專利名稱：測試覆蓋率的評估系統及其方法
技術領域：
本發明涉及一種測試覆蓋率的評估系統及其方法，屬于集成電路板級生產測試領域。
背景技術：
隨著集成電路的工藝尺寸的日益縮小和電路復雜度的不斷提高，特別是片上系統 (System-on-Chip, SoC)的出現和廣泛應用，超大規模集成電路的集成度已經發展到一個芯片上可以集成幾千萬個晶體管以上的程度。所以，探索和應用低成本、高效率的測試技術和測試系統已成為芯片測試中的一個重要課題。由于電路板或芯片設計人員通常不是測試專家，他們很少或者甚至不了解電路板或芯片應該如何去測試，鑒于此，可測性設計的概念便被引入到板級、芯片級的設計中來， 以保證電路板或芯片的可靠性及穩定性。同樣，對于測試人員而言，面對日益復雜的集成電路設計，他們也很難評估基于現有的測試技術是否可以覆蓋到所有的設計缺陷。眾所周知，一旦電路板或芯片的設計完成、電路板制造完成、芯片投片完成，重新來改變可測性設計邏輯的可能性微乎其微。另外，這種重設計將不可避免地產生額外費用， 并且對產品進度的會產生很大的影響。因此，如何在電路板或芯片設計完成之前，盡可能早的獲知電路板或者芯片的測試覆蓋率的情況，是一件非常重要的事情。現有的測試覆蓋率的評估系統在搜集被評估對象的相關信息時存在諸多不便，因為這些信息的來源各不相同，比較分散，在搜集過程中存在大量的部門數據交換，給管理和信息安全方面帶來了很多不便，大大降低了整個評估準備階段的效率。并且，只要以上這些信息中的部分有所缺失或不準確時，整個設計就會被認定為不完全，這也將直接影響到最后覆蓋率評估的準確性。因此，有必要對現有的測試覆蓋率的評估系統及其方法進行改良。
發明內容
本發明所要解決的技術問題在于提供一種效率較高的測試覆蓋率的評估系統及其方法。為解決上述技術問題，本發明采用如下技術方案一種測試覆蓋率的評估系統，其包括覆蓋率評估數據庫及數據錄入界面，被評估對象的相關信息通過數據錄入界面而被錄入覆蓋率評估數據庫，通過數據錄入界面可以對被評估對象的相關信息進行修改；所述評估系統對被評估對象的相關信息進行解析，以獲取對測試被評估對象的覆蓋率有幫助的內容，并將該內容同樣存儲到所述覆蓋率評估數據庫中，所述覆蓋率評估數據庫設有與被評估對象相匹配的評估規則。作為本發明的進一步改進，所述數據錄入界面對應于不同的數據來源部門，被評估對象的相關信息由這些數據來源部門提供。
作為本發明的進一步改進，被評估對象的相關信息包括邏輯和物理設計信息，所述邏輯和物理設計信息包括材料清單、電路板或芯片網表信息、電路板布局布線信息、邊界掃描器件信息及非邊界掃描器件信息。作為本發明的進一步改進，所述評估系統包括檢驗界面，所述檢驗界面用以檢查所錄入的被評估對象的相關信息是否完備或正確。作為本發明的進一步改進，所述評估系統包括覆蓋率界面，所述覆蓋率界面用以定位被評估對象的設計缺陷。為解決上述技術問題，本發明還可以采用如下技術方案一種測試被評估對象的覆蓋率的方法，其包括如下步驟
Si，建立一個覆蓋率評估數據庫；
S2，提供數據錄入界面，供用戶向覆蓋率評估數據庫中錄入被評估對象的相關信息； S3，將上述被評估對象的相關信息進行解析，獲取其中對測試被評估對象的覆蓋率有幫助的內容，并將該內容存儲到之前已經建立好的覆蓋率評估數據庫中； S4，制定評估規則；
