一種電子元件平整度測試治具的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及電子元件平整度檢測技術領域，特別涉及一種電子元件平整度測試治具。
【背景技術】
[0002]電子元件一般都要進行平整度檢測，特別是對于SMD、連接器而言平整度檢測優為重要。現有技術的檢測都是采用人工把電子元件放到治具上，依靠人工推動治具塊進行測試端子的平整度。現有技術的缺點是:檢測精度低，誤判率高，勞動強度大。
[0003]有鑒于此，特提出本實用新型，以改正上述現有技術的不足之處。
【實用新型內容】
[0004]針對上述現有技術，本實用新型所要解決的技術問題是提供一種檢測精度高，誤判率低，勞動強度小的電子元件平整度測試治具。
[0005]為了解決上述技術問題，本實用新型提供了一種電子元件平整度測試治具，其包括支撐座、下滑本體、蓋板，所述下滑本體中部設有下滑軌道，所述下滑軌道前端開口為喇叭形狀，所述支撐座包括底板，所述底板兩側各安裝有側板，所述下滑本體固定安裝于兩側板上，所述下滑本體的兩側都安裝有蓋板，所述蓋板與下滑軌道底部形成間隙，所述下滑本體與底板形成夾角。
[0006]本實用新型的進一步改進為，所述夾角的角度為40度至50度。
[0007]本實用新型的進一步改進為，所述夾角的角度為45度。
[0008]本實用新型的進一步改進為，所述下滑本體由不銹鋼材料制成，表面拋光處理。
[0009]本實用新型的進一步改進為，所述下滑軌道底部還設有DIP導向槽。
[0010]與現有技術相比，本實用新型采用在下滑本體中部設有下滑軌道，下滑本體與支撐座的底板成45度夾角，通過電子元件本身重力，電子元件沿下滑軌道自由滑動，由蓋板與下滑軌道底部形成的間隙對電子元件的端子的平整度進行檢測。本實用新型檢測精度高，誤判率低，勞動強度小。
【附圖說明】
[0011]圖1是本實用新型的電子元件平整度測試治具立體示意圖；
[0012]圖2是圖1的立體展開示意圖。
[0013]圖中各部件名稱如下:
[0014]I—支撐座；
[0015]11—底板；
[0016]12—側板；
[0017]2—下滑本體；
[0018]21—下滑軌道；
[0019]22—DIP 導向槽；
[0020]3一蓋板。
【具體實施方式】
[0021]下面結合【附圖說明】及【具體實施方式】對本實用新型進一步說明。
[0022]如圖1、圖2所示，一種電子元件平整度測試治具，其包括支撐座1、下滑本體2、蓋板3，所述下滑本體2中部設有下滑軌道21，所述下滑軌道21前端開口為喇叭形狀，便于放入和自由滑下；滑軌道21上要避開電子元件的相關位置，以免產生阻礙。所述支撐座I包括底板U，所述底板11兩側各安裝有側板12，所述下滑本體2固定安裝于兩側板12上，所述下滑本體2的兩側都安裝有蓋板3，所述蓋板3與下滑軌道21底部形成間隙，所述下滑本體2與底板11形成夾角。
[0023]具體地，如圖1、圖2所示，所述夾角的角度為40度至50度(依據電子元件的重力而定)，優選為45度。所述下滑本體2由不銹鋼材料制成，表面拋光處理。所述下滑軌道21底部還設有DIP導向槽22。
[0024]本實用新型的工作原理:通過電子元件本身的重力，電子元件自由滑動，由蓋板3與下滑軌道21底部形成的間隙對電子元件的端子的平整度進行檢測。附加條件:斜度為45度，電子元件與下滑軌道21表面接觸的粗糙度為0.8。方法:通過作業者進行手工放入和取出。判定:不能自由滑下的為NG，能夠自由滑下的為0K。
[0025]本實用新型的優點在于，本實用新型采用在下滑本體中部設有下滑軌道，下滑本體與支撐座的底板成45度夾角，通過電子元件本身重力，電子元件沿下滑軌道自由滑動，由蓋板與下滑軌道底部形成的間隙對電子元件的端子的平整度進行檢測。本實用新型檢測精度高，誤判率低，勞動強度小。
[0026]以上內容是結合具體的優選實施方式對本實用新型所作的進一步詳細說明，不能認定本實用新型的具體實施只局限于這些說明。對于本實用新型所屬技術領域的普通技術人員來說，在不脫離本實用新型構思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應當視為屬于本實用新型的保護范圍。
【主權項】
1.一種電子元件平整度測試治具，其特征在于:其包括支撐座(I)、下滑本體(2)、蓋板(3)，所述下滑本體(2)中部設有下滑軌道(21)，所述下滑軌道(21)前端開口為喇叭形狀，所述支撐座(I)包括底板(U)，所述底板(11)兩側各安裝有側板(12)，所述下滑本體(2)固定安裝于兩側板(12)上，所述下滑本體(2)的兩側都安裝有蓋板(3)，所述蓋板(3)與下滑軌道(21)底部形成間隙，所述下滑本體(2)與底板(11)形成夾角。2.根據權利要求1所述的電子元件平整度測試治具，其特征在于:所述夾角的角度為40度至50度。3.根據權利要求2所述的電子元件平整度測試治具，其特征在于:所述夾角的角度為45度。4.根據權利要求1至3任一項所述的電子元件平整度測試治具，其特征在于:所述下滑本體(2)由不銹鋼材料制成，表面拋光處理。5.根據權利要求1至3任一項所述的電子元件平整度測試治具，其特征在于:所述下滑軌道(21)底部還設有DIP導向槽(22)。
【專利摘要】本實用新型提供了一種電子元件平整度測試治具，其包括支撐座(1)、下滑本體(2)、蓋板(3)，所述下滑本體(2)中部設有下滑軌道(21)，所述下滑軌道(21)前端開口為喇叭形狀，所述支撐座(1)包括底板(11)，所述底板(11)兩側各安裝有側板(12)，所述下滑本體(2)固定安裝于兩側板(12)上，所述下滑本體(2)的兩側都安裝有蓋板(3)，所述蓋板(3)與下滑軌道(21)底部形成間隙，所述下滑本體(2)與底板(11)形成夾角。本實用新型檢測精度高，誤判率低，勞動強度小。
【IPC分類】G01B5/28
【公開號】CN205317144
【申請號】CN201520954518
【發明人】李冬根
【申請人】東莞榮光技研電子有限公司
【公開日】2016年6月15日
【申請日】2015年11月26日