一種基于探針的檢測頭結構的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及自動化檢測技術領域，尤其涉及一種基于探針的檢測頭結構。
【背景技術】
[0002]探針是電測試的接觸媒介，探針通常包括探針殼、探針頭，探針頭與探針殼之間彈性連接，探針頭可在探針套內伸縮。探針通常用來測試一些微型電子元器件的參數，例如測量電子元器件上兩個焊點之間的電阻、電流、電壓等。晶元是生產集成電路所用的載體，通常通過探針對進行檢測，由于一個晶元片上存在上百個晶元，單探針檢測頭檢測效率低，無法滿足生產檢測需求，需要多組探針同時檢測，然而目前沒有專門用于多組探針固定的夾具，即使有多組探針的檢測頭，檢測頭本身尺寸較大，無法檢測晶元片上排列緊密的晶元。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型為了解決現有技術中的探針檢測頭存在的上述的問題，提供了一種結構緊湊、體積小，能用于多組探針同時安裝定位、提高檢測效率的檢測頭結構，尤其適用于晶元芯片檢測。
[0004]為了實現上述目的，本實用新型采用如下技術方案:
[0005]—種基于探針的檢測頭結構，包括電路板、探針座，所述的探針座呈回字形結構，探針座上設有連接孔，探針座的底面通過連接孔與電路板連接，所述探針座的四個內壁分別向內延伸形成支撐塊，探針座內部未被支撐塊遮擋的空間形成卍字形通槽，所述支撐塊的底面與探針座的底端平齊，支撐塊的頂面從外端到內端向下傾斜，所述探針座的頂面上與支撐塊的連接處設有凹槽，所述凹槽的底面由支撐塊上的頂面延伸形成，每個凹槽內設有一組探針，所述的探針通過絕緣膠與探針座連接，探針的頭部位于卍字形通槽內，所述探針的頭部高出探針座頂面，每根探針的尾部通過導線與電路板連接。
[0006]檢測頭直接安裝到自動化檢測設備上，能快速對呈陣列分布的電子元器件進行檢測，尤其適合晶元片上的晶元檢測，四個支撐塊的分布非常緊湊，從而可以很大程度的縮減探針座的尺寸，更有利于測量排列緊密的晶元。
[0007]作為優選，所述的探針包括探針套、探針頭，探針頭可在探針套內彈性伸縮，探針頭的外端彎曲形成檢測端子，所述的檢測端子的軸線與探針座的端面垂直。檢測時，檢測端子保持與晶元片垂直，使得探針受力穩定，提高探針使用壽命。
[0008]作為優選，所述檢測端子的端面為球面。球面能防止檢測端子移動時在晶元表面產生刮痕。
[0009]作為優選，所述的電路板上位于探針座底面處設有觀察孔，每個支撐塊的底面外端設有連接柱。觀察孔是為了避讓卍字形通槽，連接柱與自動化設備連接，外界可以從觀察孔、卍字形通槽內直觀的看到探針頭部與待檢測物品的接觸狀態。
[0010]因此，本實用新型具有結構緊湊、體積小，能用于多組探針同時安裝定位、提高檢測效率的有益效果。
【附圖說明】
[0011]圖1為本實用新型的一種結構示意圖。
[0012]圖2為探針座的正面結構示意圖。
[0013]圖3為探針座的底面結構不意圖。
[0014]圖4為圖2中A-A處截面圖。
[0015]圖5為探針的結構示意圖。
[0016]圖中:電路板1、探針座2、連接孔3、支撐塊4、卍字形通槽5、凹槽6、探針7、絕緣膠8、導線9、觀察孔10、連接柱11、探針套70、探針頭71、檢測端子72。
【具體實施方式】
[0017]下面結合附圖和【具體實施方式】對本實用新型作進一步描述:
