原子熒光光度計(jì)的制作方法
【專利摘要】本實(shí)用新型公開一種原子熒光光度計(jì)，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)存在的激發(fā)光源漂移校正功能不全面的問題。原子熒光光度計(jì)包括激發(fā)光源、第一光學(xué)透鏡、原子化器、光接收器、第一光電檢測器和第二光電檢測器；其中，所述激發(fā)光源、第一光學(xué)透鏡和原子化器置于同一光軸上，所述第一光學(xué)透鏡位于所述激發(fā)光源和原子化器之間，所述激發(fā)光源發(fā)射的特征光譜經(jīng)所述第一光學(xué)透鏡聚焦到所述原子化器，所述原子化器產(chǎn)生的原子熒光由所述第二光電檢測器接收，所述光接收器用于接收所述激發(fā)光源發(fā)射的特征光譜，并傳輸給所述第一光電檢測器。
【專利說明】
原子焚光光度計(jì)
技術(shù)領(lǐng)域
[0001]本實(shí)用新型涉及光學(xué)系統(tǒng)領(lǐng)域，具體涉及一種原子熒光光度計(jì)。
【背景技術(shù)】
[0002]原子熒光光譜分析是利用原子熒光譜線的波長和強(qiáng)度進(jìn)行物質(zhì)的定性與定量分析的方法，它具有設(shè)備簡單，靈敏度高，光譜干擾少，工作曲線線性范圍寬，可以進(jìn)行多元素測定等優(yōu)點(diǎn)，在地質(zhì)，冶金，石油，生物醫(yī)學(xué)，地球化學(xué)，材料和環(huán)境科學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域內(nèi)獲得了廣泛的應(yīng)用。常見的激發(fā)光源校正是光電檢測器接收激發(fā)光源經(jīng)透鏡匯聚在原子化器上的能量，并不能做到直接檢測激發(fā)光源的能量，所以其激發(fā)光源漂移校正功能不全面。
【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0003]本實(shí)用新型的目的在于，提供一種原子熒光光度計(jì)，能夠解決現(xiàn)有技術(shù)存在的激發(fā)光源漂移校正功能不全面的問題。
[0004]為此目的，本實(shí)用新型提出一種原子熒光光度計(jì)，包括:
[0005]激發(fā)光源、第一光學(xué)透鏡、原子化器、光接收器、第一光電檢測器和第二光電檢測器;其中，
[0006]所述激發(fā)光源、第一光學(xué)透鏡和原子化器置于同一光軸上，所述第一光學(xué)透鏡位于所述激發(fā)光源和原子化器之間，所述激發(fā)光源發(fā)射的特征光譜經(jīng)所述第一光學(xué)透鏡聚焦到所述原子化器，所述原子化器產(chǎn)生的原子熒光由所述第二光電檢測器接收，所述光接收器用于接收所述激發(fā)光源發(fā)射的特征光譜，并傳輸給所述第一光電檢測器。
[0007]本實(shí)用新型實(shí)施例所述的原子熒光光度計(jì)，利用第一光電檢測器直接檢測激發(fā)光源能量變化，對激發(fā)光源進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測，從而實(shí)現(xiàn)對激發(fā)光源漂移校正功能。
【附圖說明】
[0008]圖1為本實(shí)用新型原子熒光光度計(jì)一實(shí)施例的結(jié)構(gòu)示意圖；
[0009]其中，I為激發(fā)光源，2為第一光學(xué)透鏡，3為原子化器，4為第二光學(xué)透鏡，5為第二光電檢測器，6為第一光電檢測器，7為光接收器，8為第一光學(xué)透鏡底座。
【具體實(shí)施方式】
[0010]為使本實(shí)用新型實(shí)施例的目的、技術(shù)方案和優(yōu)點(diǎn)更加清楚，下面將結(jié)合本實(shí)用新型實(shí)施例中的附圖，對本實(shí)用新型實(shí)施例中的技術(shù)方案進(jìn)行清楚地描述，顯然，所描述的實(shí)施例是本實(shí)用新型一部分實(shí)施例，而不是全部的實(shí)施例?；诒緦?shí)用新型中的實(shí)施例，本領(lǐng)域普通技術(shù)人員在沒有做出創(chuàng)造性勞動(dòng)前提下所獲得的所有其他實(shí)施例，都屬于本實(shí)用新型保護(hù)的范圍。
[0011 ]如圖1所示，本實(shí)施例公開一種原子熒光光度計(jì)，包括:
[0012] 激發(fā)光源1、第一光學(xué)透鏡2、原子化器3、光接收器7、第一光電檢測器6和第二光電檢測器5;其中，
[0013]所述激發(fā)光源1、第一光學(xué)透鏡2和原子化器3置于同一光軸上，所述第一光學(xué)透鏡2位于所述激發(fā)光源I和原子化器3之間，所述激發(fā)光源I發(fā)射的特征光譜經(jīng)所述第一光學(xué)透鏡2聚焦到所述原子化器3，所述原子化器3產(chǎn)生的原子熒光由所述第二光電檢測器5接收，所述光接收器7用于接收所述激發(fā)光源I發(fā)射的特征光譜，并傳輸給所述第一光電檢測器6。
