專利名稱：測試板及測試系統(tǒng)的制作方法
測試板及測試系統(tǒng)
技朮領(lǐng)域
本發(fā)明是有關(guān)于一種測試板，特別是有關(guān)于一種用以測試主板的電源及信號的測試板。
背景技朮
一般主板具有許多芯片。每一芯片是利用總線連接彼此，用以傳遞芯片間的數(shù)據(jù)。圖i顯示主板的示意圖。主板io包括了系統(tǒng)芯片及數(shù)據(jù)通路芯片，一般分別稱為北橋(North Bridge) 12與南橋(South Bridge) 13，稱之為"橋"的由來是其將多個不同總線連接在一起。
北橋12是作為中央處理器11、存儲模塊14、繪圖控制器15以及南橋13 的連接點。北橋12將CPU總線122轉(zhuǎn)接到存儲總線124、 AGP繪圖總線126，以 及與南橋130之間的專屬互連通道128。
南橋13簡單地說整合了許多輸出入(簡稱1/0)控制器，提供不同外圍裝置 和總線的接口，并且透過專屬互連通道128與北橋12之間進(jìn)行數(shù)據(jù)的移轉(zhuǎn)。舉 例來說，南橋130提供了 IDE接口 17、 USB接口 18?；据敵鋈胂到y(tǒng)(basic i叩ut-output system; BIOS) 16可直接地連接到南橋130。
圖1所示的每一裝置均需專有的電源及驅(qū)動信號，方能正常運作。然而， 不同的裝置可能需要不同的電源，因此，主板10具有許多不同的電源及驅(qū)動信 號。
為了確保主板10上的各裝置能夠正常運作，廠商會在主板出廠前，測試各 電源及驅(qū)動信號。由于廠商需測試許多電源及驅(qū)動信號，因此，需要花費較長 的測試時間。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種測試板，用以測試一主板所產(chǎn)生的一驅(qū)動電壓，其包括， 第一、第二及第三分壓單元、比較單元以及第一發(fā)光單元。第一分壓單元提供 一上限電壓。第二分壓單元提供一下限電壓。下限電壓小于上限電壓。第三分 壓單元將驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換成預(yù)設(shè)電壓。比較單元將上限電壓和下限電壓與預(yù)設(shè)電 壓比較并且輸出一第一控制信號。當(dāng)預(yù)設(shè)電壓大于上限電壓或是小于下限電壓 時，則第一控制信號為致能狀態(tài)。當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘枮橹履軤顟B(tài)時，則第一發(fā)光 單元顯示第一顏色。
本發(fā)明亦提供一種測試系統(tǒng)，包括一主板以及一測試板。主板用以產(chǎn)生驅(qū)
動電壓以及驅(qū)動信號。測試板包括，第一、第二及第三分壓單元、比較單元以 及第一發(fā)光單元。第一分壓單元提供一上限電壓。第二分壓單元提供一下限電 壓。下限電壓小于上限電壓。第三分壓單元將驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換成預(yù)設(shè)電壓。比較 單元將上限電壓和下限電壓與預(yù)設(shè)電壓比較并且輸出一第一控制信號。當(dāng)預(yù)設(shè) 電壓大于上限電壓或是小于下限電壓時，則第一控制信號為致能狀態(tài)。當(dāng)?shù)谝?控制信號為致能狀態(tài)時，則第一發(fā)光單元顯示第一顏色。
圖l顯示主板的示意圖。
圖2顯示本發(fā)明的測試系統(tǒng)。
圖3顯示本發(fā)明的測試板的一可能實施例。
具體實施例方式
圖2顯示本發(fā)明的測試系統(tǒng)。如圖所示，測試系統(tǒng)20包括，主板21以及 測試板22。測試板22除了可測試主板21的驅(qū)動電壓Sp，亦可測試主板21的 驅(qū)動信號Ss。主板21具有一連接接口(未顯示)，用以插入測試板22。
圖3顯示本發(fā)明的測試板的一可能實施例。如圖所示，測試板22包括，分 壓單元31 33、比較單元34以及發(fā)光單元35。分壓單元31提供上限電壓VI。 分壓單元32提供下限電壓V2。下限電壓V2小于上限電壓V1。分壓單元33將 驅(qū)動電壓Sp轉(zhuǎn)換成預(yù)設(shè)電壓Vp。
