專利名稱：低溫測(cè)試操作箱的制作方法
低溫測(cè)試操作箱
技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種低溫測(cè)試操作箱，特別是涉及一種強(qiáng)固型電子設(shè)備的低溫測(cè)試操作箱。
背景技術(shù)：
隨著科技日新月異的發(fā)展，電腦越來越廣泛地應(yīng)用于日常生活，尤其是近年來筆記本電腦以其便攜性更是受到人們青睞。而由于科考、探險(xiǎn)、軍事等方面應(yīng)用的需要，對(duì)于所使用的筆記本電腦等便攜式設(shè)備所能承受的工作環(huán)境又有了更為嚴(yán)苛的需求。由此發(fā)展出強(qiáng)固型便攜式設(shè)備，例如為強(qiáng)固型筆記本電腦。對(duì)于強(qiáng)固型筆記本電腦來說，可應(yīng)用的領(lǐng)域非常的廣，且保護(hù)性極佳，不論是處于多么嚴(yán)苛的環(huán)境，像是工地、野外、沙漠環(huán)境或是軍事重地等等，能承受外在環(huán)境的干擾，系統(tǒng)穩(wěn)定運(yùn)作。由于強(qiáng)固型筆記本電腦通常會(huì)需要滿足在低溫下工作的需求，因此需要進(jìn)行在低溫下進(jìn)行測(cè)試以滿足在低溫下運(yùn)行穩(wěn)定性的需求。請(qǐng)參閱圖1，其為現(xiàn)有技術(shù)的強(qiáng)固型筆記本電腦的低溫測(cè)試操作箱。所述操作箱包括本體11、門12，所述門12在閉合狀態(tài)下，所述本體11和所述門12形成一個(gè)基本密閉的空間，所述門12—般為透明，所述門12上開設(shè)有二操作口 13，所述操作口 13上由其四周向中心延伸設(shè)有軟性密封部14。使用時(shí)，人手從所述操作口 13，撥開所述軟性密封部14，伸入所述操作箱內(nèi)部，對(duì)需要進(jìn)行測(cè)試的強(qiáng)固型電腦15進(jìn)行操作，而人手抽出后，所述軟性密封部14又會(huì)合起來使得所述操作箱的內(nèi)部基本成為一個(gè)密閉空間。由于所述操作箱的內(nèi)部在測(cè)試的時(shí)候會(huì)保持一個(gè)較低的溫度(例如為-37.20C )。采用上述操作箱會(huì)有以下缺點(diǎn):人手在其內(nèi)長(zhǎng)期操作會(huì)出現(xiàn)凍傷的情況；由于所述操作箱內(nèi)部空間有限，操作起來較不方便；由于所述操作箱內(nèi)部空間有限，有些測(cè)試治具無法正常放入；測(cè)試時(shí)開關(guān)門動(dòng)作相對(duì)多，造成箱內(nèi)溫度泄露。有鑒于此，實(shí)有必要開發(fā)一種低溫測(cè)試操作箱，以解決上述問題。
發(fā)明內(nèi)容
因此，本發(fā)明的目的是提供一種低溫測(cè)試操作箱，從而可以避免使用者操作后手被凍傷，又可以解決箱內(nèi)操作空間有限所帶來的問題。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的低溫測(cè)試操作箱，用于對(duì)電子產(chǎn)品的低溫測(cè)試操作，該操作箱包括:箱體，其具有一開放端，所述箱體內(nèi)提供一低溫環(huán)境；箱門，與所述箱體的開放端結(jié)合，所述箱門閉合后，所述箱體箱門形成密閉空間；連接器，其穿設(shè)于所述箱體的壁，所述連接器包括內(nèi)端口和外端口，所述內(nèi)端口設(shè)于所述箱體內(nèi)部，與待測(cè)試的所述電子產(chǎn)品的端口相匹配，所述內(nèi)外端口設(shè)于所述箱體外部，與測(cè)試治具的端口相匹配。
