專利名稱：非接觸ic介質方向檢測裝置及其方法和程序、以及存儲有該程序的計算機可讀取的記錄介質的制作方法
技術領域：
本發明涉及一種例如用于檢測非接觸IC介質所存在的方向的非接觸IC介質方向 檢測裝置及其方法和程序、以及存儲有該程序的計算機可讀取的記錄介質。
背景技術：
近來，可預先存儲數據并能夠通過非接觸進行數據通信的非接觸IC介質已被人 們所利用。而且，采用支持遠程通信的UHF頻帶的非接觸IC介質也被人們所利用。對于與采 用UHF頻帶的非接觸IC介質進行通信的天線，一般采用1單元貼片天線(patch antenna) 0 1單元貼片天線的半值寬(波束寬)較寬，大體在70左右，具有能在廣域內從非接觸IC介 質讀取數據的優點。對此，有人提出了一種對來自非接觸IC介質的電波的到來方向進行估計并推導 出非接觸IC介質所在位置的標簽通信裝置(參照專利文獻1)。這種標簽通信裝置根據對 多個天線單元的輸出所分別進行的加權來檢測出特定方向的電波強度。然而，上述標簽通信裝置為了推導出一個非接觸IC介質所存在的方向而需要進 行復雜的計算。并且，由于反射物的存在所造成的影響，必須對于以反射物為起因的方向誤 差進行校正。因此，上述標簽通信裝置并非就是一個能夠簡單地實現非接觸IC介質存在方 向推導的裝置。專利文獻1 日本國專利申請公開特開2006-10345號公報(
公開日2006年01月 12日)
發明內容
(發明所要解決的課題)本發明是鑒于上述課題進行開發的，其目的在于提供一種能夠簡單地獲得非接觸 IC介質的存在方向的非接觸IC介質方向檢測裝置及其方法和程序、以及存儲有該程序的 計算機可讀取的記錄介質。(解決課題的方法)本發明的非接觸IC介質方向檢測裝置和非接觸IC介質方向檢測方法及其程序， 其特征在于，包括有能朝向不同的指向方向來讀取非接觸IC介質的接收部和從該接收部 接收信息并處理該信息的信息處理部，其中，由上述信息處理部執行第1取得處理，使指 向方向朝向第1方向，取得從具有規定識別信息的非接觸IC介質接收到的信號的信號強 度；第2取得處理，使指向方向朝向第2方向，取得從上述非接觸IC介質接收到的信號的信 號強度；合成處理，對上述第1方向的信號強度和第2方向的信號強度進行差分運算或者除 法運算，取得合成信號強度；存在方向判斷處理，通過判斷該合成信號強度是否在預先規定 的閾值范圍內，來判斷在由該閾值范圍所區分的規定方向上，是否存在有作為對象的非接 觸IC介質。
上述非接觸IC介質可由諸如RFID標簽等能夠存儲信息且能通過非接觸進行通信 的介質構成。該非接觸IC介質包括不具有電源而從外部獲取電能并發送信號的被動式非 接觸IC介質；具有電源并接收來自外部的查詢請求后發送信號的半被動式非接觸IC介質； 具有電源并定時發送信號的能動式非接觸IC介質等。上述接收部可由能改變指向模式的1個或多個天線陣構成，也可由不能改變指向 模式的多個天線構成。上述信息處理部可由CPU、MPU等執行運算處理的部件構成。上述識別信息可以是用于識別RFID (無線射頻識別)標簽的ID等的非接觸IC介 質的信息。上述合成處理可以是通過對數表述的差分運算進行的合成，也可以是通過反對數 表述的除法運算來進行的合成。上述存在方向運算處理可以是根據預先規定的函數或者對應表來推導與上述合 成信號強度相對應的角度的處理。上述預先規定的函數可以是諸如一次函數、二次函數或者三次函數等的、在作為1 個變量而輸入合成信號強度的值時，作為響應能夠算出角度的函數。上述預先規定的對應表可以是表示合成信號強度的值和角度的對應關系的表。上述非接觸IC介質方向檢測裝置可由計算機實現。而且，使計算機作為上述各部 件執行動作的非接觸IC介質方向檢測程序以及存儲有該程序的計算機可讀取的記錄介質 也包括在本發明的范疇內。(發明的效果)根據本發明，可提供能夠簡單地獲得非接觸IC介質的存在方向的非接觸IC介質 方向檢測裝置和非接觸IC介質方向檢測方法及其程序，以及存儲有該程序的計算機可讀 取的記錄介質。
