觸摸屏的測試裝置的制造方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開了一種觸摸屏的測試裝置，用于對觸摸屏進(jìn)行測試，觸摸屏設(shè)置有傳感器，觸摸屏的測試裝置包括控制器及與控制器電連接的測試基板；測試基板設(shè)有多個(gè)用于與觸摸屏的傳感器形成節(jié)點(diǎn)電容的電極；控制器還與觸摸屏電連接，控制器輸出測試信號(hào)至傳感器的驅(qū)動(dòng)端測量節(jié)點(diǎn)電容的實(shí)際電容值，并判斷實(shí)際電容值與參考電容值的差值是否在預(yù)設(shè)閾值內(nèi)。本實(shí)用新型技術(shù)方案提供了一種采用互容式測試方案對自容式方案傳感器進(jìn)行測試，提高自容式傳感器的測試的完整性和測試的效率。
【專利說明】
觸摸屏的測試裝置
技術(shù)領(lǐng)域
[0001] 本實(shí)用新型設(shè)及觸摸屏技術(shù)領(lǐng)域，特別設(shè)及一種觸摸屏的測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 電容式觸控屏的傳感器常見的有雙層互容方案、單層多點(diǎn)互容方案W及自容方 案，自容方案通常有Ξ角形自容方案等。
[0003] 雙層互容和單層多點(diǎn)屬于互容式的方案，由于其本身IT0(Indium tin oxide,氧 化銅錫)感應(yīng)層有大量的交互面積且主要分布于傳感器工作節(jié)點(diǎn)上，形成有節(jié)點(diǎn)電容，可通 過專業(yè)的電容測試儀器進(jìn)行互容式測試，能夠比較完整地測出傳感器觸控性能。
[0004]而Ξ角形方案屬于自容式的方案，其互容節(jié)點(diǎn)產(chǎn)生的一極為IT0,另一極為觸摸手 指，傳感器本身并沒有形成互容節(jié)點(diǎn)。因而不能進(jìn)行互容式測試。所ΚΞ角形方案一般通過 人工劃線進(jìn)行測試，然而運(yùn)種方法不能對傳感器進(jìn)行完整地測試，例如Ξ角形傳感器末端 斷裂將不能測試出（如圖1所示），同時(shí)存在測試效率低的問題。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0005] 本實(shí)用新型的主要目的是提供一種傳感器的測試裝置，旨在提高自容式傳感器的 測試的完整性和測試的效率。
[0006] 為實(shí)現(xiàn)上述目的，本實(shí)用新型提出了一種觸摸屏的測試裝置，所述觸摸屏設(shè)置有 傳感器，所述觸摸屏的測試裝置包括控制器及與所述控制器電連接的測試基板;其中，
[0007] 所述測試基板設(shè)有多個(gè)用于與觸摸屏的傳感器形成節(jié)點(diǎn)電容的電極；
[000引所述控制器還與所述觸摸屏電連接，所述控制器輸出測試信號(hào)至所述傳感器的驅(qū) 動(dòng)端測量所述節(jié)點(diǎn)電容的實(shí)際電容值，并判斷所述實(shí)際電容值與參考電容值的差值是否在 預(yù)設(shè)闊值內(nèi)。
[0009] 優(yōu)選地，所述測試基板為柔性電路板。
[0010] 優(yōu)選地，所述測試基板上設(shè)有排氣孔。
[0011] 優(yōu)選地，所述測試基板與觸摸屏貼合的一側(cè)還設(shè)有彈性墊。
[0012] 優(yōu)選地，所述控制器輸出的測試信號(hào)為固定斜率的斜坡信號(hào)或正弦交流信號(hào)。
[0013] 優(yōu)選地，所述測試基板和觸摸屏上均設(shè)有定位標(biāo)記。
[0014] 優(yōu)選地，所述電極呈條狀且所述電極的寬度可根據(jù)測量的精度而進(jìn)行調(diào)整。
[0015] 優(yōu)選地，所述控制器通過測量節(jié)點(diǎn)電容輸出電流的波形和時(shí)序，經(jīng)過控制器處理 計(jì)算后得到節(jié)點(diǎn)電容的電容值。
[0016] 本實(shí)用新型技術(shù)方案通過設(shè)置測試基板，測試基板上設(shè)有電極，其中電極與傳感 器形成有交互面積，從而形成節(jié)點(diǎn)電容，再通過測試節(jié)點(diǎn)電容的電容值并與參考電容值進(jìn) 行比較，即可實(shí)現(xiàn)互容式測試，一次性對觸摸屏的觸控性能進(jìn)行完整測試，無需再進(jìn)行人工 畫線測試，從而提高了測試效率。
