厚膜混合集成電路測試儀的制作方法
【專利摘要】一種厚膜混合集成電路測試儀，包括監控裝置和檢測裝置，所述監控裝置包括主機及與主機連接的顯示器，監控模組包括單片機控制模塊以及與單片機控制模塊連接的高精度頻率測量模塊、加壓測流模塊、數據采集電路模塊、鍵盤鍵入模塊、顯示模塊和電源模塊；所述檢測裝置包括一可閉合的夾具及設置于夾具上的檢測儀表，檢測儀表通過信號線與所述主機信號連接。其優點是結構簡單、使用方便、可靠。不僅能夠完成集成電路好壞的測試，而且，能夠實現集成電路各種性能，比如頻率測試、電流測試以及各種所需數據采集測試，操作簡單，測試過程簡單，效率較高。
【專利說明】
厚膜混合集成電路測試儀
技術領域
[0001]本實用新型涉及對電設備、線路或元件進行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測試，尤指一種厚膜混合集成電路測試儀。
【背景技術】
[0002]厚膜混合集成電路是一種微型電子功能部件，它是利用絲網印刷和燒結等厚膜工藝在同一基片上制作無源網絡，并在其上組裝分立的半導體器件芯片或單片集成電路或微型元件，再外加封裝而成的混合集成電路。這種厚膜混合集成電路在制作完成之后，需要對厚膜混合集成電路進行性能測試，檢測各項性能及參數，現有的測試系統，一般包括顯控端及檢測裝置，顯控端包括主機及與主機連接的顯示器，檢測裝置包括一可閉合的夾具及設置于夾具上的檢測儀表，檢測儀表通過信號線與所述主機信號連接，主機中裝有測試軟件，將厚膜混合集成電路模塊放置在夾具中，夾具閉合后，通過鼠標點擊顯示器中開始按鈕，檢測儀表開始檢測，現有技術的厚膜混合集成電路測試儀操作復雜，測試過程繁鎖，效率較低。
【發明內容】
[0003]針對現有技術的缺點，本實用新型的目的在于提供一種厚膜混合集成電路測試儀。
[0004]本實用新型解決其技術問題所采用的技術方案是:提供一種厚膜混合集成電路測試儀，包括監控裝置和檢測裝置，其特征在于:所述監控裝置包括主機及與主機連接的顯示器，主機內有監控模組，所述監控模組包括單片機控制模塊以及與單片機控制模塊連接的高精度頻率測量模塊、加壓測流模塊、數據采集電路模塊、鍵盤鍵入模塊、顯示模塊和電源模塊，所述單片機控制模塊由8155單片機、74LS373地址鎖存器、程序存儲器EPR0M2764和數據存儲器RAM6264組成；所述高精度頻率測量模塊包括前期處理電路、分頻電路、一個D觸發器、緊鎖夾和隔離電路，所述隔離電路設置在8155單片機的PA與PB口之間，緊鎖夾用于夾入芯片時將芯片的第一腳與夾子的第一腳對齊;所述加壓測流模塊包括A/D轉換器、測量放大器、多路開關MUX、儀器放大器AD524、采樣電阻、功率放大器UA759、電壓跟隨器和器件管腳的輸入電阻，其中A/D轉換器、測量放大器、多路開關MUX串聯后接入儀器放大器AD524的一端，儀器放大器AD524的另外兩端接入采樣電阻的兩端，采樣電阻的一端還與功率放大器UA759的輸出端連接，采樣電阻的另一端還與電壓跟隨器連接，電壓跟隨器與功率放大器UA759連接，電壓跟隨器還接入所述器件管腳的輸入電阻;數據采集電路模塊包括依次連接的A/D轉換器ADC0809、多路通道開關⑶4051、數據放大器、同相放大器及采樣保持器LF398;
[0005]所述檢測裝置包括一可閉合的夾具及設置于夾具上的檢測儀表，該夾具用于裝載待測試的厚膜混合集成電路，檢測儀表通過信號線與所述主機信號連接，所述夾具上設有上導電部和下導電部，所述上導電部與一引線的自由端連接，所述下導電部與另一引線的自由端連接，當夾具閉合時，所述上導電部與下導電部接觸導通，夾具包括基座、上載板及下載板，所述基座上設有支架，所述支架上設有用以控制所述上載板上下運動的控制機構，所述下載板固定于所述基座上，且位于所述上載板的正下方，下載板上設有用于放置厚膜混合集成電路的放置區，該放置區可以是一低于下載板上表面的凹槽;在控制機構的控制下，上載板向下運動即可與正下方的下載板閉合，檢測儀表設置于所述上載板。
