專利名稱：圖形對照設備,圖形對照方法以及圖像對照程序的制作方法
技術領域：
本發明涉及圖像數據的對照。特別是，本發明涉及一種用于識別諸如指紋，掌紋以及字符之類的線條圖形的圖形對照設備，圖形對照方法以及圖形對照程序。
但是，上面提到的傳統技術存在著下述缺點。
JP-A No.56-024675，59-000778，59-024384，60-029875，04-033065，以及04-043470中描述的方法是一種檢測相應的特征點并基于相應特征點的數量進行識別的方法。由于這一原因，在特征點密集的地方形成特征點對是很容易的，而存在的一個問題就是如果在目標和/或模式中的特征點具有不同的密度，精確對照其結果是不可能的。
根據JP-A No.03-266187中描述的方法，那些以大量特征點與一個特定特征點相鄰的那些特征點對于處理特征點的密度較高的的情況是無效的。但是，根據這種方法，如果僅存在特征點的密度較高的位置，則存在著不能對其進行識別的問題。
根據本發明，提供了一種用于利用樣本圖形對照檢驗目標圖形的圖形對照設備，包括特征點對形成裝置，用于形成特征點對，每一特征點對由檢驗目標圖形中的特征點和彼此相對應的樣本圖形中的特征點構成，從表示檢驗目標圖形的特征的點中選擇由每個特征點對組成的檢驗目標圖形中的特征點，從表示樣本圖形的特征的點中選擇由每個特征點對組成的樣本圖形中的特征點；可能性計算裝置，用于計算任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量不小于檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量的可能性；相似性計算裝置，用于根據可能性計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性。
圖形對照設備可以進一步包括特征量計算裝置，用于計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征量；以及一致性計算裝置，用于根據檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量以及檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征量計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的一致性，其中可能性計算裝置計算任意圖形與樣本圖形之間的一致性不小于檢驗目標圖形與樣本圖形之間的一致性的可能性，而不計算任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量不小于檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量的可能性。
圖形對照設備可以進一步包括第二特征量計算裝置，用于計算樣本圖形和與樣本圖形相同的圖形之間的特征量；以及一致性計算裝置，用于根據樣本圖形和與樣本圖形相同的圖形之間的特征點對的數量以及樣本目標圖形和與樣本圖形相同的圖形之間的特征量來計算模式圖形和與樣本圖形相同的圖形之間的特征點對的一致性，其中相似性計算裝置用于根據任意圖形與樣本圖形之間的一致性不少于檢驗目標圖形與樣本圖形之間的一致性的可能性以及樣本圖形和與樣本圖形相同的圖形之間的一致性少于檢驗目標圖形與樣本圖形之間的一致性的可能性來計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性。
圖形對照設備可以進一步包括特征量計算裝置，用于計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的特征量的差；用于將檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量減少到數量差少于預定值的特征點對的數量的裝置；用于通過去除數量差不小于預定值的特征點對來減少任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量的裝置，其中可能性計算裝置計算任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的減少數量不少于檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的減少數量的可能性，而不計算任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量不少于檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量的可能性。
在圖形對照裝置中，數量差可以是構成特征點對的特征點之間的距離。
在圖形對照裝置中，至少可用指紋和掌紋中的一種作為檢驗目標圖形和樣本圖形。
根據本發明，利用被假定輸入的任意圖形與樣本圖形之間的特征點對是一致的可能性來計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性。就是說，如果在檢驗目標圖形與樣本圖形之間存在著許多相對應的特征點對，并且當用任意圖形作為目標時這種對應發生的可能性非常低，則確定檢驗目標圖形與樣本圖形相同的可能性非常大。因此，根據特定的標準能夠正確地識別檢驗目標圖形和樣本圖形，而不受檢驗目標圖形與樣本圖形的特征點對的密度的影響。
