專利名稱：顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)及方法
顯示內(nèi)存測(cè)試,系統(tǒng)及方法技術(shù)領(lǐng)域：
本發(fā)明涉及一種測(cè)試系統(tǒng)及方法，特別是涉及一種顯示內(nèi)存的測(cè)試系統(tǒng)及 方法。背景技術(shù)：
顯示內(nèi)存簡(jiǎn)稱顯存，是存儲(chǔ)及傳送顯示數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)芯片，也是顯示卡上除 圖形處理芯片之外的最重要的組成部分之-- ，它的容量及存取速度直接影響顯 卡的工作性能。因此，檢測(cè)顯示內(nèi)存是否可靠是系統(tǒng)診斷中十分重要的一環(huán)。目前的顯示內(nèi)存測(cè)試及診斷方法-一般基于專用的圖形開(kāi)發(fā)包或編程接口來(lái)完成，例如Windows操作系統(tǒng)下的Direct2D/3D技術(shù)、0penGL技術(shù)和 GDI (Graphics Device Interface)技術(shù)等。以上的幾種技術(shù)提供大量的圖形開(kāi)發(fā)包及編程接口 ，被廣泛應(yīng)用于繪圖及游戲領(lǐng)域，然而，使用以上技術(shù)對(duì)顯示內(nèi)存進(jìn)行測(cè)試和診斷時(shí)存在如下缺點(diǎn) 首先當(dāng)前方法無(wú)法確保測(cè)試的全面性，由于目前廣泛采用的各類圖形開(kāi)發(fā)包和 接口大多是為通用圖形應(yīng)用目的而設(shè)計(jì)，因此在繪圖過(guò)程中無(wú)法保證數(shù)據(jù)的分 布位置，也即，數(shù)據(jù)既可能保存在顯存中，也可能位于系統(tǒng)主存中，編程'人員 無(wú)法在設(shè)計(jì)階段指定數(shù)據(jù)位置，只能通過(guò)對(duì)圖形包實(shí)現(xiàn)算法進(jìn)行研究或通過(guò)對(duì)海量數(shù)據(jù)進(jìn)行讀寫(xiě)等方式來(lái)盡可能保證全部顯存都得到讀寫(xiě)；其次，基于同樣的原因，當(dāng)前方法不能診斷顯存故障的具體產(chǎn)生位置，也即顯存故障發(fā)生吋，傳統(tǒng)方法不能診斷出顯存故障發(fā)生的物理內(nèi)存地址；再次，當(dāng)前技術(shù)對(duì)計(jì)算機(jī) 系統(tǒng)及操作系統(tǒng)具有一定的依賴性，由于采用圖形開(kāi)發(fā)接口，因此診斷程序必 須依賴支持特定接口的計(jì)算機(jī)系統(tǒng)才能正常運(yùn)行，并且診斷結(jié)果受圖形接口版 本及操作系統(tǒng)版本的影響較大。
發(fā)明內(nèi)容鑒于以上問(wèn)題，本發(fā)明提供一種顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)及方法，以克服當(dāng)前顯 示內(nèi)存測(cè)試方法無(wú)法確保全面測(cè)試、無(wú)法定位故障發(fā)生位置和對(duì)計(jì)算機(jī)系統(tǒng)依 賴性較強(qiáng)的缺陷。本發(fā)明提供的顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)，包括一用戶界面，用于對(duì)測(cè)試功能進(jìn)行 設(shè)定及輸入相關(guān)測(cè)試參數(shù)并顯示測(cè)試結(jié)果； 一驅(qū)動(dòng)程序，該驅(qū)動(dòng)程序?yàn)橐粌?nèi)核 態(tài)測(cè)試驅(qū)動(dòng)，該驅(qū)動(dòng)程序用以映射顯存地址，根據(jù)設(shè)定對(duì)待測(cè)顯存地址區(qū)域進(jìn) 行測(cè)試并返回測(cè)試結(jié)果； 一譯碼單元，該譯碼單元用以對(duì)顯存的地址空間進(jìn)行 譯碼，從而使驅(qū)動(dòng)程序可直接讀寫(xiě)顯存。另外，本發(fā)明提供的顯示內(nèi)存測(cè)試方法，包括以下步驟 A. 