專利名稱：設備標識信息的獲取方法及裝置的制作方法
設備標識信息的獲取方法及裝置
背景技術：
通常，同一種類硬件設備(例如液晶顯示屏、照相機、充電器等)，可以由不同廠家進行生產，或者還可能會有不同的功能特征參數，每個不完全相同的硬件設備在應用程序的使用上會存在一些差別。因此，在給每個硬件設備設置應用程序時，需要根據硬件設備的設備標識信息，例如廠家信息、特征參數信息等，給硬件設備設置相應的應用程序。現有技術中，可以采用通用輸入輸出(General Purpose Input Output，簡稱 GPIO)端口識別硬件設備的輸出電平。由于GPIO端口只有高電平和低電平兩種狀態，所以， 一個GPIO端口只能識別兩個設備標識信息，也就是說，兩個GPIO端口只能識別四個設備標識信息。以此類推，現有技術中固定個數的G PIO端口只能識別出有限數量的設備標識信息，限制了 GPIO端口能夠識別設備標識信息的數量，從而降低了 GPIO端口的識別效率。
發明內容
本發明實施例提供一種設備標識信息的獲取方法及裝置，用以避免現有技術中固定個數的GPIO端口只能識別出有限數量的設備標識信息而導致的限制了 GPIO端口能夠識別設備標識信息的數量的問題。本發明實施例提供了一種設備標識信息的獲取方法，包括利用第一通用輸入輸出GPIO端口，檢測電容通過所述待測電阻進行放電的第一放電時間，所述第一 GPIO端口通過定值電阻與所述電容連接；利用第二 GPIO端口，檢測所述電容通過所述定值電阻進行放電的第二放電時間， 所述第二 GPIO端口通過待測電阻與所述電容連接；根據所述第一放電時間、所述第二放電時間和所述定值電阻的電阻值，獲得所述待測電阻的電阻值；根據待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系，獲取與所述待測電阻的電阻值對應的設備標識信息。本 發明實施例還提供了一種設備標識信息的獲取裝置，包括第一檢測單元，用于利用第一通用輸入輸出GPIO端口，檢測電容通過所述待測電阻進行放電的第一放電時間，所述第一 GPIO端口通過定值電阻與所述電容連接；第二檢測單元，用于利用第二 GPIO端口，檢測所述電容通過所述定值電阻進行放電的第二放電時間，所述第二 GPIO端口通過待測電阻與所述電容連接；阻值獲得單元，用于根據所述第一放電時間、所述第二放電時間和所述定值電阻的電阻值，獲得所述待測電阻的電阻值；信息獲取單元，用于根據待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系，獲取與所述待測電阻的電阻值對應的設備標識信息。由上述技術方案可知，本發明實施例通過根據電容通過待測電阻進行放電的放電時間、電容通過定值電阻進行放電的放電時間和定值電阻的電阻值，獲得待測電阻的電阻值，使得根據待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系，能夠獲取與上述待測電阻的電阻值對應的設備標識信息，能夠避免現有技術中固定個數的GPIO端口只能識別出有限數量的設備標識信息而導致的限制了 GPIO端口能夠識別設備標識信息的數量的問題，從而提高了 GPIO端口的識別效率。
為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本發明的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。圖1為本發明一實施例提供的設備標識信息的獲取方法的流程示意圖；圖2為本發明一實施例提供的設備標識信息的獲取方法中的端口連接示意圖；圖3為本發明另一實施例提供的設備標識信息的獲取裝置的結構示意圖；圖4為本發明另一實施例提供的設備標識信息的獲取裝置的結構示意圖。
