測試座的制作方法
【專利摘要】一種測試座，包括本體、第一導電部、第二導電部、第三導電部、第四導電部、第一導電線路及第二導電線路。本體具有探針插槽。探針插槽具有底部及側壁。第一導電部設置于探針插槽的底部，且用以于探針插入探針插槽時電性接觸于探針的末端電極。第二導電部設置于探針插槽的側壁，且用以于探針插入探針插槽時電性接觸于探針的側電極。第三導電部及第四導電部設置于本體的表面，且用以與待測裝置電性連接。第一導電線路設置于本體，且電性連接第一導電部及第三導電部。第二導電線路設置于本體，且電性連接第二導電部及第四導電部。
【專利說明】
測試座
技術領域
[0001]本實用新型涉及一種測試座，尤其涉及一種可使用探針測試待測裝置的測試座。
【背景技術】
[0002]隨著科技的日新月異，電子裝置日漸普及。電子裝置是藉由組裝各種電子元件及電路板而完成。電子元件可藉由焊接的方式組裝于電路板，例如于電子元件的接腳穿過電路板再以焊料焊接，或者電子元件的接腳放置于電路板上再以焊料焊接的表面安裝技術(surface mount technology)。
[0003]電子裝置于完成后，通常會對電子元件進行各種電性測試，以確認電子元件的組裝是否正確無誤，且確認電子元件本身的狀態是否完善或有所損傷。一般而言，會使用探針對電子元件進行測試。
[0004]然而，現今的電子元件的尺寸愈來愈小，其針腳或電性連接點的尺寸亦隨之變得更小。故測試人員于握取探針而對電子元件進行檢測時，常會誤觸非目標的針腳或電性連接點，除了可能導致檢測錯誤之外，還可能導致短路而損壞電子元件或探針本身。再者，因測試人員握持探針時的狀態可能不一致，使得探針觸碰電子元件的狀態亦可能不一致，導致檢測信號中可能含有噪聲或其他問題信號。
【實用新型內容】
[0005]有鑒于以上的問題，本實用新型的目的在于提出一種測試座，其可供探針測試待測裝置，且可避免探針因誤操作而導致錯誤測試結果。
[0006]為達上述目的，本實用新型提供一種測試座，用以供一探針測試一待測裝置，該探針具有一末端電極及一側電極，該測試座包括:
[0007]—本體，具有一探針插槽，該探針插槽具有一底部及一側壁，且該探針插槽用以供該探針插入；
[0008]—第一導電部，設置于該探針插槽的該底部，且該第一導電部用以于該探針插入該探針插槽時電性接觸于該末端電極；
[0009]—第二導電部，設置于該探針插槽的該側壁，且該第二導電部用以于該探針插入該探針插槽時電性接觸于該側電極；
[0010]—第三導電部及一第四導電部，設置于該本體的表面，且用以與該待測裝置電性連接；
[0011]—第一導電線路，設置于該本體，且電性連接該第一導電部及該第三導電部；以及
[0012]—第二導電線路，設置于該本體，且電性連接該第二導電部及該第四導電部。
[0013]上述的測試座，其中該本體包括彼此相連的一裝設部及一凸出部，該裝設部具有一第一面及一第二面，該凸出部自該第一面凸出，該探針插槽自該凸出部向該裝設部凹陷，該第三導電部及該第四導電部設置于該第二面。
[0014]上述的測試座，其中更包括一第五導電部及一第三導電線路，該第五導電部設置于該第一面，該第三導電線路設置于該本體，且將該第五導電部電性連接至該第三導電部及該第四導電部的其中一者。
[0015]上述的測試座，其中該第三導電線路設置于該本體的表面或埋設于該本體內。
[0016]上述的測試座，其中該第五導電部為插槽、針腳或連接片。
[0017]上述的測試座，其中更包括一第六導電部及一第四導電線路，該第六導電部設置于該第一面，該第四導電線路設置于該本體，且將該第六導電部電性連接至該第三導電部及該第四導電部的其中另一者。
[0018]上述的測試座，其中該第四導電線路設置于該本體的表面或埋設于該本體內。
[0019]上述的測試座，其中該第六導電部為插槽、針腳或連接片。
[0020]上述的測試座，其中更包括一第五導電部、一第六導電部及一第三導電線路，該第五導電部設置于該第一面，該第六導電部設置于該第二面，該第三導電線路設置于該本體且電性連接該第五導電部及該第六導電部。
