專利名稱：一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法
技術領域：
本發明涉及一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，它致力于保證危害性分析在產品上的有效應用，精確判斷出風險較高的工藝故障，屬于工藝可靠性工程技術領域。背景技術：
危害性分析是指對產品中的每個故障模式發生的概率及其危害程度所產生的綜合影響進行分析，以全面評價產品各種可能出現的故障模式的影響。目前工程實際中，產品的危害性分析工作主要依據GJB/Z1391-2006《故障模式、影響及危害性分析指南》進行。標準中提出的危害性分析方法包括兩種風險優先數(RPN)法和危害性矩陣法。其中，風險優先數法需要對每一個故障模式的嚴酷度(S)、發生概率
(O)、被檢測難度(D)三個等級進行評價，三者相乘得到對應的RPN值，RPN值較高的故障模式確定為關鍵故障模式；危害性矩陣法則是利用失效率、工作時間等參數計算出每一個故障模式的危害度，通過作圖的方法確定關鍵故障模式。本專利申請所針對是風險優先數法的不足，該方法在分析的過程中主觀的因素較多，尤其是方法中需要確定的RPN門限值主要通過專家討論的方式來實現，依據不明確，且具有一定的隨機性。在危害性分析方法中，RPN門限值決定了哪些故障需要作為關鍵故障采取改進措施，門限值確定的準確與否對整個危害性分析方法的有效實施起到舉足輕重的作用。
發明內容
I、目的；本發明的目的是提供一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，該方法可操作性強，能夠客觀準確的確定RPN門限值，進而明確關鍵故障模式，提出改進措施，提聞廣品的工藝可罪性。2、技術方案本發明一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，該方法具體步驟如下步驟I :針對開展危害性分析的產品具體工藝過程，在前期工作的基礎上，計算所有工藝故障模式的RPN值。步驟2 :利用直角坐標系作圖的方法得到RPN順序散點圖。步驟3 :利用線性回歸的方法，判斷RPN順序散點圖中線性增長趨勢喪失的轉折點，即確定RPN門限值。其中，步驟I中所述的“前期工作”指的是危害性分析中的工藝故障模式分析、工藝故障原因分析、工藝故障影響分析，再針對每個工藝故障模式評定對應的嚴酷度等級、發生概率等級和被檢測難度等級。其中，在步驟I中所述的“計算所有工藝故障模式的RPN值”，其計算公式如下RPN = SXOXD
式中，RPN為某個工藝故障模式的風險優先數，S為某個工藝故障模式的嚴酷度等級，0為某個工藝故障模式的發生概率等級，D為某個工藝故障模式的被檢測難度等級。其中，步驟2中所述的“利用直角坐標系作圖的方法得到RPN順序散點圖”，是將工藝故障模式對應的不同的RPN值(相同RPN值的故障模式進行合并)按照從小到大的順序進行排列，其對應排列序號(從I開始的自然數)為某一 RPN值順序序數。以RPN順序序數為橫軸，RPN值本身作為縱軸，做出散點圖，即為RPN順序散點圖。其中，步驟3中所述的“利用線性回歸的方法，判斷RPN順序散點圖中線性增長趨勢喪失的轉折點，即確定RPN門限值”是指從最小i個RPN順序序數區域(一般可選擇i =5 10)開始，進行線性回歸并計算下一 RPN數值在某一置信度下的預測區間。若第i+Ι個RPN數值落在預測區間以內，則將其與已回歸的數值合并再次進行線性回歸并計算第i+2個RPN數值的預測區間；第i+Ι個RPN數值落在預測區間以外，則停止計算并判斷第i+Ι個點為線性增長趨勢喪失的轉折點。最終可將增長趨勢喪失的轉折點作為RPN門限值，即大于或等于此數值的所有故障模式都應當進行改進。3、優點及功效本發明提供了一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其優點主要有1)本方法在已有的工藝危害性分析方法的基礎上，解決了 RPN門限值難以確定或確定依據不明確的問題；2)本方法所采取的是散點圖及線性回歸的方法，可以利用現有成熟方法實現，操作簡單方便，利于推廣。