圖1是說明RFID檢測裝置的說明圖。
圖2是表示各個指向方向上的接收強度的曲線圖。
圖3是合成接收強度的曲線圖。
圖4是變更指向方向之后的合成接收強度的曲線圖。
圖5是控制部執行的動作的流程圖。
圖6是由實施例2的控制部執行的動作的流程圖。
<附圖標記說明>
1RFID檢測裝置
10天線
13控制部
25RFID標簽
Rx_L, Rx_R接收強度
Rx.Diff 合成接收強度
-a下限閾值
5
+a上限閾值
具體實施例方式以下，參照圖說明本發明的一個實施方式。(實施例1)圖1是說明RFID檢測裝置1的說明圖。在此例示了在臺21上設置有物品27的情況。物品27上貼有RFID標簽25。該 RFID標簽25包括天線和IC，并且在其IC內的存儲部存儲有作為識別信息的ID、作為物品 信息的物品名和規格等適宜的信息。在臺21的附近設有能夠讀取檢測區域R內存在的RFID標簽25的RFID檢測裝置 1。該RFID檢測裝置1包括有天線10、控制部13和存儲部15。天線10由可對指向方向進行調節的3單元天線陣構成。控制部13根據由CPU和ROM和RAM構成的RFID標簽方向檢測程序等程序，執行 控制動作或運算動作。存儲部15由非易失性存儲器或者硬盤等存儲裝置構成，用于存儲程序和信息(數 據)。接下來，對使用RFID檢測裝置1以在不受距離和標簽性能的影響下檢測RFID標 簽25的存在方向的方法的理論予以說明。圖2是表示在各個指向方向上通過RFID檢測裝置1從RFID標簽25讀取信息時 的接收強度的曲線圖。在該曲線圖中，縱軸表示接收強度(Gain:增益)，單位是分貝(dB)。 橫軸表示角度，單位是度(deg)。圖中，接收強度Rx_L是表示在天線10的指向方向(角度Θ)設為-35°且天線 10的正面設為0°時，各個方向的接收強度的分貝數的曲線圖。圖中，接收強度Rx_C是表示在天線10的指向方向(角度Θ)設為0°且天線10 的正面設為0°時，各個方向的接收強度的分貝數的曲線圖。圖中，接收電平Rx_R是表示在天線10的指向方向(角度Θ)設為35°且天線10 的正面設為0°時，各個方向的接收強度的分貝數的曲線圖。在此，接收強度Rx_L可通過下述式(式3)來表示。并且，對數表述和反對數表述 的關系式如式(式1、式2)所示。(式1)Rx = 10 X Iogltl (Rx，)(式2)Rx，= 10(Ex/10)其中，Rx(dBm)對數表述，Rx，(mff)反對數表述。(式3)[A]對數表述Rx_L = Pt+Dt ( θ ) _Loss+D_L ( θ )其中，Pt 標簽的發射功率，Loss 自由空間損耗，Dt( θ )標簽的指向性增益，D_L( θ )指向左方向時的指向性增益。
