專利名稱：電子裝置及其測試方法
技術領域：
本發明關于一種電子裝置及其測試方法，并且特別地，本發明關于一種電子裝置 以及用以測試電子裝置的硬件功能的測試方法。
背景技術：
由于科技的快速進步以及人們對于電子裝置的需求日益提高，電子裝置的生產速 度以及制造良率便成為投資者以及消費大眾評價制造廠商的重要指標。所以，如何加快電 子裝置的生產速度并減少電子裝置出貨時的缺陷，已經成為所有制造廠商的重要課題。一般來說，加快電子裝置的生產速度的眾多方法中，簡化生產流程是一個很有效 的方法。藉由簡化生產流程可以去除不必要的生產步驟以節省時間，并且縮小生產線的長 度以節省空間，并免除不必要的設備的使用。同時，簡化生產流程也可減少人力的使用，并 提高員工的工作效率。進一步，在電子裝置出貨之前，往往會先經過制造廠商一連串的測試程序，用以確 保電子裝置可以正常運作。另一方面，一個可以正常運作的電子裝置代表的不僅是使用者 的權益受到保障，更是一家制造廠商良好的商譽。傳統的電子裝置的測試方法中，為了進行電子裝置的測試程序，首先需安裝測試 程序于電子裝置中，例如安裝于電子裝置的NAND存儲體中。因為測試程序不應隨著電子 裝置被交給使用者，所以，當電子裝置的測試程序完成后，要進行移除測試程序的步驟。但 用以移除測試程序的移除程序往往被儲存在其他的儲存裝置中，例如儲存在測試電腦中。為了電子裝置的穩定以及避免人員操作錯誤，在連接電子裝置與測試電腦之前必 須先以手動關閉電子裝置。接著，將電子裝置透過連接線與測試電腦連接后，再以手動啟動 電子裝置，并執行測試電腦中的移除程序來移除電子裝置中的測試程序。一般來說，可用通 用串行總線(USB)進行上述的連接電子裝置與測試電腦。此外，在移除程序未完全操作結束時，將電子裝置自測試電腦卸下可能對電子裝 置的儲存單元或系統文件造成損害。一般的情況下，都會將電子裝置關閉后再將電子裝置 連接測試電腦，或自測試電腦卸下。如此一來，雖然確保了電子裝置可以正常運作，但測試 流程卻因此非常繁瑣。隨后，執行移除程序以移除測試程序。在正確移除測試程序之后，同上述理由，必 須先以手動關閉電子裝置，再卸下電子裝置。最后，再次以手動啟動電子裝置以便執行后續 的測試，例如電子裝置的操作系統測試、軟件測試等等。綜上所述，傳統的電子裝置的測試方法為了確保電子裝置不會因測試造成損壞， 因此包含了許多重復的步驟，例如，反復開啟/關閉電子裝置。所以在電子裝置的生產過程 中，如何可以兼顧電子裝置的品質以及生產速度，將是一個重要的課題。
發明內容
有鑒于此，本發明的一個目的在于提供一種測試方法，可以在電子裝置的測試程序執行完成后，直接移除上述測試程序所使用的測試程序，而電子裝置不需外接具有移除 程序的測試電腦。依據一具體實施例，本發明的測試方法適用于電子裝置，且該測試方法包含下列 步驟于電子裝置安裝第一測試程序以及移除程序；執行第一測試程序；執行移除程序，以 移除第一測試程序；關閉電子裝置。于實際應用中，前述第一測試程序用以測試電子裝置的硬件功能。再者，在實際應用中，前述的執行移除程序的步驟中，還包含下列步驟判斷第一 測試程序是否執行完成；若第一測試程序執行完成，執行移除程序，以移除第一測試程序。另外，于實際應用中，前述的關閉電子裝置的步驟中，還包含下列步驟判斷移除 程序是否執行完成；若移除程序執行完成，關閉該電子裝置。其中，若上述判斷移除程序是 否執行完成的判斷結果為是，本發明的方法可關閉并重新啟動電子裝置。此外，若上述判斷 移除程序是否執行完成的判斷結果為是，且接收到由使用者輸入的重啟訊號時，本發明的 方法可關閉并重新啟動電子裝置。進一步，本發明的方法還可執行第二測試程序，以測試電 子裝置的操作系統。本發明的另一個目的在于提供一種電子裝置，可以在本身的測試程序執行完成之 后，直接移除上述測試程序所使用的測試程序，而不需透過外接的測試裝置來移除測試程序。依據一具體實施例，本發明的電子裝置包含存儲模組、執行模組以及處理模組。存 儲模組用以儲存第一測試程序以及移除程序。執行模組連接存儲模組，且執行模組用以執 行第一測試程序，且當第一測試程序執行完成后，執行模組進一步執行移除程序以移除第 一測試程序。當移除程序執行完成后，執行模組發送確認訊號。此外，處理模組連接執行模 組，且處理模組用以接收確認訊號，并根據確認訊號關閉電子裝置。于實際應用中，本發明的電子裝置進一步包含操作模組。