圖1為本發明實施方案流程框圖。圖2為某組件工藝故障模式RPN順序散點圖。
具體實施例方式下面結合具體的實施案例，對本發明所述的一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法進行詳細說明。案例應用于某組件工藝過程本發明以某組件工藝過程為例，說明新提出的危害性分析中的風險優先數門限值的確定方法。首先，需要明確某組件工藝過程主要包括孔化、光刻、鍵合、釬焊、粘貼、燒結、裝配等。前期工作中開展了某組件工藝過程的工藝故障模式分析、工藝故障原因分析及工藝故障影響分析等工作。其中，RPN門限值確定流程見圖1，具體的實施步驟如下步驟1 :針對危害性分析的產品工藝，在前期工作的基礎上，計算所有工藝故障模式的RPN值。本例中的某組件工藝中所有工藝故障模式對應RPN值如表I所示。表1某組件工藝故障模式代號及對應RPN值
權利要求
1.一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其特征在于該方法具體步驟如下 步驟I:針對開展危害性分析的產品具體工藝過程，在前期工作的基礎上，計算所有工藝故障模式的RPN值； 步驟2 :利用直角坐標系作圖的方法得到RPN順序散點圖； 步驟3 :利用線性回歸的方法，判斷RPN順序散點圖中線性增長趨勢喪失的轉折點，即確定RPN門限值。
2.根據權利要求I所述的一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其特征在于步驟I中所述的“前期工作”指的是危害性分析中的工藝故障模式分析、工藝故障原因分析、工藝故障影響分析，再針對每個工藝故障模式評定對應的嚴酷度等級、發生概率等級和被檢測難度等級。
3.根據權利要求I所述的一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其特征在于 步驟I中所述的“計算所有工藝故障模式的RPN值”，其計算公式如下 RPN = SXOXD 式中，RPN為某個工藝故障模式的風險優先數，S為某個工藝故障模式的嚴酷度等級，O為某個工藝故障模式的發生概率等級，D為某個工藝故障模式的被檢測難度等級。
4.根據權利要求I所述的一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其特征在于 步驟2中所述的“利用直角坐標系作圖的方法得到RPN順序散點圖”，是將工藝故障模式對應的不同的RPN值，按照從小到大的順序進行排列，其對應排列序號為某一 RPN值順序序數，以RPN順序序數為橫軸，RPN值本身作為縱軸，做出散點圖，即為RPN順序散點圖。
5.根據權利要求I所述的一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，其特征在于 步驟3中所述的“利用線性回歸的方法，判斷RPN順序散點圖中線性增長趨勢喪失的轉折點，即確定RPN門限值”是指從最小i個RPN順序序數區域開始，進行線性回歸并計算下一 RPN數值在某一置信度下的預測區間；若第i+Ι個RPN數值落在預測區間以內，則將其與已回歸的數值合并再次進行線性回歸并計算第i+2個RPN數值的預測區間；第i+Ι個RPN數值落在預測區間以外，則停止計算并判斷第i+Ι個點為線性增長趨勢喪失的轉折點；最終將增長趨勢喪失的轉折點作為RPN門限值，即大于或等于此數值的所有故障模式都應當進行改進。
全文摘要
一種危害性分析中風險優先數門限值的確定方法，該方法有三大步驟步驟1針對開展危害性分析的產品具體工藝過程，在前期工作的基礎上，計算所有工藝故障模式的RPN值；步驟2利用直角坐標系作圖的方法得到RPN順序散點圖；步驟3利用線性回歸的方法，判斷RPN順序散點圖中線性增長趨勢喪失的轉折點，即確定RPN門限值。該方法可操作性強，能夠客觀準確的確定RPN門限值，進而明確關鍵故障模式，提出改進措施，提高產品的工藝可靠性。它操作簡單方便，便于推廣。
文檔編號G06F19/00GK102622531SQ20121012298
公開日2012年8月1日 申請日期2012年4月24日 優先權日2012年4月24日
發明者萬博, 付桂翠, 趙幼虎, 陳政平 申請人:北京航空航天大學