圖9是用于說明根據第三實施例進行相似性確定過程的一個實施例的流程圖；和
圖10是表示配備有記錄根據本發明的圖形對照程序的記錄媒體的一個實施例的結構方框圖。
圖1是表示根據本發明第一實施例的圖形對照設備的結構方框圖。
參照圖1，在本實施例中的圖形對照設備包括一個檢驗目標圖形輸入部分20，其輸入有關檢驗目標圖形的數據，它是將被對照的圖形，一個樣本圖形輸入部分30，其輸入有關樣本圖形數據，它是一個參考圖形，一個數據處理部分10，計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性，以及輸出處理結果的輸出部分40。
數據處理部分10包括將檢驗目標圖形的特征點與樣本圖形的對應特征點配對在一起的特征點對形成部分11，以及根據特征點對計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性的相似性確定部分12。下面描述數據處理部分10的相應組成部件的操作要點。
特征點對形成部分11對照從檢驗目標圖形輸入部分20輸入的檢驗目標圖形的特征點與從樣本圖形輸入部分30輸入的樣本圖形的特征點，并且找出對應的特征點。兩個圖形中的一對對應的特征點將被稱為特征點對。
相似性確定部分12根據任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量不少于先前通過特征點對形成部分11獲得的檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量的可能性來計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性。就是說，相似確定裝置12計算從假定要輸入的所有圖形中任意選擇的任意圖形的特征點數量不少于檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量的可能性，這些假定要輸入的圖形在特征點對形成部分11基于其確定成對數的閾值內與樣本圖形的特征點相一致。基于這一點來計算相似性。
輸出部分40輸出計算的相似性。
參照附圖詳細描述該實施例的操作。
圖2是用于說明根據第一實施例的圖形對照過程的流程圖。
首先，將有關檢驗目標圖形的特征點信息輸入到檢驗目標圖形輸入部分20，并且將作為要對照的圖形的樣本圖形的特征點信息輸入到樣本圖形輸入部分30(步驟201)。
為了輸入相應的圖形，可以使用例如有關輸入表明相應圖形的特征并被預先提取的特征點的信息的方法，或者輸入有關相應圖形的圖像數據，在檢驗目標圖形輸入部分20以及樣本圖形輸入部分30中提取有關特征點的信息，并且將其發送到數據處理部分10的方法。
如果將其應用到例如字符識別，可以利用將有關將被檢驗以便識別字符的圖像數據輸入到檢驗目標圖形輸入單元20并且將寄存在字典中的字符數據輸入到樣本圖形輸入部分30的方法。
如果將其應當到例如指紋識別，掌紋識別，可以將有關將被檢驗以便識別指紋或者掌紋的主人的指紋或掌紋的圖像數據輸入到檢驗目標圖形輸入部分20并且寄存在指紋數據庫或指紋數據庫中的指紋數據或掌紋數據輸入到樣本圖形輸入部分30。
可以看到，檢驗目標圖形輸入部分20可以輸入有關預先提取的檢驗目標圖形的特征點信息或者可以輸入檢驗目標圖形本身并且在檢驗目標圖形輸入部分20提取特征點信息。同樣，樣本圖形輸入部分30可以輸入有關預先提取的樣本圖形的特征點信息，或者可以輸入樣本圖形本身并且在樣本圖形輸入部分20提取特征點信息。
在此，檢驗目標圖形和樣本圖形的特征點可以是線段斷開的點(端點)，分支點(branch points)，交叉點(crossings)或者類似的點。此外，作為表示相應特征點的特征度的數據的特征量，可以使用諸如特征點的位置，切線的方向等之類的數據。另外，可以將有關連接線與鄰近線的曲率值的信息，鄰近特征點的排列，鄰近特征點之間交叉線的數量等信息加到特征量中。
特征點對形成部分11對照從檢驗目標圖形輸入部分20輸入的檢驗目標圖形的特征點信息與從樣本圖形輸入部分30輸入的樣本圖形的特征點信息，選擇將被認為是相同的特征點，并且形成特征點對數據(步驟202)。
通過在檢驗目標圖形重疊在樣本圖形上時計算特征點之間的位置差，判斷相應特征點之間的特征量的差是否在預定閾值內，使用有關位置差或相應特征量的差的數據作為預定函數的變量計算用于估計特征點的相似度的值，特征點對形成部分11可以執行關于其是否是相同特征點的判斷處理。
相似性判斷裝置12根據任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量不少于先前由特征點對形成部分11獲得的檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量的可能性來計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性(步驟203)。圖3是用于說明在步驟203執行的本實施例中的相似性判斷過程的一個實施例的流程圖。參照圖3，查閱有關檢驗目標圖形的特征點的數量(步驟203-1)。接下來，計算相對于任意圖形(假定是要輸入的任意圖形)的特征點對的數量不少于相對于檢驗目標圖形的特征點對的數量的可能性(步驟203-2)。根據該可能性計算相似性(步驟203-3)。在此，在步驟203-2中計算出來的可能性，即，與在確定它們成對的閾值內的樣本圖形的特征點一致的特征點的數量不少于在特征點形成部分11中形成的特征點對的數量的可能性可以用下面的方式計算。