具體實施例方式為使本發明實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本發明實施例中的附圖，對本發明實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本發明一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本發明中的實施例，本領域普通技術人員在沒有作出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本發明保護的范圍。圖1為本發明一實施例提供的設備標識信息的獲取方法的流程示意圖，以及圖2 為本發明一實施例提供的設備標識信息的獲取方法中的端口連接示意圖。如圖2所示，第一GPIO端口通過定值電阻與上述電容連接；第二GPIO端口通過待測電阻與上述電容連接。 如圖1所示，本實施例的設備標識信息的獲取方法可以包括101、利用第一 GPIO端口，檢測電容通過上述待測電阻進行放電的第一放電時間；具體地，可以將第一 GPIO端口設置為輸入狀態，用以對電容的電平進行檢測，以及將第二 GPIO端口設置為輸出低電平狀態，以使電容通過待測電阻進行放電，并將第一 GPIO端口檢測到的電容的電平從高電平到低電平的時間，作為第一放電時間。例如將第
一GPIO端口設置為輸入狀態，用以對A點的電平進行檢測。當A點的電平穩定在高電平之后，可以啟動第一 GPIO端口的中斷功能，并通過軟件開啟計數器，開始對A點的電平進行檢測；將第二 GPIO端口設置為輸出低電平狀態，從而使得電容可以通過待測電阻進行放電； 將第一 GPIO端口檢測到的A點的電平從高電平到低電平的時間，作為第一放電時間。102、利用第二 GPIO端口，檢測上述電容通過上述定值電阻進行放電的第二放電時間；具體地，可以將第二 GPIO端口設置為輸入狀態，用以對電容的電平進行檢測，以及將第一 GPIO端口設置為輸出低電平狀態，以使電容通過定值電阻進行放電，并將第二 GPIO端口檢測到的電容的電平從高電平到低電平的時間，作為第二放電時間。例如將第
二GPIO端口設置為輸入狀態，用以對A點的電平進行檢測。當A點的電平穩定在高電平之后，可以啟動第二 GPIO端口的中斷功能，并通過軟件開啟計數器，開始對A點的電平進行檢測；將第一 GPIO端口設置為輸出低電平狀態，從而使得電容可以通過定值電阻進行放電；將第二 GPIO端口檢測到的A點的電平從高電平到低電平的時間，作為第二放電時間。需要說明的是上述101與102沒有固定的執行順序。可以理解的是101與102均是對電容的放電時間的檢測，所以101與103之前均需要執行對電容進行充電的充電過程，才能實現對電容的放電時間的檢測。如圖2所示，可選地，具體可以通過第二 GPIO端口，經由待測電阻給電容充電，例如將第二 GPIO端口設置為輸出高電平狀態，從而實現通過待測電阻給電容充電。可選地，具體還可以通過第一 GPIO 端口，經由定值電阻給電容充電，例如將第一 GPIO端口設置為輸出高電平狀態，從而實現通過定值電阻給電容充電。103、根據上述第一放電時間、上述第二放電時間和上述定值電阻的電阻值，獲得上述待測電阻的電阻值；具體地，可以根據Rl = R2T1T22，計算Rl的阻值；其中，上述Rl為待測電阻；R2為定值電阻；Tl為第一放電時間；T2為第二放電時間。104、根據待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系，獲取與上述待測電阻的電阻值對應的設備標識(ID)信息。進一步地，本實施例在104之前還可以進一步建立上述待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系。其中，待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系可以如表1所
7J\ ο表1待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系
