基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置，包括光源、旋轉機構、保護鏡片以及光強傳感器，所述的光源安裝在旋轉機構上，所述的旋轉機構和光強傳感器分別設置在保護鏡片下方的兩側邊。通過上述方式，本實用新型的基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置，根據保護鏡片的污染程度，即可實時監督保護鏡片的工作狀況，為及時更換激光頭的保護鏡片提供了方便，提高了工業焊接質量。
【專利說明】
基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置
技術領域
[0001]本實用新型屬于激光鏡頭的技術領域，具體涉及一種基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置。【背景技術】
[0002]激光焊接加工中為防止飛濺損傷激光鏡頭，普遍采用加裝保護鏡片的方法，但長時間加工后保護鏡片會被飛濺污染，影響加工精度，需要定期更換鏡片，但是在激光釬焊領域不能檢測激光頭保護鏡片的使用狀況，從而導致工業焊接質量下降。【實用新型內容】
[0003]本實用新型主要解決的技術問題是提供一種基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置，根據保護鏡片的污染程度，即可實時監督保護鏡片的工作狀況，為及時更換激光頭的保護鏡片提供了方便，提高了工業焊接質量。
[0004]為解決上述技術問題，本實用新型采用的一個技術方案是:提供了一種基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置，包括光源、旋轉機構、保護鏡片以及光強傳感器，所述的光源安裝在旋轉機構上，所述的旋轉機構和光強傳感器分別設置在保護鏡片下方的兩側邊。
[0005]在本實用新型一個較佳實施例中，所述的光強傳感器的數量為多對。
[0006]在本實用新型一個較佳實施例中，所述的光強傳感器呈圓弧形陣列排布放置。
[0007]本實用新型的有益效果是:本實用新型的基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置，根據保護鏡片的污染程度，即可實時監督保護鏡片的工作狀況，為及時更換激光頭的保護鏡片提供了方便，提高了工業焊接質量。【附圖說明】
[0008]為了更清楚地說明本實用新型實施例中的技術方案，下面將對實施例描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其它的附圖，其中:
[0009]圖1是本實用新型基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置的一較佳實施例的結構示意圖；
[0010]圖2是本實用新型基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測的方法的一較佳實施例的流程圖；
[0011]附圖中的標記為:1、光源，2、旋轉機構，3、保護鏡片，4、光強傳感器。【具體實施方式】
[0012]下面將對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例僅是本實用新型的一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其它實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。[〇〇13]如圖1所示，本實用新型實施例包括:
[0014]—種基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置，包括光源1、旋轉機構2、保護鏡片3以及光強傳感器4,所述的光源1安裝在旋轉機構2上，所述的旋轉機構2和光強傳感器 4分別設置在保護鏡片3下方的兩側邊。
[0015]上述中，所述的光強傳感器4的數量為多對。其中，所述的光強傳感器4呈圓弧形陣列排布放置。
[0016]如圖2所示，一種基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測的方法，包括以下具體步驟:
[0017]a、通過安裝在旋轉機構2上的光源1對保護鏡片3進行掃描；
[0018]b、光源1在一定角度下發出一道光束入射在保護鏡片3表面，光源1的光束通過保護鏡片3產生反射光和散射光；[0〇19] c、反射光和散射光通過保護鏡片3折射至光強傳感器4;
[0020]d、光源的反射光和散射光由光強傳感器4進行探測，二者的比值將反映保護鏡片的污染程度。
[0021]綜上所述，本實用新型的基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置，根據保護鏡片的污染程度，即可實時監督保護鏡片的工作狀況，為及時更換激光頭的保護鏡片提供了方便，提高了工業焊接質量。
[0022]以上所述僅為本實用新型的實施例，并非因此限制本實用新型的專利范圍，凡是利用本實用新型說明書內容所作的等效結構或等效流程變換，或直接或間接運用在其它相關的技術領域，均同理包括在本實用新型的專利保護范圍內。
【主權項】
1.一種基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置，其特征在于，包括光源、旋轉機 構、保護鏡片以及光強傳感器，所述的光源安裝在旋轉機構上，所述的旋轉機構和光強傳感 器分別設置在保護鏡片下方的兩側邊。2.根據權利要求1所述的基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置，其特征在于， 所述的光強傳感器的數量為多對。3.根據權利要求2所述的基于光掃描的焊接激光頭保護鏡污染檢測裝置，其特征在于， 所述的光強傳感器呈圓弧形陣列排布放置。
【文檔編號】G01N21/94GK205656150SQ201620247735
【公開日】2016年10月19日
【申請日】2016年3月29日 公開號201620247735.9, CN 201620247735, CN 205656150 U, CN 205656150U, CN-U-205656150, CN201620247735, CN201620247735.9, CN205656150 U, CN205656150U
【發明人】時輪, 劉海江
【申請人】同高先進制造科技（太倉）有限公司, 同濟大學太倉高新技術研究院