專利名稱：測試完整性控制系統及方法
技術領域：
本發明涉及一種控制測試流程的系統及方法，特別是關于一種測試完整性控制系統及方法。
背景技術：
電子設備(例如主板)的測試經常包含眾多的測試項(例如內存測試、CPU測試、 南橋測試、北橋測試等)。在測試電子設備時，測試員容易改變測試流程而少測一些測試項， 因而存在測試結果不可靠的風險。例如，在DOS系統下測試電子設備時，由于DOS系統對文件保護較弱，測試員很容易修改控制測試流程的批處理文件來少測一些測試項。
發明內容
鑒于以上內容，有必要提供一種測試完整性控制系統，能夠加強測試流程的完整性。此外，還有必要提供一種測試完整性控制方法，能夠加強測試流程的完整性。一種測試完整性控制系統，運行于具有主板管理控制器的數據處理設備中，用于對電子設備的測試流程進行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲區，該系統包括構建模塊，用于構建電子設備的測試控制數據并將構建的測試控制數據寫入所述FRU存儲區中，所述測試控制數據包括測試位與標志位，每個測試位對應于電子設備的一個測試項；測試模塊，用于從FRU存儲區讀取測試控制數據并根據測試控制數據逐一選擇電子設備的測試項進行測試，對于每一個選擇的測試項，判斷該選擇的測試項是否測試成功，若該選擇的測試項測試成功，則將測試控制數據中該選擇的測試項對應的測試位取反；比較模塊，用于在所有的測試項測試完畢后將測試后發生改變的測試控制數據與初始構建的測試控制數據相比較，判斷測試后發生改變的測試控制數據中每個標志位是否與初始構建的測試控制數據中對應標志位相同，以及判斷測試后發生改變的測試控制數據中每個測試位是否與初始構建的測試控制數據中對應測試位不同；及輸出模塊，用于在測試后發生改變的測試控制數據中每個標志位與初始構建的測試控制數據中對應標志位相同，并且測試后發生改變的測試控制數據中每個測試位與初始構建的測試控制數據中對應測試位不同時，輸出電子設備測試通過的測試結果，在測試后發生改變的測試控制數據中有標志位與初始構建的測試控制數據中對應標志位不同，或者測試后發生改變的測試控制數據中有測試位與初始構建的測試控制數據中對應測試位相同，或者選擇的測試項測試失敗時，輸出電子設備測試未通過的測試結果。一種測試完整性控制方法，執行于具有主板管理控制器的數據處理設備中，用于對電子設備的測試流程進行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲區，該方法包括步驟 構建電子設備的測試控制數據并將構建的測試控制數據寫入FRU存儲區中，所述測試控制數據包括測試位與標志位，每個測試位對應于電子設備的一個測試項；從FRU存儲區讀取測試控制數據，并根據測試控制數據選擇電子設備的一個測試項進行測試；判斷該選擇的測試項是否測試成功；若該選擇的測試項測試失敗，則輸出電子設備測試未通過的測試結果，否則，若該選擇的測試項測試成功，則將測試控制數據中該選擇的測試項對應的測試位取反；判斷是否有其他的測試項，若有其他的測試項，返回選擇電子設備的一個測試項進行測試的步驟；若所有的測試項測試完畢，將測試后發生改變的測試控制數據與初始構建的測試控制數據相比較，判斷測試后發生改變的測試控制數據中每個標志位是否與初始構建的測試控制數據中對應標志位相同，以及判斷測試后發生改變的測試控制數據中每個測試位是否與初始構建的測試控制數據中對應測試位不同；若測試后發生改變的測試控制數據中每個標志位與初始構建的測試控制數據中對應標志位相同，并且測試后發生改變的測試控制數據中每個測試位與初始構建的測試控制數據中對應測試位不同，輸出電子設備測試通過的測試結果；及若測試后發生改變的測試控制數據中有標志位與初始構建的測試控制數據中對應標志位不同，或者測試后發生改變的測試控制數據中有測試位與初始構建的測試控制數據中對應測試位相同，則輸出電子設備測試未通過的測試結果。本發明構建測試控制數據并將測試控制數據寫入主板管理控制器的FRU存儲區中，測試員難以獲得與修改該測試控制數據，加強了測試流程的完整性。
圖1為本發明測試完整性控制系統較佳實施例的應用環境示意圖。圖2為圖1中測試完整性控制系統的功能模塊圖。圖3為本發明測試完整性控制方法較佳實施例的流程圖。圖4為構建的用于主板測試的測試控制數據的示意圖。主要元件符號說明
權利要求
