基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型屬于機器視覺缺陷檢測技術領域，具體涉及基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置。
【背景技術】
[0002]光伏行業中，硅片作為太陽能電池片的原料，其質量直接決定后續生產環節的半成品、成品的品質，因此需要針對硅片進行及時有效的外觀缺陷檢測。目前，很多企業中都有相關的電池片檢測裝置，但這些設備在使用環境發生變化時很難進行快速有效的調整，靈活性不強，并且僅針對某種缺陷檢測有效，不具備廣泛的適用性，無法滿足越來越多企業低成本下的現代快生產的需求。
【實用新型內容】
[0003]實用新型目的:本實用新型提供基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，結構簡單，實現硅片外觀缺陷檢測的同時，降低了成本。
[0004]技術方案:為實現上述實用新型目的，本實用新型采用如下技術方案:基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，包括CCD相機、相機支架、光源、光源支架、箱體框架、箱體支架和凹槽;所述的箱體框架為底面開口的箱體結構，其包括前、后、左、右四個側面和頂面;所述的箱體框架的前、后側面的底部的對邊與單向傳送帶的傳送方向垂直，所述的箱體框架的左、右側面的底部的對邊通過箱體支架架設在雙向傳送帶上，雙向傳送帶與單向傳送帶位于同一平面且相互垂直;配合后，在所述的箱體框架的底面形成檢測平臺；在所述箱體框架的左、右側面的中心均分別設置凹槽，在所述的凹槽上均分別設置相機支架和光源支架，所述的CCD相機通過對稱設置的相機支架固定，所述的光源通過對稱設置的光源支架固定。
[0005]所述的CCD相機通過相機支架固定在箱體框架頂面與檢測平臺之間；所述的光源通過光源支架固定在CCD相機與檢測平臺之間。
[0006]所述的光源為方形光源。
[0007]所述的凹槽為豎直條形。
[0008]在所述的箱體框架的前側面設置開窗。
[0009]在所述的箱體支架上設有通孔。
[0010]有益效果:與現有技術相比，本實用新型的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置通過設置配合使用的箱體框架和支架，實現了對硅片外觀缺陷的在線檢測圖像采集;通過設置方形LED光源，并置于相機鏡頭底部，在視場內實現均勻打光并有效呈現硅片缺陷，并能夠進行適應性地靈活調節相機參數、相機位置、光源位置、易于安裝等優點，在生產檢測的環節中極大提高了檢測精度與速度，有效節約了成本;本實用新型的裝置結構科學，易于推廣應用，具備良好的實用性。
【附圖說明】
[0011]圖1為基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置的內部結構示意圖。
【具體實施方式】
[0012]以下結合附圖和【具體實施方式】對本實用新型做進一步的說明。
[0013]如圖1所示，基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，包括CCD相機1、相機支架2、光源3、光源支架4、箱體框架5、開窗6、箱體支架7和凹槽8。從左至右依次為相機支架2和光源支架4。
[0014]箱體框架5為底面開口的箱體結構，其包括前、后、左、右四個側面和頂面。
[0015]箱體框架5的前、后側面的底部的對邊與單向傳送帶9的傳送方向垂直，所述的箱體框架5的左、右側面的底部的對邊通過箱體支架7架設在雙向傳送帶10上，雙向傳送帶10與單向傳送帶9位于同一平面且相互垂直，單向傳送帶9和雙向傳送帶10均分別貫穿箱體框架5，便于輸送硅片；配合后，在箱體框架5的底面形成檢測平臺。經檢測不合格的硅片會經過雙向傳送帶10輸出，合格的硅片經單向傳送帶9繼續傳送。
[0016]在箱體框架5的左、右側面的中心均分別設置凹槽8，凹槽8設置在左、右側面的的內壁上，凹槽8為豎直條形。在凹槽8上均分別設置相機支架2和光源支架4，CCD相機I通過對稱設置的相機支架2固定，光源3通過對稱設置的光源支架4固定。光源3為方形光源。CCD相機I通過相機支架2固定在箱體框架5頂面與檢測平臺之間；光源3通過光源支架4固定在箱體內相機與檢測平臺之間。
[0017]在箱體框架5的前側面設置開窗6。在箱體支架7上設有通孔，箱體支架7通過螺絲螺母固定在生產線上視覺檢測部分的相應位置。
[0018]相機支架2和光源支架4的外端通過旋鈕調節伸縮長度固定在兩側凹槽8內，相機支架2和光源支架4的內端通過螺絲螺母分別固定CCD相機1、光源3;根據所需視場或物距大小調整所述相機支架2、光源支架4的伸縮長度，進而調整CCD相機I和光源3的高度，確保硅片表面打光均勻，成像清晰，滿足檢測所需圖像質量要求。
[0019]工作過程:硅片到達指定位置時，由光電傳感器觸發CCD相機I，通過相機支架2和光源支架4，CCD相機I和光源3的配合，從檢測平臺獲取硅片圖像，完成硅片外觀缺陷檢測，如果檢測結果為合格，則直接由單向傳送帶9流出，如果檢測結果為不合格，則根據不同的檢測結果由雙向傳送帶10的左右兩端分別流出。
【主權項】
1.基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:包括CCD相機(I)、相機支架(2)、光源(3)、光源支架(4)、箱體框架(5)、箱體支架(7)和凹槽(8);所述的箱體框架(5)為底面開口的箱體結構，其包括前、后、左、右四個側面和頂面;所述的箱體框架(5)的前、后側面的底部的對邊與單向傳送帶(9 )的傳送方向垂直，所述的箱體框架(5 )的左、右側面的底部的對邊通過箱體支架(7)架設在雙向傳送帶(10)上，雙向傳送帶(10)與單向傳送帶(9)位于同一平面且相互垂直;配合后，在所述的箱體框架(5)的底面形成檢測平臺；在所述箱體框架(5)的左、右側面的中心均分別設置凹槽(8)，在所述的凹槽(8)上均分別設置相機支架(2)和光源支架(4)，所述的CCD相機(I)通過對稱設置的相機支架(2)固定，所述的光源(3)通過對稱設置的光源支架(4)固定。2.根據權利要求1所述的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:所述的CCD相機(I)通過相機支架(2)固定在箱體框架(5)頂面與檢測平臺之間；所述的光源(3)通過光源支架(4)固定在C⑶相機(I)與檢測平臺之間。3.根據權利要求1所述的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:所述的光源(3)為方形光源。4.根據權利要求1所述的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:所述的凹槽(8)為豎直條形。5.根據權利要求1所述的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:在所述的箱體框架(5)的前側面設置開窗(6)。6.根據權利要求1所述的基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，其特征在于:在所述的箱體支架(7)上設有通孔。
【專利摘要】本實用新型公開了基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，屬于機器視覺缺陷檢測技術領域，基于機器視覺的原料硅片表面劃痕檢測裝置，包括箱體框架，箱體框架為底面開口的箱體結構，其包括前、后、左、右四個側面和頂面；箱體框架的前、后側面的底部的對邊與單向傳送帶的傳送方向垂直，箱體框架的左、右側面的底部的對邊通過箱體支架架設在雙向傳送帶上，雙向傳送帶與單向傳送帶位于同一平面且相互垂直；該裝置在太陽能電池片生產檢測的環節中極大提高了檢測精度與效率，有效降低了成本；且結構科學，易于推廣應用，具備良好的實用性。
【IPC分類】G01N21/95
【公開號】CN205246566
【申請號】CN201520839566
【發明人】孫智權, 童鋼, 周奇, 張千
【申請人】鎮江蘇儀德科技有限公司
【公開日】2016年5月18日
【申請日】2015年10月28日