專利名稱：用于測試電路的方法
在電路、尤其集成電子半導體電路或者半導體芯片被生產之前，就已經對其功能性進行了測試，以便避免制造出有故障的電路或者芯片。
在電路中，故障或者缺陷例如可能在于，太高的電壓或者具有錯誤極性的電壓被施加到電路的單個器件上。在此允許哪些最大電壓被施加在器件上另外取決于各個器件類型；例如“薄氧化物”場效應晶體管上的最大允許電壓小于“厚氧化物”場效應晶體管上的最大允許電壓。
另外，應該考慮的是，在復雜電路、也即例如具有不同無源和有源器件(電阻、晶體管等)的網絡中，器件上的電壓電勢依賴于各個前置器件的開關狀態。因此，也必須考慮這些器件的開關狀態。
為了檢查電路，通常進行電路仿真，其中電路的電特性被仿真。雖然電路仿真有利于識別電路設計中的薄弱環節，但是電路仿真具有以下缺點，即僅僅針對于分別預先確定的激勵向量或者預先確定的一組輸入電壓或者其他參數(例如電流、溫度等)來檢查電路特性。因此，只有當激勵向量或者參數組以如此的方式來要求電路以致于出現并且可識別出在電路中所包含的故障時，才能找出故障。詳細的或者詳盡的電路仿真的另一缺點在于相當大的計算時間。
本發明的任務是，給出一種用于檢查電路的方法，其中不需要詳盡的電路仿真，并且盡管這樣，電路故障仍被可靠地識別。
按照本發明，該任務通過具有按照權利要求1所述的特征的方法來解決。本發明有利的改進方案在從屬權利要求中給出。
因此，按照本發明提供了一種用于產生測試信號的方法，該測試信號說明了在電路中可能出現或者出現一個預先規定的、至少通過電狀態量定義的電路狀態。在本發明方法中，就器件的每個端子對而言，電路的所有電器件都被單獨地作為短路或者不導通處理。在器件僅僅具有兩個端子或者連接引腳的情況下，器件僅僅被處理為短路的或者不導通的。在具有多個端子的器件中，在所有可能的端子對之間的連接線路被定義因此，例如在具有三個端子A1、A2和A3的器件(例如晶體管)中，應分別為端子A1-A2、A1-A3以及A2-A3之間的連接確定連接線路應該被處理為短路的還是不導通的。也即在三個端子時需要三次確定。因此相應地在具有四個端子A1、A2、A3和A4的器件(例如具有襯底端子的MOS晶體管、晶閘管)中，分別為端子A1-A2、A1-A3、A1-A4、A2-A3、A2-A4和A3-A4之間的連接確定連接線路應該被處理為短路的還是不導通的。也即在四個端子時需要六次確定。電狀態量被分配給、例如在構成為所謂的“停止網絡”情況下被固定地(或者僅僅)分配給電路的至少一個網絡節點或者一個連接引腳。隨后，除了具有被固定地(或者僅僅)分配的電狀態量的網絡節點或者連接引腳之外(也即除了停止網絡之外)，以下的網絡節點和連接引腳的所有電狀態量都被分配給每個網絡節點和每個連接引腳，即在該網絡節點或者連接引腳上經由要被作為短路處理的器件或者器件端子對而被連接了相應的網絡節點或者相應的連接引腳。隨后，在考慮被分配的狀態量的情況下，測試是否可能出現預先確定的狀態量。在此，本發明的一個基本方面在于，兩個或者多個狀態量能夠被分配給單個網絡節點。
本發明方法的基本優點在于，該方法能夠被非常快速地執行。這是由于不進行詳盡的或者完全的電路電仿真。取而代之，執行靜態的“分配方法”，其中關于電路網絡特性的被固定分配的狀態量被靜態地“傳播”或者復制。通過網絡特性的這種分配或者復制或者“傳播”，本發明方法可被非常快速地執行。
本發明方法的另一基本優點在于，故障發現率(也即識別故障的概率)約為100％。其原因在于，故障識別不依賴于預先確定的激勵向量地被執行。
在該方法中，例如電壓電勢或者邏輯狀態可以被考慮作為電狀態量。