S5，啟動評估操作，得到被評估對象的覆蓋率報告。作為本發明的進一步改進，步驟S5之前還包括通過檢驗界面對被評估對象的相關信息進行檢查的步驟，其中該步驟檢查所錄入的被評估對象的相關信息是否完備或正確。作為本發明的進一步改進，步驟S2中，所述數據錄入界面對應于多個用戶，在被評估對象的設計過程中，用戶可以通過數據錄入界面不斷的錄入已經設計完備的相關信息及修改之前已經錄入的相關信息。作為本發明的進一步改進，步驟S2中被評估對象的相關信息包括邏輯和物理設計信息，所述邏輯和物理設計信息包括材料清單、電路板或芯片網表信息、電路板布局布線信息、邊界掃描器件信息及非邊界掃描器件信息。作為本發明的進一步改進，步驟S5之后還包括通過覆蓋率界面對被評估對象的設計缺陷進行定位的步驟。相較于現有技術，本發明通過設置覆蓋率評估數據庫，極大的方便了用戶通過數據錄入界面向覆蓋率評估數據庫中錄入用于評估的原數據，進而提高了數據利用率和處理效率。
圖1是本發明測試覆蓋率的評估系統的圖表示意圖。圖2是覆蓋率評估數據庫所包括的模塊圖。圖3是本發明測試覆蓋率的評估方法的大體流程圖。圖4是本發明測試覆蓋率的評估方法的具體流程圖。
具體實施例方式請參圖1所示，本發明測試覆蓋率的評估系統，其包括覆蓋率評估數據庫1及數據錄入界面2。被評估對象(例如電路板或芯片)的相關信息通過數據錄入界面2而被錄入
4覆蓋率評估數據庫1中。在被評估對象的整個設計過程中，不同的用戶(在本實施方式中為提供被評估對象相關信息的各個數據來源部門)都可以通過數據錄入界面2對被評估對象的相關信息進行補充或者修改。所述數據錄入界面2對應于不同的數據來源部門，以方便其錄入被評估對象的原數據。所述評估系統對被評估對象的相關信息進行解析，以獲取對測試被評估對象的覆蓋率有幫助的內容，并將該內容同樣存儲到所述覆蓋率評估數據庫 1中。被評估對象的相關信息分為邏輯和物理設計信息、可測性設計及測試技術信息、 測試系統及測試環境信息等。請參圖2所示，所述邏輯和物理設計信息包括材料清單11、電路板或芯片網表信息12、電路板布局布線信息13、邊界掃描器件信息14、非邊界掃描器件(例如，簇型非邊界掃描器件)信息15、測試需求信息16、芯片內部測試相關模塊的基本信息(例如，Serdes 模塊的基本信息、可編程存儲內建自測試模塊的基本信息等)。所述邊界掃描器件信息14 與非邊界掃描器件信息15屬于元器件信息17，所述邊界掃描器件信息14包括器件模塊級信息141。可測性設計及測試技術信息是指所有用于覆蓋故障點的加入測試技術集合，例如，在線測試(In-Circuit Test)、邊界掃描測試(Boundary-Scan Test)、測試流測試 (TestJet iTest)、自動 X 射線檢測(Automated X-Ray hspection，AXI)、及自動光學檢驗 (Automated Optical Inspection, AOI)等。測試系統及測試環境信息主要是指運用不同的測試技術時所需要搜集的相關信息。由于運用不同的測試技術時需要搭建的測試平臺及使用的測試儀器是不同的，特別是當測試系統中多塊電路板之間的互連關系時，更加需要測試人員搜集到相關的信息。所述覆蓋率評估數據庫1設有與被評估對象相匹配的評估規則。本發明測試覆蓋率的評估系統還包括檢驗界面及覆蓋率界面，其中檢驗界面用以對原數據的格式及其內容進行檢查，所述覆蓋率界面用以定位被評估對象的設計缺陷。請參圖3所示，大體上，本發明測試覆蓋率的評估系統包括如下評估流程搜集被評估對象的相關信息、制定評估規則、實施評估操作、生成及分析評估結果。相較于現有技術，本發明測試覆蓋率的評估系統設有一個高性能、大容量的覆蓋率評估數據庫1。該覆蓋率評估數據庫1與一個或者多個數據錄入界面2及檢驗界面相連， 其中，數據錄入界面2供各個用戶向覆蓋率評估數據庫1內錄入不同部分、不同種類、不同用途的用于評估的原數據，從而解決了現有技術中因被評估對象的相關信息比較分散，搜集效率低的問題。檢驗界面用以對原數據的格式及其內容進行檢查，以判斷所錄入的被評估對象的相關信息是否完備或正確，保證了數據的準確性。通過設置覆蓋率評估數據庫1， 紛繁復雜的數據便得到了合理地分類和管理，從而提高了數據的利用率和處理效率。請參圖3所示，本發明測試覆蓋率的評估方法主要包括如下步驟 Si，建立一個覆蓋率評估數據庫1(例如，數據庫中央服務器)；