在該例子中，只使用特征點中的位置差被用作形成特征點對的標準。作為例子，描述當檢驗目標圖形疊加在樣本圖形上并且它們之間的位置差不大于預定長度E時確定特征點對的方法。此外，假定樣本圖形的區域是S，檢驗目標圖形具有N1個特征點，樣本圖形具有N2個特征點并且它們之中的M個特征點形成了特征點對。現將其中任意排列N1個特征點的整個圖形被看作是假定要輸入的整個檢驗目標圖形。
從特征點任意排列的圖形中任意選擇的圖形的特定特征點的位置等于當它們任意排列時的位置。由于這一原因，就通過下面的等式1獲得在樣本圖形中任意排列的特定特征點相對于樣本圖形的特征點中的特定特征點具有不大于誤差E的可能性P0P0=πE2S---(1)]]>因此，當樣本圖形中的特征點足夠疏，并且與樣本圖形中的每個特征點具有不大于距離E的重疊區域小到可以忽略的時候，可以通過下面的等式2獲得特定特征點相對于樣本圖形的N2個特征點之一具有不大于誤差E的可能性。P1=N2·πE2S---(2)]]>此外，當N1足夠小并且不少于兩個任意排列的特征點與樣本圖形的相同特征點具有不大于距離E的距離的可能性小的可以忽略的時候，可以通過下面的等式3獲得在樣本圖形中任意排列的N1個特征點中的M1個特征點與樣本圖形的特征點具有不大于距離E的可能性P2(M1)。P2(M1)=N1CM1·P1M1·(1-P1·N1)(N1-M1)---(3)]]>因此，如果我們提供表示當N1個特征點在樣本圖形中任意排列時不少于M個特征點與樣本圖形的特征點不大于距離E的可能性，即當檢驗目標圖形的N1個特征點在樣本圖形中任意排列時，在檢驗目標圖形與樣本圖形之間存在不少于M個特征點對的可能性的P(M)，值則可以通過下面的等式4獲得P(M)。P(M)=Σi=MN1P2(i)---(4)]]>相似性判斷部分12可以使用1-P(M)作為檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性的值，或者使用值P(M)的值作為表示相似性的預定等式的變量。此外，可以執行當樣本圖形側被任意排列時使用與檢驗目標圖形一致性的可能性的方法，或者使用利用一個值和P(M)作為預定等式的變量獲得的值的方法。
此外，通過相似性確定部分12計算的相似性不局限于由上述實施例中描述的方法計算的值。如果存在另一個值可用于相似性的計算，利用P(M)獲得一個值并且將所獲得的值作為預定等式的變量。
當由于樣本圖形中的特征點足夠疏或者N1非常小而不能建立用于得到獲得P(M)的等式的每個假設時，則可根據該條件修改等式。此外，當使用除了位置以外的特征量，并且從一個可能的值中任意選擇每個特征量時，能夠將作為落入預定范圍內的可能性的特征量加到樣本中。
作為例子，考慮除樣本之外采用特征點的方向作為特征量的實施例。在這種情況下，每一個方向都是從0到2π(弧度)任意選擇的。當其差在“A(弧度)”內時，則確定其成對。就是說，當檢驗目標圖形的特征點與樣本圖形的特征點的方向在±A(弧度)的范圍內時，則確定其成對。因此，如果用于獲得可能性P1的等式2和等式3被修改成下面的等式5，并且將等式5帶入等式4，則可以類似地計算當檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對不少于M時的可能性。P1=N2·πE2S·2A2π---(5)]]>另外，從輸出部分40輸出相似性確定部分12計算的相似性(步驟204)。
如上所述，根據本實施例，能夠不依賴于輸入圖形的特征點的密度準確地識別圖形。
下面參照附圖詳細描述本發明的第二實施例。
圖4是表示根據第二實施例的圖形對照設備的結構方框圖。圖5是用于說明根據該本實施例的圖形對照過程的流程圖；如圖4和5所示，第二實施例與第一實施例的差別在于在數據處理部分10a中的相似性確定部分12a的功能。除了根據本實施例的步驟403中的相似性計算之外，圖形對照處理的過程與前面第一實施例中的相同，這里將不再描述。
在前面第一實施例的相似性計算(步驟203)中，根據任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量不少于先前由特征點對形成部分11獲得的檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量的可能性來計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性。
相反，在根據第二實施例在步驟403中的相似性計算過程中，不僅參考特征點對的數量，而且參考有關作為表示每個特征點對的特征度的值的特征量的數據計算相似性。就是說，根據在包括任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量和有關其特征量的數據時計算的一致性的值不小于根據先前由特征點對形成部分11獲得的檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量以及其特征量計算的一致性的值的可能性來計算相似性。
圖6是說明該實施例的步驟403中相似性確定處理的一個實施例的流程圖。參照圖6，首先，查閱相對于檢驗目標圖形的特征點對的數量和特征點對之間的特征量的差(步驟403-1)。接下來，根據特征點對的數量計算相對于任意圖形(假定要輸入的任意圖形)和相應特征點對之間的特征量的差的一致性不少于相對于檢驗目標圖形的一致性的可能性(步驟403-2)。根據該可能性計算相似性(步驟403-3)。
