專利名稱：觸摸屏坐標校準裝置的制作方法
觸摸屏坐標校準裝置
技術領域：
本發明涉及一種坐標校準裝置，特別是一種高效便捷的觸摸屏坐標校準裝置。背景技術：
與鼠標坐標定位方法不同，觸摸屏則是一種絕對坐標系統，要選哪就直接點哪，與相對定位系統有著本質的區別。絕對坐標系統的特點是每一次定位坐標與上一次定位坐標沒有關系，每次觸摸的數據通過校準轉為屏幕上的坐標，不管在什么情況下，觸摸屏這套坐標在同一點的輸出數據是穩定的。不過同于技術原理的原因，并不能保證同一點觸摸每一次采樣數據相同，不能保證絕對坐標定位，點不準，這就是觸摸屏最怕出現的問題漂移。對于性能質量好的觸摸屏來說，漂移的情況出現并不是很嚴重。所以很多應用觸摸屏的系統啟動后，進入應用程序前，先要執行校準程序。手機產品中越來越多的采用有觸摸功能的顯示屏，但在手機的生產過程中，如何準確有效的進行觸摸屏坐標校準是一個比較困擾的問題，因為坐標校準不了，觸摸屏的效果就無法得到保證，比如會出現觸摸位置偏差，坐標測試不通過等，目前在觸摸屏手機的生產過程中主要采用人工校準方式，就是在手機組裝完畢后，工人用觸摸筆來校準坐標，通常有5個校準點，工人依次用觸摸筆點擊，這種方式容易出現誤操作，導致重測，浪費時間，影響產能。目前，觸摸檢測輸入設備已廣泛地應用于個人PC、手機、個人數字助理、多媒體手持設備以及家用電器上，是一種重要的人機接口輸入設備。在將電容式觸摸檢測設備應用于具體某一產品時，為了能正常檢測到觸摸動作以及觸摸點位置，需要根據觸摸傳感器上面的覆蓋層的厚度以及傳感器的面積大小來相應地設置一組靈敏度參數。在實際生產中， 由于傳感器的不一致，設備裝配的不一致，會使得靈敏度與預置的參數有一定的偏差，影響檢測的線性度或檢測的靈敏性。
發明內容本發明的主要目的在于提供一種高效便捷的觸摸屏坐標校準裝置。本發明提供一種觸摸屏坐標校準裝置，其用于校準觸摸屏，且所述觸摸屏坐標校準裝置包括支架，所述支架設于所述觸摸屏上方；所述支架上分隔設置有若干觸筆，且所述觸筆的筆尖可伸縮至所述觸摸屏上；所述觸筆的上方設有滑軌，所述滑軌沿著觸筆的軌跡方向延伸；滑軌內設有滑動體，所述滑動體沿著觸筆的軌跡方向滑移；所述支架上設有若干壓控開關，且一個壓控開關分別對應一個觸筆，當滑動體壓靠于一個壓控開關后，控制相應觸筆的筆尖伸出并點擊于觸摸屏上。特別地，所述滑軌為等高式滑軌。特別地，所述滑軌為高度漸變式滑軌，其中，滑軌的頂部離觸摸屏的垂直距離最大，而滑軌的底部離觸摸屏的垂直距離最小。特別地，所述滑動體為滾輪。
特別地，所述滑軌的底部設有承接槽，且所述滾輪止位于所述承接槽內。 特別地，所述觸筆包括進氣閥與出氣閥，其中，所述進氣閥控制觸筆伸出，而所述
出氣閥控制觸筆縮進。與現有技術相比較，本發明通過改變滑動體與壓控開關之間的壓靠狀態，以引導觸筆點擊，操作起來高效便捷；且所述觸筆被固定于支架上，觸筆點擊位置精準。
圖1為本發明觸摸屏坐標校準裝置第一種實施例在滑動體滑移至壓控開關前的使用狀態圖。圖2為本發明觸摸屏坐標校準裝置第一種實施例在滑動體滑移至壓控開關時的使用狀態圖。圖3為本發明觸摸屏坐標校準裝置第一種實施例在滑動體滑移至壓控開關后的使用狀態圖。圖4為本發明觸摸屏坐標校準裝置第二種實施例中移除支架后的結構示意圖。圖5為本發明觸摸屏坐標校準裝置的電路圖。