[0021 ] 上述的測試座，其中該探針插槽包括一窄徑部及一寬徑部，該窄徑部相鄰該底部，該寬徑部與該窄徑部相連，該窄徑部的內徑小于該寬徑部的內徑且大于該探針的該末端電極的外徑，該寬徑部的內徑大于該探針的該側電極的外徑。
[0022]上述的測試座，其中該本體包括彼此相連的一定位結構及一裝設部，該定位結構圍繞一容置區，該容置區用以容置該待測裝置。
[0023]上述的測試座，其中該第三導電部及該第四導電部設置于該定位結構或位于該容置區的該裝設部。
[0024]根據本實用新型的測試座，藉由設置用以供探針插入的探針插槽，而可避免探針接觸于不應接觸的位置，亦可使探針與第一導電部及第二導電部電性接觸時的狀態趨于一致。此外，藉由第一導電線路電性連接第一導電部及第三導電部以及第二導電線路電性連接第二導電部及第四導電部，使得測試座的電性連接處于穩定的狀態。因此，可避免探針因誤操作而導致錯誤測試結果，且能夠減少因測試狀態差異所造成的測試誤差。
[0025]以下結合附圖和具體實施例對本實用新型進行詳細描述，但不作為對本實用新型的限定。
【附圖說明】
[0026]圖1繪示使用依照本實用新型的一實施例的測試座以探針對待測裝置進行測試的側視剖面示意圖；
[0027]圖2繪示使用依照本實用新型的另一實施例的測試座以探針對待測裝置進行測試的側視剖面示意圖；
[0028]圖3繪示使用依照本實用新型的另一實施例的測試座以探針對待測裝置進行測試的側視剖面示意圖；
[0029]圖4A繪示依照本實用新型的另一實施例的測試座及待測裝置的立體分解示意圖；
[0030]圖4B繪示圖4A所示的測試座及待測裝置的立體組合示意圖。
[0031]圖5A繪示依照本實用新型的另一實施例的測試座及待測裝置的立體分解示意圖；
[0032]圖5B繪示圖5A所示的測試座及待測裝置的立體組合示意圖。
[0033]其中，附圖標記
[0034]110、210、310、410、510 測試座
[0035]111、211、311、411 本體
[0036]llla、211a、311a、411a 裝設部
[0037]lllal、211al、311al、411al、511al 第一面
[0038]Illa2、211a2、311a2、411a2 第二面
[0039]lllb、211b、311b、411b 凸出部
[0040]1110、2110、3110、4110、5110 探針插槽
[0041]111U3111 底部
[0042]1112、2112 側壁
[0043]1113 窄徑部
[0044]1114 寬徑部
[0045]112U2121 第一導電部
[0046]1122、2122 第二導電部
[0047]1123、2123、3123 第三導電部
[0048]1124、2124、3124 第四導電部
[0049]113U2131第一導電線路
[0050]1132、2132 第二導電線路[0051 ]120、220、320 探針
[0052]121末端電極
[0053]122、222 側電極
[0054]130、230、330、430、530 待測裝置
[0055]131、231、431、531 電極
[0056]132、232 主體
[0057]140電路板
[0058]141 電極
[0059]211c、311c、411c、511c 定位結構
[0060]211cl、311cl 容置區[0061 ]2125、3125第五導電部
[0062]2126、3126第六導電部
[0063]2133、3133第三導電線路
[0064]2134、3134第四導電線路
[0065]251、252、351、352、451、452、551、552 外部導線
[0066]4121、4122、4123、4124、4125、4126 導電部
[0067]4127、4128、5121、5122、5123、5124 導電部
[0068]4131、4132、4133、4134 導電線路
