測試裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型公開一種測試裝置，包括一輸送轉盤單元、多個測試轉盤單元以及多個電性組件。輸送轉盤單元沿著一方向旋轉以輸送多個電子元件。測試轉盤單元沿著所述方向旋轉以承接輸送轉盤單元輸送來的電子元件。每一測試轉盤單元包括多個工作站，且工作站分別具有不同的工作模式。電性組件分別電連接至測試轉盤單元。每一電性組件包括多組測試電線、一電性轉換接頭以及多組連接電線。這些組測試電線分別連接至工作站、沿著所述方向旋轉且通過旋轉而與電性轉換接頭電連接。這些組連接電線固定不動且通過電性轉換接頭分別電連接至這些組測試電線。
【專利說明】
測試裝置
技術領域
[0001]本實用新型涉及一種測試裝置，且特別是涉及一種可同時對多個電子元件連續進行不同功能測試的測試裝置。
【背景技術】
[0002]在現有的測試裝置中，每一組的測試排線會分別與每一個測試工作站電連接，且這些測試排線會集中且置放于排線保護架內，而此排線保護架是會跟著測試轉盤一起旋轉。當測試轉盤在承接主轉盤輸送過來的電子元件后，會沿著逆時鐘方向旋轉，以使電子元件至不同的工作站進行測試。但，當逆時鐘方向旋轉三個工作站之后，必須以順時鐘方向回轉至主轉盤，其目的在于避免跟著測試轉盤旋轉的測試排線打結或絞斷。因此，現有的測試裝置的設計除了要避免于旋轉的過程中測試排線打結或絞斷之外，還需要常常更換因扭曲而斷裂的測試排線。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型的目的在于提供一種測試裝置，可同時對多個電子元件連續進行不同功能的測試，可避免工作站有閑置狀態，從而縮短測試時間且可提高測試產能。
[0004]為達上述目的，本實用新型的測試裝置，其包括一輸送轉盤單元、多個測試轉盤單元以及多個電性組件。輸送轉盤單元沿著一方向旋轉以輸送多個電子元件。測試轉盤單元沿著所述方向旋轉以承接輸送轉盤單元輸送來的電子元件，其中每一測試轉盤單元包括多個工作站，且工作站分別具有不同的工作模式。電性組件分別電連接至測試轉盤單元。每一電性組件包括多組測試電線、一電性轉換接頭以及多組連接電線。這些組測試電線分別連接至工作站且沿著所述方向旋轉。這些組測試電線通過旋轉而與電性轉換接頭電連接。這些組連接電線固定不動且通過電性轉換接頭分別電連接至這些組測試電線。
[0005]在本實用新型的一實施例中，上述的每一電子元件包括一環境光感測器、一光電感測器或一光電二極管。
[0006]在本實用新型的一實施例中，上述的方向為一逆時鐘方向。
[0007]在本實用新型的一實施例中，上述的每一測試轉盤單元為一4分割測試轉盤單元。
[0008]在本實用新型的一實施例中，上述的工作站包括一個放料站以及三個測試工作站。
[0009]在本實用新型的一實施例中，上述的測試裝置還包括:多個測試模塊，配置于測試轉盤單元的周圍且固定不動。
[0010]在本實用新型的一實施例中，上述的測試模塊至少包括一灰卡測試模塊、一燈源測試模塊以及一玻璃測試模塊。
[0011]在本實用新型的一實施例中，上述的測試裝置還包括:一測試機，這些組連接電線電連接至測試機。
[0012]在本實用新型的一實施例中，上述的每一測試轉盤單元還包括:多條氣壓管路、一氣壓轉換接頭以及多條連接管路。氣壓管路分別連接至工作站且沿著所述方向旋轉。氣壓管路通過旋轉而與氣壓轉換接頭電連接。連接管路固定不動且通過氣壓轉換接頭分別電連接至氣壓管路。
[0013]在本實用新型的一實施例中，上述的測試裝置還包括多個真空表以及多個電磁閥。真空表分別連接至連接管路。電磁閥分別電連接連接管路，以獨立切換工作站的電壓。
