集成電路測試裝置的制造方法
【專利摘要】本實用新型涉及一種集成電路測試裝置，包括轉接板、測試底座、測試儀和PC機；轉接板上設有包括多個測試點的測試區和所述測試儀的數據輸出接口；多個測試點分別具有可被測試儀識別的唯一標識；測試底座具有連接集成電路引腳的插入口；測試底座位于測試區，且插入口與測試點一一對應；測試儀上設有與多個測試點對應連接的數據輸入接口，用于測試通過測試底座連接的集成電路的電學參數；PC機與測試儀連接。利用上述集成電路測試裝置，將待測試的多種集成電路放置在測試底座上，測試底座設置在可被測試儀識別的測試區上，PC機將測試程序傳送給測試儀對集成電路進行測試，其測試效率高、成本低、實用性強。
【專利說明】
集成電路測試裝置
技術領域
[0001]本實用新型涉及元件測試應用領域，特別是涉及集成電路測試系統。
【背景技術】
[0002]集成電路(Integrated Circuit，IC)是一種微型電子器件，通過采用一定的工藝，把一個電路中所需要的晶體管、二極管、電阻、電容和電感等元件及布線互連在一起，制作在一小塊或幾小塊半導體晶片或介質基片上，然后封裝在一個管殼內，成為具有所需電路功能的微型結構。對電子產品進行功能測試時，一般是對電子產品的集成電路進行功能測試。對集成電路進行功能測試時，需要將集成電路的各個功能引腳通過集成電路轉接板連接到測試裝置。
[0003]目前集成電路測試裝置在測試集成電路的過程中，每一次只能測試一個集成電路，并不能同時實現對多個不同集成電路芯片快速測試，這樣在測試的過程中，測試效率低、成本高。
【實用新型內容】
[0004]基于此，有必要針對集成電路測試裝置不能同時實現多個不同集成電路芯片的測試、測試效率低、成本高的問題，提供一種集成電路測試裝置。
[0005]一種集成電路測試裝置，用于測試集成電路，包括轉接板、測試底座、測試儀和PC機;所述轉接板上設有包括多個測試點的測試區和連接所述測試儀的數據輸出接口；多個所述測試點分別具有可被所述測試儀識別的唯一標識；
[0006]所述測試底座具有用于連接所述集成電路引腳的插入口，以連接所述集成電路，所述測試底座位于所述測試區，且插入口與所述測試點一一對應；
[0007]所述測試儀上設有與多個所述測試點對應連接的數據輸入接口，用于測試通過所述測試底座連接的所述集成電路的電學參數；
[0008]所述PC機與所述測試儀連接，用于將測試程序傳送給所述測試儀對所述集成電路進行測試。
[0009]在其中一個實施例中，所述測試區上設有呈陣列排布的441個測試點，相鄰測試點之間的間距為2.45毫米;其中，425個測試點通過測試排線與所述測試儀的數據輸入接口對應連接。
[0010]在其中一個實施例中，所述數據輸入接口上還設有2.45毫米的牛角插座連接器。
[0011]在其中一個實施例中，所述轉接板為多層印刷電路板。
[0012]在其中一個實施例中，所述測試底座上設有連接座，所述連接座用于電氣連接所述集成電路與所述轉接板。
[0013]在其中一個實施例中，所述PC機還還設有存儲單元，用于存儲被測試的集成電路的型號、判斷結果和所述被測試的集成電路的測試程序。
[0014]利用上述集成電路測試裝置，將待測試的多種集成電路放置在測試底座上，測試底座位于具有可被測試儀識別的唯一標識多個測試點的測試區和連接測試儀的數據輸出接口的轉接板上;測試儀通過與多個測試點對應連接的數據輸入接口與轉接板連接，用于測試通過測試底座連接的集成電路的電學參數;PC機將測試程序傳送給測試儀對集成電路進行測試。可對多種集成電路進行同時測試，測試效率高、成本低、實用性強。
【附圖說明】
[0015]圖1為集成電路測試裝置結構框架圖；
[0016]圖2為測試區標識圖。
【具體實施方式】
[0017]為了便于理解本實用新型，下面將參照相關附圖對本實用新型進行更全面的描述。附圖中給出了本實用新型的較佳實施例。但是，本實用新型可以以許多不同的形式來實現，并不限于本文所描述的實施例。相反地，提供這些實施例的目的是使對本實用新型的公開內容的理解更加透徹全面。
[0018]除非另有定義，本文所使用的所有的技術和科學術語與屬于本實用新型的技術領域的技術人員通常理解的含義相同。本文中在本實用新型的說明書中所使用的術語只是為了描述具體的實施例的目的，不是旨在限制本實用新型。本文所使用的術語“和/或”包括一個或多個相關的所列項目的任意的和所有的組合。