【附圖說明】
[0017] 為了更清楚地說明本實(shí)用新型實(shí)施例或現(xiàn)有技術(shù)中的技術(shù)方案，下面將對實(shí)施例 或現(xiàn)有技術(shù)描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅 是本實(shí)用新型的一些實(shí)施例，對于本領(lǐng)域普通技術(shù)人員來講，在不付出創(chuàng)造性勞動(dòng)的前提 下，還可W根據(jù)運(yùn)些附圖示出的結(jié)構(gòu)獲得其他的附圖。
[0018] 圖1為觸摸屏Ξ角形傳感器示意圖；
[0019] 圖2為傳感器與電極配合示意圖；
[0020] 圖3為傳感器與測試基板配合示意圖。
[0021] 附圖標(biāo)號(hào)說明：
[0022]
[0023] 本實(shí)用新型目的的實(shí)現(xiàn)、功能特點(diǎn)及優(yōu)點(diǎn)將結(jié)合實(shí)施例，參照附圖做進(jìn)一步說明/
【具體實(shí)施方式】
[0024] 下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行 清楚、完整地描述，顯然，所描述的實(shí)施例僅僅是本實(shí)用新型的一部分實(shí)施例，而不是全部 的實(shí)施例。基于本實(shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有作出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提 下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0025] 需要說明，本實(shí)用新型實(shí)施例中所有方向性指示(諸如上、下、左、右、前、后……） 僅用于解釋在某一特定姿態(tài)（如附圖所示）下各部件之間的相對位置關(guān)系、運(yùn)動(dòng)情況等，如 果該特定姿態(tài)發(fā)生改變時(shí)，則該方向性指示也相應(yīng)地隨之改變。
[0026] 另外，各個(gè)實(shí)施例之間的技術(shù)方案可W相互結(jié)合，但是必須是W本領(lǐng)域普通技術(shù) 人員能夠?qū)崿F(xiàn)為基礎(chǔ)，當(dāng)技術(shù)方案的結(jié)合出現(xiàn)相互矛盾或無法實(shí)現(xiàn)時(shí)應(yīng)當(dāng)人認(rèn)為運(yùn)種技術(shù) 方案的結(jié)合不存在，也不在本實(shí)用新型要求的保護(hù)范圍之內(nèi)。
[0027] 本實(shí)用新型提出一種觸摸屏的測試裝置。
[0028] 參照圖2至圖3,在本實(shí)用新型實(shí)施例中，所述觸摸屏的測試裝置用于對觸摸屏20 進(jìn)行測試，所述觸摸屏20設(shè)置有傳感器21，所述觸摸屏的測試裝置包括控制器（圖中未示 出)及與所述控制器電連接的測試基板10;其中，
[0029] 所述測試基板10設(shè)有多個(gè)用于與觸摸屏20的傳感器21形成節(jié)點(diǎn)電容的電極11;
[0030] 所述控制器還與所述觸摸屏20電連接，所述控制器輸出測試信號(hào)至所述傳感器的 驅(qū)動(dòng)端測量所述節(jié)點(diǎn)電容的實(shí)際電容值，并判斷所述實(shí)際電容值與參考電容值的差值是否 在預(yù)設(shè)闊值內(nèi)。
[0031] 需要說明的是，本實(shí)用新型提供的傳感器的測試裝置是針對自容式方案的觸摸 屏，互容式傳感器的單層半成品亦可采用本傳感器的測試裝置。
[0032] 在本實(shí)施例中，所述控制器采用常用的單片機(jī)實(shí)現(xiàn)，單片機(jī)預(yù)設(shè)有測試程序，W控 制測試的進(jìn)行。測試時(shí)，該單片機(jī)對所述電極11輸出測試信號(hào)進(jìn)行檢測，并計(jì)算W獲得實(shí)際 節(jié)點(diǎn)電容值，并與單片機(jī)內(nèi)預(yù)設(shè)的參考電容值進(jìn)行比較，在實(shí)際電容值與參考電容值的差 值在預(yù)設(shè)闊值內(nèi)時(shí)，判定所述觸摸屏20合格，并將單片機(jī)測試結(jié)果顯示在與該觸摸屏的測 試裝置相連接的顯示屏上。可W理解的，當(dāng)實(shí)際電容值與參考電容值的差值不在預(yù)設(shè)的闊 值內(nèi)時(shí)，則判定所述觸摸屏20不合格。