操作模組連接處理模組， 且操作模組供使用者操作電子裝置。此外，使用者可透過操作模組產生重啟訊號，處理模組 同時根據確認訊號以及重啟訊號關閉并重新啟動電子裝置。進一步地，存儲模組儲存第二 測試程序，且當處理模組重新啟動電子裝置后，執行模組執行第二測試程序，以測試電子裝 置的操作系統。綜上所述，本發明的電子裝置及測試方法不僅節省了反復開關電子裝置的時間， 也可縮小電子裝置的生產線的長度。特別地，根據本發明的測試方法可減少因人為操作錯 誤導致電子裝置的儲存單元或系統文件的損害。因此，本發明的測試方法可以提高電子裝 置的品質，并且節省測試電子裝置的時間。關于本發明的優點與精神可以藉由以下的發明詳述及附圖得到進一步的了解。
圖1繪了示根據本發明的一具體實施例的電子裝置的方塊圖。圖2繪示了根據本發明的一具體實施例的測試方法的流程圖。圖3繪示了根據本發明的另一具體實施例的測試方法的流程圖。主要元件符號說明1 電子裝置10 存儲模組
12 執行模組14 處理模組16 操作模組SlOO Sl 12、S200 S222 流程步驟
具體實施例方式本發明提供一種電子裝置及其測試方法。關于本發明的若干具體實施例揭示如 下。請參見圖1，圖1繪示了根據本發明的一具體實施例的電子裝置的方塊圖。如圖1 所示，電子裝置1包含存儲模組10、執行模組12、處理模組14以及操作模組16。其中，執行 模組12連接存儲模組10，處理模組14連接執行模組12，而操作模組16連接處理模組14。存儲模組10可儲存第一測試程序以及移除程序。于實務中，存儲模組10于實際 應用中可為NAND存儲體或其它適當類型的存儲體，并可儲存其他程序與資料，不以儲存第 一測試程序以及移除程序為限。此外，執行模組12用以執行第一測試程序，且當第一測試程序執行完成后，執行 模組12執行移除程序以移除第一測試程序。當移除程序執行完成后，執行模組12發送確 認訊號。于實務中，執行模組12可執行其他程序，不以執行第一測試程序以及移除程序為 限。處理模組14可接收確認訊號，并根據確認訊號關閉電子裝置1。于實務中，處理模 組14也可被設計為根據確認訊號關閉并重新啟動電子裝置1。此外，處理模組14還可用來 進行電子裝置1運作所需的其它程序。此外，操作模組16可供使用者操作電子裝置1。于實務中，操作模組16可能是，但 不受限于，鍵盤、撥桿、觸控板等。以下搭配本發明的測試方法，做更詳細的說明。請一并參見圖1與圖2，圖1繪示了根據本發明的一具體實施例的測試方法的流 程圖。如圖所示，本發明的電子裝置1的測試方法包含下列步驟首先，于步驟S100，開啟 電子裝置1。接著，于步驟S102，將第一測試程序與移除程序安裝至電子裝置1的存儲模組 10中。再于步驟S104，執行模組12從存儲模組10中，讀取上述第一測試程序，并執行第一 測試程序以進行電子裝置1的測試。進一步，于步驟S106，判斷第一測試程序是否正確執行完成。其中，若步驟S106的 判斷結果為否，即第一測試程序未執行完成，則回到步驟S104繼續執行第一測試程序。反 之，若步驟S106的判斷結果為是，即第一測試程序已正確執行完成，則繼續下一步驟S108。于實務中，步驟S106可藉由電子裝置1自動判斷第一測試程序是否正確執行完 成。此外，若步驟S106的判斷結果為是，電子裝置1可提供使用者一些適當的建議選項，用 以供使用者再為確認是否移除第一測試程序。舉例來說，使用者可透過電子裝置1的操作 模組16選擇移除第一測試程序的選項，在適當的情況下移除第一測試程序。換句話說，當使用者選擇移除第一測試程序的選項之后。操作模組16據以產生移 除訊號，處理模組14將移除訊號傳送至執行模組12，且執行模組12根據移除訊號執行移除 程序。請繼續參見圖1與圖2，于步驟S108，執行模組12從存儲模組10中，讀取上述移除程序，并執行移除程序以將第一測試程序自電子裝置1移除。于實務中，在步驟S108中，執行模組12執行之移除程序除了可以將第一測試程序 自電子裝置1移除之外，更可在移除第一測試程序之后，執行模組12執行移除程序的自我 移除(self-remove)指令，以將移除程序一并自電子裝置1移除。接著，于步驟S110，判斷移除程序是否正確執行完成。其中，若步驟SllO的判斷結 果為否，即移除程序未執行完成，則回到步驟S108繼續執行移除程序。