一種基于cmos拍攝成像的測量系統的制作方法
【專利摘要】本實用新型公開了一種基于CMOS拍攝成像的測量系統，包括：控制系統；工作臺；設于所述工作臺上的待測物固定組件；以及固定在所述工作臺上的導軌組件，其中，所述導軌組件包括上導軌、平行設置且相距一定距離的左導軌與右導軌，所述上導軌可滑動地橫跨于所述左導軌與右導軌之間，所述上導軌之上可往復滑動地設有CMOS檢測組件，所述導軌組件及所述CMOS檢測組件分別與所述控制系統電連接。本實用新型具有確保在保證測量精度的前提下通過減少人工輔助操作的步驟來提高自動化程度，從而導致減少整個測量過程所耗費的時間的有益效果。
【專利說明】
一種基于CMOS拍攝成像的測量系統
技術領域
[0001]本實用新型涉及一種非接觸式尺寸測量系統，更具體地，涉及一種基于CMOS拍攝成像的測量系統。
【背景技術】
[0002]非接觸式尺寸測量裝置以光電、電磁、超聲波等技術為基礎，在儀器的測量元件不與被測物體表面接觸的情況下，即可獲得被測物體的各種外表或內在的尺寸數據特征。非接觸式尺寸測量系統與傳統的接觸式測距系統相比精度更高、操作更方便、安全系數更高、潔凈度高、測量過程中對被測物的污染程度小，從而被應用于工業生產及科學研究的多個領域。
[0003]典型的非接觸式尺寸測量方法如激光三角法、電渦流法、超聲測量法、視覺成像測量法、超聲波測量法等等，其中視覺成像測量法是指通過機器視覺產品(即圖像攝取裝置，分CMOS相機和CCD相機兩種)將被攝取目標轉換成圖像信號，傳送給專用的圖像處理系統，根據像素分布和亮度、顏色等信息，轉變成數字化信號，圖像系統對這些信號進行各種運算來抽取目標的特征，進而根據判別的結果來控制現場的設備動作，在測量缺陷和防止缺陷產品被配送到消費者的功能方面具有不可估量的價值。
[0004]現有技術中的測量系統需要人工輔助操作的步驟多、自動化程度低，從而導致整個測量過程耗費時間過長，且測量不精確。
【實用新型內容】
[0005]針對上述技術中存在的不足之處，本實用新型的目的是提供一種基于CMOS拍攝成像的測量系統，對現有的非接觸式測量系統進行優化改進，確保在保證測量精度的前提下通過減少人工輔助操作的步驟來提高自動化程度，從而導致減少整個測量過程所耗費的時間。為了實現根據本實用新型的這些目的和其他優點，提供了一種基于CMOS拍攝成像的測量系統，其特征在于，包括:
[0006]控制系統；
[0007]工作臺；
[0008]設于所述工作臺上的待測物固定組件；以及
[0009]固定在所述工作臺上的導軌組件，其中，所述導軌組件包括上導軌、平行設置且相距一定距離的左導軌與右導軌，所述上導軌可滑動地橫跨于所述左導軌與右導軌之間，所述上導軌之上可往復滑動地設有CMOS檢測組件，所述導軌組件及所述CMOS檢測組件分別與所述控制系統電連接。
[0010]優選的是，所述CMOS檢測組件包括套設在所述上導軌上并且可往復滑動的CMOS支架、設于所述CMOS支架的一側并且可上下滑動的CMOS相機、以及設于所述CMOS相機旁側的讀碼器。
[0011]優選的是，所述CMOS相機的鏡頭外圈設置有環形光源。
[0012]優選的是，所述CMOS支架的下方連接有L形的連接臂。
[0013]優選的是，所述連接臂的末端設有與所述CMOS相機相對的顏色傳感器，所述CMOS支架、CMOS相機、讀碼器、環形光源、以及顏色傳感器與所述控制系統電連接。
[0014]優選的是，所述待測物固定組件設于所述上導軌之下、左導軌與右導軌之間，所述待測物固定組件包括支架組件、設于所述支架組件上的固定盤組件。
[0015]優選的是，所述支架組件包括設有安裝槽的支架板以及用于支持所述支架板的左支腳與右支腳，所述左支腳與右支腳平行設置。
[0016]優選的是，所述固定盤組件包括帶有減重槽的固定盤以及設于所述減重槽周圍的至少四個固定夾具。
[0017]本實用新型與現有技術相比，其有益效果是:
[0018]1.由于所述導軌組件包括上導軌、平行設置且相距一定距離的左導軌與右導軌，所述上導軌可滑動地橫跨于所述左導軌與右導軌之間，所述上導軌之上可滑動地設有CMOS檢測組件，從而使得所述CMOS檢測組件可實現三個自由度的位移運動。
[0019]2.由于所述CMOS檢測組件包括套設在所述上導軌上并且可往復滑動的CMOS支架、設于所述CMOS支架的一側并且可上下滑動的CMOS相機、以及設于所述CMOS相機旁側的讀碼器，從而使得所述CMOS相機可在CMOS支架的調整下來調整焦距，提高拍攝清晰度，讀碼器亦可在CMOS相機拍攝過程中對產品上的條碼進行掃描。