優選地，至少一個預先確定的晶體管類型的所有晶體管就其開關線路而言被處理為短路的。在此，概念“開關線路”在場效應晶體管時被理解為源極-漏極線路，在雙極性晶體管時被理解為發射極-集電極線路。本發明的優選擴展方案利用以下認識，即在晶體管中總是應希望開關線路是能夠被完全接通的，并且從而施加在開關線路兩端的狀態量輕易地越過該開關線路被傳輸或者“傳遞”。
優選地，所有晶體管就其開關線路而言被處理為短路的。
就電路的電阻而言，如果所有電阻都被處理為短路的，則被認為是有利的。也可以使該方法如下進行改進，并且進一步與技術事實相匹配，即僅僅具有小于預先確定的極限值(例如500Ohm或者1000Ohm)的電阻被處理為短路的，而具有大于該預先確定的極限值的電阻值的所有電阻都被處理為不導通的。
在此當然必須考慮，在錯誤地選擇了極限值時，所有電路故障不再被可靠地識別。在本方法的這種改進方案中考慮，低歐姆電阻將在其一個端子處所施加的電壓電勢幾乎“無損耗地”傳送給其另一端子，而高歐姆電阻引起明顯的電壓降，該電壓降導致，在電阻的兩個端子處的電壓電勢可能明顯不同。因此，在高歐姆電阻時，通常不能實現網絡特性的傳播或者復制。
根據要測試的電路，如果至少一個預先確定的網絡節點或者至少一個預先確定的連接引腳達到或者小于或者超過一個預先確定的極限電壓電勢或者達到一個預先確定的邏輯狀態，則例如測試信號可以被產生。
可選地或者附加地，如果在至少一個預先確定的電路器件處施加有一個電壓，而該電壓達到或者小于/超過為該器件所預先確定的極限電壓，則測試信號也可以被產生。
另外，如果在預先確定的器件組或者預先確定的器件類型的至少一個器件處施加有一個電壓，而該電壓達到或者小于/超過為該器件組或者該器件類型所預先確定的極限電壓，則例如測試信號也可以被產生。
為了能夠特別簡單地分析可能被產生的測試信號，如果一個信號作為測試信號被產生，而該信號標識了預先確定的器件組或者預先確定的器件類型的達到或者小于/超過預先確定的極限電壓的所有器件，則被認為是有利的。這種測試信號能夠同時定位故障或定位有故障的器件。
可以特別簡單并從而有利地例如借助于數據處理裝置執行該方法，其中電路的電路結構例如作為一個所謂的網絡列表被輸入到所述的數據處理裝置中。
另外，本發明的任務在于，給出一種用于檢查電路的設備，其中不需要詳盡的電氣電路仿真，并且盡管這樣，電路故障仍被可靠地識別。
按照本發明，該任務通過具有權利要求11所述的特征的設備來解決。本發明設備的有利改進方案在從屬權利要求中給出。
關于本發明設備的優點，結合本發明方法參考上述實施方案。
本發明設備可以涉及微處理器設備或者DV裝置，其被如此編程，使得其執行本發明方法。
另外，本發明的任務在于，給出一種數據載體，該數據載體對程序進行定義，該程序能夠借助于數據處理裝置執行用于檢查電路的方法。在該方法中，應該不需要詳盡的電氣電路仿真，并且盡管這樣，電路故障應該能夠被可靠地識別。
按照本發明，該任務通過具有權利要求13所述的特征的數據載體來解決。
關于本發明數據載體的優點，結合本發明方法參考上述實施方案。
示例地，下面根據三個電路來描述本發明。
圖1和2示出第一電路，圖3示出第二電路，和圖4和5示出第三電路。
在圖1中示出了五個MOS晶體管NMOS1、NMOS2、NMOS3、NMOS4和NMOS5。在此，晶體管NMOS5的開關線路端子(也即源極端子或者漏極端子)被連接到具有標記P2的網絡節點或者網絡上。晶體管NMOS5的另一端子與網絡B相連接，晶體管NMOS4的開關線路端子也與該網絡B相連。晶體管NOMS4的另一開關線路端子與晶體管NMOS2的一個開關線路端子相連，以及與網絡A相連。晶體管NMOS2的另一開關線路端子與晶體管NMOS1的一個開關線路端子相連接，以及與網絡P1相連接。晶體管NOMS1的另一開關線路端子與晶體管NMOS3的一個開關線路端子電連接，以及與網絡C電連接。晶體管NMOS3的另一開關線路端子構成為網絡D。