待測電阻的電阻值設備標識信息Rll設備IDl信息R12設備ID2信息R13設備ID3信息R14設備ID4信息Rln設備Ito信息其中，設備標識信息可以包括但不限于硬件設備的生產廠家(例如不同廠家生產的數碼相機)、功能特征參數(例如不同充電電流大小的充電器)。本實施例中，通過根據電容通過待測電阻進行放電的放電時間、電容通過定值電阻進行放電的放電時間和定值電阻的電阻值，獲得待測電阻的電阻值，使得根據待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系，能夠獲取與上述待測電阻的電阻值對應的設備標識信息，能夠避免現有技術中固定個數的GPIO端口只能識別出有限數量的設備標識信息而導致的限制了 GPIO端口能夠識別設備標識信息的數量的問題，從而提高了 GPIO端口的識別效率。需要說明的是對于前述的各方法實施例，為了簡單描述，故將其都表述為一系列的動作組合，但是本領域技術人員應該知悉，本發明并不受所描述的動作順序的限制，因為依據本發明，某些步驟可以采用其他順序或者同時進行。其次，本領域技術人員也應該知悉，說明書中所描述的實施例均屬于優選實施例，所涉及的動作和模塊并不一定是本發明所必須的。在上述實施例中，對各個實施例的描述都各有側重，某個實施例中沒有詳述的部分，可以參見其他實施例的相關描述。圖3為本發明另一實施例提供的設備標識信息的獲取裝置的結構示意圖，如圖3 所示，本實施例的設備標識信息的獲取裝置可以包括第一檢測單元32、第二檢測單元33、 阻值獲得單元34和信息獲取單元35。其中，第一檢測單元32用于利用第一 GPIO端口，檢測電容通過上述待測電阻進行放電的第一放電時間，該第一 GPIO端口通過定值電阻與上述電容連接；第二檢測單元33用于利用第二 GPIO端口，檢測上述電容通過上述定值電阻進行放電的第二放電時間，該第二 GPIO端口通過待測電阻與上述電容連接；阻值獲得單元34 用于根據上述第一放電時間、上述第二放電時間和上述定值電阻的電阻值，獲得上述待測電阻的電阻值；信息獲取單元35用于根據待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系， 獲取與上述待測電阻的電阻值對應的設備標識信息。圖1對應的實施例中方法可以由本實施例提供的設備標識信息的獲取裝置實現。進一步地，如圖4所示，本實施例的設備標識信息的獲取裝置還可以進一步包括電容充電單元31，用于通過第一 GPIO端口或第二 GPIO端口給電容充電。具體地，本實施例中的電容充電單元31具體可以將上述第一 GPIO端口或上述第二 GPIO端口設置為輸出高電平狀態，用以通過上述第一 GPIO端口或上述第二 GPIO端口給上述電容充電。 具體地，本實施例中的第一檢測單元32具體可以將上述第一 GPIO端口設置為輸入狀態，用以對上述電容的電平進行檢測，以及將上述第二 GPIO端口設置為輸出低電平狀態，以使上述電容通過上述待測電阻進行放電，并將上述第一 GPIO端口檢測到的上述電容的電平從高電平到低電平的時間，作為上述第一放電時間。具體地，本實施例中的第二檢測單元33具體可以將上述第二 GPIO端口設置為輸入狀態，用以對上述電容的電平進行檢測，以及將上述第一 GPIO端口設置為輸出低電平狀態，以使上述電容通過上述定值電阻進行放電，并將上述第二 GPIO端口檢測到的上述電容的電平從高電平到低電平的時間，作為上述第二放電時間。具體地，本實施例中的阻值獲得單元34具體可以根據Rl = R2T1/T2，計算Rl的阻值；其中，上述Rl為上述待測電阻；上述R2為上述定值電阻；上述Tl為上述第一放電時間；上述T2為上述第二放電時間。本實施例中，通過阻值獲得單元根據第一檢測單元檢測的電容通過待測電阻進行放電的放電時間、第二檢測單元檢測的電容通過定值電阻進行放電的放電時間和定值電阻的電阻值，獲得待測電阻的電阻值，使得信息獲取單元根據待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系，能夠獲取與上述待測電阻的電阻值對應的設備標識信息，能夠避免現有技術中固定個數的GPIO端口只能識別出有限數量的設備標識信息而導致的限制了 GPIO端口能夠識別設備標識信息的數量的問題，從而提高了 GPIO端口的識別效率。所屬領域的技術人員可以清楚地了解到，為描述的方便和簡潔，上述描述的系統， 裝置和單元的具體工作過程，可以參考前述方法實施例中的對應過程，在此不再贅述。