[0006]本實用新型結構簡單、使用方便、可靠，通過設置高精度頻率測量模塊、加壓測流模塊以及數據采集電路模塊，不僅能夠完成集成電路好壞的測試，而且，能夠實現集成電路各種性能，比如頻率測試、電流測試以及各種所需數據采集測試，將各種功能集成起來，實現了多功能集成電路的測試，而且，采用單片機控制，大大降低了測試成本，利于推廣。本實用新型在夾具上設置上導電部和下導電部，將上導電部和下導電部通過引線對應連接至鼠標右鍵，利用夾具的上載板與下載板閉合時，上導電部和下導電部接觸來代替鼠標右鍵的點擊動作，如此，只要閉合上載板與下載板，則上導電部和下導電部接觸導通，相當于同時點擊了鼠標右鍵，實現檢測儀表的啟動，相對于現有技術，同時閉合夾具后，在點擊鼠標右鍵，省去了點擊鼠標的動作，其操作變得更加簡單，方便，減少了操作時間，明顯提高了測試的效率;其二、利用上載板及下載板作為夾具，再通過控制機構控制其上載板上下運動，實現了夾具的閉合，同時通過導向機構可保證上載板與下載板完全貼合，保證測試的有效進行;其三、上導電部為彈性探針，下導電部為金屬凸臺，利用彈性探針的彈性，可使得彈性探針與金屬凸臺的良好接觸，保證每次夾具閉合時，檢測儀表能夠正常啟動。
[0007]本實用新型的有益效果是:結構簡單、使用方便、可靠。不僅能夠完成集成電路好壞的測試，而且，能夠實現集成電路各種性能，比如頻率測試、電流測試以及各種所需數據采集測試，操作簡單，測試過程簡單，效率較高。
【附圖說明】
[0008]下面結合附圖對本實用新型作進一步的描述。
[0009]圖1是本實用新型的結構示意圖。
[0010]圖2是本實用新型的電氣結構方框圖。
[0011 ]圖3為本實用新型提供的加壓測流模塊結構示意圖。
[0012]圖中:1為監控裝置、2為檢測裝置；
[0013]在監控裝置I中:10為主機、11為顯示器、111為信號線、13為鼠標、121為右鍵、122為引線；
[0014]在檢測裝置2中:20為基座、201為金屬凸臺、21為支架、22為上載板、221為彈性探針、23為下載板、231為放置區、24為檢測儀表、25為支撐臂、251為套筒、26為推桿、27為手柄、271為前端、28為導向柱、29為固定件。
【具體實施方式】
[0015]參見附圖，本實用新型一種厚膜混合集成電路測試儀，包括監控裝置I和檢測裝置2，其特征在于:所述監控裝置I包括主機10及與主機10連接的顯示器11，主機10內有監控模組，所述監控模組包括單片機控制模塊1I以及與單片機控制模塊1I連接的高精度頻率測量模塊102、加壓測流模塊103、數據采集電路模塊105、鍵盤鍵入模塊107、顯示模塊106和電源模塊104，所述單片機控制模塊由8155單片機、74LS373地址鎖存器、程序存儲器EPROM2764和數據存儲器RAM6264組成;所述高精度頻率測量模塊包括前期處理電路、分頻電路、一個D觸發器、緊鎖夾和隔離電路，所述隔離電路設置在8155單片機的PA與PB口之間，緊鎖夾用于夾入芯片時將芯片的第一腳與夾子的第一腳對齊;所述加壓測流模塊包括A/D轉換器、測量放大器、多路開關MUX、儀器放大器AD524、采樣電阻、功率放大器UA759、電壓跟隨器和器件管腳的輸入電阻，其中A/D轉換器、測量放大器、多路開關MUX串聯后接入儀器放大器AD524的一端，儀器放大器AD524的另外兩端接入采樣電阻的兩端，采樣電阻的一端還與功率放大器UA759的輸出端連接，采樣電阻的另一端還與電壓跟隨器連接，電壓跟隨器與功率放大器UA759連接，電壓跟隨器還接入所述器件管腳的輸入電阻；數據采集電路模塊包括依次連接的A/D轉換器ADC0809、多路通道開關⑶4051、數據放大器、同相放大器及采樣保持器LF398 ；