[0033] 在本實(shí)施例中，所測試的觸摸屏20的傳感器21采用的是Ξ角形自容方案。整個(gè)觸 摸屏包括多個(gè)相同的Ξ角形狀的傳感器陣列，每個(gè)傳感器的一端與控制器連接。在進(jìn)行測 試時(shí)，將觸摸屏20緊密貼合于測試基板10上，測試基板10上設(shè)有多個(gè)電極11，在本實(shí)施例 中，測試基板10上設(shè)有四個(gè)電極11，四個(gè)電極11在測試基板10上平行排列，四個(gè)電極11與每 個(gè)傳感器21形成有相同的交互面積，電極11與傳感器21相交互的部分形成節(jié)點(diǎn)電容。每個(gè) 電極11與控制器電性連接。測試時(shí)控制器給每一個(gè)傳感器21的驅(qū)動(dòng)端輸出測試信號(hào)，W對 觸摸屏20的傳感器21進(jìn)行測試。
[0034] 需要說明的是，本實(shí)施例中ΚΞ角形自容方案的觸摸屏傳感器為例，在實(shí)際測試 過程中，還可W對觸摸屏單層多點(diǎn)結(jié)構(gòu)的傳感器進(jìn)行測試，對應(yīng)的調(diào)整測試基板上電極的 形狀，W形成互容節(jié)點(diǎn)，從而對傳感器進(jìn)行測試。
[0035] 控制器輸出測試信號(hào)，在本實(shí)施例中，該測試為電流信號(hào);控制器對電極11輸出電 流的相關(guān)參數(shù)進(jìn)行測量，經(jīng)控制器進(jìn)行處理計(jì)算后得到該節(jié)點(diǎn)電容的電容值，將該電容值 與參考電容值進(jìn)行比較，即可判斷該觸摸屏20是否合格。
[0036] 需要說明的是，根據(jù)公式C=eS/d，其中ε代表介電常數(shù)，S代表電極11與傳感器21 的交互面積，d代表電極11與觸摸屏20的傳感器21形成節(jié)點(diǎn)電容的表面之間的距離。傳感器 21在正常情況下，形成的節(jié)點(diǎn)電容也正常，假設(shè)交互面積為1，所測試的電容值結(jié)果為a,當(dāng) 傳感器21出現(xiàn)異常，例如當(dāng)Ξ角形狀傳感器末端斷裂時(shí)，對節(jié)點(diǎn)交互面積造成0.15左右的 影響時(shí)，其節(jié)點(diǎn)電容也相應(yīng)變化15%左右，即對應(yīng)測出的節(jié)點(diǎn)電容的容值相比參考電容的 容值減少15 %左右，從而測試出不合格的產(chǎn)品。
[0037] 本實(shí)用新型技術(shù)方案通過設(shè)置測試基板10,測試基板10上設(shè)有電極11，其中電極 11與傳感器21形成有交互面積，從而形成節(jié)點(diǎn)電容，再通過測試節(jié)點(diǎn)電容的電容值并與參 考電容值進(jìn)行比較，即可實(shí)現(xiàn)互容式測試，一次性對觸摸屏20的觸控性能進(jìn)行完整測試，無 需再進(jìn)行人工畫線測試，從而提高了測試效率。
[0038] 在本實(shí)施例中，為實(shí)現(xiàn)測試基板10與觸摸屏20貼合緊密，所述測試基板10采用柔 性電路板。
[0039] 進(jìn)一步地，所述測試基板10于相鄰的兩電極11之間設(shè)有排氣孔30。在本實(shí)施例中， 測試基板10上相鄰的電極11之間設(shè)有排氣孔30, W防止測試基板10與觸摸屏20之間存在氣 泡，影響測試。
[0040] 進(jìn)一步地，所述測試基板10與觸摸屏20貼合的一側(cè)還設(shè)有彈性墊40。該彈性墊40 有助于觸摸屏20與測試基板10更加緊密貼合。
[0041] 進(jìn)一步地，所述控制器輸出的測試信號(hào)為固定斜率的斜坡信號(hào)或正弦交流信號(hào)。
[0042] 進(jìn)一步地，所述測試基板10和觸摸屏20上均設(shè)有定位標(biāo)記。