用戶設(shè)定測(cè)試功能及相關(guān)參數(shù)；B. 系統(tǒng)收集相關(guān)信息；C. 系統(tǒng)檢測(cè)驅(qū)動(dòng)程序并加載；D. 驅(qū)動(dòng)程序?qū)︼@示內(nèi)存地址空間進(jìn)行映射；E. 驅(qū)動(dòng)程序根據(jù)用戶設(shè)定內(nèi)容對(duì)顯示內(nèi)存進(jìn)行測(cè)試F. 測(cè)試完成后驅(qū)動(dòng)程序?qū)⒎祷販y(cè)試結(jié)果并輸出。其中，設(shè)定測(cè)試功能即設(shè)定測(cè)試方式，包括壓力測(cè)試、對(duì)比測(cè)試等；在C 步驟中，系統(tǒng)將首先將檢測(cè)驅(qū)動(dòng)程序是否正常，若正常則系統(tǒng)加載該驅(qū)動(dòng)程序 并繼續(xù)進(jìn)行D步驟，若不正常則系統(tǒng)提示報(bào)錯(cuò)信息并結(jié)束。與當(dāng)前技術(shù)相比，本發(fā)明顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)及方法不需要任何圖形接口支 持，程序僅需調(diào)用操作系統(tǒng)已公開(kāi)的系統(tǒng)調(diào)用或編程接口即可；本系統(tǒng)及方法 由于直接對(duì)顯示內(nèi)存進(jìn)行讀寫(xiě)，故測(cè)試全面且診斷精確；本方法使用線性地址， 在很大程度上減輕了對(duì)操作系統(tǒng)編程特性的依賴。
圖1為本顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖； 圖2為本顯示內(nèi)存測(cè)試方法流程圖。
具體實(shí)施方式為了能夠更清楚的了解本發(fā)明所提供的顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)及方法的工作原 理及流程，以卞結(jié)合附圖進(jìn)行詳細(xì)說(shuō)明。請(qǐng)參閱圖1所示，為本顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)圖；本顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)包 括一用戶界面IO，該用戶界面10在本實(shí)施例中為一圖形用戶界面，用戶可通過(guò) 該用戶界面IO對(duì)系統(tǒng)功能進(jìn)行設(shè)定并輸入相關(guān)參數(shù)；本系統(tǒng)還包括一驅(qū)動(dòng)程序 11，該驅(qū)動(dòng)程序11為本系統(tǒng)的核心部分，且該驅(qū)動(dòng)程序11為一內(nèi)核態(tài)測(cè)試驅(qū) 動(dòng)，用以將顯示內(nèi)存13地址空間映射為一虛擬地址空間，并將用戶設(shè)定的測(cè)試 數(shù)據(jù)送入預(yù)設(shè)的待測(cè)顯存地址區(qū)域并返回測(cè)試結(jié)果；本系統(tǒng)還包括一譯碼單元 12，該譯碼單元12用以對(duì)顯示內(nèi)存13的地址空間進(jìn)行譯碼，從而可使驅(qū)動(dòng)程 序11直接對(duì)顯示內(nèi)存13進(jìn)行讀寫(xiě)，在本實(shí)施例中該譯碼單元12為一內(nèi)存控制 器，集成于計(jì)算機(jī)主機(jī)板的北橋芯片中。請(qǐng)參閱圖2所示，為本顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)流程圖；首先用戶啟動(dòng)本程序， 并在用戶界面10中對(duì)本系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試功能設(shè)定及相關(guān)參數(shù)設(shè)置，測(cè)試功能設(shè)定 包括顯存壓力測(cè)試、數(shù)據(jù)對(duì)比測(cè)試等測(cè)試種類，相關(guān)參數(shù)包括錯(cuò)誤報(bào)告內(nèi)容、 