比較單元34將上限電壓VI和下限電壓V2與預(yù)設(shè)電壓Vp比較，并且輸出 控制信號Scl。當(dāng)預(yù)設(shè)電壓Vp大于上限電壓VI時，或是預(yù)設(shè)電壓Vp小于下限 電壓V2時，則控制信號Scl為致能狀態(tài)。當(dāng)控制信號Scl為致能狀態(tài)時，則發(fā) 光單元35顯示第一顏色。
另外，測試板22更包括電壓轉(zhuǎn)換器36,用以將直流電壓Vdc轉(zhuǎn)換成參考電 壓Vref。分壓單元31包括電阻311、 312，用以將參考電壓Vref轉(zhuǎn)換成上限電 壓V1。在本實施例中，上限電壓VI是為預(yù)設(shè)電壓Vp的105%。分壓單元32包 括電阻321、 322，用以將參考電壓Vref轉(zhuǎn)換成下限電壓V2。在本實施例中， 下限電壓V2是為預(yù)設(shè)電壓Vp的95W。分壓單元33包括電阻331、 332，用以將 驅(qū)動電壓Sp轉(zhuǎn)換成預(yù)設(shè)電壓Vp。
由于主板21具有許多驅(qū)動電壓(例如3V、 2.5V、 5V)，若將電阻331及332 的阻值固定時，則預(yù)設(shè)電壓Vp將隨著驅(qū)動電壓Sp而變化。由于上限電壓V1是 為預(yù)設(shè)電壓Vp的105%，而下限電壓V2是為預(yù)設(shè)電壓Vp的95X，因此，當(dāng)預(yù)設(shè) 電壓Vp將隨著驅(qū)動電壓Sp而變化時，則上限電壓VI與下限電壓V2亦需隨著 變化。但是當(dāng)電阻311、 312、 321及322的阻值固定時，上限電壓V1與下限電 壓V2便無法改變，故需改變電壓轉(zhuǎn)換器36的種類，使其根據(jù)驅(qū)動電壓Sp而提
供相對應(yīng)的參考電壓Vref。
當(dāng)主板21的驅(qū)動電壓愈多時，則測試板22便需愈多的電壓轉(zhuǎn)換器36，因 而使得硬件成本增加。為解決此問題，本發(fā)明藉由調(diào)整電阻311、 312、 321、 322、 331及332阻值，用以固定上限電壓V1、下限電壓V2以及預(yù)設(shè)電壓Vp。在本實 施例中，預(yù)設(shè)電壓Vp是設(shè)定為1.2V，上限電壓V1是設(shè)定為1.26V，下限電壓 V2是設(shè)定為1. 14V。
比較單元34包括，比較器341、 342以及邏輯電路343。比較器341的正相 輸入端接收預(yù)設(shè)電壓Vp，其反相輸入端接收上限電壓V1，用以比較上限電壓V1 及預(yù)設(shè)電壓Vp。比較器342的正相輸入端接收下限電壓V2，其反相輸入端接收 預(yù)設(shè)電壓Vp，用以比較下限電壓V2及預(yù)設(shè)電壓Vp。邏輯電路343耦接比較器 341及342的輸出端。在本實施例中，邏輯電路343是為一0R閘。
當(dāng)預(yù)設(shè)電壓Vp大于上限電壓VI時，則比較器341輸出高邏輯位準(zhǔn)，而比 較器342輸出低邏輯位準(zhǔn)。因此邏輯電路343輸出的控制信號Scl為致能狀態(tài)。 當(dāng)預(yù)設(shè)電壓Vp小于下限電壓V2時，則比較器341輸出低邏輯位準(zhǔn)，而比較器 342輸出高邏輯位準(zhǔn)。因此邏輯電路343輸出的控制信號Scl為致能狀態(tài)。然而， 當(dāng)預(yù)設(shè)電壓Vp小于上限電壓VI并大于下限電壓V2時，比較器341及342均輸 出低邏輯位準(zhǔn)，使得邏輯電路343輸出的控制信號Scl為失能狀態(tài)。
發(fā)光單元35具有電阻351及352、晶體管353及354以及發(fā)光組件355及 356。發(fā)光組件355顯示紅色光，而發(fā)光組件356顯示綠色光。當(dāng)控制信號Scl 為致能狀態(tài)時，則導(dǎo)通晶體管353，截止晶體管354。因此，發(fā)光組件355會被 點亮，表示驅(qū)動電壓Sp為異常狀態(tài)。當(dāng)控制信號Scl為失能狀態(tài)時，則導(dǎo)通晶 體管354，截止晶體管353。因此，發(fā)光組件356會被點亮，表示驅(qū)動電壓Sp 為正常狀態(tài)。
本發(fā)明的測試板22除了可測試主板的驅(qū)動電壓，亦可測試主板的驅(qū)動信號。 為了測試驅(qū)動信號，測試板22更包括，邏輯單元37以及發(fā)光組件38。邏輯單 元37接收驅(qū)動電壓Sp及驅(qū)動信號Ss，并輸出控制信號Sc2，當(dāng)主板產(chǎn)生驅(qū)動 電壓Sp并且驅(qū)動信號Ss為致能狀態(tài)時，則控制信號Sc2為致能狀態(tài)。在本實 施例中，邏輯單元37是為一AND閘。