反之，若步驟SllO 的判斷結果為是，即移除程序已正確執行完成，則繼續下一步驟S112。于實務中，步驟SllO可藉由電子裝置1自動判斷第一測試程序是否正確執行完 成。此外，若步驟SllO的判斷結果為是，電子裝置1可提供使用者一些適當的建議選項，用 以供使用者再為確認下一步驟的內容。舉例來說，使用者可透過電子裝置1的操作模組16 選擇關閉電子裝置1的選項或者重新啟動電子裝置1的選項，在適當的情況下關閉或重新 啟動電子裝置1。換句話說，若步驟SllO的判斷結果為是，則執行模組12發送確認訊號至處理模組 14。并且，當使用者選擇關閉電子裝置1的選項之后，操作模組16據以產生關閉訊號至處 理模組14。藉此，處理模組14根據確認訊號以及關閉訊號關閉電子裝置1。另一方面，若 步驟SllO的判斷結果為是，并且，當使用者選擇重新啟動電子裝置1的選項之后，操作模組 16產生重啟訊號至處理模組14。藉此，處理模組14根據確認訊號以及重啟訊號關閉并重 新啟動電子裝置1。此外，使用者更可透過電子裝置1的操作模組16選擇執行其他程序，不 限于選擇關閉或重新啟動電子裝置1。最后，在適當的情況下，于步驟S112，處理模組14關閉電子裝置1以維持電子裝置 1的系統穩定性。值得注意的是，上述的具體實施例中，步驟S106與步驟SllO可以加以省略。也就 是說，于步驟S104，執行第一測試程序之后，還可不待命令直接執行步驟S108，以執行移除 程序。另一方面，于步驟S108，執行移除程序之后，還可不待命令直接執行步驟S112，以關 閉電子裝置1。另一方面，本發明的測試方法不限于上述的流程，在不脫離本發明的范疇的情況 下，本發明的測試方法的流程可做些許變動。舉例來說，請一并參見圖1與圖3，圖3繪示了 根據本發明的另一具體實施例的測試方法的流程圖。如圖所示，步驟S200至步驟S206如 前述步驟SlOO至S106的說明，在此不再贅述。其中，若步驟S206的判斷結果為是，即第一 測試程序已正確執行完成，則繼續下一步驟S208。于步驟S208，判斷執行模組12是否執行移除程序。其中，若步驟S208的判斷結果 為否，即不執行移除程序，則可繼續步驟S218使執行模組12執行其他程序。反之，若步驟 S208的判斷結果為是，即確認執行移除程序，則繼續下一步驟S210。于實務中，使用者可藉由操作模組16選擇步驟S208的判斷結果，若使用者仍有其 他程序需執行，則可選擇執行其他程序的選項。反之，若使用者無需執行其他程序，則可選 擇執行移除程序，以移除第一測試程序。接著，步驟S210至步驟S212與步驟S108至步驟SllO相同，在此不再贅述。其中， 若步驟S212的判斷結果為是，即移除程序已正確執行完成，則繼續下一步驟S214。于步驟S214，判斷處理模組14是否重新啟動電子裝置1。其中，若步驟S214的判斷結果為是，即需要重新啟動電子裝置1，則步驟S220中，處理模組14重新啟動電子裝置 1。反之，若步驟S214的判斷結果為否，即不重新啟動電子裝置1，則繼續下一步驟S216。接著，于步驟S216，判斷處理模組14是否關閉電子裝置1。其中，若步驟S216的判 斷結果為是，即需要關閉電子裝置1，則步驟S222中，處理模組14關閉電子裝置1。反之， 若步驟S216的判斷結果為否，即不關閉電子裝置1，則繼續步驟S218。在移除程序執行完成后，有別于前一具體實施例的同時由使用者選擇關閉或者重 新啟動電子裝置1，本具體實施例示范了由使用者分階段選擇關閉或者重新啟動電子裝置 1，為另一種可能的實施方式。于實務中，上述的測試方法可應用于測試電子裝置1的硬件功能，而存儲模組可 進一步儲存第二測試程序，且在處理模組14重新啟動電子裝置1之后，執行模組12執行第 二測試程序，以測試電子裝置1之操作系統。當然，于實際應用中，第一測試程序可用以測 試電子裝置1的操作系統，而第二測試程序可用以測試電子裝置1的硬件。綜上所述，根據本發明的測試方法與電子裝置，可以有效縮短測試時間，且可縮小 電子裝置的生產線的長度，以及免除重復開關電子裝置的步驟。特別地，由于本發明的測試 方法與電子裝置不需以手動連接電子裝置與具有移除程序的儲存裝置，故可減少因人為操 作錯誤導致電子裝置的儲存單元或系統文件的損害。因此，本發明的測試方法可以提高電 子裝置的品質，并且節省測試電子裝置的時間。藉由以上較佳具體實施例的詳述，希望能更加清楚描述本發明的特征與精神，而 并非以上述所揭示的較佳具體實施例來對本發明的范疇加以限制。相反地，其目的是希望 能涵蓋各種改變及具相等性的安排于本發明所欲申請的專利范圍內。因此，本發明所申請 的專利范圍應該根據上述的說明作最寬廣的解釋，以致使其涵蓋所有可能的改變以及具相 等性的安排。