[B]反對數表述Rx_L，= Pt，XDt，( θ ) X ( λ/4 π D)2XD_L，( θ )其中，Pt’ 標簽的發射功率，D 通訊距離，Dt’( θ )標簽的指向性增益，D_L’ ( θ )指向左方向時的指向性增益。同時，接收強度Rx_R可由下述式所表示。(式4)[A]對數表述Rx_R = Pt+Dt ( θ ) _Loss+D_R ( θ )其中，Pt 標簽的發射功率，Loss 自由空間損耗，Dt( θ )標簽的指向性增益，D_R( θ )指向右方向時的指向性增益。[B]反對數表述Rx_R，= Pt，XDt，( θ ) X ( λ/4 π D)2XD_R，( θ )其中，Pt’ 標簽的發射功率，D 通訊距離，Dt’( θ )標簽的指向性增益，D_R’ ( θ )指向右方向時的指向性增益。根據上述2個式子，進行因數減少合成運算(對數表述時為減法運算(差分)，反 對數表述時為除法運算)，算出合成接收強度Rx_Diff，可得出如下式。(式5)[A]對數表述Rx_Diff = Rx_R-Rx_L= {Pt+Dt(θ)-Loss+D_R(θ)}-{Pt+Dt(θ)-Loss+D_L(θ)}= D_R( θ )-D_L( θ )[B]反對數表述Rx_Diff' = Rx_R， /Rx_L，= (Pt，XDt，( θ ) X (A/4 3iD)2XD_R' ( θ ))/(Pt，XDt，( θ ) X (A/4 3iD)2XD_L' ( θ ))= D_R，( θ )/D_L，( θ )如上述式5所示，對于不同指向方向的接收強度的式子進行減法運算或除法運 算，得出只涉及θ的函數，其與距離，標簽的性能(反射功率，標簽的指向性增益)無關。圖3是表示上述函數的曲線圖。在圖3中，縱軸表示合成接收強度Rx_Diff (Gain)， 單位為分貝(dB)。橫軸表示角度，單位為度(deg)。如圖3所示，合成接收強度Rx_Diff在天線10的正面附近，S卩，0°附近成為可視 為1次函數的波形。在士 10°附近外側的角度，因受旁瓣的影響不能成為一次函數。因此，利用閾值_a、a，在合成接收強度Rx_Diff為符合下述式所示條件的RFID標 簽25的情況下，能夠根據一次函數簡單地推導出該RFID標簽25的存在方向。(式6)-a < Rx_Diff < a其中，_a:下限閾值，a:上限閾值在閾值_a、a的范圍之外的RFID標簽25，因旁瓣區域的影響，無法檢測出正確的存 在方向。即，如圖3所示，由于點P1、P2和P3均為相同于Rx_Diff的值，因此無法根據Rx_Diff推導存在方向。但是，通過切換指向方向的角度，能夠對應上述情況。在此，圖4表示將接收強度Rx_L的指向方向變更為0°，并使得接收強度Rx_R的 指向方向保持原來的35°的情況下的合成接收強度Rx_Diff的曲線圖。如圖4所示，通過變更指向方向，使獲得的合成接收強度Rx_Diff成為接近一次函 數的函數(數值不斷增加或者減少的函數)。即，在此例中，通過圖3的檢測已表明RFID標 簽25存在于中心的右側。因此，向右側變更在左側進行測定時的接收強度Rx_L的指向方 向的角度，使得成為0°，并在此狀態下推導出合成接收強度Rx_Diff。在此，由于已知RFID 標簽25存在于中心的右側，因此，只看0°的右側的值時，合成接收強度Rx_Diff是一個接 近一次函數的曲線。接下來，參照圖5所示的流程圖，說明根據上述理論取得RFID標簽25的存在方向 (信號的到來方向)時RFID檢測裝置1的控制部13按照RFID標簽方向檢測程序所執行的動作。控制部13進行初期設定(步驟Si)，將第1方向的角度L設定為初期值(例 如-50° )并在存儲部15存儲該初期值，將第2方向的角度R設定為初期值(例如50° ) 并在存儲部15存儲該初期值。進行該初期設定時，優選角度L和角度R在中心的左右兩側 構成對稱的角度。