一個電狀態量分別被固定地分配給兩個網絡或者網絡節點P1和P2，具體地說，供電電壓VDD被分配給網絡P1，而接地電勢VSS被分配給網絡P2。
另外，五個晶體管NMOS1至NOMS5都被處理為短路的。為兩個網絡P1和P2固定地分配電狀態量以及將晶體管NMOS1至NOMS5處理為短路的，例如可以通過以下的編程指令來實現<pre listing-type="program-listing"><![CDATA[ercDefines( defPins( pin "VSS"="P2" pin "VDD"="P1" ) shortDevices( short "MOS" excludingPinTypes "VSS" "VDD" ))]]></pre>通過將五個晶體管NOMS1至NOMS5都被處理為短路的，現在可以將兩個網絡P1和P2處的電壓電勢VDD和VSS分配給所有那些經由所述晶體管與網絡P1和P2相連的網絡。
但是，在此需要考慮，兩個網絡P1和P2具有被固定分配的電勢、也即具有電勢VDD和VSS，因此這兩個網絡P1和P2應被理解為所謂的“停止網絡(stop network)”。
這表示，網絡P2處的電勢VSS經由要被處理為短路的晶體管NMOS5到達或者被“傳播”到網絡B，且經由要被處理為短路的晶體管NMOS4到達或者被“傳播”到網絡A。因此，電勢VSS分別被分配給兩個網絡A和B。相應地，網絡P1的電勢VDD經由要被處理為短路的晶體管NOMS2到達網絡A，且經由要被處理為短路的晶體管NMOS4到達網絡B。因此，兩個電勢VSS和BDD分別被分配給兩個網絡A和B。
但是，如在圖2中可以看出，不把電勢VDD分配給網絡P2，同樣不把電勢VSS分配給電勢P1。其原因在于，兩個網絡P1和P2構成為“停止網絡”，其中一個電狀態量被固定地分配給所述“停止網絡”。如上所述，在根據圖1和2的例子中，電勢VDD被固定地分配給了網絡P1，而電勢VSS被固定地分配給了網絡P2。
相應地，現在電勢VDD經由被處理為短路的晶體管NMOS1被分配給網絡C。因為晶體管NMOS3也應被處理為短路的，因此電勢VDD也可以或者必須被分配給網絡D。
因此，如在圖2中所示的那樣，結果形成電壓電勢的一種分配。這表示，電勢VSS和VDD分別被分配給了兩個網絡A和B，且電勢VDD分別被分配給了兩個網絡C和D。因為兩個網絡P1和P2是停止網絡，所以這兩個網絡P1和P2保持被固定分配給它們的電勢VDD或者VSS。也即有P1VDDP2VSSAVDD、VSSBVDD、VSSCVDDDVDD現在，按照圖1和2的電路可以被如下檢查，看是否達到一個預先確定的、至少通過電狀態量定義的電路狀態。這將通過例子來說明，其中針對以下所有那些節點輸出測試信號，即所述那些節點不具有到電勢VDD的連接或者不具有到電勢VSS的連接。相應的詢問可以用編程語言表述為ercRules(reportNet(pinTypescondition count "VSS" "VDD"<=1title "No path to VDD or no path to VSS"))如從圖2中可以看出，網絡P1、P2、C和D被報告。因為網絡P1和P2是停止網絡并且不能采用不同的電勢，所以網絡P1和P2被報告。因為網絡C和D不能采用電勢VSS，所以網絡C和D被報告。因此，產生一個測試信號。