測(cè)試對(duì)象及測(cè)試區(qū)域等(步驟201);然后系統(tǒng)開(kāi)始收集相關(guān)信息，即通過(guò)操作系統(tǒng)應(yīng)用程序編程接口確定顯存大小及起始地址等信息，收集完成之后與用戶設(shè) 定進(jìn)行比較，若用戶設(shè)定合法則進(jìn)入下---步，否則系統(tǒng)報(bào)錯(cuò)并返回步驟201重 新進(jìn)行設(shè)定，此為步驟202;之后系統(tǒng)檢查該測(cè)試驅(qū)動(dòng)程序11是否正常(步驟 203)，若不正常則系統(tǒng)報(bào)錯(cuò)并結(jié)束本程序若正常則系統(tǒng)加載驅(qū)動(dòng)程序ll并修 改程序與設(shè)定相關(guān)的參數(shù)(步驟204);之后進(jìn)入驅(qū)動(dòng)程序11工作過(guò)程，驅(qū)動(dòng)程 序11首先根據(jù)系統(tǒng)收集的信息對(duì)顯示內(nèi)存13的地址空間進(jìn)行映射，映射之后為一虛擬地址空間(步驟205);之后驅(qū)動(dòng)程序11會(huì)根據(jù)用戶設(shè)定內(nèi)容將測(cè)試數(shù) 據(jù)送入待測(cè)地址區(qū)域，此地址信息將被直接送入譯碼單元12進(jìn)行解譯，以使驅(qū) 動(dòng)程序可直接對(duì)顯示內(nèi)存13的物理地址空間對(duì)行讀寫(xiě)，此時(shí)^K動(dòng)程序10根據(jù) 此地址信息即可直接對(duì)顯示內(nèi)存13進(jìn)行測(cè)試(步驟206);測(cè)試完成之后，該驅(qū) 動(dòng)程序10返回測(cè)試結(jié)果并將該測(cè)試結(jié)果顯示于用戶界面IO(步驟207)。本發(fā)明顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)及方法采用直接內(nèi)存讀寫(xiě)技術(shù)，極大地提高了測(cè) 試效率；與傳統(tǒng)方法相比，不需要任何圖形接口支持，只需調(diào)用操作系統(tǒng)提供 的已公開(kāi)應(yīng)用程序編程接口即可；同時(shí)本方法也保證了對(duì)顯示內(nèi)存測(cè)試的全面 性和準(zhǔn)確性，由于直接讀寫(xiě)顯存，因此能夠保證一次測(cè)試就可讀寫(xiě)全部顯存， 并且在檢測(cè)到故障時(shí)能夠報(bào)告故障發(fā)生的具體物理地址及故障類型；且本方法 受操作系統(tǒng)版本及類型影響較小。由于直接使用線性地址空間，故本方法的可 用性主要取決于內(nèi)存控制器對(duì)顯存的解碼方案，而對(duì)于特定體系結(jié)構(gòu)的計(jì)算機(jī) 系統(tǒng)(如X86架構(gòu)體系)，內(nèi)存控制器的編碼方案一般是一致的，因此本方法僅 在最小程度上依賴操作系統(tǒng)的編程特性。
權(quán)利要求
1. 一種顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)，其通過(guò)一電腦對(duì)顯示內(nèi)存進(jìn)行測(cè)試，其特征在于，該系統(tǒng)包括一用戶界面，用以讓用戶設(shè)定測(cè)試功能及輸入相關(guān)參數(shù)，并顯示測(cè)試結(jié)果及錯(cuò)誤信息；一驅(qū)動(dòng)程序，用以映射顯存地址，對(duì)用戶設(shè)定的待測(cè)顯存地址區(qū)域進(jìn)行測(cè)試并返回測(cè)試結(jié)果；一譯碼單元，該譯碼單元用以對(duì)顯示內(nèi)存的物理地址空間進(jìn)行譯碼。
2. 如權(quán)利要求l所述的顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的用戶界面 為一圖形化用戶界面。
3. 如權(quán)利要求1所述的顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的驅(qū)動(dòng)程序 為一內(nèi)核態(tài)驅(qū)動(dòng)程序。