1.一種測試完整性控制系統，運行于具有主板管理控制器的數據處理設備中，用于對電子設備的測試流程進行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲區，其特征在于，該系統包括構建模塊，用于構建電子設備的測試控制數據并將構建的測試控制數據寫入所述FRU 存儲區中，所述測試控制數據包括測試位與標志位，每個測試位對應于電子設備的一個測試項；測試模塊，用于從FRU存儲區讀取測試控制數據并根據測試控制數據逐一選擇電子設備的測試項進行測試，對于每一個選擇的測試項，判斷該選擇的測試項是否測試成功，若該選擇的測試項測試成功，則將測試控制數據中該選擇的測試項對應的測試位取反；比較模塊，用于在所有的測試項測試完畢后將測試后發生改變的測試控制數據與初始構建的測試控制數據相比較，判斷測試后發生改變的測試控制數據中每個標志位是否與初始構建的測試控制數據中對應標志位相同，以及判斷測試后發生改變的測試控制數據中每個測試位是否與初始構建的測試控制數據中對應測試位不同；及輸出模塊，用于在測試后發生改變的測試控制數據中每個標志位與初始構建的測試控制數據中對應標志位相同，并且測試后發生改變的測試控制數據中每個測試位與初始構建的測試控制數據中對應測試位不同時，輸出電子設備測試通過的測試結果；所述輸出模塊，還用于在測試后發生改變的測試控制數據中有標志位與初始構建的測試控制數據中對應標志位不同，或者測試后發生改變的測試控制數據中有測試位與初始構建的測試控制數據中對應測試位相同，或者選擇的測試項測試失敗時，輸出電子設備測試未通過的測試結果。
2.如權利要求1所述的測試完整性控制系統，其特征在于，所述測試位不全為1也不全為0。
3.如權利要求1所述的測試完整性控制系統，其特征在于，所述測試控制數據中各個測試位按照相應測試項的測試順序排列，標志位位于測試位之間。
4.如權利要求3所述的測試完整性控制系統，其特征在于，所述測試模塊按照測試項的測試順序逐一選擇測試項進行測試。
5.一種測試完整性控制方法，執行于具有主板管理控制器的數據處理設備中，用于對電子設備的測試流程進行控制，所述主板管理控制器包括FRU存儲區，其特征在于，該方法包括步驟構建電子設備的測試控制數據并將構建的測試控制數據寫入FRU存儲區中，所述測試控制數據包括測試位與標志位，每個測試位對應于電子設備的一個測試項；從FRU存儲區讀取測試控制數據，并根據測試控制數據選擇電子設備的一個測試項進行測試；判斷該選擇的測試項是否測試成功；若該選擇的測試項測試失敗，則輸出電子設備測試未通過的測試結果，否則，若該選擇的測試項測試成功，則將測試控制數據中該選擇的測試項對應的測試位取反；判斷是否有其他的測試項，若有其他的測試項，返回選擇電子設備的一個測試項進行測試的步驟；若所有的測試項測試完畢，將測試后發生改變的測試控制數據與初始構建的測試控制數據相比較，判斷測試后發生改變的測試控制數據中每個標志位是否與初始構建的測試控制數據中對應標志位相同，以及判斷測試后發生改變的測試控制數據中每個測試位是否與初始構建的測試控制數據中對應測試位不同；若測試后發生改變的測試控制數據中每個標志位與初始構建的測試控制數據中對應標志位相同，并且測試后發生改變的測試控制數據中每個測試位與初始構建的測試控制數據中對應測試位不同，輸出電子設備測試通過的測試結果；及若測試后發生改變的測試控制數據中有標志位與初始構建的測試控制數據中對應標志位不同，或者測試后發生改變的測試控制數據中有測試位與初始構建的測試控制數據中對應測試位相同，則輸出電子設備測試未通過的測試結果。
6.如權利要求5所述的測試完整性控制方法，其特征在于，所述測試位不全為1也不全為0。
7.如權利要求5所述的測試完整性控制方法，其特征在于，所述測試控制數據中各個測試位按照相應測試項的測試順序排列，標志位位于測試位之間。
8.如權利要求7所述的測試完整性控制方法，其特征在于，所述選擇電子設備的一個測試項進行測試的步驟中按照測試項的測試順序選擇測試項。
全文摘要
一種測試完整性控制系統，運行于具有主板管理控制器的數據處理設備中，所述主板管理控制器包括FRU存儲區，該系統包括構建模塊，用于構建電子設備的測試控制數據并寫入所述FRU存儲區中，所述測試控制數據包括測試位與標志位；測試模塊，用于根據測試控制數據逐一選擇電子設備的測試項進行測試，若選擇的測試項測試成功，則將測試控制數據中該選擇的測試項對應的測試位取反；比較模塊，用于在所有的測試項測試完畢后將測試后發生改變的測試控制數據與初始構建的測試控制數據相比較；及輸出模塊，用于根據比較結果輸出電子設備測試的測試結果。本發明還提供一種測試完整性控制方法。本發明能夠加強測試流程的完整性。
文檔編號G06F11/22GK102375769SQ20101026371
公開日2012年3月14日 申請日期2010年8月26日 優先權日2010年8月26日
發明者唐新橋, 鐘陽 申請人:鴻富錦精密工業(深圳)有限公司, 鴻海精密工業股份有限公司