專利名稱：試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法
技術領域：
本發明涉及試卷測評技術領域，特別涉及一種試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法。
背景技術：
試卷質量的的好壞是對教學測試的反思既是對教師教的反思、也是對學生學的反思，因此，對試卷質量的評定是提高命題水平必不可少的一個環節。現有技術中評判試卷質量的方法通常只是評定試卷的難易程度客觀題難度計算公式P1 (客觀題難度指數)=試題答對人數/考生人數；主觀題難度計算公式P2 (主觀題難度指數)=試題平均得分/試題滿分。易、中、難的標準為易P (包括Pl和P2)>0.7， 中0. 4 < P < 0. 69，難P < 0. 39 ；P值越大，難度越低，P值越小，難度越高。一般來說，難度值平均在0. 5最佳，難度值過高或過低，都會降低測驗的信度。然而，這種做法只能從一定反映出試卷的質量，無法更好地通過更多的數據客觀地表達出試卷的準確性和穩定性， 而且不能使人直觀地看出評定結果，很難給今后的教學和命題帶來更多的啟示。有鑒于此，需要提供一種新的試卷質量的檢測技術。
發明內容
鑒于上述現有技術的不足之處，本發明的目的在于提供一種試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法，以解決現有技術的試卷評定機制只能簡單地評定試卷的難易程度、 區分度等，不能客觀表達出試卷的準確性和穩定性的問題。為了達到上述目的，本發明采取了以下技術方案 一種試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其中，包括 采集單元，用于采集評卷員對于試卷的評定信息； 統計單元，用于根據評定信息制定S-P表；
曲線擬合單元，用于根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線； 測評單元，用于根據試卷評分S曲線算出試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數
P2 ；
繪圖單元，用于根據試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2描繪得到試卷質量的檢測指標的圖像。所述的試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其中，所述采集單元中試卷的評定信息具體為若評卷員對試卷的試題認可，則記為1 ；反之則記為0。所述的試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其中，所述測評單元中評分員注意系數CJ= (Κ·) /K3-N1*N2，其中，Kl為試卷評分P曲線上側為0的評卷員的總分之和，K2 為試卷評分P曲線下側為1的評卷員的總分之和，K3為試卷評分P曲線上側的試卷的試題的總分之和，Nl為試卷的試題的總分，N2為平均正答數。所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述測評單元中試卷的自身一致性系數 P2=(P1-P3)/(1-P3)；
其中，Pl= (A+D) / (A+B+C+D)，P3= (A+B) / (A+B+C+D) * (A+C) / (A+B+C+D) + (C+D) / (A+B+C+D)* (B+D) / (A+B+C+D)；
所述A為1時，表示評卷員對試題的評定結果與自己正常水平的評定結果一致且與標準評定信息也一致，否則為0 ;B為1時，表示與自己正常水平的評定結果不一致且與標準評定信息一致，否則為0 ;C為1時，表示與自己正常水平的評定結果一致且與標準評定信息不一致，否則為0 ;D為1時，表示與自己正常水平的評定結果不一致且與標準評定信息也不一致，否則為0。一種試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述方法包括以下步驟
51、采集評卷員對于試卷的評定信息；
52、根據評定信息制定S-P表；
53、根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線；
54、根據試卷評分P曲線算出試卷注意系數CJ；
55、計算出試卷的自身一致性系數P2；
56、根據試卷注意系數CJ和試卷的自身一致性系數P2描繪得到試卷質量的檢測指標的圖像。所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述步驟Sl中試卷的評定信息具體為，若評卷員對試卷的試題認可，則記為1 ；反之則記為0。所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述步驟S4中評分員注意系數 CJ= (Κ·) /Κ3-Ν1ΦΝ2,其中，Kl為試卷評分P曲線上側為0的評卷員的總分之和，K2為試卷評分P曲線下側為1的評卷員的總分之和，K3為試卷評分P曲線上側的試卷的試題的總分之和，Nl為試卷的試題的總分，N2為平均正答數。所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述步驟S5中試卷的自身一致性系數 P2=(P1-P3)/(1-P3)；