S2，提供數據錄入界面2，供用戶向覆蓋率評估數據庫1中錄入被評估對象的相關信息；所述數據錄入界面2對應于多個用戶，在被評估對象的整個設計過程中，用戶可以通過數據錄入界面2，不斷地錄入已設計完備的信息或者修正之前已經錄入覆蓋率評估數據庫 1中的信息，比如材料清單11、電路板或芯片網表信息12、電路板布局布線信息13、邊界掃描器件信息14、非邊界掃描器件信息15、測試需求信息16、芯片內部測試相關模塊的基本
信息等等；
S3，將上述被評估對象的相關信息進行解析(在本實施方式中，本發明的系統將上述錄入的相關信息自動解析)，獲取其中對測試被評估對象的覆蓋率有幫助的內容，并將該內容進行整理、分類，然后存儲到之前已經建立好的覆蓋率評估數據庫1中； S4，制定評估規則；
S5，啟動評估操作，得到被評估對象的覆蓋率報告。在步驟S5之前(在本實施方式中為在步驟S4之前)還包括通過檢驗界面對被評估對象的相關信息進行檢查的步驟，其中該步驟檢查所錄入的被評估對象的相關信息是否完備或正確，例如，可以通過電路板布局布線示意圖來檢驗材料清單11、電路板網表信息 12及電路板布局布線信息13是否完備或正確，也可以通過模塊級樹型示意圖來檢驗芯片級模塊的基本信息是否完備或正確。當用戶確認評估準備數據完備且正確時，就可以執行步驟S5。在得到被評估對象的覆蓋率報告之后，本發明的方法還包括通過覆蓋率界面對被評估對象的設計缺陷進行定位的步驟(即，生成及分析評估結果)。當然，針對不同的測試技術所獲得的覆蓋率需要指定不同的評估規則，例如評估板級互連覆蓋率時，評估的對象就是那些電路板上連接各個元器件的連接線，此時覆蓋率的計算公式可以是以下幾種
(a).被任意測試覆蓋到的連接線數目/所有連接線數目；
(b).被任意測試覆蓋到的連接線數目/所有可測連接線數目；
(c).被邊界掃描1149.1標準覆蓋到的連接線數目/所有可測連接線數目；
(d).被邊界掃描1149.6標準覆蓋到的連接線數目/所有可測連接線數目；
(e).被某測試間接覆蓋到的連接線數目/所有可測連接線數目。同樣，對于評估存儲器模塊的覆蓋率來說，存儲器本身的容量將成為評估覆蓋率時的一個重要因素。本發明測試覆蓋率的評估系統及其方法的受眾群廣泛，主要有集成電路及硬件工程師、測試診斷工程師、制造工程師、及合同制造商。對于集成電路及硬件工程師來說，在設計的早期階段，本發明可以幫助他們檢查板級、芯片級覆蓋率結果，評估當前的測試設計狀態，每一個測試技術對于最后成品質量保證的貢獻，并且檢查是否有缺失的測試。如果可以將電路板或者芯片的測試需求、未覆蓋的測試漏洞盡可能早的反饋到設計階段的話，可以大大提高最后產品的良品率，也節省了大量的重設計時間。對于測試診斷工程師來說，在初始化調試時可以快速的了解被測試產品所支持的測試技術，從而及時準備好所有測試配置文件及其測試用例，大大縮短了整個測試階段的流程。對于制造工程師來說，他們可以更加容易理解測試需求和測試方案，更加直觀地了解電路板的布局布線和測試環境，提高了產品線測試的效率。對于合同制造商來說，當遇到一個問題并且缺少現場應用工程師的支持時，也可以根據本發明來嘗試解決問題，提高了效率，并且降低了成本。綜上所述，本發明通過設置覆蓋率評估數據庫1，極大的方便了用戶錄入用于評估的原數據，提高了數據利用率和處理效率。另外，覆蓋率界面為用戶圖形界面，進而更直觀、 更高效的幫助用戶完成板級、芯片級綜合覆蓋率評估。并且，由于受眾群廣泛，不同的受眾群都可以通過本發明得到有用信息，方便用戶調整可測性設計，從而提高覆蓋率。