[0014]本實用新型的優點在于，由于本實用新型的測試裝置具有電性組件，其中這些組測試電線會跟測試轉盤單元同方向旋轉，而這些組連接電線則固定不動且通過電性轉換接頭與這些組測試電線電連接。因此，相較于現有在將電子元件逆時鐘移動幾個工作站后需再以順時鐘方向回轉而將電子元件轉回主轉盤而言，本實用新型的測試裝置都是以同一方向旋轉且無需回轉，無需使用排線保護架且也不用擔心測試電線會因為扭曲而斷裂的問題，故可有效縮短測試時間且可提高測試產能。
[0015]為讓本實用新型的上述特征和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，并配合所附附圖作詳細說明如下。
【附圖說明】
[0016]圖1為本實用新型的一實施例的一種測試裝置的俯視示意圖；
[0017]圖2為圖1的測試裝置的一測試轉盤單元的立體示意圖；
[0018]圖3A至圖3E為圖2的測試轉盤單元旋轉時電子元件與工作站之間的相對位置的示意圖；
[0019]圖4為圖2的測試轉盤單元的側視示意圖。
[0020]符號說明
[0021]10、10a、10b、10c、1cU 1e:電子元件
[0022]100:測試裝置
[0023]110:輸送轉盤單元
[0024]120a、120b:測試轉盤單元
[0025]121a、121b、121c、121d:氣壓管路
[0026]122、124、126、128:工作站
[0027]丨23:氣壓轉換接頭
[0028]125a、125b、125c、125d:連接管路
[0029]130a、130b:電性組件
[0030]132a、132b、132c、132d:測試電線
[0031]134:電性轉換接頭
[0032]136a、136b、136c、136d:連接電線
[0033]140a、140b、140c:測試模塊
[0034]150:測試機
[0035]160a、160b、160c、160d:真空表
[0036]170a、170b、170c、170d:電磁閥
[0037]172a、172b、172c、172d:正壓
[0038]174a、174b、174c、174d:負壓 D:方向
【具體實施方式】
[0039]圖1為本實用新型的一實施例的一種測試裝置的俯視示意圖。圖2為圖1的測試裝置的一測試轉盤單元的立體示意圖。為了方便說明起見，圖1與圖2中有省略繪示部分元件，且下述實施例中采用相同的標號來表示相同或近似的元件，并且省略了相同技術內容的說明。請先參考圖1，在本實施例中，測試裝置100包括一輸送轉盤單元110、多個測試轉盤單元(圖1中僅示意地繪示兩個測試轉盤單元120a、120b)以及多個電性組件(圖1中僅示意地繪示兩個電性組件130a、130b)。
[0040]詳細來說，請同時參考圖1與圖2，輸送轉盤單元110沿著一方向D旋轉以輸送多個電子元件10。測試轉盤單元120a、120b沿著方向D旋轉以承接輸送轉盤單元110輸送來的電子元件1，其中每一測試轉盤單元120a (或120b)包括多個工作站(圖2中僅示意地繪示四個工作站122、124、126、128)，且工作站122、124、126、128分別具有不同的工作模式。電性組件130a、130b分別電連接至測試轉盤單元120a、120b。每一電性組件(或130b)包括多組測試電線(圖2中僅示意地繪示四組測試電線132a、132b、132c、132d)、一電性轉換接頭134以及多組連接電線(圖2中僅示意地繪示四組連接電線136a、136b、136c、136d)。這些組測試電線132a、132b、132c、132d分別連接至工作站122、124、126、128且沿著方向D旋轉。這些組測試電線132a、132b、132c、132d通過旋轉而與電性轉換接頭134電連接。這些組連接電線136a、136b、136c、136d固定不動且通過電性轉換接頭134分別電連接至這些組測試電線132a、132b、132c、132d0