其中，Pl= (A+D) / (A+B+C+D), P3= (A+B) / (A+B+C+D)* (A+C) / (A+B+C+D) + (C+D) / (A+B+C+D)* (B+D) / (A+B+C+D)；
所述A為1時，表示試題的評定結果與試題前次評定結果一致且與標準評定信息也一致，否則為0 ;B為1時，表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息一致，否則為 0 ；C為1時，表示與試題前次的評定結果一致且與標準評定信息不一致，否則為0 ;D為1時， 表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息也不一致，否則為0。本發明提供的試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法，所述試卷質量的檢測指標的圖像化系統包括采集單元、統計單元、曲線擬合單元、測評單元和繪圖單元。通過采集評卷員對于試卷的評定信息，根據評定信息制定S-P表，然后根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線，再算出試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2，最后描繪得到評卷員評卷質量的檢測指標的圖像。所述試卷質量的檢測指標的圖像化系統通過更多的數據客觀地表達出試卷的準確性和穩定性，而且使人直觀地看出評定結果，從而給今后的教學和命題帶來更多的啟示。
圖1是本發明的試卷質量的檢測指標的圖像化系統的結構框圖。圖2是本發明實施例的S-P的初始圖表的示意圖。圖3是本發明實施例的S-P表的示意圖。圖4是本發明實施例的在S-P表中的P曲線的示意圖。圖5是本發明實施例的自身一致性系數的示意表圖。圖6是本發明實施例的試卷質量的檢測指標的圖像的示意圖。圖7是本發明的試卷質量的檢測指標的圖像化方法的流程圖。
具體實施例方式本發明提供了一種試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法。為使本發明的目的、技術方案及效果更加清楚、明確，以下參照附圖并舉實例對本發明進一步詳細說明。應當理解，此處所描述的具體實施例僅用以解釋本發明，并不用于限定本發明。請參閱圖1，圖1是本發明的試卷質量的檢測指標的圖像化系統的結構框圖。如圖所示，所述系統包括采集單元100、統計單元200、曲線擬合單元300、測評單元400和繪圖單元500。具體說來，所述采集單元100用于采集評卷員對于試卷的評定信息，所述試卷的評定信息包括評卷員對于試卷上試題的評定結果，在本發明實施例中，若評卷員對試卷的某一試題認可(即認為試題出得不錯，可以采用)，則記為1 ；反之則記為0。所述統計單元200用于根據評定信息制定S-P表。在本實施例中，如果評分員為 15人，分別設定為Sl到S15 ；試卷的題目數為10道，分別設定為Pl到P10。然后根據評卷員對試題認可(若認可則記為1、反之則記為0的方式填滿整個表格，便得到如圖2所示的 S-P的初始圖表。然后，將每一行的和記為評分員的總分，將每一列的和記為試題的總分，比如，圖2中第一行為評分員Sl的總分，第一列為試題Pl的總分。然后，按照評分員總分由高到低將各行從上到下排列，再按照試題總分將各列有高到低從左向右排列，便得到了所述的S-P表，如圖3所示。所述曲線擬合單元300用于根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線。具體地說，所述試卷評分P曲線可以按照如下方式繪出計算試卷上每個試題的總分，在每一個P (χ)和P (x)+l之間(總分不同時)劃入相應的分界線。得到P曲線。舉例來說，第一列P2 和第二列P5之間的總分相同，則不劃出分界線，第二列P5和第三列P3之間的總分不同，則第二列P5和第三列P3之間的S14右側劃出一道分界線，第三列P3與第四列P7之間的總分不同，則在第三列P3與第四列P7之間的S2右側劃出一道分界線，依次類推，便得到P曲線，如圖4所示。所述測評單元400用于根據試卷評分P曲線算出試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2。其中，所述試卷注意系數CJ的計算借鑒了 S-P表，在本發明實施例中，可以采用如下公式計算CJ= (K1*K2) /Κ3-Ν1*Ν2，其中，Kl為試卷評分P曲線上側為0的評卷員的總分之和，Κ2為試卷評分P曲線下側為1的評卷員的總分之和，Κ3為試卷評分P曲線上側的試卷的試題的總分之和，Nl為試卷的試題的總分，Ν2為平均正答數。