下面給出了計算根據任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量以及其特征量計算的一致性的值不少于根據檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量以及其特征量計算的一致性的值的可能性的方法的實例。
在該實例中，僅用特征點的位置差作為形成特征點對的標準。作為例子，下面將描述當檢驗目標圖形疊加在樣本圖形上并且它們的特征點之間的位置差不大于預定長度E時確定特征點對的方法。此外，假設樣本圖形的區域為S，檢驗目標圖形具有N1個特征點，樣本圖形具有N2個特征點，并且它們之中的M個特征點形成了特征點對。現在，將其中N1個特征點任意排列的所有圖形看作是假定要輸入的所有檢驗目標圖形。此外，假定M個特征點對之間的位置差表示為Ei(i＝1，…，M)。
在具有區域S的樣本圖形中任意排列的特定點被排列在與檢驗目標圖形的特征點之一的距離不大于位置差D的位置的可能性P2(D)可以通過下面的等式6而獲得。P2(D)=πD2S---(6)]]>另外，通過下面的等式7可以獲得這樣排列的特定點與樣本圖形的任意特征點的沒有不大于E的位置差的可能性P3。P3=1-πE2S·N2---(7)]]>通過下面的等式8可以獲得當N1個特征點在樣本圖形中任意排列時，彼此不同的M2個特征點對中的每一個具有不大于位置差Ei的可能性P4(M2)。P4(M2)=N2PM2·N1PM2·P3(N1-M2)·Πi=1M2P2(Ei)---(8)]]>在等式8中，假定當i不大于M時，Ei(其中i＝1，…，M)的值是由特征點對形成裝置形成的特征點對之間的位置差，并且如果i的值大于M，它是該位置的可允許的誤差“E”。通過這樣的定義，可以通過下面的等式9獲得與樣本圖形的N2個特征點的一部分相一致的任意排列的N1個特征點對中的特征點的數量不少于由特征點對形成裝置形成的M對的可能性P5。P5=Σi=MN1P4(i)---(9)]]>在使用除位置以外的特征量時，可以將它們加到樣本中作為當從可能的值中任意選擇時每一個特征量在預定范圍內的可能性。
上面描述的第二實施例除了第一實施例的效果以外，不僅可以利用特征點對的數量，而且可以利用關于特征點對之間的特征量的差的信息更嚴格地識別。
下面參考附圖詳細描述本發明的第三實施例。
圖7是表示根據第三實施例的圖形對照設備的結構方框圖。附圖8是說明根據該實施例的圖形對照過程的流程圖。
如圖7和8所示，第三實施例與前面每一個實施例的差別在于數據處理部分10b中的相似性確定部分12b的功能。由于除了本實施例的步驟604中的相似性計算外的圖形對照處理過程與前面第一實施例中的相似性計算過程相同，在此不再對其進行說明。
圖9是說明本實施例的步驟603中相似性確定處理的一個實施例的流程圖。參考圖9，首先，參考相對于檢驗目標圖形的特征點對的數量和特征點對之間的特征量的差(步驟603-1)。接下來，在參考預先獲得的可能性分布時獲得特征點的特征量一致，不少于相對于檢驗目標圖形的特征點對的可能性(步驟603-2)。根據該可能性計算相似性(步驟603-3)。下面更詳細地描述在該實施例的步驟603-2中計算可能性的過程。
在步驟603的相似性計算過程中，執行與第一和第二實施例中的每一個中的相似性計算過程(步驟203以及步驟403)相同的過程。
此后，獲得任意圖形與樣本圖形是一致的，且不少于由特征點對形成部分11預先獲得的檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量的可能性。另外，當檢驗目標圖形和樣本圖形是相同圖形時，獲得對應的特征點之間特征量的差的分布。利用該分布獲得當檢驗目標圖形與樣本圖形是相同圖形時，檢驗目標圖形僅與不多于由特征點對形成部分11形成的特征點對的那些特征點一致的可能性Pa。
利用作為預定等式的變量的Pn和Pa獲得的值被用作檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性。僅當考慮用特征點之間的位置差作為形成特征點對的標準，對應的特征點之間的位置差不小于F，檢驗目標圖形具有N1個特征點，和樣本圖形具有N2個特征點，它們中的M對形成特征點對，并且相應特征點對之間的位置差表示為Ei(其中i＝1，…，M)的可能性P6(F)時，例如，可由下面的等式10獲得與不比由特征點對形成部分11形成的特征點多的特征點一致的可能性Pa。Pa=Πi=1MP6(Ei)---(10)]]>如前面所述，根據第三實施例，除了前述的第一實施例的效果以外，當預先知道相同圖形的特征點的特征量分布時，使用用于識別的分布能夠準確地進行識別。
另外，也可以執行第二實施例與第三實施例中相似性計算處理的組合。
圖10是表示設置有記錄根據本發明的圖形對照程序的記錄介質的結構的一個實施例的示意圖。
該圖形對照程序被存儲在諸如磁盤或半導體存儲器之類的記錄介質90中。將圖形對照程序從存儲介質加載到作為計算機處理裝置的數據處理部分10c中，并通過控制數據處理部分10c的操作來實現且上述的相應功能。結果是，數據處理部分10c在圖形對照程序的控制下執行由第一，第二和第三實施例中的數據處理部分10，10a和10b中執行的處理。
雖然至此已參考包括優選實施例在內的實施例描述了本發明。然而，本發明并不局限于這些實施例，而是能夠在本發明的技術范圍內以各種改進的方式執行。