【具體實施方式】
[0069]以下在實施方式中詳細敘述本實用新型的詳細特征以及優點，其內容足以使任何本領域中具通常知識者了解本實用新型的技術內容并據以實施，且根據本說明書所揭露的內容、權利要求范圍及附圖，任何本領域中具通常知識者可輕易地理解本實用新型相關的目的及優點。以下的實施例是進一步詳細說明本實用新型的觀點，但非以任何觀點限制本實用新型的范疇。此外，本案的附圖中的元件比例關系僅為示意以便于說明，而非用以限制本實用新型的范疇。
[0070]請參照圖1，繪示使用依照本實用新型的一實施例的測試座110以探針120對待測裝置130進行測試的側視剖面示意圖。測試座110用以供探針120測試待測裝置130。于本實施例中，測試座110包含本體111、第一導電部1121、第二導電部1122、第三導電部1123、第四導電部1124、第一導電線路1131及第二導電線路1132。
[0071]本體111的材質為絕緣材質。本體111包含彼此相連的裝設部Illa及凸出部111b。裝設部Illa具有相對的第一面Illal及第二面llla2。凸出部Illb自第一面Illal凸出。裝設部Illa的周圍尺寸可對應于待測裝置130的周圍尺寸。凸出部Illb的周圍尺寸可小于裝設部11 Ia的周圍尺寸，以節省本體111的用料。本體111具有探針插槽1110。探針插槽1110自凸出部Illb向裝設部Illa凹陷。
[0072]探針插槽1110具有底部1111、側壁1112且包含窄徑部1113及寬徑部1114。窄徑部1113相鄰底部1111。寬徑部1114與窄徑部1113相連。窄徑部1113的內徑小于寬徑部1114的內徑。第一導電部1121設置于探針插槽1110的底部1111。第二導電部1122設置于探針插槽1110的側壁1112位于寬徑部1114的位置。
[0073]探針插槽1110用以供探針120插入。探針120具有末端電極121及側電極122。于探針120插入探針插槽1110時，第一導電部1121可電性接觸于探針120的末端電極121，第二導電部1122可電性接觸于側電極122。
[0074]其中，窄徑部1113的內徑可略大于探針120的末端電極121的外徑，寬徑部1114的內徑可略大于探針120的側電極122的外徑。故每次于探針120插入探針插槽1110時，探針120相對于本體111的位置皆可趨于一致。藉此可增加使用探針120進行測試的穩定度，以提升測試結果的可信度。第二導電部1122可為具有彈性的導電彈片，而可于探針120插入探針插槽1110時令第二導電部1122穩定地抵靠于探針120的側電極122，以維持第二導電部1122及側電極122之間的電性接觸。
[0075]第三導電部1123及第四導電部1124設置于本體111的裝設部Illa的第二面llla2。第三導電部1123及第四導電部1124用以與待測裝置130電性連接。
[0076]其中，待測裝置130的電極131可分別電性連接至電路板140的電極141。圖1中的待測裝置130的電極131可為包覆待測裝置130的主體132的端部的類型，但不以此為限。電極131亦可為針腳型或其他類型。于進行測試時，可藉由焊料以焊接方式電性連接第三導電部1123與待測裝置130的電極131以及電性連接第四導電部1124與待測裝置130的電極131。藉此，可將測試座110裝設于待測裝置130。而測試結束后可再藉由解焊方式使測試座110與待測裝置130分離。但不以此為限。另外亦可藉由卡合元件或固定元件等方式將測試座110裝設于待測裝置130。
[0077]第一導電線路1131設置于本體111，且電性連接第一導電部1121及第三導電部1123。第二導電線路1132設置于本體111，且電性連接第二導電部1122及第四導電部1124。
[0078]因此，當欲測試于電路板140上的待測裝置130時，可先將測試座110裝設于待測裝置130，且使第三導電部1123電性連接于待測裝置130的其中一電極131，使第四導電部1124電性連接于待測裝置130的另一電極131。