具體實施方式請參閱圖1、圖2、圖3及圖5所示，本發明提供一種觸摸屏坐標校準裝置，其用于校準觸摸屏10，且所述觸摸屏坐標校準裝置包括支架20，所述支架20設于所述觸摸屏10 上方；所述支架20上分隔設置有若干觸筆30，且所述觸筆30的筆尖31可伸縮至所述觸摸屏10上；所述觸筆30的上方設有滑軌40，所述滑軌40沿著觸筆30的軌跡方向延伸；于本實施例中，所述滑軌40為等高式滑軌。滑軌40內設有滑動體50，所述滑動體50沿著觸筆 30的軌跡方向滑移，其中，滑動體50的滑移可通過驅動裝置驅動(圖未示)；于本實施例中，所述滑動體50為滾輪。所述支架20上設有若干壓控開關60，且一個壓控開關60分別對應一個觸筆30，當滑動體50壓靠于一個壓控開關60后，控制相應觸筆30的筆尖31伸出并點擊于觸摸屏10上。于本實施例中，所述觸筆30包括進氣閥32與出氣閥33，其中，所述進氣閥32控制觸筆30伸出，而所述出氣閥33控制觸筆30縮進。當滑動體50滑移至壓控開關60前，壓控開關60處于斷開狀態，第三晶體管Q3導通，第一晶體管Ql斷開，第二晶體管Q2導通，由所述出氣閥33控制觸筆30縮進，此時，觸筆30的筆尖31與觸摸屏10并不接觸；當滑動體50滑移至壓控開關60時，壓控開關60處于閉合狀態，第三晶體管Q3斷開，第一晶體管Ql導通，第二晶體管Q2斷開，由所述進氣閥 32控制觸筆30伸出，此時，觸筆30的筆尖31與觸摸屏10接觸；而當滑動體50滑移至壓控開關60后，壓控開關60恢復至斷開狀態，第三晶體管Q3導通，第一晶體管Ql斷開，第二晶體管Q2導通，由所述出氣閥33控制觸筆30縮進，此時，觸筆30的筆尖31與觸摸屏10 并不接觸。因此，當滑動體50沿著觸筆30的軌跡方向滑移，相應位置的觸筆30的筆尖31 會依次點擊觸摸屏10，以完成校準。請參閱圖4及圖5所示，本發明提供一種觸摸屏坐標校準裝置，其用于校準觸摸屏 10，且所述觸摸屏坐標校準裝置包括支架(圖未示)，所述支架設于所述觸摸屏10上方；所述支架上分隔設置有若干觸筆30，且所述觸筆30的筆尖31可伸縮至所述觸摸屏10上；所述觸筆30的上方設有滑軌40，所述滑軌40沿著觸筆30的軌跡方向延伸；于本實施例中， 所述滑軌40為高度漸變式滑軌，其中，滑軌40的頂部離觸摸屏10的垂直距離最大，而滑軌 40的底部離觸摸屏10的垂直距離最小。滑軌40內設有滑動體50，所述滑動體50沿著觸筆30的軌跡方向滑移，其中，滑動體50在自身的重力作用下由滑軌40的頂部滑向滑軌40 的底部；于本實施例中，所述滑動體50為滾輪。所述支架上設有若干壓控開關60，且一個壓控開關60分別對應一個觸筆30，當滑動體50壓靠于一個壓控開關60后，控制相應觸筆 30的筆尖31伸出并點擊于觸摸屏10上。于本實施例中，所述觸筆30包括進氣閥32與出氣閥33，其中，所述進氣閥32控制觸筆30伸出，而所述出氣閥33控制觸筆30縮進。于本實施例中，所述滑軌40的底部設有承接槽41，且所述滾輪50止位于所述承接槽41內。