[0041]更具體來說，在本實施例中，電子元件10例如是一環境光感測器、一光電感測器或一光電二極管，但并不以此為限。電子元件10通過輸送轉盤單元110沿著方向D旋轉而被輸送至測試轉盤單元120a、120b的工作站122、124、126、128來進行不同功能的測試。此處，方向D具體化為一逆時鐘方向。每一測試轉盤單元120a(或120b)為一4分割測試轉盤單元，其中工作站122、124、126、128包括一個放料站以及三個測試工作站。此處，工作站122具體化為一放料站，用以承接輸送轉盤單元110輸送過來的電子元件10，而工作站124、126、128具體化為測試工作站。
[0042]再者，本實施例的測試裝置100還包括多個測試模塊(圖2中示意地繪示三個測試模塊140&、14013、140(3)，其中每一測試轉盤單元120&(或12013)的周圍都設置有測試模塊140a、140b、140c，且測試模塊140a、140b、140c不隨著測試轉盤單元120a旋轉而呈現固定不動的狀態。測試模塊140a、140b、140c至少包括一灰卡測試模塊、一燈源測試模塊以及一玻璃測試模塊。換言之，本實施例的測試裝置100至少會對電子元件10進行灰卡測試、燈源測試以及玻璃測試。此外，本實施例的測試裝置100還更包括一測試機150，其中連接電線136a、136b、136c、136d電連接至測試機150，以測試電子元件10的開路、短路以及相關的直流電(DC)測試項目和感光測試。
[0043]請再參考圖2，特別是，本實施例的這些組測試電線132a、132b、132c、132d是分別連接至工作站122、124、126、128且沿著方向D旋轉。也就是說，每一個工作站122(或124、126、128)都具有一組獨立且對應的測試電線132&(或13213、13213、132(1)，且這些組測試電線132a、132b、132b、132d會與測試轉盤單元120a(或120b)同方向旋轉。另一方面，這些組連接電線136a、136b、136c、136d則呈現固定不動，且這些組連接電線136a、136b、136c、136d連接于測試機150與電性轉換接頭134之間，并通過電性轉換接頭134分別電連接至這些組測試電線132a、132b、132c、132d。更具體來說，電性組件130a、130b內具有彈片，彈片會壓住電性轉換接頭134的軸心，因此當電性轉換接頭134在轉動時，這些組連接電線136a、136b、136c、136d與這些組測試電線132a、132b、132b、132d會保持導通狀態。
[0044]由于本實施例的測試裝置100的設計是通過設置這些組測試電線132a、132b、132c、132d與測試轉盤單元120a(或120b)同方向旋轉，而這些組連接電線136a、136b、136c、136d固定不動并通過電性轉換接頭134與這些組測試電線132a、132b、132c、132d電連接。如此一來，可使得電子元件10可沿著同一方向依序移動至工作站122、124、126、128而完成測試，且無需擔心測試電線132a、132b、132c、132d會因為扭曲而產生斷裂的情形。
[0045]以下將以一實施例說明測試轉盤單元120a(或120b)旋轉時電子元件10與工作站122、124、126、128之間的相對位置關系。圖3A至圖3E為圖2的測試轉盤單元旋轉時電子元件與工作站之間的相對位置的示意圖。請先同時參考圖1與圖3A，輸送轉盤單元110沿著方向D旋轉，而將其上的電子元件1a輸送至測試轉盤單元120a的工作站122。接著，請參考圖3B，測試轉盤單元120a沿方向D旋轉，而將電子元件1a輸送至工作站124，以使測試模塊140a對電子元件1a進行測試，如進行灰卡測試，如用特定色板在適當距離遮蔽下對電子元件1a進行感光測試。同時，輸送轉盤單元110仍沿著方向D旋轉，而將其上的電子元件1b輸送至測試轉盤單元120a的工作站122。
[0046]接著，請參考圖3C，測試轉盤單元120a持續沿方向D旋轉，而將電子元件1a輸送至工作站126，以使測試模塊140b對電子元件1a進行測試，如進行燈源測試，以在暗室及有光度的環境下的對電子元件1a進行感光測試。此時，電子元件1b則被輸送至工作站124，以使測試模塊140a對電子元件1b進行測試，而輸送轉盤單元110仍沿著方向D旋轉，而將其上的電子元件1c輸送至測試轉盤單元120a的工作站122。