4. 如權(quán)利要求1所述的顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的譯碼單元 為一內(nèi)存控制器。
5. 如權(quán)利要求1所述的顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的用戶設(shè)定 的測(cè)試功能包括顯存壓力測(cè)試和讀寫(xiě)對(duì)比測(cè)試所述的相關(guān)參數(shù)包括錯(cuò)誤報(bào)告 內(nèi)容、測(cè)試對(duì)象及區(qū)域。
6. 如權(quán)利要求1所述的顯示內(nèi).存測(cè)試系統(tǒng)，其特征在于所述的測(cè)試結(jié)果包括顯存是否存在故障，若存在，還包括故障地址及故障類型。
7. —種采用權(quán)利要求l所述顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)對(duì)內(nèi)存進(jìn)行測(cè)試的方法，其特征在于，該方法包括以下步驟-A. 用戶設(shè)定測(cè)試功能及相關(guān)參數(shù)；B. 系統(tǒng)收集相關(guān)信息；C. 系統(tǒng)檢測(cè)驅(qū)動(dòng)程序并加載；D. 驅(qū)動(dòng)程序?qū)︼@示內(nèi)存地址空間進(jìn)行映射E. 驅(qū)動(dòng)程序根據(jù)用戶設(shè)定內(nèi)容對(duì)顯示內(nèi)存進(jìn)行測(cè)試；F. 測(cè)試完成后驅(qū)動(dòng)程序?qū)⒎祷販y(cè)試結(jié)果并輸出。
8. 如權(quán)利要求7所述的顯示內(nèi)存測(cè)試方法，其特征在于步驟A中所述的 用戶設(shè)定的測(cè)試功能包括顯存壓力測(cè)試和讀寫(xiě)對(duì)比測(cè)試；所述的相關(guān)參數(shù)包括 錯(cuò)誤報(bào)告內(nèi)容、測(cè)試對(duì)象及區(qū)域。
9. 如權(quán)利要求7所述的顯示內(nèi)存測(cè)試方法，其特征在于步驟B中所述的 相關(guān)信息包括顯存大小及顯存起始地址。
10. 如權(quán)利要求7所述的顯示內(nèi)存測(cè)試方法，其特征在于步驟B中系收集 完相關(guān)信息之后，先與步驟A中用戶設(shè)定的參數(shù)進(jìn)行比較，若用戶設(shè)定合法則 進(jìn)行步驟C，否則返回步驟A進(jìn)行重新設(shè)定。
11.如權(quán)利要求7所述的顯示內(nèi)存測(cè)試方法，其特征在于步驟C中系統(tǒng)首 先檢測(cè)驅(qū)動(dòng)程序是否正常，若不正常則系統(tǒng)提示驅(qū)動(dòng)程序出錯(cuò)并結(jié)束本程序，若正常則繼續(xù)執(zhí)行步驟D。
12.如權(quán)利要求7所述的顯示內(nèi)存測(cè)試方法，其特征在于所述的測(cè)試結(jié)果包括顯存是否存在故障，若存在，還包括故障地址及故障類型。
全文摘要
一種顯示內(nèi)存測(cè)試系統(tǒng)，包括一用戶界面，用于對(duì)測(cè)試功能進(jìn)行設(shè)定及輸入相關(guān)測(cè)試參數(shù)并顯示測(cè)試結(jié)果；一驅(qū)動(dòng)程序，該驅(qū)動(dòng)程序?yàn)橐粌?nèi)核態(tài)測(cè)試驅(qū)動(dòng)，該驅(qū)動(dòng)程序用以映射顯存地址，根據(jù)設(shè)定對(duì)待測(cè)顯存地址區(qū)域進(jìn)行測(cè)試并返回測(cè)試結(jié)果；一譯碼單元，該譯碼單元用以對(duì)顯示內(nèi)存的物理地址空間進(jìn)行譯碼，從而使驅(qū)動(dòng)程序可直接讀寫(xiě)顯存。
文檔編號(hào)G06F11/22GK101211294SQ20061014801
公開(kāi)日2008年7月2日 申請(qǐng)日期2006年12月26日 優(yōu)先權(quán)日2006年12月26日
發(fā)明者傅晶晶 申請(qǐng)人:環(huán)達(dá)電腦(上海)有限公司