[0020]3.由于所述CMOS相機的鏡頭外圈設置有環形光源，所述CMOS支架的下方連接有L形的連接臂，所述連接臂的末端設有與所述CMOS相機相對的顏色傳感器，所述CMOS支架、CMOS相機、讀碼器、環形光源、以及顏色傳感器與所述控制系統電連接，使得所述CMOS支架、CMOS相機、讀碼器、環形光源、以及顏色傳感器可在所述控制系統的協同作用下，實現CMOS支架與CMOS相機的焦距自動調節;實現對于不同的產品表面顏色，通過顏色傳感器讀取產品表面顏色，而環形光源選取不同的打光方式，如光線的強弱、打光的方向等等，使得成像圖片不至于曝光過度或曝光不夠，充分保證測量精度。
[0021]4.由于所述待測物固定組件設于所述上導軌之下、左導軌與右導軌之間，所述待測物固定組件包括支架組件、設于所述支架組件上的固定盤組件，從而使得CMOS檢測組件在移動過程中可方便地進行拍攝測量，提高測量效率。
[0022]本實用新型的其他優點、目標和特征將部分通過下面的說明體現，部分還將通過對本實用新型的研究和實踐而為本領域的技術人員所理解。
【附圖說明】
[0023]圖1是根據本實用新型的基于CMOS拍攝成像的測量系統的一實施例的軸測圖；
[0024]圖2是根據本實用新型的基于CMOS拍攝成像的測量系統的一實施例的正視圖；
[0025]圖3是根據本實用新型的基于CMOS拍攝成像的測量系統的一實施例的俯視圖；
[0026]圖4是根據本實用新型的基于CMOS拍攝成像的測量系統的一實施例中的上導軌與CMOS檢測組件的軸測圖；
[0027]圖5是根據本實用新型的基于CMOS拍攝成像的測量系統的一實施例中的待測物固定組件的軸測圖；
[0028]圖6是根據本實用新型的基于CMOS拍攝成像的測量系統的一實施例中的待測物固定組件的爆炸圖。
【具體實施方式】
[0029]下面結合附圖對本實用新型做進一步的詳細說明，本實用新型的前述和其它目的、特征、方面和優點將變得更加明顯，以令本領域技術人員參照說明書文字能夠據以實施。
[0030]參照圖1、圖2及圖3，基于CMOS拍攝成像的測量系統100包括:控制系統(略畫)、工作臺組件110、導軌組件、CMOS檢測組件120、以及待測物固定組件130，其中，所述工作臺組件110包括工作臺111，導軌組件設于工作臺111上，導軌組件包括上導軌114、平行設置且相距一定距離的左導軌112與右導軌113，上導軌114可滑動地橫跨于左導軌112與右導軌113之間，CMOS檢測組件120可往復滑動地設于上導軌114之上，待測物固定組件130設于工作臺111之上，所述導軌組件及CMOS檢測組件120分別與所述控制系統電連接。
[0031]參照圖4，所述CMOS檢測組件120包括套設在上導軌114上并且可往復滑動的CMOS支架121、設于CMOS支架121的一側并且可上下滑動的CMOS相機122、以及設于CMOS相機122旁側的讀碼器123。作為一種實施方式，CMOS相機122的鏡頭外圈設置有環形光源122a。
[0032]再次參照圖4，CMOS支架121的下方連接有L形的連接臂124，連接臂124的末端設有與CMOS相機122相對的顏色傳感器125，CM0S支架121、CM0S相機122、讀碼器123、環形光源122a、以及顏色傳感器125與所述控制系統電連接。
[0033]參照圖1、圖5及圖6，待測物固定組件130設于上導軌114之下、左導軌112與右導軌113之間，待測物固定組件130包括支架組件、設于所述支架組件上的固定盤組件，其中，所述支架組件包括設有安裝槽的支架板133以及用于支持支架板133的左支腳131與右支腳132，左支腳131與右支腳132平行設置，所述固定盤組件包括帶有減重槽的固定盤134以及設于所述減重槽周圍的至少四個固定夾具135。
[0034]工作原理:CMOS檢測組件120在左右導軌112、113及上導軌114的帶動下可實現三個自由度方向上的位移，從而為CMOS相機的拍攝測量奠定結構上的傳動基礎，CMOS相機在驅動系統的作用下繞夾裝于待測物固定組件130的待測物外圈走一圈，邊走邊采集尺寸數據，最終完成待測物外圈尺寸數據的采集。
[0035]這里說明的設備數量和處理規模是用來簡化本實用新型的說明的。對本實用新型的應用、修改和變化對本領域的技術人員來說是顯而易見的。