如上所述，根據本發明的圖形對照設備，可以不依賴于特征點的密度而使用估算標準，即要對比的檢驗目標圖形當其是從假定要輸入的所有圖形任意選擇的檢驗目標圖形時偶然一致的可能性來獲得相似性。因此，即使在輸入圖形的特征點的密度存在差別時也能準確地識別圖形。
權利要求
1.一種用于利用樣本圖形對照檢驗目標圖形的圖形對照設備，包括特征點對形成裝置，用于形成特征點對，每一特征點對由所述檢驗目標圖形中的特征點和彼此相對應的所述樣本圖形中的特征點構成，從表示所述檢驗目標圖形的特征的點中選擇由每個所述特征點對組成的所述檢驗目標圖形中的所述特征點，從表示所述樣本圖形的特征的點中選擇由每個所述特征點對組成的所述樣本圖形中的所述特征點；可能性計算裝置，用于計算任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的數量不小于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征點對的數量的可能性；相似性計算裝置，用于根據所述可能性計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的相似性。
2.根據權利要求1所述的圖形對照設備，其特征在于進一步包括特征量計算裝置，用于計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征量；和一致性計算裝置，用于根據所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量以及所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征量計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的一致性，其中所述可能性計算裝置計算所述任意圖形與所述樣本圖形之間的一致性不小于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述一致性的可能性，而不計算所述任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量不小于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征點對的所述數量的所述可能性。
3.根據權利要求2所述的圖形對照設備，其特征在于進一步包括第二特征量計算裝置，用于計算所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的圖形之間的特征量；和一致性計算裝置，用于根據所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的特征點對的所述數量以及所述樣本目標圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的所述特征量來計算所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的特征點對的一致性，其中所述相似性計算裝置用于根據所述任意圖形與所述樣本圖形之間的一致性不少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述一致性的所述可能性，以及所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的所述一致性少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述一致性的可能性來計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述相似性。
4.根據權利要求1所述的圖形對照設備，其特征在于進一步包括特征量計算裝置，用于計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的特征量的差；用于將所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量減少到所述數量差少于預定值的特征點對的數量的裝置；用于通過去除所述數量差不小于所述預定值的特征點對來減少所述任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量的裝置，和其中所述可能性計算裝置計算任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述減少數量不少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述減少數量的可能性，而不計算所述任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量不少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征點對的所述數量的所述可能性。
5.根據權利要求4所述的圖形對照設備，其特征在于所述數量差是構成所述特征點對的特征點之間的距離。
6.根據權利要求1至5中的任何一項所述的圖形對照設備，其特征在于至少用指紋和掌紋中的一種作為所述檢驗目標圖形和所述樣本圖形。