[0016]所述檢測裝置I包括一可閉合的夾具及設置于夾具上的檢測儀表24，該夾具用于裝載待測試的厚膜混合集成電路，檢測儀表24通過信號線111與所述主機10信號連接，用于檢測夾具上厚膜混合集成電路的各種性能參數，所述夾具上設有上導電部和下導電部，所述上導電部與一引線122的自由端連接，所述下導電部與另一引線122的自由端連接，即相當于在鼠標12的右鍵上并聯一個右鍵，該右鍵位于夾具上，當夾具閉合時，所述上導電部與下導電部接觸導通，相對于點擊了鼠標12的右鍵，因此，在閉合夾具的同時，即啟動了檢測儀表24，該檢測儀表24開始檢測，并將檢測的數據發送至所述顯示器11顯示，而不需要閉合夾具，再單獨點擊鼠標12的右鍵才啟動檢測儀表24，夾具包括基座20、上載板22及下載板23，所述基座20上設有支架21，所述支架21上設有用以控制所述上載板22上下運動的控制機構，所述下載板23固定于所述基座20上，且位于所述上載板22的正下方，下載板23上設有用于放置厚膜混合集成電路的放置區231，該放置區231可以是一低于下載板23上表面的凹槽。在控制機構的控制下，上載板22向下運動即可與正下方的下載板23閉合，而檢測儀表24則可設置于所述上載板22，這樣，在上載板22與下載板23閉合時，檢測儀表24剛好對應位于下載板23中厚膜混合集成電路的上方，以進行檢測。
【主權項】
1.一種厚膜混合集成電路測試儀，包括監控裝置和檢測裝置，其特征在于:所述監控裝置包括主機及與主機連接的顯示器，主機內有監控模組，所述監控模組包括單片機控制模塊以及與單片機控制模塊連接的高精度頻率測量模塊、加壓測流模塊、數據采集電路模塊、鍵盤鍵入模塊、顯示模塊和電源模塊，所述單片機控制模塊由8155單片機、74LS373地址鎖存器、程序存儲器EPR0M2764和數據存儲器RAM6264組成;所述高精度頻率測量模塊包括前期處理電路、分頻電路、一個D觸發器、緊鎖夾和隔離電路，所述隔離電路設置在8155單片機的PA與PB口之間，緊鎖夾用于夾入芯片時將芯片的第一腳與夾子的第一腳對齊;所述加壓測流模塊包括A/D轉換器、測量放大器、多路開關MUX、儀器放大器AD524、采樣電阻、功率放大器UA759、電壓跟隨器和器件管腳的輸入電阻，其中A/D轉換器、測量放大器、多路開關MUX串聯后接入儀器放大器AD524的一端，儀器放大器AD524的另外兩端接入采樣電阻的兩端，米樣電阻的一端還與功率放大器UA759的輸出端連接，米樣電阻的另一端還與電壓跟隨器連接，電壓跟隨器與功率放大器UA759連接，電壓跟隨器還接入所述器件管腳的輸入電阻；數據采集電路模塊包括依次連接的A/D轉換器ADC0809、多路通道開關⑶4051、數據放大器、同相放大器及采樣保持器LF398;所述檢測裝置包括一可閉合的夾具及設置于夾具上的檢測儀表，該夾具用于裝載待測試的厚膜混合集成電路，檢測儀表通過信號線與所述主機信號連接，所述夾具上設有上導電部和下導電部，所述上導電部與一引線的自由端連接，所述下導電部與另一引線的自由端連接，當夾具閉合時，所述上導電部與下導電部接觸導通，夾具包括基座、上載板及下載板，所述基座上設有支架，所述支架上設有用以控制所述上載板上下運動的控制機構，所述下載板固定于所述基座上，且位于所述上載板的正下方，下載板上設有用于放置厚膜混合集成電路的放置區，該放置區可以是一低于下載板上表面的凹槽;在控制機構的控制下，上載板向下運動即可與正下方的下載板閉合，檢測儀表設置于所述上載板。
【文檔編號】G01R31/02GK205450198SQ201620158697
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2016年6月3日
【發明人】劉國慶
【申請人】威科電子模塊（深圳）有限公司