例如另一測試詢問可以表述如下，即應該輸出以下所有網絡或者網絡節點，所述所有網絡或者網絡節點能夠處于電勢VSS。相應的尋找詢問或者測試詢問可以用編程語言表述為ercRules(reportNet(pinTypesconditionincluding "VSS"title "path to VSS"))測試詢問的結果將會是，網絡A和B以及P2能夠具有電勢VSS。如上所述，電勢P1不能具有電勢VSS，這是因為該電勢P1是停止網絡。相應地，兩個網絡C和D也不能具有電勢VSS，這是因為它們經由停止網絡P1僅僅被施加電勢VDD。
在圖3中示出了按照圖1和2所示的實施例的改變形式。在根據圖3的電路中，電勢VDD也被分配給了網絡P1，電勢VSS也被分配給了網絡P2。但是，不同于按照圖1和2所示的實施例，在此不涉及固定分配，所以兩個網絡P1和P2不構成為停止網絡。因此，除了先前所分配的電勢VDD或者VSS之外，還可以將另外的其他電勢分配給兩個網絡P1和P2。例如可以通過以下程序行來定義網絡的引腳占用或者引腳類型的限定以及短路ercDefines(defPins(pin "VSS"="P2"pin "VDD"="P1")shortDevices(short "MOS"))如果現在這里采用結合圖1和2所述的方法，則被分配給網絡P2的VSS經由被處理為短路的晶體管NMOS5到達網絡B，并從那里經由被處理為短路的晶體管NMOS4到達網絡A。另外，電勢VSS可以經由被處理為短路的晶體管NMOS2到達網絡P1，這是因為網絡P1不再構成為停止網絡。然后，電勢VSS從網絡P1經由晶體管NMOS1到達網絡C，并且從那里經由晶體管NMOS3到達網絡D。因此，電勢VSS可以被施加到所有網絡P1、P2、A、B、C和D上。
相應地，現在電勢VDD也被分配給網絡A、B、C和D(如上述實施例中所示)，并且另外經由晶體管NMOS5到達網絡P2，這是因為網絡P2同樣也不再構成為停止網絡。
因此，所有網絡可以分別具有兩個電勢VSS和VDD。也即有P1VDD、VSSP2VDD、VSSAVDD、VSSBVDD、VSSCVDD、VSSDVDD、VSS在圖4和5中示出了第三電路，借助于該第三電路下面同樣描述測試方法的執行。
在圖4中示出“小”n溝道MOS場效應晶體管NMOS SMALL，其利用其一個開關線路端子(源極端子)與網絡P5連接。在網絡P5上施加有電勢VSS。晶體管NOMS SMALL的柵極接在具有電勢VINT的P4上。晶體管NMOS SMALL的另一開關線路端子(漏極端子)與“小”p溝道MOS場效應晶體管PMOS SMALL的一個開關線路端子(漏極端子)相連接。晶體管PMOS SMALL的另一開關線路端子(源極端子)與網絡P2相連，在所述網絡P2上施加有電勢VINT。
晶體管PMOS SMALL的柵極端子經由電阻R與“大”p溝道MOS場效應晶體管PMOS BIG的一個開關線路端子相連，后者的另一開關線路端子與網絡P1相連接。晶體管PMOS BIG的柵極端子與網絡P3相連，該網絡P3施加有電勢VSS。
網絡P1、P2、P3、P4和P5是停止網絡，其只能具有被分配給它們的電勢。
電路的所有具有大于500Ω電阻值的電阻應該被看作是不導通的，而所有其他具有小于或者等于500Ω電阻值的電阻在理想情況或者無損耗情況下應是導通的。因此，電阻R被處理為短路的。
例如利用以下編程規則來實現為網絡P1、P2、P3、P4和P5相應地分配電勢以及定義器件的電特性<pre listing-type="program-listing"><![CDATA[ /*分配引腳類型和電壓*/ercDefines( defPins( pin"VSS" voltage 0 ="P5" "P3" pin"VINT"voltage 2.0="P2" "P4" pin"VPP" voltage 3.0="P1" ) /*定義用于傳遞電壓的器件和停止網絡*/ shortDevices( short "MOS" BIG short "MOS" SMALL short "RES" value＝＜500 excludingPinTypes "VPP" "VINT" "VSS" )]]></pre>現在應該如下檢查在圖4和5中所示的電路，看在小p溝道晶體管PMOS SMALL中是否可能出現過高的電壓。p溝道晶體管PMOS SMALL涉及一種晶體管，其中在柵極端子和源極端子或漏極端子之間不允許施加大于VINT的電壓。根據上述定義，電壓為VINT＝2伏特。