所謂平均正答數Ν2是指整個S-P表的平均正答數，如圖3所示的S-P表中，所有在表格中填1的數目/整個表格的數目便得到本發明實施例的平均正答數N2。另外，自身一致性系數P2的計算可以通過試卷自身的評定信息與標準評定信息的比較來得到。在本發明實施例中，采用如下公式得到自身一致性系數:P2=(P1-P3)/(1-P3)；其中，Pl= (A+D) / (A+B+C+D), P3= (A+B) / (A+B+C+D)* (A+C)/ (A+B+C+D)+ (C+D)/ (A+B+C+D)* (B+D)/ (A+B+C+D);所述 A 為 1 時，表示試題的評定結果與試題前次(可以進一步為前幾次)評定結果一致且與標準評定信息也一致，否則為0 ;B為1時，表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息一致， 否則為0 ;C為1時，表示與試題前次的評定結果一致且與標準評定信息不一致，否則為0 ;D 為1時，表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息也不一致，否則為0。當采用如上述的方法時，便得到試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2 兩組數據。最后，所述繪圖單元500用于根據試卷注意系數CJ和試卷的自身一致性系數P2 描繪得到試卷質量的檢測指標的圖像。其圖像的方法可以為各種形式，只要能夠使人直觀地看到評分員的評卷質量即可。在本發明實施例中，采用坐標圖的形式，來描述出評卷員評卷質量的檢測指標的圖像。具體地說，如圖6所示，以試卷注意系數CJ為橫坐標，以試卷自身一致性系數P2為縱坐標，將所有反映試卷質量的檢測指標的數據繪制成散點圖。則我們可以清楚只管地從圖上得到如下結論越靠右的題目評分準確性越高，越靠上的題目評分穩定性越高。如果我們進一步將圖形分為四個象限的話，則右上象限的題目優秀，坐下象限題目較差，左上象限穩定性好而準確性差，右下象限的準確性好而穩定性差。故此，我們便可以清楚、客觀地評判出試卷的質量。請繼續參閱圖7，本發明還提供了一種試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中， 所述方法包括以下步驟
51、采集評卷員對于試卷的評定信息；
52、根據評定信息制定S-P表；
53、根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線；
54、根據試卷評分P曲線算出試卷注意系數CJ；
55、計算出試卷的自身一致性系數P2；
56、根據試卷注意系數CJ和試卷的自身一致性系數P2描繪得到試卷質量的檢測指標的圖像。進一步地，所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其中，所述步驟Sl中試卷的評定信息具體為，若評卷員對試卷的試題認可，則記為1 ；反之則記為0。在此基礎上，所述步驟S4中評分員注意系數CJ= (K1*K2) /Κ3-Ν1*Ν2，另外，所述步驟S5中試卷的自身一致性系數 Ρ2=(Ρ1-Ρ3)/(1-Ρ3)；
其中，Pl= (A+D) / (A+B+C+D), Ρ3= (A+B) / (A+B+C+D)* (A+C) / (A+B+C+D) + (C+D) / (A+B+C+D)* (B+D) / (A+B+C+D)，因為評分員注意系數CJ和試卷的自身一致性系數P2 的計算方法都如上面系統所描述的那樣，這里就不再一一冗述了。本發明提供的試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法，所述試卷質量的檢測指標的圖像化系統包括采集單元、統計單元、曲線擬合單元、測評單元和繪圖單元。通過采集評卷員對于試卷的評定信息，根據評定信息制定S-P表，然后根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線，再算出試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2，最后描繪得到評卷員評卷質量的檢測指標的圖像。所述試卷質量的檢測指標的圖像化系統通過更多的數據客觀地表達出試卷的準確性和穩定性，而且使人直觀地看出評定結果，從而給今后的教學和命題帶來更多的啟示。 可以理解的是，對本領域普通技術人員來說，可以根據本發明的技術方案及其發明構思加以等同替換或改變，而所有這些改變或替換都應屬于本發明所附的權利要求的保護范圍。
權利要求
1.一種試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其特征在于，包括采集單元，用于采集評卷員對于試卷的評定信息；統計單元，用于根據評定信息制定S-P表；曲線擬合單元，用于根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線；測評單元，用于根據試卷評分S曲線算出試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2 ；繪圖單元，用于根據試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2描繪得到試卷質量的檢測指標的圖像。