控制部13將天線10的指向方向的角度設定成第1方向，即，角度L(步驟S2)，并 向規定的RFID標簽25發行讀取指令(read command)(步驟S3)。此時的讀取指令優選是 用于指定作為識別信息的ID并且只使具有該ID的RFID標簽25進行響應的指令。控制部13算出響應信號的接收強度(步驟S4)，并將該接收強度作為接收強度 Rx_L存儲在存儲部15 (步驟S5)。控制部13將天線10的指向方向的角度設定成第2方向，S卩，角度R(步驟S6)，并 向規定的RFID標簽25發行讀取指令(步驟S7)。此時的讀取指令優選是用于指定與步驟 S3相同的ID并且只使具有該ID的RFID標簽25進行響應的指令。控制部13算出響應信號的接收強度(步驟S8)，并將該接收強度作為接收強度 Rx_R存儲在存儲部15 (步驟S9)。控制部13執行從接收強度Rx_R中減去接收強度Rx_L的差分運算(對數表述的情 況下為差分，反對數表述的情況下為除法運算)，并將運算結果作為合成接收強度Rx_Diff 存儲在存儲部15 (步驟10)。控制部13通過判斷合成接收強度Rx_Diff是屬于預先規定的、從_a至+a的閾值 范圍內，還是小于或者是大于+a，對到來方向進行大致的判斷(步驟Sll)。通過該處理， 能夠大致判斷出RFID標簽25是存在于中心方向(例如在規定的角度-4° +4°之間)， 還是存在于左方向(例如在規定的角度-4°的左側)或者右方向(例如在規定的角度+4° 的右側)。合成接收強度Rx_Diff為+a以上的情況下(步驟Sll +a≥)，控制部13判斷出 RFID標簽25存在于比中心方向之右側，并且使作為第1方向的角度L向右側變更規定的角 度(例如10° )(步驟S12)。即，在表示右側的指向方向的角度R固定不變的情況下，通過 向右側變更表示左側的指向方向的角度L，減小第1方向和第2方向之間的角度差，從而使檢測對象范圍全體向右側變更。控制部13判斷角度L和角度R是否相同，如果不相同(步驟S13 “否”)，就返回 步驟S2的處理，再次進行到來方向估算處理(步驟S2 Sll)。角度L和角度R相同時(步驟S13 “是”)，由于第1方向和第2方向是相一致的 方向，因此，控制部13使第2方向的角度R向右側變更規定角度(例如10° )(步驟S14)。 然后，控制部13返回步驟S2的處理，再次進行到來方向估算處理(步驟S2 Sll)。合成接收強度Rx_Diff為-a以下的情況下(步驟Sll -a ()，控制部13判斷出 RFID標簽25存在于中心方向之左側，并且使作為第2方向的角度R向左側變更規定的角 度(例如-10° )(步驟S15)。即，在表示左側的指向方向的角度L固定不變的情況下，通 過向左側變更表示右側的指向方向的角度R，減小第1方向和第2方向之間的角度差，從而 使檢測對象范圍全體向左側變更。控制部13判斷角度L和角度R是否相同，如果不相同(步驟S16 “否”)，就返回 步驟S2的處理，再次進行到來方向估算處理(步驟S2 Sll)。角度L和角度R相同時(步驟S16 “是”)，由于第1方向和第2方向是相一致的 方向，因此，控制部13使第1方向的角度L向左側變更規定角度(例如-10° )(步驟S17)。 然后，控制部13返回步驟S2的處理，再次進行到來方向估算處理(步驟S2 Sll)。合成接收強度Rx_Diff在小于+a并且大于_a的閾值范圍內的情況下(步驟 Sll :-a >并且+a < )，控制部13進行運算處理(步驟S18)，算出從天線10側進行觀察時 的RFID標簽25的信號的到來方向X。