[0014]本實(shí)用新型所述的光接收器以及第一光電檢測器組成的漂移校正裝置適用于單道，也可做雙道和多道裝置。
[0015]本實(shí)用新型實(shí)施例所述的原子熒光光度計(jì)，利用第一光電檢測器直接檢測激發(fā)光源能量變化，對激發(fā)光源進(jìn)行實(shí)時(shí)監(jiān)測，從而實(shí)現(xiàn)對激發(fā)光源漂移校正功能。
[0016]可選地，在本實(shí)用新型原子熒光光度計(jì)的另一實(shí)施例中，還包括:
[0017]第一光學(xué)透鏡底座;其中，
[0018]所述第一光學(xué)透鏡底座，用于固定所述第一光學(xué)透鏡。
[0019]可選地，在本實(shí)用新型原子熒光光度計(jì)的另一實(shí)施例中，所述第一光學(xué)透鏡底座，還用于固定所述光接收器，所述光接收器位于所述第一光學(xué)透鏡下方。
[0020]本實(shí)用新型實(shí)施例中，通過將光接收器置于第一光學(xué)透鏡下方，能夠確保光接收器不會(huì)對透過第一光學(xué)透鏡的光束產(chǎn)生影響。
[0021]可選地，在本實(shí)用新型原子熒光光度計(jì)的另一實(shí)施例中，所述光接收器通過光纖將其接收到的特征光譜傳輸給所述第一光電檢測器。
[0022]可選地，在本實(shí)用新型原子熒光光度計(jì)的另一實(shí)施例中，還包括:
[0023]第二光學(xué)透鏡;其中，
[0024]所述第一光學(xué)透鏡置于所述原子化器和第二光電檢測器之間，用于將所述原子化器產(chǎn)生的原子熒光聚焦到所述第二光電檢測器。
[0025]本實(shí)用新型具有如下優(yōu)點(diǎn):1、光接收器的引入實(shí)現(xiàn)了激發(fā)光源實(shí)時(shí)漂移校正，避免了檢測信號(hào)的損失;2、光接收器置于透鏡下方，不會(huì)對透過透鏡的有效光產(chǎn)生影響;3、簡化光學(xué)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，漂移校正具有更大的靈活性;4、通過激發(fā)光源漂移校正從而間接提高原子熒光光度計(jì)穩(wěn)定性。
[0026]雖然結(jié)合附圖描述了本實(shí)用新型的實(shí)施方式，但是本領(lǐng)域技術(shù)人員可以在不脫離本實(shí)用新型的精神和范圍的情況下做出各種修改和變型，這樣的修改和變型均落入由所附權(quán)利要求所限定的范圍之內(nèi)。
【主權(quán)項(xiàng)】
1.一種原子焚光光度計(jì)，包括: 激發(fā)光源、第一光學(xué)透鏡、原子化器、光接收器、第一光電檢測器和第二光電檢測器;其中， 所述激發(fā)光源、第一光學(xué)透鏡和原子化器置于同一光軸上，所述第一光學(xué)透鏡位于所述激發(fā)光源和原子化器之間，所述激發(fā)光源發(fā)射的特征光譜經(jīng)所述第一光學(xué)透鏡聚焦到所述原子化器，所述原子化器產(chǎn)生的原子熒光由所述第二光電檢測器接收，所述光接收器用于接收所述激發(fā)光源發(fā)射的特征光譜，并傳輸給所述第一光電檢測器。2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子熒光光度計(jì)，其特征在于，還包括: 第一光學(xué)透鏡底座;其中， 所述第一光學(xué)透鏡底座，用于固定所述第一光學(xué)透鏡。3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的原子熒光光度計(jì)，其特征在于，所述第一光學(xué)透鏡底座，還用于固定所述光接收器，所述光接收器位于所述第一光學(xué)透鏡下方。4.根據(jù)權(quán)利要求1至3任一項(xiàng)所述的原子熒光光度計(jì)，其特征在于，所述光接收器通過光纖將其接收到的特征光譜傳輸給所述第一光電檢測器。5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的原子熒光光度計(jì)，其特征在于，還包括: 第二光學(xué)透鏡;其中， 所述第一光學(xué)透鏡置于所述原子化器和第二光電檢測器之間，用于將所述原子化器產(chǎn)生的原子熒光聚焦到所述第二光電檢測器。
【文檔編號(hào)】G01N21/01GK205449802SQ201521141008
【公開日】2016年8月10日
【申請日】2015年12月31日
【發(fā)明人】周志恒
【申請人】北京博暉創(chuàng)新光電技術(shù)股份有限公司