[0079]接下來，可經由電路板140運作待測裝置130，再將探針120插入測試座110的探針插槽1110，以測試及量測待測裝置130狀態。或者，亦可先將探針120插入測試座110的本體111的探針插槽1110，再經由電路板140運作待測裝置130，此時可測試及量測待測裝置130自未運作至運作時的狀態。由于測試座110本身擁有固定的電性線路，且其探針插槽1110可避免探針120誤觸不應接觸的位置，因此可避免探針120受到外界人為因素而檢測到錯誤信號，進而提升測試的準確性。
[0080]另外，請參照圖2，繪示使用依照本新型的另一實施例的測試座210以探針220對待測裝置230進行測試的側視剖面示意圖。其中，圖2中的探針220可與圖1中的探針120相同，測試座210及待測裝置230可與圖1中的測試座110及待測裝置130相異。然而，測試座210與測試座110相同的部分，將省略其詳細的說明。
[0081 ]于圖2中，待測裝置230的電極231可為針腳型，且自待測裝置230的主體232的周圍向外延伸。
[0082]于本實施例中，測試座210除了包含本體211、第一導電部2121、第二導電部2122、第三導電部2123、第四導電部2124、第一導電線路2131及第二導電線路2132，亦包含第五導電部2125、第六導電部2126、第三導電線路2133及第四導電線路2134。
[0083]絕緣的本體211亦具有探針插槽2110，且包含彼此相連裝設部21 la、凸出部21 Ib及定位結構211c。裝設部211a具有相對的第一面211al及第二面211a2。凸出部211b自第一面211al凸出。定位結構211c設置于裝設部211a的第二面211a2的周圍且圍繞容置區211cl。容置區21 Icl用以容置待測裝置230的主體232。定位結構211c的形狀可為多個點狀、多個條狀、多個L狀、多個U狀、單框狀等各種形狀。
[0084]第二導電部2122可為環形的導電彈片，且設置于探針插槽2110的側壁2112，而可于探針220插入探針插槽2110時令第二導電部2122穩定地抵靠于探針220的側電極222，以維持二者之間的電性接觸。第三導電部2123及第四導電部2124可設置于定位結構211c。
[0085]第五導電部2125及第六導電部2126設置于本體211的裝設部211a的第一面211al。第五導電部2125及第六導電部2126可為連接片，但不限于此，亦可為插槽或針腳。另外，夕卜部導線251及外部導線252可分別焊接至第五導電部2125及第六導電部2126。外部導線251及外部導線252可提供待測裝置230運作電源或其他饋入信號。
[0086]第三導電線路2133及第四導電線路2134設置于本體211。其中，第三導電線路2133可電性連接第五導電部2125及第三導電部2123。第四導電線路2134可電性連接第六導電部2126及第四導電部2124。第三導電線路2133及第四導電線路2134可設置于本體211的表面。第三導電線路2133及第四導電線路2134的體積可加大以增加其電流容許量。但不限于此，第三導電線路2133及第四導電線路2134亦可依需求埋設于本體211之內。
[0087]于進行測試時，可藉由焊料以焊接方式電性連接位于第三導電部2123的第三導電線路2133與待測裝置230的電極231，且可電性連接位于第四導電部2124的第四導電線路2134與待測裝置230的電極231。
[0088]再者，請參照圖3，繪示使用依照本新型的另一實施例的測試座310以探針320對待測裝置330進行測試的側視剖面示意圖。其中，圖3中的探針320及待測裝置330可分別與圖1中的探針120及待測裝置130相同，測試座310可與圖1中的測試座110及圖2中的測試座210相異。然而，測試座310與測試座110相同的部分或與測試座210相同的部分，將省略其詳細的說明。