權利要求
1.一種測試方法，適用于一電子裝置，該測試方法包含下列步驟于該電子裝置安裝第一測試程序以及一移除程序；執行該第一測試程序；執行該移除程序，以移除該第一測試程序；以及關閉或重新啟動該電子裝置。
2.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，該第一測試程序用以測試該電子裝置 的硬件功能。
3.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，于執行該移除程序的步驟中，還包含判斷該第一測試程序是否執行完成；以及若該第一測試程序執行完成，執行該移除程序，以移除該第一測試程序。
4.如權利要求3所述的測試方法，其特征在于，于判斷該第一測試程序是否執行完成 的步驟中，該電子裝置自動判斷該第一測試程序是否執行完成。
5.如權利要求3所述的測試方法，其特征在于，若判斷該第一測試程序是否執行完成 的步驟中，所述的判斷結果為是，且接收到由一使用者輸入的一移除訊號時，執行該移除程 序。
6.如權利要求1所述的測試方法，其特征在于，于關閉該電子裝置的步驟中，還包含判斷該移除程序是否執行完成；以及若該移除程序執行完成，關閉該電子裝置。
7.如權利要求6所述的測試方法，其特征在于，于判斷該移除程序是否執行完成的步 驟中，該電子裝置自動判斷該移除程序是否執行完成。
8.如權利要求6所述的測試方法，其特征在于，若判斷該移除程序是否執行完成的步 驟中，所述的判斷結果為是，且接收到由一使用者輸入的一關閉訊號時，關閉該電子裝置。
9.如權利要求6所述的測試方法，其特征在于，若判斷該移除程序是否執行完成的步 驟中，所述的判斷結果為是，關閉并重新啟動該電子裝置。
10.如權利要求9所述的測試方法，其特征在于，若判斷該移除程序是否執行完成的步 驟中，所述的判斷結果為是，且接收到由一使用者輸入的一重啟訊號時，關閉并重新啟動該 電子裝置。
11.如權利要求9所述的測試方法，其特征在于，于關閉并重新啟動該電子裝置的步驟 之后，進一步包含下列步驟執行一第二測試程序，以測試該電子裝置的一操作系統。
12.一種電子裝置，包含一存儲模組，用以儲存第一測試程序以及一移除程序；一執行模組，連接該存儲模組，用以執行該第一測試程序，且當該第一測試程序執行完 成后，該執行模組進一步執行該移除程序以移除該第一測試程序，且當該移除程序執行完 成后，該執行模組發送一確認訊號；以及一處理模組，連接該執行模組，用以接收該確認訊號，并根據該確認訊號關閉或重新啟 動該電子裝置。
13.如權利要求12所述的電子裝置，其特征在于，該第一測試程序用以測試該電子裝 置的硬件功能。
14.如權利要求12所述的電子裝置，其特征在于，進一步包含一操作模組，連接該處理模組，供一使用者操作該電子裝置。
15.如權利要求14所述的電子裝置，其特征在于，該使用者透過該操作模組產生一移 除訊號，該處理模組將該移除訊號傳送至該執行模組，且該執行模組根據該移除訊號執行 該移除程序。
16.如權利要求14所述的電子裝置，其特征在于，該使用者透過該操作模組產生一關 閉訊號，該處理模組同時根據該確認訊號以及該關閉訊號關閉該電子裝置。
17.如權利要求14所述的電子裝置，其特征在于，該使用者透過該操作模組產生一重 啟訊號，該處理模組同時根據該確認訊號以及該重啟訊號關閉并重新啟動該電子裝置。
18.如權利要求17所述的電子裝置，其特征在于，該存儲模組進一步儲存第二測試程 序，且當該處理模組重新啟動該電子裝置后，該執行模組執行該第二測試程序，以測試該電 子裝置的一操作系統。
全文摘要
本發明揭示一種電子裝置及其測試方法，上述方法包含下列步驟于電子裝置安裝第一測試程序以及移除程序；執行第一測試程序；執行移除程序，以移除第一測試程序；關閉電子裝置。
文檔編號G06F11/36GK102053908SQ20091022456
公開日2011年5月11日 申請日期2009年11月10日 優先權日2009年11月10日
發明者劉慶珍, 高懿民 申請人:英華達(上海)科技有限公司