[0019]如圖1所示的為集成電路測試裝置結構框架圖，用于測試集成電路500性能的好壞，包括轉接板100、測試底座200、測試儀300和PC機400。轉接板100上設有包括多個測試點的測試區110和連接測試儀300的數據輸出接口 120;多個測試點分別具有可被測試儀300識別的唯一標識。測試底座200具有用于連接集成電路500引腳的插入口 210，以連接集成電路500。測試底座200位于測試區110，且測試底座200上的插入口 210與轉接板100的多個測試點一一對應連接。測試儀300上設有與多個轉接板100的多個測試點對應連接的數據輸入接口 310，用于測試通過測試底座200連接的集成電路500的電學參數;PC機400與測試儀300連接，用于將測試程序傳送給測試儀300對集成電路500進行測試。
[0020]如圖2所示的為轉接板上測試區的分布圖；圖中測試區110上設有呈陣列排布(21*21)的441個測試點，相鄰測試點之間的間距為2.45毫米;其中有16測試點空置，其余425個測試點分別具有可被測試儀300識別的唯一標識。圖中，測試區110中的測試點都有一個屬于自己的身份編碼，例如第二行第二列的測試點的標識為(69)，且該測試點(69)可以被測試儀300識別。
[0021 ] 轉接板100為多層印刷電路板(Printed Circuit BoarcUPCB)，轉接板100上還設有用于連接測試儀300的數據輸出接口 120，具有唯一標識的測試點與數據輸出接口 120—一對應連接。測試區110中具有唯一標識的測試點可以通過數據輸出接口 120與測試儀300進行數據交換。同時測試儀300上也設有數據輸入接口 310，數據輸入接口 310與數據輸出接口 120——對應，轉接板100和測試儀300之間通過測試排線連接，即測試儀300可以識別出轉接板100上的每一個測試點。輸入接口 310上還設有2.45毫米的牛角插座連接器，便于對測試排線的安裝和拆除。
[0022]測試底座200為標準的PGA(Pin Grid Array)測試座，稱為插針網格陣列封裝。是插裝型封裝之一，其底面的垂直引腳呈陣列狀排列。封裝基材基本上都采用多層陶瓷基板，還可用玻璃環氧樹脂印刷基板代替，用于高速大規模集成電路(Large ScaleIntegrat1n，LSI)。在本實施例中，引腳數為441 (21*21)，引腳中心距通常為2.54mm，其中有16個引腳為空置引腳，其余425個引腳與轉接板上的具有唯一標識的測試點一一對應。
[0023]測試底座200上設有連接座220，連接座220用于電氣連接集成電路500與轉接板100。連接座220是指連接兩個有源器件的器件，用于傳輸電流或信號，亦稱作接插件、插頭和插座。連接座220的數量可以根據待測試集成電路500的數量來確定。由于測試底座200上有425個可以被識別的測試點，而集成電路500的引腳梳一般在20以內，所以可以同時將多個集成電路500通過連接座220插在測試底座上，即可同時對多個集成電路進行測試。
[0024]測試儀300為直流參數測試儀，直流測試是基于歐姆定律的用來確定器件電參數的穩態測試方法。比如，漏電流測試就是在輸入管腳施加電壓，這使輸入管腳與電源或地之間的電阻上有電流通過，然后測量其該管腳電流的測試，輸出驅動電流測試就是在輸出管腳上施加一定電流，然后測量該管腳與地或電源之間的電壓差。在本實施例中，轉接板100可以與不同型號的測試儀300連接使用，并不限于直流參數測試儀，還可以為數字型測試儀、功能邏輯型測試儀等。
[0025]測試儀300與PC機400使用外設部件互連標準(Peripheral ComponentInterconnect，PCI)進行連接通訊，主要對待測試集成電路500進行相關直流參數的測試。在本實施例中，測試儀為待測試集成電路提供工作電壓、修調熔絲位。測試儀與PC機使用外設部件互連標準(Peripheral Component Interconnect，PCI)進行連接通訊，主要對待測試集成電路進行相關直流參數的測試，此外，還輔助PC機對待測集成電路進行邏輯功能的測試，如為待測試集成電路提供一定的工作電壓，修調相關熔絲位等。熔絲位是指在特定的引腳上加電壓，足夠的電流，就可以燒斷里邊的這根熔絲，燒斷以后，片里的程序就不可以被讀出來也不能改寫了，只能用來運行。熔絲位是在一個特定的地址上可以讀到熔絲狀態的一個位，O表示已恪斷，I表示未恪斷。