當(dāng)控制信號Sc2為致能狀態(tài)時，則點亮發(fā)光單元38。在本實施例中，發(fā)光 單元38是為一發(fā)光二極管381。發(fā)光二極管381的陽極耦接AND閘的輸出端， 其陰極耦接一低電壓位準(zhǔn)。
當(dāng)發(fā)光單元38被點亮?xí)r，表示主板21已產(chǎn)生驅(qū)動電壓Sp以及驅(qū)動信號Ss。 然而當(dāng)發(fā)光單元38未被點亮?xí)r，則表示主板21未產(chǎn)生驅(qū)動電壓Sp或驅(qū)動信號 Ss。因此，需再判斷發(fā)光單元35所呈現(xiàn)的顏色。若發(fā)光單元35呈現(xiàn)綠色時， 則表示主板21已產(chǎn)生驅(qū)動電壓Sp，但未產(chǎn)生驅(qū)動信號Ss，因而可判斷出主板 21未產(chǎn)生正確地驅(qū)動電壓Sp。
另外，當(dāng)多個邏輯單元37與發(fā)光單元38串聯(lián)時，則可測量多組驅(qū)動信號, 并判斷其產(chǎn)生的先后順序是否正確。因此，本發(fā)明的測試板可測量主板所產(chǎn)生 的電壓及信號，故可節(jié)省測量主板的時間，提高效率。
權(quán)利要求
1.一種測試板，用以測試一主板所產(chǎn)生的一驅(qū)動電壓，該測試板，其特征在于包括一第一分壓單元，用以提供一上限電壓；一第二分壓單元，用以提供一下限電壓，且該下限電壓小于該上限電壓；一第三分壓單元用以將該驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換成一預(yù)設(shè)電壓；一比較單元，用以將該上限電壓和該下限電壓與該預(yù)設(shè)電壓比較并且輸出一第一控制信號，當(dāng)該預(yù)設(shè)電壓大于該上限電壓及該預(yù)設(shè)電壓小于該下限電壓時，則該第一控制信號為致能狀態(tài)；一第一發(fā)光單元，當(dāng)該第一控制信號為致能狀態(tài)時，則該第一發(fā)光單元顯示一第一顏色。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試板，其特征在于該預(yù)設(shè)電壓小于該上 限電壓且大于該下限電壓時，則該第一控制信號為禁能狀態(tài)。
3. 根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種測試板，其特征在于當(dāng)該第一控制信號為 禁能狀態(tài)時，則該第一發(fā)光單元顯示一第二顏色。
4. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試板，其特征在于該第一、第二及第三 分壓單元均是由電阻所組成。
5. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試板，其特征在于該比較單元，包括 一第一比較器，用以比較該上限電壓及該預(yù)設(shè)電壓； 一第二比較器，用以比較該下限電壓及該預(yù)設(shè)電壓；一邏輯電路，分別接收該第一比較器和該第二比較器的輸出，當(dāng)該預(yù)設(shè)電 壓大于該上限電壓或是該預(yù)設(shè)電壓小于該下限電壓時，則輸出上述第一控制信 號為致能狀態(tài)，當(dāng)該預(yù)設(shè)電壓小于該上限電壓并大于該下限電壓時，則上述第 一控制信號為失能狀態(tài)。
6. 根據(jù)權(quán)利要求5所述的一種測試板，其特征在于該邏輯電路是為一OR閘。
7. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種測試板，其特征在于更包括 一邏輯單元，接收該驅(qū)動電壓及該主板的一驅(qū)動信號，并輸出一第二控制信號，當(dāng)該主板產(chǎn)生該驅(qū)動電壓并且該驅(qū)動信號為致能狀態(tài)時，則該第二控制 信號為致能狀態(tài)；以及一 一第二發(fā)光單元，當(dāng)該第二控制信號為致能狀態(tài)時，則點亮該第二發(fā)光單 元。
8. 根據(jù)權(quán)利要求7所述的一種測試板，其特征在于該邏輯單元是為一AND閘。
9. 根據(jù)權(quán)利要求8所述的一種測試板，其特征在于該第二發(fā)光單元是為一發(fā)光二極管，其陽極耦接該AND閘的輸出端，其陰極耦接一低電壓位準(zhǔn)。