可通過下式，算出該到來方向X。(式7)X= (R+L)/2+F(Rx_Diff)其中，F(Rx_Diff)修正式上述數學式中的修正式F(Rx_Diff)可由諸如一次函數、二次函數或者三次函數 等的、作為1個變量值輸入合成接收強度Rx_DifT時作為響應能夠算出角度的函數構成。但 是，并不限定于函數，例如還可在存儲部15預先存儲表示合成接收強度Rx_DifT的值和角 度之間的對應關系的表數據，通過參照該表，推導出對應的角度。根據上述結構以及動作，能夠簡單的檢測出RFID標簽25的信號的到來方向，從而 能夠檢測出RFID標簽25的存在方向。天線10由3單元天線陣所構成，因此能夠將指向方向迅速改變成任意的角度，從 而能夠在短時間內執行指向方向的變更并再度進行到來方向估算的處理。另外，由于可不斷改變指向方向，直至使RFID標簽25的大致方向包含在中心方向 的一定范圍內，即，成為可算出該RFID標簽25的存在方向的角度的方向，因此，能夠在將指 向方向調整到適合于RFID標簽25的存在方向的基礎上，適當地算出RFID標簽25的存在 方向。(實施例2)實施例1中說明了天線10的指向方向變更沒有限定的情況。實施例2中將說明 中天線10的指向方向變更設有限定的情況，或者是在指向方向的角度以上的方向上不進 行RFID標簽25檢測的情況。圖6是說明實施例2的RFID檢測裝置1的控制部13在取得RFID標簽25的存在
9方向(信號的到來方向)時按照RFID標簽方向檢測程序執行的動作的流程圖。其他的結 構與實施例1相同，因此省略其詳細說明。如圖6所示，在步驟Sl S13執行與實施例1相同的動作，因此省略其詳細說明。在步驟S11，合成接收強度Rx_Diff為-a以下的情況下(步驟Sll +a彡)，與實 施例1相同，控制部13執行步驟S15之后進入步驟S13的處理。執行步驟S12或者步驟S15之后，控制部13判斷角度L和角度R是否相同。如果 不相同(步驟S13 “否”)，就返回步驟S2再次進行到來方向估算處理(步驟S2 S11)。角度L和角度R相同時(步驟S13 “是”)，由于無法對指向方向進行進一步的變 更，因此，控制部13在第2方向的角度R上加算修正式R，算出到來方向X。用于該算出處 理的數學式如下，(式8)X = R+F(Rx_Diff)其中，F(Rx_Diff)修正式。根據上述，能夠檢測出大致的到來方向。在步驟Sl 1，合成接收強度Rx_Diff在小于+a并且大于_a的閾值范圍內的情況下 (步驟Sll -a >并且+a < )，控制部13執行與實施例1相同的到來方向算出處理(步驟 S18)。根據上述結構以及動作，能夠獲得與實施例1相同的效果。合成接收強度Rx_DifT 在閾值范圍內的情況下，能夠以相同于實施例1的精度來檢測RFID標簽25的存在方向。另 外RFID標簽25存在于可設定天線10的指向方向極限的外側時，精度雖然不及當合成接收 強度Rx_Diff存在于閾值范圍內的情況，但是仍能夠檢測出大致的存在方向。在上述的各個實施方式中，設定下限閾值為_a，上限閾值為+a，兩者的絕對值相 同。但是，并不限定于此，上限閾值和下限閾值還可以取絕對值不同的值時，也能夠獲得相 同的效果。另外，在步驟S3、S7中，可以不指定ID，而是發行用于使得響應回答ID的指令。此 時，在接下來的處理中只抽出所期望的ID并對每個ID進行處理，就能夠算出該ID的存在 方向。