[0047]之后，請參考圖3D，測試轉盤單元120a持續沿方向D旋轉，而將電子元件1a輸送至工作站128，以使測試模塊140c對電子元件1a進行測試，如進行玻璃測試，以在有玻璃遮蔽下對電子元件1a進行感光測試。此時，電子元件1b則被輸送至工作站126，以使測試模塊140b對電子元件1b進行測試，而電子元件1c則被輸送至工作站124，以使測試模塊140a對電子元件1c進行測試，且輸送轉盤單元110仍沿著方向D旋轉，而將其上的電子元件1d輸送至測試轉盤單元120a的工作站122。
[0048]最后，請參考圖3E，通過真空吸取的方式取下已完成測試的電子元件10a，此時，測試裝置100會以逆時鐘旋轉而將以測試完成的良品輸送至包裝站以進行包裝成卷，而已測試完的不良品則會到料筒成散裝。同時，測試轉盤單元120a持續沿方向D旋轉，而將電子元件1b輸送至工作站128，以使測試模塊140c對電子元件1b進行測試，而電子元件1c則被輸送至工作站126，以使測試模塊140b對電子元件1c進行測試，而電子元件1d則被輸送至工作站124，以使測試模塊140a對電子元件1d進行測試，且輸送轉盤單元110仍沿著方向D旋轉，而將其上的電子元件1e輸送至測試轉盤單元120a的工作站122。通過上述的步驟，除了可使得本實施例的測試裝置100可同時對多個電子元件10a、10b、10c、1cUlOe連續進行不同功能的測試之外，還可避免工作站122、124、126、128有閑置的狀態，從而可縮短測試時間且可提高測試產能。
[0049]請再同時參考圖1與圖3A至圖3E，由于本實施例的輸送轉盤單元110與測試轉盤單元120a持續不斷的沿著方向D旋轉，而將輸送轉盤單元110上的電子元件10、10a、10b、10c、10d、1e持續不斷的輸送至測試轉盤單元120a(或120b)的工作站122、124、126、128進行測試，且這些組測試電線132a、132b、132c、132d會跟測試轉盤單元120a(或120b)同方向旋轉，而這些組連接電線136a、136b、136c、136d則固定不動并通過電性轉換接頭134與這些組測試電線132a、132b、132c、132d電連接。因此，相較于現有在將電子元件逆時鐘移動幾個工作站后需再以順時鐘方向回轉而將電子元件轉回主轉盤而言，本實施例的測試裝置100都是以同一方向旋轉且無需回轉，無需使用排線保護架且也不用擔心測試電線132a、132b、132c、132d會因為扭曲而斷裂的問題，可有效縮短測試時間且可提高測試產能。
[0050]圖4為圖2的測試轉盤單元的側視示意圖。為了方便說明起見，圖4中省略繪示部分元件。請同時參考圖2與圖4，本實施例的每一測試轉盤單元120a(或120b)還更包括多條氣壓管路(圖2示意地繪示四條氣壓管路121a、121b、121c、121d)、一氣壓轉換接頭123以及多條連接管路(圖4示意地繪示四條連接管路125a、125b、125c、125d)。氣壓管路121a、121b、121c、121d分別連接至工作站122、124、126、128且沿著方向D旋轉。氣壓管路121a、121b、121c、121d通過旋轉而與氣壓轉換接頭123電連接。連接管路125a、125b、125c、125d固定不動且通過氣壓轉換接頭123分別電連接至氣壓管路121a、121b、121c、121d。此處，氣壓轉換接頭123可采用如速睦喜(SMC)公司所出產型號為MQR-X229的彈性體密封回轉接頭。