在本申請所提供的幾個實施例中，應該理解到，所揭露的系統，裝置和方法，可以通過其它的方式實現。例如，以上所描述的裝置實施例僅僅是示意性的，例如，所述單元的劃分，僅僅為一種邏輯功能劃分，實際實現時可以有另外的劃分方式，例如多個單元或組件可以結合或者可以集成到另一個系統，或一些特征可以忽略，或不執行。另一點，所顯示或討論的相互之間的耦合或直接耦合或通信連接可以是通過一些接口，裝置或單元的間接耦合或通信連接，可以是電性，機械或其它的形式。所述作為分離部件說明的單元可以是或者也可以不是物理上分開的，作為單元顯示的部件可以是或者也可以不是物理單元，即可以位于一個地方，或者也可以分布到多個網絡單元上。可以根據實際的需要選擇其中的部分或者全部單元來實現本實施例方案的目的。另外，在本發明各個實施例中的各功能單元可以集成在一個處理單元中，也可以是各個單元單獨物理存在，也可以兩個或兩個以上單元集成在一個單元中。上述集成的單元既可以采用硬件的形式實現，也可以采用軟件功能單元的形式實現。所述集成的單元如果以軟件功能單元的形式實現并作為獨立的產品銷售或使用時，可以存儲在一個計算機可讀取存儲介質中。基于這樣的理解，本發明的技術方案本質上或者說對現有技術做出貢獻的部分或者該技術方案的全部或部分可以以軟件產品的形式體現出來，該計算機軟件產品存儲在一個存儲介質中，包括若干指令用以使得一臺計算機設備(可以是個人計算機，服務器，或者網絡設備等)執行本發明各個實施例所述方法的全部或部分步驟。而前述的存儲介質包括U盤、移動硬盤、只讀存儲器(ROM，Read-Only Memory)、隨機存取存儲器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盤等各種可以存儲程序代碼的介質。最后應說明的是以上實施例僅用以說明本發明的技術方案，而非對其限制；盡管參照前述實施例對本發明進行了詳細的說明，本領域的普通技術人員應當理解其依然可以對前述各實施例所記載的技術方案進行修改，或者對其中部分技術特征進行等同替換；而這些修改或者替換，并不使相應技術方案的本質脫離本發明各實施例技術方案的精神和范圍。
權利要求
1.一種設備標識信息的獲取方法，其特征在于，包括利用第一通用輸入輸出GPIO端口，檢測電容通過所述待測電阻進行放電的第一放電時間，所述第一 GPIO端口通過定值電阻與所述電容連接；利用第二 GPIO端口，檢測所述電容通過所述定值電阻進行放電的第二放電時間，所述第二 GPIO端口通過待測電阻與所述電容連接；根據所述第一放電時間、所述第二放電時間和所述定值電阻的電阻值，獲得所述待測電阻的電阻值；根據待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系，獲取與所述待測電阻的電阻值對應的設備標識信息。
2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法還包括在檢測放電時間前通過所述第一 GPIO端口或所述第二 GPIO端口給電容充電。
3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述通過所述第一GPIO端口或所述第二 GPIO端口給電容充電，包括將所述第一 GPIO端口或所述第二 GPIO端口設置為輸出高電平狀態，用以通過所述第一 GPIO端口或所述第二 GPIO端口給所述電容充電。
4.根據權利要求1至3任一權利要求所述的方法，其特征在于，所述利用第一GPIO端口，檢測電容通過所述待測電阻進行放電的第一放電時間，包括將所述第一 GPIO端口設置為輸入狀態，用以對所述電容的電平進行檢測；將所述第二 GPIO端口設置為輸出低電平狀態，以使所述電容通過所述待測電阻進行放電；將所述第一 GPIO端口檢測到的所述電容的電平從高電平到低電平的時間，作為所述第一放電時間。