為了執行該測試，首先必須確定，哪些電勢或者狀態必須被分配給電路的哪些網絡節點或者哪些網絡。對此，如下地進行首先確定，網絡P2是停止網絡，因此該網絡P2只能具有電勢VINT。但是，電勢VINT可以經由晶體管PMOS SMALL到達網絡A，而所述晶體管PMOS SMALL就其開關線路或者其源極-漏極端子對而言應被處理為短路的。另外，也應將電勢VSS分配給網絡A，這是因為晶體管NMOS SMALL就其開關線路或者其源極-漏極端子對而言也應被處理為短路的。
網絡P1處的電勢VPP經由晶體管PMOS BIG到達網絡B，所述晶體管PMOS BIG就其開關線路或者其源極-漏極端子對而言應被處理為短路的。因為電阻R只具有電阻值R＝100Ω，所以按照上述規則，該電阻應被處理為短路的；因此，電勢VPP同樣也應被分配給網絡C，并且從而應被分配給晶體管PMOS SMALL的柵極端子。
因此，如在圖5所示的那樣形成電勢的分配。
因此需要確定，在網絡A處并且從而在晶體管PMOS SMALL的漏極端子處能夠出現電勢VSS和VINT，而在網絡C處并且從而在晶體管PMOS SMALL的柵極端子處能夠出現電勢VPP。
現在，應該如下檢查電路，看在“小”p溝道晶體管PMOS SMALL中是否施加有大于VINT的柵極-源極電壓或者柵極-漏極電壓。例如這種測試詢問如下所示<pre listing-type="program-listing"><![CDATA[/* 測試規則 */reportDevice( "MOS" models SMALL condition nodeVoltage(voltage "GATE" - voltage "SDRAIN" ＞"VINT") || nodeVoltage(voltage "SDRAIN" - voltage "GATE" ＞ "VINT") title "SMALL MOS,voltage difference Gate- Source/Drain/Substrate＞ VINT")]]></pre>根據該測試詢問來測試，是否具有“小”MOS場晶體管，在該“小”MOS場晶體管中在柵極端子和源極端子或漏極端子之間施加有一個超過電壓極限VINT＝2V的電壓。
可以從圖5中直接得出該測試詢問的解；因為在圖5中示出，在小p溝道晶體管PMOS SMALL的漏極端子和柵極端子之間能夠施加柵極-漏極電壓UgdUgd＝VPP-VSS＝3伏特，和Ugd＝VPP-VINT＝1伏特。
如果柵極端子施加有電勢VPP，則在柵極端子和漏極端子之間可以形成電壓差Ugd＝3V＞2V。從而，明顯超過預先確定的極限電壓或者最大電壓差Ugd＝VINT＝2V。
因此，作為所述測試詢問的結果，小p溝道晶體管PMOS SMALL將會被報告。因此，按照圖4和5所示的電路不具有足夠的規格。代替小p溝道晶體管PMOS SMALL，需要使用“大”p溝道晶體管PMOS BIG，這是因為在“大”類型的MOS晶體管中，柵極端子和源極端子或者柵極端子和漏極端子之間的電壓差VDD是不危急的。
取而代之，通過例如提高電阻R的電阻值也可能不同地改變按照圖4和5所示的電路。也即如果電阻R的電阻值具有大于500Ω的值，則電勢VPP經由該電阻R將會不能被“傳播”到小p溝道晶體管PMOSSMALL的柵極端子，因此在該晶體管處將不出現過電壓。于是，該晶體管將不被報告。