[0043] 需要說明的是，測試過程中需要保證電極11與對應(yīng)的傳感器21形成的交互面積保 持相等，所W在將觸摸屏20放置于測試基板10上時(shí)，需通過定位標(biāo)記保證產(chǎn)品每次放置位 置不變。
[0044] 進(jìn)一步地，所述電極11呈條狀且所述電極11的寬度可根據(jù)測量的精度而進(jìn)行調(diào) 整。
[0045] 在本實(shí)施例中，所述電極11呈條狀。在實(shí)際測試過程中，可根據(jù)傳感器21的形狀對 應(yīng)的設(shè)置電極11形狀;同時(shí)，可根據(jù)測試精確要求，設(shè)置電極11的寬度。
[0046] 進(jìn)一步地，所述控制器通過測量節(jié)點(diǎn)電容輸出電流的波形和時(shí)序，經(jīng)過控制器處 理計(jì)算后得到節(jié)點(diǎn)電容的電容值。
[0047] 需要說明的是，節(jié)點(diǎn)電容輸出的電流的波形和時(shí)序與節(jié)點(diǎn)電容的電荷量對應(yīng)，因 而可W測得節(jié)點(diǎn)電容的電荷量，通過公式Q = UC即可算得節(jié)點(diǎn)電容的電容值，其中Q為電荷 量，U為節(jié)點(diǎn)電容的電壓，本實(shí)施例中，電源電壓恒定，C為節(jié)點(diǎn)電容的電容值。
[0048] 本實(shí)用新型技術(shù)方案通過設(shè)置測試基板10,通過基板上的電極11與傳感器21形成 節(jié)點(diǎn)電容，再通過測試節(jié)點(diǎn)電容的電容值并與參考電容值進(jìn)行比較，即實(shí)現(xiàn)了互容式測試， 從而比較完整的測試出觸摸屏的觸控性能，能夠有效的提高傳感器21的測試效率，降低了 測試成本。
[0049] W上所述僅為本實(shí)用新型的優(yōu)選實(shí)施例，并非因此限制本實(shí)用新型的專利范圍， 凡是在本實(shí)用新型的實(shí)用新型構(gòu)思下，利用本實(shí)用新型說明書及附圖內(nèi)容所作的等效結(jié)構(gòu) 變換，或直接/間接運(yùn)用在其他相關(guān)的技術(shù)領(lǐng)域均包括在本實(shí)用新型的專利保護(hù)范圍內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種觸摸屏的測試裝置，用于對觸摸屏進(jìn)行測試，所述觸摸屏設(shè)置有傳感器，其特征 在于，所述觸摸屏的測試裝置包括控制器及與所述控制器電連接的測試基板;其中， 所述測試基板設(shè)有多個(gè)用于與觸摸屏的傳感器形成節(jié)點(diǎn)電容的電極； 所述控制器還與所述觸摸屏電連接，所述控制器輸出測試信號(hào)至所述傳感器的驅(qū)動(dòng)端 測量所述節(jié)點(diǎn)電容的實(shí)際電容值，并判斷所述實(shí)際電容值與參考電容值的差值是否在預(yù)設(shè) 閾值內(nèi)。2. 如權(quán)利要求1所述的觸摸屏的測試裝置，其特征在于，所述測試基板為柔性電路板。3. 如權(quán)利要求2所述的觸摸屏的測試裝置，其特征在于，所述測試基板設(shè)有排氣孔。4. 如權(quán)利要求3中所述的觸摸屏的測試裝置，其特征在于，所述測試基板與觸摸屏貼合 的一側(cè)設(shè)有彈性墊。5. 如權(quán)利要求3中所述的觸摸屏的測試裝置，其特征在于，所述控制器輸出的測試信號(hào) 為固定斜率的斜坡信號(hào)或正弦交流信號(hào)。6. 如權(quán)利要求1中所述的觸摸屏的測試裝置，其特征在于，所述測試基板和觸摸屏上均 設(shè)有定位標(biāo)記。7. 如權(quán)利要求1中所述的觸摸屏的測試裝置，其特征在于，所述電極呈條狀。8. 如權(quán)利要求1中所述的觸摸屏的測試裝置，其特征在于，所述控制器通過測量節(jié)點(diǎn)電 容輸出電流的波形和時(shí)序，經(jīng)過控制器處理計(jì)算后得到節(jié)點(diǎn)電容的電容值。
【文檔編號(hào)】G01R31/00GK205484599SQ201620114455
【公開日】2016年8月17日
【申請日】2016年2月4日
【發(fā)明人】徐大鵬, 張濱, 劉斌
【申請人】深圳精智達(dá)技術(shù)股份有限公司