此外，在步驟S12、S15中，除了只對單側的指向方向進行角度變更，還可以對角度 R和角度L的兩者進行角度變更，并進行重復處理。此時，可通過變更讀取范圍，將指向方向 變更為適當的角度，當指向方向到達適當的角度時，檢測RFID標簽25的存在方向。并且，根據本實施例所說明的計算式，最終所需要的是指向性增益的差(或商)， 可得出其比率。因此，本實施例雖然利用單位mW和dBm進行說明，但不限于此，利用單位 dBW也可得出同樣的結果。而且，利用本實施例所說明的單位dBi求出對于各向同性天線的 倍率比，和利用與本實施例不同的單位dBd求出對于偶極天線的倍率比，均可得出同樣的 結果。本發明的結構和上述實施方式的對應關系如下在本發明中，非接觸IC介質方向檢測裝置對應于實施方式的RFID檢測裝置1 ；同樣地，接收部對應于天線10 ；信息處理部對應于控制部13 ；
非接觸IC介質對應于RFID標簽25 ；第1取得處理對應于步驟S2 S5 ；重復處理對應于步驟S2 Sll ；第2取得處理對應于步驟S6 S9 ；合成處理對應于步驟SlO ；存在方向判斷處理對應于步驟Sll ；方向切換處理對應于步驟S12，S15 ；角度取得處理對應于步驟S18，S19 ；信號強度對應于接收強度Rx_L，Rx_R ；合成信號強度對應于合成接收強度Rx_DifT ；閾值范圍對應于+a -a ；第1閾值對應于-a;第2閾值對應于+a;預先規定的函數或者對應表對應于式7或者式8 ；識別信息對應于ID。但是，本發明并不限于上述實施方式所示的結構，通過變更所 獲得的各種實施方式也屬于本發明的范疇。
權利要求
一種非接觸IC介質方向檢測裝置，其特征在于，包括有能朝向不同的指向方向來讀取非接觸IC介質的接收部和從該接收部接收信息并處理該信息的信息處理部，其中，上述信息處理部執行第1取得處理，使指向方向朝向第1方向，取得從具有規定識別信息的非接觸IC介質接收到的信號的信號強度；第2取得處理，使指向方向朝向第2方向，取得從上述非接觸IC介質接收到的信號的信號強度；合成處理，對上述第1方向的信號強度和第2方向的信號強度進行差分運算或者除法運算，取得合成信號強度；存在方向判斷處理，通過判斷該合成信號強度是否在預先規定的閾值范圍內，來判斷在由該閾值范圍所區分的規定方向上是否存在有作為對象的非接觸IC介質。
2.根據權利要求1所述的非接觸IC介質方向檢測裝置，其特征在于，當通過上述存在方向判斷處理而判斷出在規定方向上未存在有作為對象的非接觸IC 介質的情況下，上述信息處理部執行方向切換處理，將上述第1方向和第2方向中的至少一者切換成不同的方向；以及 重復處理，在進行上述方向切換處理之后，再度進行取得處理、上述合成處理和上述存 在方向判斷處理，其中，該取得處理是指，上述方向切換后在上述第1取得處理和第2取得 處理中至少對進行了上述方向切換處理的上述方向所進行的取得處理。
3.根據權利要求2所述的非接觸IC介質方向檢測裝置，其特征在于上述閾值范圍是從上述第1方向側的第1閾值到上述第2方向側的第2閾值為止的范圍，上述存在方向判斷處理為，在上述合成信號強度不在閾值范圍內的情況下，判斷該合 成信號強度是在上述第1閾值的外側還是在上述第2閾值的外側的處理，上述方向切換處理為，在通過上述存在方向判斷處理而判斷出上述合成信號強度在第 1閾值的外側的情況下，向第1方向側變更上述第2取得處理的第2方向，而在判斷出上述 合成信號強度在第2閾值的外側的情況下，向第2方向側變更上述第1取得處理的第1方 向的處理。