[0036]如上所述，根據本實用新型，能夠取得如下有益效果:
[0037]1.由于所述導軌組件包括上導軌114、平行設置且相距一定距離的左導軌112與右導軌113，上導軌114可滑動地橫跨于左導軌112與右導軌113之間，上導軌114之上可滑動地設有CMOS檢測組件120，從而使得CMOS檢測組件120可實現三個自由度的位移運動。
[0038]2.由于CMOS檢測組件120包括套設在上導軌114上并且可往復滑動的CMOS支架121、設于CMOS支架121的一側并且可上下滑動的CMOS相機122、以及設于CMOS相機122旁側的讀碼器123，從而使得CMOS相機122可在CMOS支架121的調整下來調整焦距，提高拍攝清晰度，讀碼器123亦可在CMOS相機122拍攝過程中對產品上的條碼進行掃描。
[0039]3.由于CMOS相機122的鏡頭外圈設置有環形光源122a，CM0S支架121的下方連接有L形的連接臂124，連接臂124的末端設有與CMOS相機122相對的顏色傳感器125，CM0S支架121、CMOS相機122、讀碼器123、環形光源122a、以及顏色傳感器125與所述控制系統電連接，使得CMOS支架121、CMOS相機122、讀碼器123、環形光源122a、以及顏色傳感器125可在所述控制系統的協同作用下，實現CMOS支架121與CMOS相機122的焦距自動調節;實現對于不同的產品表面顏色，通過顏色傳感器125讀取產品表面顏色，而環形光源122a選取不同的打光方式，如光線的強弱、打光的方向等等，使得成像圖片不至于曝光過度或曝光不夠，充分保證測量精度。
[0040]4.由于待測物固定組件130設于上導軌114之下、左導軌112與右導軌113之間，待測物固定組件130包括支架組件、設于所述支架組件上的固定盤組件，從而使得CMOS檢測組件在移動過程中可方便地進行拍攝測量，提高測量效率。
[0041]盡管本實用新型的實施方案已公開如上，但其并不僅限于說明書和實施方式中所列運用，它完全可以被適用于各種適合本實用新型的領域，對于熟悉本領域的人員而言，可容易地實現另外的修改，因此在不背離權利要求及等同范圍所限定的一般概念下，本實用新型并不限于特定的細節和這里示出與描述的圖例。
【主權項】
1.一種基于CMOS拍攝成像的測量系統，其特征在于，包括: 控制系統； 工作臺； 設于所述工作臺上的待測物固定組件；以及 固定在所述工作臺上的導軌組件， 其中，所述導軌組件包括上導軌、平行設置且相距一定距離的左導軌與右導軌，所述上導軌可滑動地橫跨于所述左導軌與右導軌之間，所述上導軌之上可往復滑動地設有CMOS檢測組件，所述導軌組件及所述CMOS檢測組件分別與所述控制系統電連接。2.如權利要求1所述的基于CMOS拍攝成像的測量系統，其特征在于，所述CMOS檢測組件包括套設在所述上導軌上并且可往復滑動的CMOS支架、設于所述CMOS支架的一側并且可上下滑動的CMOS相機、以及設于所述CMOS相機旁側的讀碼器。3.如權利要求2所述的基于CMOS拍攝成像的測量系統，其特征在于，所述CMOS相機的鏡頭外圈設置有環形光源。4.如權利要求3所述的基于CMOS拍攝成像的測量系統，其特征在于，所述CMOS支架的下方連接有L形的連接臂。5.如權利要求4所述的基于CMOS拍攝成像的測量系統，其特征在于，所述連接臂的末端設有與所述CMOS相機相對的顏色傳感器，所述CMOS支架、CMOS相機、讀碼器、環形光源、以及顏色傳感器與所述控制系統電連接。6.如權利要求1所述的基于CMOS拍攝成像的測量系統，其特征在于，所述待測物固定組件設于所述上導軌之下、左導軌與右導軌之間，所述待測物固定組件包括支架組件、設于所述支架組件上的固定盤組件。7.如權利要求6所述的基于CMOS拍攝成像的測量系統，其特征在于，所述支架組件包括設有安裝槽的支架板以及用于支持所述支架板的左支腳與右支腳，所述左支腳與右支腳平行設置。8.如權利要求7所述的基于CMOS拍攝成像的測量系統，其特征在于，所述固定盤組件包括帶有減重槽的固定盤以及設于所述減重槽周圍的至少四個固定夾具。
【文檔編號】G01B11/00GK205426073SQ201620199687
【公開日】2016年8月3日
【申請日】2016年3月16日
【發明人】吳加富, 繆磊, 曹強強
【申請人】蘇州富強科技有限公司