7.一種用于利用樣本圖形對照檢驗目標圖形的圖形對照步驟，包括特征點對形成步驟，用于形成特征點對，每一特征點對由所述檢驗目標圖形中的特征點和彼此相對應的所述樣本圖形中的特征點構成，從表示所述檢驗目標圖形的特征的點中選擇由每個所述特征點對組成的所述檢驗目標圖形中的所述特征點，從表示所述樣本圖形的特征的點中選擇由每個所述特征點對組成的所述樣本圖形中的所述特征點；可能性計算步驟，用于計算任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的數量不小于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征點對的數量的可能性；相似性計算步驟，用于根據所述可能性計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的相似性。
8.根據權利要求7所述的圖形對照方法，其特征在于進一步包括特征量計算步驟，用于計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征量；和一致性計算步驟，用于根據所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量以及所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征量計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的一致性，其中所述可能性計算步驟計算所述任意圖形與所述樣本圖形之間的一致性不小于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述一致性的可能性，而不計算所述任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量不小于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征點對的所述數量的所述可能性。
9.根據權利要求8所述的圖形對照方法，其特征在于進一步包括第二特征量計算步驟，用于計算所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的圖形之間的特征量；和一致性計算步驟，用于根據所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的特征點對的所述數量以及所述樣本目標圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的所述特征量來計算所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的特征點對的一致性，其中所述相似性計算步驟用于根據所述任意圖形與所述樣本圖形之間的一致性不少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述一致性的所述可能性，以及所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的所述一致性少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述一致性的可能性來計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述相似性。
10.根據權利要求7所述的圖形對照方法，其特征在于進一步包括特征量計算步驟，用于計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的特征量的差；用于將所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量減少到所述數量差少于預定值的特征點對的數量的步驟；用于通過去除所述數量差不小于所述預定值的特征點對來減少所述任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量的步驟，和其中所述可能性計算步驟計算任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述減少數量不少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述減少數量的可能性，而不計算所述任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量不少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征點對的所述數量的所述可能性。
11.根據權利要求10所述的圖形對照方法，其特征在于所述數量差是構成所述特征點對的特征點之間的距離。
12.根據權利要求7至11中的任何一項所述的圖形對照方法，其特征在于至少用指紋和掌紋中的一種作為所述檢驗目標圖形和所述樣本圖形。