[0018]如圖1、圖2和圖3所示的一種基于探針的檢測頭結構，包括電路板1、探針座2，探針座2呈回字形結構，探針座2上設有連接孔3，探針座2的底面通過連接孔3與電路板連接，探針座的底面和頂面平行，探針座2的四個內壁分別向內延伸形成支撐塊4，探針座2內部未被支撐塊4遮擋的空間形成卍字形通槽5，如圖4所示，支撐塊4的底面與探針座的底端平齊，支撐塊4的頂面從外端到內端向下傾斜，探針座2的頂面上與支撐塊的連接處設有凹槽6，凹槽6的底面由支撐塊上的頂面延伸形成，每個凹槽6內設有一組探針7，探針通過絕緣膠8與探針座連接，探針7的頭部位于卍字形通槽5內，探針的頭部高出探針座2頂面，每根探針的尾部通過導線9與電路板I連接;電路板I上位于探針座的底面處設有觀察孔10，每個支撐塊的底面外端設有連接柱11。
[0019]如圖5所示，探針7包括探針套70、探針頭71，探針頭可在探針套內彈性伸縮，探針頭71的外端彎曲形成檢測端子72，檢測端子72的軸線與探針座I的端面垂直，檢測端子72的端面為球面。
[0020]檢測頭通過連接柱安裝到自動化監測設備上，外界從觀察孔、卍字形通槽內直觀的看到探針頭部與待檢測物品的接觸狀態，待檢測的晶元片安裝在滑動支架上，四組探針分別與晶元片上相鄰的四個晶元接觸，滑動支架帶動晶元片步進移動，每移動一次，同時檢測四個晶元，檢測效率高;本結構中，四個支撐塊的分布非常緊湊，從而可以很大程度的縮減探針座的尺寸，更有利于測量排列緊密的晶元，而且從底部的卍字形通槽中還能直觀的看到探針與待檢測物品的接觸狀態。本實用新型結構緊湊、體積小，能用于多組探針同時安裝定位、提高檢測效率的有益效果。
【主權項】
1.一種基于探針的檢測頭結構，其特征是，包括電路板、探針座，所述的探針座呈回字形結構，探針座上設有連接孔，探針座的底面通過連接孔與電路板連接，所述探針座的四個內壁分別向內延伸形成支撐塊，探針座內部未被支撐塊遮擋的空間形成卍字形通槽，所述支撐塊的底面與探針座的底端平齊，支撐塊的頂面從外端到內端向下傾斜，所述探針座的頂面上與支撐塊的連接處設有凹槽，所述凹槽的底面由支撐塊上的頂面延伸形成，每個凹槽內設有一組探針，所述的探針通過絕緣膠與探針座連接，探針的頭部位于卍字形通槽內，所述探針的頭部高出探針座頂面，每根探針的尾部通過導線與電路板連接。2.根據權利要求1所述的一種基于探針的檢測頭結構，其特征是，所述的探針包括探針套、探針頭，探針頭可在探針套內彈性伸縮，探針頭的外端彎曲形成檢測端子，所述的檢測端子的軸線與探針座的端面垂直。3.根據權利要求2所述的一種基于探針的檢測頭結構，其特征是，所述檢測端子的端面為球面。4.根據權利要求1所述的一種基于探針的檢測頭結構，其特征是，所述的電路板上位于探針座底面處設有觀察孔，每個支撐塊的底面外端設有連接柱。
【專利摘要】本實用新型涉及自動化檢測工裝技術領域，公開了一種基于探針的檢測頭結構，包括電路板、探針座，探針座的四個內壁分別向內延伸形成支撐塊，探針座內部未被支撐塊遮擋的空間形成卍字形通槽，支撐塊的底面與探針座的底端平齊，支撐塊的頂面從外端到內端向下傾斜，探針座的頂面上與支撐塊的連接處設有凹槽，凹槽的底面由支撐塊上的頂面延伸形成，每個凹槽內設有一組探針，探針通過絕緣膠與探針座連接，探針的頭部位于卍字形通槽內，探針的頭部高出探針座頂面，每根探針的尾部通過導線與電路板連接。本實用新型結構緊湊、體積小，能用于多組探針同時安裝定位、提高檢測效率的有益效果。
【IPC分類】G01R1/067
【公開號】CN205229219
【申請號】CN201521035563
【發明人】鄒磊
【申請人】普鑠電子(上海)有限公司
【公開日】2016年5月11日
【申請日】2015年12月12日