一種紅外探測器響應率測試裝置的制造方法
【專利摘要】一種紅外探測器響應率測試裝置，包括光學測試平臺、設置于光學測試平臺上的可在X、Y、Z三個方向移動的三維位移臺、固定于光學測試平臺一端的黑體支架、光源系統以及測試處理系統，所述光源系統安裝于黑體支架上，包括黑體、光闌、濾光片以及黑體控制器，三維位移臺上安裝有被測探測器，測試處理系統包括測試計算機、測試板卡，測試計算機信號連接黑體控制器，控制黑體輻射溫度，黑體發出的輻射信號通過光闌和濾光片垂直入射到被測探測器上，被測探測器信號連接測試板卡，測試板卡與測試計算機電連接，由測試計算機采集測試板卡上的各項測試數據，本裝置方法簡便實用，測試精度較高，可廣泛推廣使用。
【專利說明】
一種紅外探測器響應率測試裝置
技術領域
[0001] 本實用新型涉及光電探測器的檢測技術，具體是指一種測量紅外探測器響應率的 裝置。
【背景技術】
[0002] 近年來，我國航空航天事業、工農業生產及科學技術的迅速發展，紅外探測器技術 在不同領域中得到越來越多、越來越廣泛的應用。由于紅外探測器除了本身的體積小、重量 輕、可以識別不可見光等優點之外，同時還具有高探測率、基本對波長沒有限制、室溫下可 以正常使用以及比較可靠的結構、具有較好的穩定性等優點，因此，在航空航天領域、國防 建設、工農業生產、交通運輸及科研系統等領域都有了廣泛的應用。為了獲得具有高準確度 和可信度的數據，對紅外探測器性能的優劣提出了越來越高的要求。
[0003] 紅外探測器響應率是表征紅外探測器對入射輻射靈敏程度的物理量，其相應率越 大，探測器對輻射型號的靈敏程度越好。
[0004] 目前市場上的紅外探測器響應率測試裝置在實用性、安裝簡易性、輻射信號可調 整性和黑體溫度可控性等方面均存在不足。
【發明內容】
[0005] 本實用新型的目的在于提供一種簡捷、實用的測量紅外探測器響應率的裝置，以 達到精確測量響應率的目的。
[0006] 為實現本實用新型的目的，提供以下技術方案:一種紅外探測器響應率測試裝置， 其特征在于包括光學測試平臺、設置于光學測試平臺上的可在X、Y、Z三個方向移動的三維 位移臺、固定于光學測試平臺一端的黑體支架、光源系統以及測試處理系統，所述光源系統 安裝于黑體支架上，包括黑體、光闌、濾光片以及黑體控制器，三維位移臺上安裝有被測探 測器，測試處理系統包括測試計算機、測試板卡，測試計算機信號連接黑體控制器，控制黑 體輻射溫度，黑體發出的輻射信號通過光闌和濾光片垂直入射到被測探測器上，被測探測 器信號連接測試板卡，測試板卡與測試計算機電連接，由測試計算機采集測試板卡上的各 項測試數據。
[0007] 作為優選，所述光源系統與被測探測器兩者位于一個光學軸線。
[0008] 作為優選，所述黑體產生的全波段紅外輻射信號由濾光片進行濾光，產生 ;3~3/^和：8~13/^，3個波段的福射測試信號。
[0009] 作為優選，光學測試平臺置于光、熱屏蔽罩之中。
[0010] 本實用新型有益效果：測試計算機通過黑體控制器可靈活控制黑體輻射溫度，通 過光闌和濾光鏡可得到不同波段的輻射信號，通過輸入測試板卡，計算機采集測試板卡上 的各項數據，同時調整黑體輻射信號，整個裝置安裝簡捷、實用、操作簡單，測試精度較高。
【附圖說明】
[0011]圖1為本實用新型結構不意圖。
【具體實施方式】
[0012] -種紅外探測器響應率測試裝置，包括光學測試平臺1、設置于光學測試平臺1上 的可在X、Y、Z三個方向移動的三維位移臺2、固定于光學測試平臺1一端的黑體支架3、光源 系統4以及測試處理系統5,所述光源系統4安裝于黑體支架3上，包括黑體4.1、光闌4.2、濾 光片4.3以及黑體控制器4.4,三維位移臺2上安裝有被測探測器6,測試處理系統5包括測試 計算機5.1、測試板卡5.2，測試計算機信號5.3連接黑體控制器4.4，控制黑體4.1輻射溫度， 黑體4.1發出的輻射信號通過光闌4.2和濾光片4.3垂直入射到被測探測器6上，被測探測器 6信號連接測試板卡5.2，測試板卡5.2與測試計算機5.1電連接，由測試計算機5.1采集測試 板卡5.2上的各項測試數據。所述光源系統4與被測探測器6兩者位于一個光學軸線。所述黑 體4.1產生的全波段紅外輻射信號由濾光片4.3進行濾光，產生3~3/? 1;3~5/?*和 個波段的輻射測試信號。光學測試平臺1置于光、熱屏蔽罩7之中。黑體4.1、光闌 4.2、濾光片4.3位于同一光源軸線上。
[0013] 本實用新型并不局限于上述【具體實施方式】所涉及的紅外探測器響應率測試裝置， 熟悉本技術領域的人員還可據此做出多種變化，但任何與本實用新型等同或相類似的變化 都應涵蓋在本實用新型權利要求的范圍內。
【主權項】
1. 一種紅外探測器響應率測試裝置，其特征在于包括光學測試平臺、設置于光學測試 平臺上的可在X、Y、Z=個方向移動的=維位移臺、固定于光學測試平臺一端的黑體支架、光 源系統W及測試處理系統，所述光源系統安裝于黑體支架上，包括黑體、光闊、濾光片W及 黑體控制器，=維位移臺上安裝有被測探測器，測試處理系統包括測試計算機、測試板卡， 測試計算機信號連接黑體控制器，控制黑體福射溫度，黑體發出的福射信號通過光闊和濾 光片垂直入射到被測探測器上，被測探測器信號連接測試板卡，測試板卡與測試計算機電 連接，由測試計算機采集測試板卡上的各項測試數據。2. 根據權利要求1所述的一種紅外探測器響應率測試裝置，其特征在于所述光源系統 與被測探測器兩者位于一個光學軸線。3. 根據權利要求1所述的一種紅外探測器郵|^盛》1^才巧普甘畦//正*^目（述黑體產生 的全波段紅外福射信號由濾光片進行濾光，產^ ，3個波段的 福射測試信號。4. 根據權利要求1所述一種紅外探測器響應率測試裝置，其特征在于光學測試平臺置 于光、熱屏蔽罩之中。
【文檔編號】G01J5/02GK205537969SQ201620104683
【公開日】2016年8月31日
【申請日】2016年1月29日
【發明人】張豪, 何旭嬌, 談彬武, 呂鵬, 許勇, 周平
【申請人】無錫元創華芯微機電有限公司