[0026]進一步的可以理解為:
[0027]在測試集成電路500時，將待測試的集成電路500通過連接座220插入到測試底座200中。通過確定集成電路500的各個引腳插入在測試底座200中的具體位置，相對應的，也就可以確定集成電路500的各個引腳對應到轉接板100中具體的各個測試點。然后在PC機400上對各測試點根據集成電路500各引腳的功能類型進行定義;測試儀300結合PC機400對集成電路500是加反向偏置電流，測得相應的電壓值，最終對每個測試項給出Pass或Fai I的結果。Pass指器件達到或超越了器設計規格;Fail則相反，器件沒有達到設計要求，不能用于最終應用。
[0028]在本實施例中，PC機400中設置存儲單元(圖中未示)，用于存儲被測試的集成電路的型號、對該集成電路性能好壞的判斷結果和該集成電路的所用的測試程序。
[0029]在本實施例中，由于存儲單元存儲了集成電路的型號、集成電路的直流參數測試結果或者判斷結果，還有測試該集成電路的測試程序。據統計，該集成電路裝置最少測試過15000種不同類型的集成電路芯片，已證實其實用性高、功能強大。在后續的測試過程中，若電測試集成電路500的型號也存儲在存儲單元中時，則不需要重新對測試程序進行編輯，SP可直接調用，節約時間、效率高。由于存儲了各類芯片的直流參數測試結果或者判斷結果，可以用于分析不同類型的集成電路的性能情況，便于對集成電路的篩選。
[0030]通過上述集成電路測試裝置，可以實現集成電路測試裝置能與不同類型的測試儀配套使用，實用性強；同時在測試的過程中可以同時多個同類型或不同類型的集成電路進行測試，效率高、成本低;也可以根據實際需求實時更改控制程序，已實現對不同類型的集成電路的測試。利用上述集成電路測試裝置和方法已測試過15000種不同的集成電路芯片，并將所有的測試結果或判斷結果存儲在PC機的存儲單元中，實用性很高、功能強大。
[0031]以上所述實施例的各技術特征可以進行任意的組合，為使描述簡潔，未對上述實施例中的各個技術特征所有可能的組合都進行描述，然而，只要這些技術特征的組合不存在矛盾，都應當認為是本說明書記載的范圍。
[0032]以上所述實施例僅表達了本實用新型的幾種實施方式，其描述較為具體和詳細，但并不能因此而理解為對實用新型專利范圍的限制。應當指出的是，對于本領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干變形和改進，這些都屬于本實用新型的保護范圍。因此，本實用新型專利的保護范圍應以所附權利要求為準。
【主權項】
1.一種集成電路測試裝置，用于測試集成電路，包括轉接板、測試底座、測試儀和PC機；其特征在于，所述轉接板上設有包括多個測試點的測試區和連接所述測試儀的數據輸出接口；多個所述測試點分別具有可被所述測試儀識別的唯一標識； 所述測試底座具有用于連接所述集成電路引腳的插入口，以連接所述集成電路，所述測試底座位于所述測試區，且插入口與所述測試點一一對應； 所述測試儀上設有與多個所述測試點對應連接的數據輸入接口，用于測試通過所述測試底座連接的所述集成電路的電學參數； 所述PC機與所述測試儀連接，用于將測試程序傳送給所述測試儀對所述集成電路進行測試。2.根據權利要求1所述的集成電路測試裝置，其特征在于，所述測試區上設有呈陣列排布的441個測試點，相鄰所述測試點之間的間距為2.45毫米;其中，425個測試點通過測試排線與所述測試儀的數據輸入接口對應連接。3.根據權利要求2所述的集成電路測試裝置，其特征在于，所述數據輸入接口上還設有2.45毫米的牛角插座連接器。4.根據權利要求1所述的集成電路測試裝置，其特征在于，所述轉接板為多層印刷電路板。5.根據權利要求1所述的集成電路測試裝置，其特征在于，所述測試底座上設有連接座，所述連接座用于電氣連接所述集成電路與所述轉接板。6.根據權利要求1所述的集成電路測試裝置，其特征在于，所述PC機還設有存儲單元，用于存儲被測試的集成電路的型號、判斷結果和所述被測試的集成電路的測試程序。
【文檔編號】G01R31/28GK205484691SQ201521133796
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2015年12月30日
【發明人】張立國
【申請人】深圳市科美集成電路有限公司