當滑動體50滑移至壓控開關60前，壓控開關60處于斷開狀態，第三晶體管Q3導通，第一晶體管Ql斷開，由所述出氣閥33控制觸筆30縮進，此時，觸筆30的筆尖31與觸摸屏10并不接觸；當滑動體50移至壓控開關60時，壓控開關60處于閉合狀態，第三晶體管Q3斷開，第一晶體管Ql導通，第二晶體管Q2斷開，由所述進氣閥32控制觸筆30伸出， 此時，觸筆30的筆尖31與觸摸屏10接觸；而當滑動體50滑移至壓控開關60后，壓控開關 60恢復至斷開狀態，第三晶體管Q3導通，第一晶體管Ql斷開，由所述出氣閥33控制觸筆 30縮進，此時，觸筆30的筆尖31與觸摸屏10并不接觸。因此，當滑動體50沿著觸筆30的軌跡方向滑移，相應位置的觸筆30的筆尖31會依次點擊觸摸屏10，以完成校準。
本發明通過改變滑動體50與壓控開關60之間的壓靠狀態，以引導觸筆30點擊， 操作起來高效便捷；且所述觸筆30被固定于支架20上，觸筆30點擊位置精準。
權利要求
1.一種觸摸屏坐標校準裝置，其用于校準觸摸屏，其特征在于所述觸摸屏坐標校準裝置包括支架，其設于所述觸摸屏上方；若干觸筆，分隔設置于所述支架上，且所述觸筆的筆尖可伸縮至所述觸摸屏上； 滑軌，其設于所述觸筆的上方并沿著觸筆的軌跡方向延伸； 滑動體，其位于滑軌內并沿著觸筆的軌跡方向滑移；若干壓控開關，其設于所述支架上，且一個壓控開關分別對應一個觸筆，當滑動體壓靠于一個壓控開關后，控制相應觸筆的筆尖伸出并點擊于觸摸屏上。
2.根據權利要求1所述的觸摸屏坐標校準裝置，其特征在于所述滑軌為等高式滑軌。
3.根據權利要求1所述的觸摸屏坐標校準裝置，其特征在于所述滑軌為高度漸變式滑軌，其中，滑軌的頂部離觸摸屏的垂直距離最大，而滑軌的底部離觸摸屏的垂直距離最
4.根據權利要求1所述的觸摸屏坐標校準裝置，其特征在于所述滑動體為滾輪。
5.根據權利要求4所述的觸摸屏坐標校準裝置，其特征在于所述滑軌的底部設有承接槽，且所述滾輪止位于所述承接槽內。
6.根據權利要求1所述的觸摸屏坐標校準裝置，其特征在于所述觸筆包括進氣閥與出氣閥，其中，所述進氣閥控制觸筆伸出，而所述出氣閥控制觸筆縮進。
全文摘要
本發明提供一種觸摸屏坐標校準裝置，其用于校準觸摸屏，且所述觸摸屏坐標校準裝置包括支架，所述支架設于所述觸摸屏上方；所述支架上分隔設置有若干觸筆，且所述觸筆的筆尖可伸縮至所述觸摸屏上；所述觸筆的上方設有滑軌，所述滑軌沿著觸筆的軌跡方向延伸；滑軌內設有滑動體，所述滑動體沿著觸筆的軌跡方向滑移；所述支架上設有若干壓控開關，且一個壓控開關分別對應一個觸筆，當滑動體壓靠于一個壓控開關后，控制相應觸筆的筆尖伸出并點擊于觸摸屏上。本發明通過滑動體與壓控開關之間的壓靠狀態，以引導觸筆點擊，操作起來高效便捷。
文檔編號G06F3/041GK102541322SQ20101059974
公開日2012年7月4日 申請日期2010年12月22日 優先權日2010年12月22日
發明者許世法 申請人:昆達電腦科技(昆山)有限公司