[0089 ] 于圖3中的實施例中，測試座310的本體311的探針插槽3110自凸出部311b向裝設部311a凹陷，且延伸至裝設部311a，故探針插槽3110的底部3111可位于裝設部311a的第一面31 Ial及第二面31 la2之間。藉此可加深探針320插入探針插槽3110的深度，而可增加探針320的穩定度。
[0090]此外，第五導電部3125可為針腳，以供具夾頭的外部導線351以夾固方式電性連接。第六導電部3126可為插槽，以供具連接頭的外部導線352以插射方式電性連接。第五導電部3125及第六導電部3126的類型不限于此，而可依需求改變。
[0091]第三導電線路3133及第四導電線路3134亦可依需求埋設于本體311之內。
[0092]絕緣的本體211包含彼此相連裝設部311a、凸出部311b及定位結構311c。凸出部311b自裝設部311a的第一面311al凸出。定位結構311c設置于裝設部311a的第二面311a2的周圍且圍繞容置區311cl。容置區311cl用以容置待測裝置330。第三導電部3123及第四導電部3124設置于裝設部311a的第二面311a2位于容置區311cl的范圍內。
[0093]此外，請參照圖4A及圖4B，圖4A繪示依照本實用新型的另一實施例的測試座410及待測裝置430的立體分解示意圖，圖4B繪示圖4A所示的測試座410及待測裝置430的立體組合示意圖。其中，圖4A及圖4B中的待測裝置430可與圖2中的待測裝置230相似，但可具有八個針腳型的電極431。測試座410可與圖1中的測試座110、圖2中的測試座210及圖3中的測試座310相異。然而，測試座410與測試座110相同的部分、與測試座210相同的部分或與測試座310相同的部分，將省略其詳細的說明。
[0094]圖4A及圖4B中，測試座410的本體411包含彼此相連的裝設部411a、凸出部41Ib及定位結構411c。凸出部41 Ib凸出于裝設部41 Ia的第一面41 Ial。定位結構41 Ic位于裝設部411a的第二面411a2。測試座410可包含位于探針插槽4110的導電部4121及導電部4122，包含位于定位結構411c的導電部4123、多個導電部4124、多個導電部4125及導電部4126，且包含位于第一面411al的導電部4127及導電部4128。測試座410亦包含電性連接導電部4123及導電部4127的導電線路4133、電性連接導電部4124及導電部4121的導電線路4131、電性連接導電部4125及導電部4122的導電線路4132及電性連接導電部4126及導電部4128的導電線路4134。外部導線451及外部導線452可分別焊接至導電部4127及導電部4128。
[0095]此外，位于定位結構411c的導電部4123、多個導電部4124、多個導電部4125及導電部4126可分別電性連接至待測裝置430的針腳431，以將測試座410裝設于待測裝置430。
[0096]請參照圖5A及圖5B，圖5A繪示依照本實用新型的另一實施例的測試座510及待測裝置430的立體分解示意圖，圖5B繪示圖5A所示的測試座510及待測裝置530的立體組合示意圖。其中，圖5A及圖5B中的待測裝置530可與圖4A及圖4B中的待測裝置430相似。測試座510可與圖4A及圖4B中的測試座410相異。然而，測試座510與測試座410相同的部分，將省略其詳細的說明。
[0097]圖5A及圖5B中，測試座510可具有多個探針插槽5110。測試座510可包含位于探針插槽5110的導電部5121及導電部5122，包含位于定位結構511c的導電部5123，且包含位于第一面511al的導電部5124。導電部5123可分別電性連接至導電部5121、導電部5122及導電部5124。外部導線551及外部導線552可分別焊接至導電部5124。此外，位于定位結構511c的導電部5123可分別電性連接至待測裝置530的針腳型的電極531，以將測試座510裝設于待測裝置530。