可選的，所述箱門為透明體，方便使用者觀察所述操作箱內(nèi)部。可選的，所述箱門上設(shè)有操作口，所述操作口上由其四周向中心延伸設(shè)有軟性密封部，從而方便使用者在不開箱門的情況下，將所述連接器內(nèi)端口與所述電子產(chǎn)品的端口相連接，以及進(jìn)行一些通過所述連接器所不能完成的操作?？蛇x的，所述連接器為若干個(gè)，分散設(shè)于所述箱體上，從而使用者在所述箱體外部更方便連接測(cè)試治具。可選的，所述連接器為若干個(gè)，所述箱體外部設(shè)有一連接器座，各所述連接器的外端口集中設(shè)于所述連接器座上，從而使得箱體外部美觀，測(cè)試起來較為集中方便。可選的，所述電子產(chǎn)品為強(qiáng)固型筆記本電腦，所述電子產(chǎn)品的端口為USB端口、LAN端口、COM端口或顯示器端口。相較于現(xiàn)有技術(shù)，采用本發(fā)明的低溫測(cè)試操作箱，由于采用具備內(nèi)端口和外端口的連接器，將測(cè)試治具連接到箱體外部，使得操作可以在箱體外部，避免了人手在箱體內(nèi)低溫環(huán)境下長(zhǎng)期操作；測(cè)試時(shí)開關(guān)箱門動(dòng)作變少，減少箱內(nèi)溫度泄露。
圖1繪示為現(xiàn)有技術(shù)強(qiáng)固型筆記本電腦的低溫測(cè)試操作箱一較佳實(shí)施例的結(jié)構(gòu)圖。圖2繪示為本發(fā)明的低溫測(cè)試操作箱第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
圖3繪示為本發(fā)明的低溫測(cè)試操作箱第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。
具體實(shí)施方式請(qǐng)參閱圖2，圖2繪示為本發(fā)明的低溫測(cè)試操作箱第一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。為了達(dá)到上述目的，本發(fā)明提供的低溫測(cè)試操作箱，用于對(duì)電子產(chǎn)品200(以強(qiáng)固型筆記本電腦為例)的低溫測(cè)試操作，該操作箱包括:箱體20，其具有一開放端，所述箱體20內(nèi)提供一低溫環(huán)境；箱門21，與所述箱體20的開放端結(jié)合，所述箱門21閉合后，所述箱體20箱門21形成密閉空間；連接器22，其穿設(shè)于所述箱體的壁，所述連接器包括內(nèi)端口 23和外端口 24，所述內(nèi)端口 23設(shè)于所述箱體22內(nèi)部，與待測(cè)試的所述電子產(chǎn)品200的端口相匹配(所述電子產(chǎn)品200的端口可以為USB端口、LAN端口、COM端口或顯示器端口)，所述內(nèi)外端口 24設(shè)于所述箱體20外部，與測(cè)試治具的端口相匹配。于該第一實(shí)施例，所述連接器22為若干個(gè)，分散設(shè)于所述箱體20上，從而使用者在所述箱體20外部更方便連接測(cè)試治具其中，所述箱門20可以為透明體，方便使用者觀察所述操作箱內(nèi)部?？梢?，采用本發(fā)明的低溫測(cè)試操作箱，由于采用具備內(nèi)端口 23和外端口 24的連接器22，使用時(shí)通過所述連接器22的外端口 24將測(cè)試治具連接到箱體20外部，使得操作可以在箱體20外部，避免了人手在箱體20內(nèi)低溫環(huán)境下長(zhǎng)期操作；可以一次性將電子產(chǎn)品200需要測(cè)試的端口與所述連接器22的內(nèi)端口 23連接，從而測(cè)試時(shí)開關(guān)箱門21動(dòng)作變少，減少箱內(nèi)溫度泄露。