另外，所述測試方法也可以考慮電路的其他參數。因此，例如對于在晶體管處是否超過預先確定的極限電壓的詢問，另外可以與晶體管的幾何參數相關聯。例如，所有那些“小”p溝道晶體管可以借助于所述的測試方法被找出，在所述那些“小”p溝道晶體管中，在源極端子和漏極端子之間施加有大于VINT的電壓差，并且其柵極長度小于280nm。例如相應的測試詢問可以表述如下<pre listing-type="program-listing"><![CDATA[reportDevice( "MOS" models P_SMALL condition length＜280 && nodeVoltage(voltage "SDRAIN" ＞ "vint") && nodeVoltage(voltage "SOURCE" - voltage "DRAIN" ＞"vint")title "Small PMOS,length＜280,voltage SOURCE-DRAIN＞vint")]]></pre>因此，可以利用所述方法以非常簡單的方式實現電路的完全檢查，而不需要完全的電氣電路仿真。
總之，所述示例性方法具有以下特征1.特性或者電勢或電壓可以被分配給每個引腳或者網絡或網絡節點。例如電勢VINT或者1.8V可以被分配給引腳端子或者網絡。
2.電路的器件可以根據類型(例如晶體管模型、電阻值)被處理為“導通的”或者“不導通的”。
3.網絡或者網絡節點可以被如此定義，使得它們具有固定的電壓，并且從來不能采用其他值。這種網絡被稱為停止網絡。因此，經由所述停止網絡不允許將電壓或者其他特性“傳播”或者傳遞到其他網絡。
3.a)隨后，所有網絡特性經由所有導通元件、也即器件的要被處理為短路的器件端子對被復制或者被傳播。
4.在結束將電狀態量分配給電路的網絡之后，設計測試詢問，所述測試詢問利用上述定義對電路各個任意器件或者每個網絡或引腳的預先確定的特性進行檢查。例如測試詢問可以是“報告一些薄氧化物晶體管，其在柵極端子和源極端子之間的電壓大于VINT”(上述例子3)，或者“報告能夠采用VINT電勢的所有網絡”。同樣可以設計這樣的規則或者測試詢問，其中器件的其他參數(例如柵極長度或者其他幾何大小)被考慮(參見上面最后的一個例子)。
另外，測試規則也可以被組合，并且每個測試詢問的結果可以被繼續處理例如測試詢問可以是“形成所有n-MOS晶體管的所有柵極面積之和，其中所述所有n-MOS晶體管的柵極-襯底電壓位于供電電壓VPP和接地電壓(GND)之間”。
所述方法允許在平面電路以及層級電路或網絡列表中實現電路的測試。在此，電壓和/或其他網絡特性靜態地經由電路的器件被傳遞或者“傳播”。在此，經由“停止網絡”不傳送電壓或者網絡特性。
權利要求
1.用于產生測試信號的方法，所述測試信號說明了在電路中可能出現一個預先確定的、至少通過一個電狀態量定義的電路狀態，其中就器件的每個端子對而言，電路的所有電器件都被單獨地處理為短路的或不導通的，一個電狀態量被分配給或者在構成停止網絡的情況下被固定地分配給電路的至少一個網絡節點或者連接引腳，除了停止網絡之外，以下的網絡節點和連接引腳的所有電狀態量都被分配給每個網絡節點和每個連接引腳，即在該網絡節點或者連接引腳上經由要被作為短路處理的器件端子對而被連接了相應的網絡節點或者相應的連接引腳，和至少根據所分配的狀態量確定，是否可能出現預先確定的電路狀態。
2.按照權利要求1所述的方法，其特征在于，電壓電勢或者邏輯狀態被考慮作為電狀態量。
3.按照權利要求1或者2所述的方法，其特征在于，至少一種預先確定的晶體管類型的所有晶體管就其開關線路而言被處理為短路的。
