2013年4月3日 申請日期2012年12月31日 優先權日2012年12月31日
發明者許勝宗, 趙德建, 張俊 申請人:Tcl通力電子(惠州)有限公司