請(qǐng)參閱圖3，圖3繪示為本發(fā)明的低溫測(cè)試操作箱第二實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖。與所述第一實(shí)施例相同的部分不再詳述，與所述第一實(shí)施例所不同的，于該第二實(shí)施例，所述連接器22為若干個(gè)，所述箱體20外部設(shè)有一連接器座25，各所述連接器22的外端口 24集中設(shè)于所述連接器座25上，從而使得箱體20外部美觀，測(cè)試起來較為集中方便。其中，所述箱門20上也可以設(shè)有操作口 26，所述操作口 26上由其四周向中心延伸設(shè)有軟性密封部27，從而方便使用者在不開箱門21的情況下，將所述連接器22內(nèi)端口23與所述電子產(chǎn)品200的端口相連接，以及進(jìn)行一些通過所述連接器22所不能完成的操作(例如需要進(jìn)行按電源開關(guān)開機(jī)的操作)。使用時(shí)，人手從所述操作口 26，撥開所述軟性密封部27，伸入所述操作箱內(nèi)部進(jìn)行操作，而人手抽出后，所述軟性密封部27又會(huì)合起來使得所述操作箱的內(nèi)部基本成為一個(gè)密閉空間(所述軟性密封部27可以為由其中心點(diǎn)作為中心向四周開十字型開口)。
權(quán)利要求
1.一種低溫測(cè)試操作箱，用于對(duì)電子產(chǎn)品的低溫測(cè)試操作，其特征在于，該操作箱包括: 箱體，其具有一開放端，所述箱體內(nèi)提供一低溫環(huán)境； 箱門，與所述箱體的開放端結(jié)合，所述箱門閉合后，所述箱體箱門形成密閉空間； 連接器，其穿設(shè)于所述箱體的壁，所述連接器包括內(nèi)端口和外端口，所述內(nèi)端口設(shè)于所述箱體內(nèi)部，與待測(cè)試的所述電子產(chǎn)品的端口相匹配，所述內(nèi)外端口設(shè)于所述箱體外部，與測(cè)試治具的端口相匹配。
2.如權(quán)利要求1所述的低溫測(cè)試操作箱，其特征在于，所述連接器為若干個(gè)，分散設(shè)于所述箱體上。
3.如權(quán)利要求1所述的低溫測(cè)試操作箱，其特征在于，所述連接器為若干個(gè)，所述箱體外部設(shè)有一連接器座，各所述連接器的外端口集中設(shè)于所述連接器座上。
4.如權(quán)利要求1、2或3所述的低溫測(cè)試操作箱，其特征在于，所述箱門為透明體。
5.如權(quán)利要求1、2或3所述的低溫測(cè)試操作箱，其特征在于，所述箱門上設(shè)有操作口，所述操作口上由其四周向中心延伸設(shè)有軟性密封部。
6.如權(quán)利要求1、2或3所述的低溫測(cè)試操作箱，其特征在于，所述電子產(chǎn)品的端口為USB端口、LAN端口、COM端口或顯示器端口。
全文摘要
本發(fā)明揭示一種低溫測(cè)試操作箱，用于對(duì)電子產(chǎn)品的低溫測(cè)試操作，該操作箱包括箱體，其具有一開放端，所述箱體內(nèi)提供一低溫環(huán)境；箱門，與所述箱體的開放端結(jié)合，所述箱門閉合后，所述箱體箱門形成密閉空間；連接器，其穿設(shè)于所述箱體的壁，所述連接器包括內(nèi)端口和外端口，所述內(nèi)端口設(shè)于所述箱體內(nèi)部，與待測(cè)試的所述電子產(chǎn)品的端口相匹配，所述內(nèi)外端口設(shè)于所述箱體外部，與測(cè)試治具的端口相匹配。采用該低溫測(cè)試操作箱，由于采用具備內(nèi)端口和外端口的連接器，將測(cè)試治具連接到箱體外部，使得操作可以在箱體外部，避免了人手在箱體內(nèi)低溫環(huán)境下長(zhǎng)期操作；測(cè)試時(shí)開關(guān)箱門動(dòng)作變少，減少箱內(nèi)溫度泄露。
文檔編號(hào)G06F11/26GK103207822SQ20121000936
公開日2013年7月17日 申請(qǐng)日期2012年1月13日 優(yōu)先權(quán)日2012年1月13日
發(fā)明者任光明 申請(qǐng)人:神訊電腦(昆山)有限公司