4.根據權利要求1、2、3中任意一項所述的非接觸IC介質方向檢測裝置，其特征在于， 上述信息處理部執行角度取得處理，根據與上述存在方向判斷處理的判斷結果對應而預先規定的函數或者 對應表，推導出與上述合成信號強度相對應的角度。
5.一種非接觸IC介質方向檢測方法，其特征在于，利用能朝向不同的指向方向來讀取非接觸IC介質的接收部和從該接收部接收信息并 處理該信息的信息處理部，并通過上述信息處理部執行第1取得處理，使指向方向朝向第1方向，取得從具有規定識別信息的非接觸IC介質 接收到的信號的信號強度；第2取得處理，使指向方向朝向第2方向，取得從上述非接觸IC介質接收到的信號的 信號強度；合成處理，對上述第1方向的信號強度和第2方向的信號強度進行差分運算或者除法 運算，取得合成信號強度；存在方向判斷處理，通過判斷該合成信號強度是否在預先規定的閾值范圍內，來判斷 在由該閾值范圍所區分的規定方向上是否存在有作為對象的非接觸IC介質。
6.一種非接觸IC介質方向檢測程序，其特征在于，用于使信息處理部執行；第1取得處理，使接收部的指向方向朝向第1方向，取得從具有規定識別信息的非接觸 IC介質接收到的信號的信號強度，其中，該接收部能朝向不同的指向方向來讀取非接觸IC 介質；第2取得處理，使上述接收部的指向方向朝向第2方向，取得從上述非接觸IC介質接 收到的信號的信號強度；合成處理，對上述第1方向的信號強度和第2方向的信號強度進行差分運算或者除法 運算，取得合成信號強度；存在方向判斷處理，通過判斷該合成信號強度是否在預先規定的閾值范圍內，來判斷 在由該閾值范圍所區分的規定方向上是否存在有作為對象的非接觸IC介質。
7.一種計算機可讀取的記錄介質，其存儲有用于使得信息處理部執行下述處理的非接 觸IC介質方向檢測程序，即第1取得處理，使接收部的指向方向朝向第1方向，取得從具有規定識別信息的非接觸 IC介質接收到的信號的信號強度，其中，該接收部能朝向不同的指向方向來讀取非接觸IC 介質；第2取得處理，使上述接收部的指向方向朝向第2方向，取得從上述非接觸IC介質接 收到的信號的信號強度；合成處理，對上述第1方向的信號強度和第2方向的信號強度進行差分運算或者除法 運算，取得合成信號強度；存在方向判斷處理，通過判斷該合成信號強度是否在預先規定的閾值范圍內，來判斷 在由該閾值范圍所區分的規定方向上是否存在有作為對象的非接觸IC介質。
全文摘要
本發明包括可朝向不同的指向方向來讀取非接觸IC介質(25)的接收部(10)和用于控制該接收部的信息處理部(13)，由上述信息處理部執行第1取得處理，使指向方向朝向第1方向，取得從具有規定識別信息的非接觸IC介質接收到的信號的信號強度；第2取得處理，使指向方向朝向第2方向，取得從上述非接觸IC介質接收到的信號的信號強度；合成處理，對上述第1方向的信號強度和第2方向的信號強度進行差分運算或者除法運算，取得合成信號強度；存在方向判斷處理，通過判斷該合成信號強度是否在預先規定的閾值范圍內，來判斷在由該閾值范圍所區分的規定方向上，是否存在有作為對象的非接觸IC介質。由此，可提供能夠簡單地獲得非接觸IC介質的存在方向的非接觸IC介質方向檢測裝置(1)及非接觸IC介質方向檢測方法和其程序，以及存儲有該程序的計算機可讀取的記錄介質。
文檔編號G06K17/00GK101889214SQ200880119748
公開日2010年11月17日 申請日期2008年12月4日 優先權日2007年12月13日
發明者野上英克 申請人:歐姆龍株式會社