[0098]綜上所述，本實用新型的測試座，藉由設置用以供探針插入的探針插槽，而可避免探針接觸于不應接觸的位置，亦可使探針與第一導電部及第二導電部電性接觸時的狀態趨于一致。此外，藉由第一導電線路電性連接第一導電部及第三導電部以及第二導電線路電性連接第二導電部及第四導電部，使得測試座的電性連接處于穩定的狀態。因此，可避免探針因誤操作而導致錯誤測試結果，且能夠減少因測試狀態差異所造成的測試誤差。
[0099]當然，本實用新型還可有其它多種實施例，在不背離本實用新型精神及其實質的情況下，熟悉本領域的技術人員當可根據本實用新型作出各種相應的改變和變形，但這些相應的改變和變形都應屬于本實用新型所附的權利要求的保護范圍。
【主權項】
1.一種測試座，用以供一探針測試一待測裝置，該探針具有一末端電極及一側電極，其特征在于，該測試座包括: 一本體，具有一探針插槽，該探針插槽具有一底部及一側壁，且該探針插槽用以供該探針插入； 一第一導電部，設置于該探針插槽的該底部，且該第一導電部用以于該探針插入該探針插槽時電性接觸于該末端電極； 一第二導電部，設置于該探針插槽的該側壁，且該第二導電部用以于該探針插入該探針插槽時電性接觸于該側電極； 一第三導電部及一第四導電部，設置于該本體的表面，且用以與該待測裝置電性連接； 一第一導電線路，設置于該本體，且電性連接該第一導電部及該第三導電部；以及 一第二導電線路，設置于該本體，且電性連接該第二導電部及該第四導電部。2.根據權利要求1所述的測試座，其特征在于，該本體包括彼此相連的一裝設部及一凸出部，該裝設部具有一第一面及一第二面，該凸出部自該第一面凸出，該探針插槽自該凸出部向該裝設部凹陷，該第三導電部及該第四導電部設置于該第二面。3.根據權利要求2所述的測試座，其特征在于，更包括一第五導電部及一第三導電線路，該第五導電部設置于該第一面，該第三導電線路設置于該本體，且將該第五導電部電性連接至該第三導電部及該第四導電部的其中一者。4.根據權利要求3所述的測試座，其特征在于，該第三導電線路設置于該本體的表面或埋設于該本體內。5.根據權利要求3所述的測試座，其特征在于，該第五導電部為插槽、針腳或連接片。6.根據權利要求3所述的測試座，其特征在于，更包括一第六導電部及一第四導電線路，該第六導電部設置于該第一面，該第四導電線路設置于該本體，且將該第六導電部電性連接至該第三導電部及該第四導電部的其中另一者。7.根據權利要求6所述的測試座，其特征在于，該第四導電線路設置于該本體的表面或埋設于該本體內。8.根據權利要求6所述的測試座，其特征在于，該第六導電部為插槽、針腳或連接片。9.根據權利要求2所述的測試座，其特征在于，更包括一第五導電部、一第六導電部及一第三導電線路，該第五導電部設置于該第一面，該第六導電部設置于該第二面，該第三導電線路設置于該本體且電性連接該第五導電部及該第六導電部。10.根據權利要求1所述的測試座，其特征在于，該探針插槽包括一窄徑部及一寬徑部，該窄徑部相鄰該底部，該寬徑部與該窄徑部相連，該窄徑部的內徑小于該寬徑部的內徑且大于該探針的該末端電極的外徑，該寬徑部的內徑大于該探針的該側電極的外徑。11.根據權利要求1所述的測試座，其特征在于，該本體包括彼此相連的一定位結構及一裝設部，該定位結構圍繞一容置區，該容置區用以容置該待測裝置。12.根據權利要求11所述的測試座，其特征在于，該第三導電部及該第四導電部設置于該定位結構或位于該容置區的該裝設部。
【文檔編號】G01R31/00GK205679709SQ201620597131
【公開日】2016年11月9日
【申請日】2016年6月17日 公開號201620597131.7, CN 201620597131, CN 205679709 U, CN 205679709U, CN-U-205679709, CN201620597131, CN201620597131.7, CN205679709 U, CN205679709U
【發明人】周世傑, 龔志祥
【申請人】精英電腦股份有限公司