[0051]此外，本實施例的測試裝置100還更包括多個真空表(圖4示意地繪示四個真空表160a、160b、160c、160d)以及多個電磁閥(圖4示意地繪示四個電磁閥170a、170b、170c、170d)。真空表160a、160b、160c、160d分別連接至連接管路125a、125b、125c、125d，以通過壓差的方式來檢測工作站122、124、126、128上是否有電子元件10。電磁閥170a、170b、170c、170d分別電連接至連接管路125a、125b、125c、125d，以獨立切換工作站125a、125b、125c、125d)的電壓。此處，每一電磁閥170a(或170b、170b、170d)分別具有一個正壓172a(或172b、172b、172d)與一負壓 174a(或 174b、174b、174d)，通過切換每一電磁閥 170a(或 170b、170b、170d)的正壓 172a(或 172b、172b、172d)與負壓 174a(或 174b、174b、174d)，可使得每一個工作站122(或124、126、128)都有獨立的電壓，即正電壓源與負電壓源。
[0052]綜上所述，由于本實用新型的測試裝置具有電性組件，其中這些組測試電線會跟測試轉盤單元同方向旋轉，而這些組連接電線則固定不動且通過電性轉換接頭與這些組測試電線電連接。因此，相較于現有在將電子元件逆時鐘移動幾個工作站后需再以順時鐘方向回轉而將電子元件轉回主轉盤而言，本實用新型的測試裝置都是以同一方向旋轉且無需回轉，無需使用排線保護架且也不用擔心測試電線會因為扭曲而斷裂的問題，故有效縮短測試時間且可提高測試產能。
【主權項】
1.一種測試裝置，其特征在于，該測試裝置包括: 輸送轉盤單元，沿著一方向旋轉以輸送多個電子元件； 多個測試轉盤單元，沿著該方向旋轉以承接該輸送轉盤單元輸送來的該些電子元件，其中各該測試轉盤單元包括多個工作站，且該些工作站分別具有不同的工作模式；以及多個電性組件，分別電連接至該些測試轉盤單元，各該電性組件包括: 多組測試電線，分別連接至該些工作站且沿著該方向旋轉； 電性轉換接頭，該些組測試電線通過旋轉而與該電性轉換接頭電連接；以及 多組連接電線，固定不動且通過該電性轉換接頭分別電連接至該些組測試電線。2.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，各該電子元件包括環境光感測器、光電感測器或光電二極管。3.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該方向為一逆時鐘方向。4.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，各該測試轉盤單元為一4分割測試轉盤單元。5.如權利要求4所述的測試裝置，其特征在于，該些工作站包括一個放料站以及三個測試工作站。6.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該測試裝置還包括: 多個測試模塊，配置于該些測試轉盤單元的周圍且固定不動。7.如權利要求6所述的測試裝置，其特征在于，該些測試模塊至少包括一灰卡測試模塊、一燈源測試模塊以及一玻璃測試模塊。8.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，該測試裝置還包括: 測試機，該些組連接電線電連接至該測試機。9.如權利要求1所述的測試裝置，其特征在于，各該測試轉盤單元還包括: 多條氣壓管路，分別連接至該些工作站且沿著該方向旋轉； 氣壓轉換接頭，該些氣壓管路通過旋轉而與該氣壓轉換接頭電連接；以及 多條連接管路，固定不動且通過該氣壓轉換接頭分別電連接至該些氣壓管路。10.如權利要求9所述的測試裝置，其特征在于，該測試裝置還包括: 多個真空表，分別連接至該些連接管路；以及 多個電磁閥，分別電連接該些連接管路，以獨立切換各該工作站的電壓。
【文檔編號】G01R31/01GK205643582SQ201620465368
【公開日】2016年10月12日
【申請日】2016年5月19日
【發明人】李文章, 鄭嘉賢
【申請人】健鼎（無錫）電子有限公司