4.按照權利要求1、2或者3所述的方法，其特征在于，具有小于預先確定的極限值的電阻值的所有電阻被處理為短路的，具有大于預先確定的極限值的電阻值的所有電阻被處理為不導通的。
5.按照上述權利要求之一所述的方法，其特征在于，對電路臨界的電路狀態被選擇為預先確定的電路狀態，對臨界的電路狀態、尤其對多個臨界的開關狀態執行所述方法。
6.按照上述權利要求之一所述的方法，其特征在于，如果至少一個預先確定的網絡節點或者至少一個預先確定的連接引腳達到或者小于/超過一個預先確定的極限電壓電勢、或者達到一個預先確定的邏輯狀態，則所述測試信號被產生。
7.按照上述權利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，如果在至少一個預先確定的電路器件上施加有一個電壓，而該電壓達到或者小于/超過一個為器件所預先確定的極限電壓，則所述測試信號被產生。
8.按照上述權利要求1至5之一所述的方法，其特征在于，如果在預先確定的器件組或者預先確定的器件類型的至少一個器件上施加有一個電壓，而該電壓達到或者小于/超過為該器件組或者該器件類型所預先確定的極限電壓，則所述測試信號被產生。
9.按照權利要求8所述的方法，其特征在于，作為所述測試信號產生一個信號，該信號標識了所述預先確定的器件組或者所述預先確定的器件類型的、達到或者小于/超過所述預先確定的極限電壓的所有器件。
10.按照上述權利要求之一所述的方法，其特征在于，所述方法借助于數據處理裝置被執行，其中電路的電路結構被輸入到所述數據處理裝置中。
11.用于產生測試信號的設備，所述測試信號說明了在電路中可能出現一個預先確定的、至少通過一個電狀態量定義的電路狀態，所述設備具有-存儲器，其中存儲有電路的所述電路結構，和-計算設備，其-就器件的每個端子對而言將電路的所有電器件單獨地處理為短路的或不導通的，-將一個電狀態量分配給或者在構成停止網絡的情況下固定地分配給電路的至少一個網絡節點或者一個連接引腳，-除了具有被固定分配的電狀態量的網絡節點和連接引腳之外，以下的網絡節點和連接引腳的所有電狀態量都被分配給每個網絡節點和每個連接引腳，即在該網絡節點或者連接引腳上經由要被作為短路處理的器件端子對而被連接了相應的網絡節點或者相應的連接引腳，和-至少根據所分配的狀態量確定，是否可能出現預先確定的電路狀態。
12.按照權利要求11所述的設備，其特征在于，所述計算設備將電壓電勢或者邏輯狀態考慮作為電狀態。
13.具有程序的數據載體，所述程序被如此設計，使得在安裝所述程序之后，數據處理裝置執行按照權利要求1至10之一所述的方法步驟。
全文摘要
本發明的任務是給出檢查電路的方法，其中不需要詳盡的電路仿真，但電路故障仍被可靠地識別。按照本發明，該任務通過用于產生測試信號的方法來解決，所述測試信號說明了在電路中可能出現預先確定的至少通過電狀態量定義的電路狀態，就器件的每個端子對而言，電路的所有電器件都被單獨地處理為短路的或不導通的，一電狀態量被固定分配給電路的至少一個網絡節點或者連接引腳，除了具有被固定分配的電狀態量的網絡節點和連接引腳之外，以下的網絡節點和連接引腳的所有電狀態量都被分配給每個網絡節點和每個連接引腳，即在該網絡節點或者連接引腳上經由要被作為短路處理的器件端子對而被連接了相應的網絡節點或者相應的連接引腳，并且至少借助于所分配的狀態量確定是否可能出現預先確定的電路狀態。
文檔編號G06F17/50GK1849606SQ200480026016
公開日2006年10月18日 申請日期2004年9月7日 優先權日2003年9月12日
發明者P·巴德, T·諾伊恩赫菲爾 申請人:英飛凌科技股份公司