10. —種測試系統(tǒng)，其特征在于包括一主板，用以產(chǎn)生一驅(qū)動電壓以及一驅(qū)動信號；一測試板，包括一第一分壓單元，用以提供一上限電壓；一第二分壓單元，用以提供一下限電壓，且該下限電壓小于該上限電壓；一第三分壓單元，用以將該驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換成一預(yù)設(shè)電壓；一比較單元，用以將該上限電壓和該下限電壓與該預(yù)設(shè)電壓比較并且輸出一第一控制信號，當(dāng)該預(yù)設(shè)電壓大于該上限電壓或該預(yù)設(shè)電壓小于該下限電位時，則該第一控制信號為致能狀態(tài)；一第一發(fā)光單元，當(dāng)該第一控制信號為致能狀態(tài)時，則該第一發(fā)光單元顯示一第一顏色。
11. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的一種測試系統(tǒng)，其特征在于該預(yù)設(shè)電壓小于 該上限電壓且大于該下限電壓時，則該第一控制信號為禁能狀態(tài)。
12. 根據(jù)權(quán)利要求ll所述的一種測試系統(tǒng)，其特征在于當(dāng)該第一控制信號為禁能狀態(tài)時，則該第一發(fā)光單元顯示一第二顏色。
13. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的一種測試系統(tǒng)，其特征在于該第一、第二及第三分壓單元均是由電阻所組成。
14. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的一種測試系統(tǒng)，其特征在于該比較單元，包括一第一比較器，用以比較該上限電壓及該預(yù)設(shè)電壓； 一第二比較器，用以比較該下限電壓及該預(yù)設(shè)電壓；一邏輯電路，分別接收該第一比較器和該第二比較器的輸出，當(dāng)該預(yù)設(shè)電 壓大于該上限電壓或是該預(yù)設(shè)電壓小于該下限電壓時，則上述第一控制信號為 致能狀態(tài)，當(dāng)該預(yù)設(shè)電壓小于該上限電壓并大于該下限電壓時，則上述第一控 制信號為失能狀態(tài)。
15. 根據(jù)權(quán)利要求14所述的一種測試系統(tǒng)，其特征在于該邏輯電路是為一 0R閘。
16. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的一種測試系統(tǒng)，其特征在于該測試板更包括:一邏輯單元，接收該驅(qū)動電壓及該驅(qū)動信號，并輸出一第二控制信號，當(dāng) 該主板產(chǎn)生該驅(qū)動電壓并且該驅(qū)動信號為致能狀態(tài)時，則該第二控制信號為致能狀態(tài)；一第二發(fā)光單元，當(dāng)該第二控制信號為致能狀態(tài)時，則點亮該第二發(fā)光單元。
17. 根據(jù)權(quán)利要求16所述的一種測試系統(tǒng)，其特征在于該邏輯單元是為 一 AND閘。
18. 根據(jù)權(quán)利要求17所述的一種測試系統(tǒng)，其特征在于該第二發(fā)光單元是為一發(fā)光二極管，其陽極耦接該AND閘的輸出端，其陰極耦接一低電壓位準(zhǔn)。
19. 根據(jù)權(quán)利要求10所述的一種測試系統(tǒng)，其特征在于該主板更包括連接接口，用以插入該測試板。
全文摘要
本發(fā)明揭示了一種測試板，用以測試一主板所產(chǎn)生的一驅(qū)動電壓，其包括，第一、第二及第三分壓單元、比較單元以及第一發(fā)光單元。第一分壓單元提供一上限電壓。第二分壓單元提供一下限電壓。下限電壓小于上限電壓。第三分壓單元將驅(qū)動電壓轉(zhuǎn)換成預(yù)設(shè)電壓。比較單元將上限電壓和下限電壓與預(yù)設(shè)電壓比較并且輸出一第一控制信號。當(dāng)預(yù)設(shè)電壓大于上限電壓或是小于下限電壓時，則第一控制信號為致能狀態(tài)。當(dāng)?shù)谝豢刂菩盘枮橹履軤顟B(tài)時，則第一發(fā)光單元顯示第一顏色。
文檔編號G06F11/267GK101174235SQ200610123158
公開日2008年5月7日 申請日期2006年10月31日 優(yōu)先權(quán)日2006年10月31日
發(fā)明者林永昌 申請人:佛山市順德區(qū)順達(dá)電腦廠有限公司;神基科技股份有限公司