5.根據權利要求1至3任一權利要求所述的方法，其特征在于，所述利用第二GPIO端口，檢測所述電容通過所述定值電阻進行放電的第二放電時間，包括將所述第二 GPIO端口設置為輸入狀態，用以對所述電容的電平進行檢測；將所述第一 GPIO端口設置為輸出低電平狀態，以使所述電容通過所述定值電阻進行放電；將所述第二 GPIO端口檢測到的所述電容的電平從高電平到低電平的時間，作為所述第二放電時間。
6.根據權利要求1至3任一權利要求所述的方法，其特征在于，所述根據所述第一放電時間、所述第二放電時間和所述定值電阻的電阻值，獲得所述待測電阻的電阻值，包括根據Rl = R2T1/T2，計算Rl的阻值；其中，所述Rl為所述待測電阻；所述R2為所述定值電阻；所述Tl為所述第一放電時間；所述T2為所述第二放電時間。
7.一種設備標識信息的獲取裝置，其特征在于，包括第一檢測單元，用于利用第一通用輸入輸出GPIO端口，檢測電容通過所述待測電阻進行放電的第一放電時間，所述第一 GPIO端口通過定值電阻與所述電容連接；第二檢測單元，用于利用第二 GPIO端口，檢測所述電容通過所述定值電阻進行放電的第二放電時間，所述第二 GPIO端口通過待測電阻與所述電容連接；阻值獲得單元，用于根據所述第一放電時間、所述第二放電時間和所述定值電阻的電阻值，獲得所述待測電阻的電阻值；信息獲取單元，用于根據待測電阻的電阻值與設備標識信息的對應關系，獲取與所述待測電阻的電阻值對應的設備標識信息。
8.根據權利要求7所述的裝置，其特征在于，所述裝置還包括電容充電單元，用于通過所述第一 GPIO端口或所述第二 GPIO端口給電容充電。
9.根據權利要求8所述的裝置，其特征在于，所述電容充電單元具體用于將所述第一 GPIO端口或所述第二 GPIO端口設置為輸出高電平狀態，用以通過所述第一 GPIO端口或所述第二 GPIO端口給所述電容充電。
10.根據權利要求7至9任一權利要求所述的裝置，其特征在于，所述第一檢測單元具體用于將所述第一 GPIO端口設置為輸入狀態，用以對所述電容的電平進行檢測，將所述第二 GPIO端口設置為輸出低電平狀態，以使所述電容通過所述待測電阻進行放電，將所述第一 GPIO端口檢測到的所述電容的電平從高電平到低電平的時間，作為所述第一放電時間。
11.根據權利要求7至9任一權利要求所述的裝置，其特征在于，所述第二檢測單元具體用于將所述第二 GPIO端口設置為輸入狀態，用以對所述電容的電平進行檢測，將所述第一 GPIO端口設置為輸出低電平狀態，以使所述電容通過所述定值電阻進行放電，將所述第二 GPIO端口檢測到的所述電容的電平從高電平到低電平的時間，作為所述第二放電時間。
12.根據權利要求7至9任一權利要求所述的裝置，其特征在于，所述阻值獲得單元具體用于根據Rl = R2T1/T2，計算Rl的阻值；其中，所述Rl為所述待測電阻；所述R2為所述定值電阻；所述Tl為所述第一放電時間；所述T2為所述第二放電時間。
全文摘要
本發明實施例涉及一種設備標識信息的獲取方法及裝置，方法包括利用第一GPIO端口，檢測電容通過待測電阻進行放電的第一放電時間；利用第二GPIO端口，檢測電容通過定值電阻進行放電的第二放電時間；根據第一放電時間、第二放電時間和定值電阻的電阻值，獲得待測電阻的電阻值。本發明實施例能夠提高GPIO端口的識別效率。本發明實施例能夠避免現有技術中固定個數的GPIO端口只能識別出有限數量的設備標識信息而導致的限制了GPIO端口能夠識別設備標識信息的數量的問題，從而提高了GPIO端口的識別效率。
文檔編號G06F13/10GK102216918SQ201180000788
公開日2011年10月12日 申請日期2011年5月30日 優先權日2011年5月30日
發明者姜建輝 申請人:華為終端有限公司