13.一種上面記錄有計算機程序的記錄介質，所述計算機程序包括使計算機執行用于對照檢驗目標圖形與樣本圖形的圖形對照方法的指令，包括特征點對形成步驟，用于形成特征點對，每一特征點對由所述檢驗目標圖形中的特征點和彼此相對應的所述樣本圖形中的特征點構成，從表示所述檢驗目標圖形的特征的點中選擇由每個所述特征點對組成的所述檢驗目標圖形中的所述特征點，從表示所述樣本圖形的特征的點中選擇由每個所述特征點對組成的所述樣本圖形中的所述特征點；可能性計算步驟，用于計算任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的數量不小于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征點對的數量的可能性；相似性計算步驟，用于根據所述可能性計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的相似性。
14.根據權利要求13所述的記錄介質，其特征在于所述方法進一步包括特征量計算步驟，用于計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征量；和一致性計算步驟，用于根據所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量以及所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征量計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的一致性，其中所述可能性計算步驟計算所述任意圖形與所述樣本圖形之間的一致性不小于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述一致性的可能性，而不計算所述任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量不小于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征點對的所述數量的所述可能性。
15.根據權利要求14所述的記錄介質，其特征在于所述方法進一步包括第二特征量計算步驟，用于計算所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的圖形之間的特征量；和一致性計算步驟，用于根據所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的特征點對的所述數量以及所述樣本目標圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的所述特征量來計算所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的特征點對的一致性，其中所述相似性計算步驟用于根據所述任意圖形與所述樣本圖形之間的一致性不少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述一致性的所述可能性，以及所述樣本圖形和與所述樣本圖形相同的所述圖形之間的所述一致性少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述一致性的可能性來計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述相似性。
16.根據權利要求13所述的記錄介質，其特征在于所述方法進一步包括特征量計算步驟，用于計算所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的特征量的差；用于將所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量減少到所述數量差少于預定值的特征點對的數量的步驟；用于通過去除所述數量差不小于所述預定值的特征點對來減少所述任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量的步驟，和其中所述可能性計算步驟計算任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述減少數量不少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述減少數量的可能性，而不計算所述任意圖形與所述樣本圖形之間的特征點對的所述數量不少于所述檢驗目標圖形與所述樣本圖形之間的所述特征點對的所述數量的所述可能性。
17.根據權利要求16所述的記錄介質，其特征在于所述數量差是構成所述特征點對的特征點之間的距離。
18.根據權利要求13至17中的任何一項權利要求所述的記錄介質，其特征在于至少用指紋和掌紋中的一種作為所述檢驗目標圖形和所述樣本圖形。
全文摘要
圖形對照設備包括在特征點中的特征點對,這些特征點是表示作為要對比的圖形的檢驗目標圖形與作為參考圖形的樣本圖形的相應特征的部分,特征點對在所述檢驗目標圖形與所述的樣本圖形中互相對應,以及相似性確定部分,用于根據特征點對形成部分形成的特征點的對應性計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性,其中相似性確定部分根據任意圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量不少于先前由特征點對形成部分獲得的檢驗目標圖形與樣本圖形之間的特征點對的數量的可能性計算檢驗目標圖形與樣本圖形之間的相似性。
文檔編號G06T7/00GK1378177SQ0210815
公開日2002年11月6日 申請日期2002年3月28日 優先權日2001年3月28日
發明者門田啟 申請人:日本電氣株式會社