綜上所述，以上僅為本發明的較佳實施例而已，不應以此限制本發明的范圍，即凡是依本發明權利要求書及發明說明書內容所作的簡單的等效變化與修飾，皆應仍屬本發明專利涵蓋的范圍內。
權利要求
1.一種測試覆蓋率的評估系統，其特征在于，包括覆蓋率評估數據庫及數據錄入界面，被評估對象的相關信息通過數據錄入界面而被錄入覆蓋率評估數據庫，通過數據錄入界面可以對被評估對象的相關信息進行修改；所述評估系統對被評估對象的相關信息進行解析，以獲取對測試被評估對象的覆蓋率有幫助的內容，并將該內容同樣存儲到所述覆蓋率評估數據庫中，所述覆蓋率評估數據庫設有與被評估對象相匹配的評估規則。
2.如權利要求1所述的測試覆蓋率的評估系統，其特征在于所述數據錄入界面對應于不同的數據來源部門，被評估對象的相關信息由這些數據來源部門提供。
3.如權利要求1所述的測試覆蓋率的評估系統，其特征在于被評估對象的相關信息包括邏輯和物理設計信息，所述邏輯和物理設計信息包括材料清單、電路板或芯片網表信息、電路板布局布線信息、邊界掃描器件信息及非邊界掃描器件信息。
4.如權利要求1所述的測試覆蓋率的評估系統，其特征在于所述評估系統包括檢驗界面，所述檢驗界面用以檢查所錄入的被評估對象的相關信息是否完備或正確。
5.如權利要求1所述的測試覆蓋率的評估系統，其特征在于所述評估系統包括覆蓋率界面，所述覆蓋率界面用以定位被評估對象的設計缺陷。
6.一種測試被評估對象的覆蓋率的方法，其包括如下步驟Si，建立一個覆蓋率評估數據庫；S2，提供數據錄入界面，供用戶向覆蓋率評估數據庫中錄入被評估對象的相關信息；S3，將上述被評估對象的相關信息進行解析，獲取其中對測試被評估對象的覆蓋率有幫助的內容，并將該內容存儲到之前已經建立好的覆蓋率評估數據庫中；S4，制定評估規則；S5，啟動評估操作，得到被評估對象的覆蓋率報告。
7.如權利要求6所述的方法，其特征在于步驟S5之前還包括通過檢驗界面對被評估對象的相關信息進行檢查的步驟，其中該步驟檢查所錄入的被評估對象的相關信息是否完備或正確。
8.如權利要求6所述的方法，其特征在于步驟S2中，所述數據錄入界面對應于多個用戶，在被評估對象的設計過程中，用戶可以通過數據錄入界面不斷的錄入已經設計完備的相關信息及修改之前已經錄入的相關信息。
9.如權利要求6所述的方法，其特征在于步驟S2中被評估對象的相關信息包括邏輯和物理設計信息，所述邏輯和物理設計信息包括材料清單、電路板或芯片網表信息、電路板布局布線信息、邊界掃描器件信息及非邊界掃描器件信息。
10.如權利要求6所述的方法，其特征在于步驟S5之后還包括通過覆蓋率界面對被評估對象的設計缺陷進行定位的步驟。
全文摘要
本發明揭示了一種測試覆蓋率的評估系統及其方法，所述評估系統包括覆蓋率評估數據庫及數據錄入界面，被評估對象的相關信息通過數據錄入界面而被錄入覆蓋率評估數據庫，通過數據錄入界面可以對被評估對象的相關信息進行修改；所述評估系統對被評估對象的相關信息進行解析，以獲取對測試被評估對象的覆蓋率有幫助的內容，并將該內容同樣存儲到所述覆蓋率評估數據庫中。本發明的有益效果是通過設置覆蓋率評估數據庫，極大的方便了用戶錄入用于評估的原數據，提高了數據利用率和處理效率。
文檔編號G06F17/50GK102567551SQ20101058716
公開日2012年7月11日 申請日期2010年12月14日 優先權日2010年12月14日
發明者唐飛 申請人:蘇州工業園區譜芯科技有限公司