2.根據權利要求1所述的試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其特征在于，所述采集單元中試卷的評定信息具體為若評卷員對試卷的試題認可，則記為1 ；反之則記為0。
3.根據權利要求2所述的試卷質量的檢測指標的圖像化系統，其特征在于，所述測評單元中評分員注意系數CJ= (K1*K2)/K3-N1*N2，其中，Kl為試卷評分P曲線上側為0的評卷員的總分之和，K2為試卷評分P曲線下側為1的評卷員的總分之和，K3為試卷評分P曲線上側的試卷的試題的總分之和，Nl為試卷的試題的總分，N2為平均正答數。
4.根據權利要求2所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其特征在于，所述測評單元中試卷的自身一致性系數P2= (P1-P3) / (1-P3)；其中，Pl= (A+D) / (A+B+C+D)，P3= (A+B) / (A+B+C+D) * (A+C) / (A+B+C+D) + (C+D) / (A+B+C+D)* (B+D) / (A+B+C+D)；所述A為1時，表示試題的評定結果與試題前次評定結果一致且與標準評定信息也一致，否則為0 ;B為1時，表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息一致，否則為 0 ；C為1時，表示與試題前次的評定結果一致且與標準評定信息不一致，否則為0 ;D為1時， 表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息也不一致，否則為0。
5.一種試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其特征在于，所述方法包括以下步驟51、采集評卷員對于試卷的評定信息；52、根據評定信息制定S-P表；53、根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線；54、根據試卷評分P曲線算出試卷注意系數CJ；55、計算出試卷的自身一致性系數P2；56、根據試卷注意系數CJ和試卷的自身一致性系數P2描繪得到試卷質量的檢測指標的圖像。
6.根據權利要求5所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其特征在于，所述步驟 Sl中試卷的評定信息具體為，若評卷員對試卷的試題認可，則記為1 ；反之則記為0。
7.根據權利要求6所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其特征在于，所述步驟 S4中評分員注意系數CJ= (K1*K2) /Κ3-Ν1*Ν2，其中，Kl為試卷評分P曲線上側為0的評卷員的總分之和，Κ2為試卷評分P曲線下側為1的評卷員的總分之和，Κ3為試卷評分P曲線上側的試卷的試題的總分之和，Nl為試卷的試題的總分，Ν2為平均正答數。
8.根據權利要求6所述的試卷質量的檢測指標的圖像化方法，其特征在于，所述步驟 S5中試卷的自身一致性系數Ρ2=(Ρ1-Ρ;3)/(1-Ρ3)；其中，Pl= (A+D) / (A+B+C+D), Ρ3= (A+B) / (A+B+C+D)* (A+C) / (A+B+C+D) + (C+D)/ (A+B+C+D)* (B+D) / (A+B+C+D)；所述A為1時，表示試題的評定結果與試題前次評定結果一致且與標準評定信息也一致，否則為0 ;B為1時，表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息一致，否則為 0 ；C為1時，表示與試題前次的評定結果一致且與標準評定信息不一致，否則為0 ;D為1時， 表示與試題前次的評定結果不一致且與標準評定信息也不一致，否則為0。
全文摘要
本發明公開了一種試卷質量的檢測指標的圖像化系統和方法，所述試卷質量的檢測指標的圖像化系統包括采集單元、統計單元、曲線擬合單元、測評單元和繪圖單元。通過采集評卷員對于試卷的評定信息，根據評定信息制定S-P表，然后根據S-P表的數據繪制出試卷評分P曲線，再算出試卷注意系數CJ以及試卷的自身一致性系數P2，最后描繪得到評卷員評卷質量的檢測指標的圖像。所述試卷質量的檢測指標的圖像化系統通過更多的數據客觀地表達出試卷的準確性和穩定性，而且使人直觀地看出評定結果，從而給今后的教學和命題帶來更多的啟示。
文檔編號G06F19/00GK102411671SQ201110222600
公開日2012年4月11日 申請日期2011年8月4日 優先權日2011年8月4日
發明者楊晨, 羅宇龍 申請人:深圳市海云天教育測評有限公司