一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型屬于鐵電壓電材料性能測試技術領域，具體涉及一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具。
【背景技術】
[0002]鐵電材料具有良好的鐵電性、鐵彈性、熱釋電性、壓電性、逆壓電性以及非線性光學效應等特性，尤其是多種耦合性質，如力-電-熱耦合、電-聲-光耦合，使得鐵電材料獲得了十分廣泛的應用。鐵電材料制成的器件具有應用范圍廣、靈敏度高、可靠性高等優點。隨著科學技術的飛速發展，鐵電材料在使用范圍和使用環境方面需要存在更大的適應性，為此需要對樣品在不同溫度環境下的鐵電、壓電性能測試。傳統的鐵電壓電測試系統的測試夾具一般只能測常溫下的鐵電、壓電性能，并不能測試樣品的變溫鐵電、壓電性能。
【發明內容】
[0003]本實用新型目的在于提出一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，可測試塊體試樣的變溫鐵電、壓電性能。
[0004]為實現上述目的，本實用新型一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，包括支撐底座、下護套、加熱元件、下電極、上護套和上電極，所述支撐底座與下護套組成有機整體，所述支撐底座上設有卡槽，所述加熱元件為圓形陶瓷加熱片，所述圓形陶瓷加熱片安裝于所述卡槽內，所述下電極包括上端帶有圓形槽的銅柱和螺紋桿接線柱，所述銅柱安裝于底座上且緊貼于陶瓷加熱片，所述上護套安裝于下護套的上方，所述上電極包括固定套、伸縮桿和螺紋桿接線柱。
[0005]進一步的，所述卡槽呈圓形，所述卡槽側面設有I個通孔，所述圓形陶瓷加熱片的電源引線從通孔穿出，連接到智能控溫儀的負載接線柱，通過程序控制使陶瓷加熱片升溫，以對銅柱進行加熱控溫。
[0006]進一步的，所述卡槽的深度為I?3mm，根據陶瓷加熱片的厚度調整卡槽深度使銅柱緊貼于陶瓷加熱片。
[0007]進一步的，所述下護套側面設有I個通孔和I個螺紋通孔，所述銅柱側面設有I個孔和I個螺紋孔，且所述下護套通孔和銅柱孔對應設置，所述下護套螺紋通孔和銅柱螺紋孔對應設置，螺紋桿接線柱穿過所述下護套的螺紋通孔固定下護套和銅柱。
[0008]進一步的，還包括熱電偶，所述熱電偶插入銅柱，用于精確探測銅柱的溫度。
[0009]進一步的，所述銅柱的圓形槽為樣品池。
[0010]進一步的，所述上護套側面設有I個螺紋通孔，所述上護套的頂部設有I個通孔，便于光纖位移傳感器的光纖從頂部通孔伸入。
[0011]進一步的，所述固定套頂端開口、底端設有I個通孔，所述固定套側面設有I個螺紋通孔，且所述固定套側面的螺紋通孔與上護套側面的螺紋通孔對應設置，螺紋桿接線柱穿過所述上護套側面的螺紋通孔固定上護套和固定套。
[0012]進一步的，所述伸縮桿下方直徑略小于上方直徑，便于伸縮桿穿過固定套底端的通孔。
[0013]進一步的，所述支撐底座、下護套和上護套均由聚四氟乙烯制成。
[0014]進一步的，所述上電極和下電極均由黃銅制成。
[0015]本發明相對于現有技術具有如下優點:該夾具結構簡單、成本低廉;上下護套使用凹凸卡接方式，上下壓緊、固定效果好、隔熱絕緣、使用安全;通過陶瓷片對銅柱加熱，對樣品在不同溫度環境下的鐵電、壓電性能測試。
【附圖說明】
[0016]圖1為鐵電壓電系統的高溫測試夾具剖面結構示意圖。
【具體實施方式】
[0017]下面結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步的詳細說明。
[0018]如圖1所示，本實用新型的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，包括支撐底座
(I)、下護套(2)、加熱元件(3)、下電極(4)、上護套(5)和上電極(6)，所述支撐底座(I)與下護套(2)組成有機整體，所述支撐底座(I)上設有卡槽，所述加熱元件(3)為圓形陶瓷加熱片，所述圓形陶瓷加熱片安裝于所述卡槽內，所述下電極(4)包括上端帶有圓形槽的銅柱
(4.1)和螺紋桿接線柱(4.2)，所述銅柱(4.1)安裝于支撐底座(I)上且緊貼于陶瓷加熱片，所述上護套(5)安裝于下護套(2)上方，所述上電極(6)包括固定套(6.1)、伸縮桿(6.2)和螺紋桿接線柱(6.3)。
[0019]所述卡槽呈圓形，所述卡槽側面設有I個通孔。陶瓷加熱片的電源引線可以從通孔穿出，連接到智能控溫儀的負載接線柱，通過程序控制使陶瓷加熱片升溫，以對銅柱(4.1)進行加熱控溫。
[0020]所述卡槽的深度為I?3mm。根據陶瓷加熱片的厚度調整卡槽深度使銅柱(4.1)緊貼于陶瓷加熱片，利于導熱充分。
[0021]所述下護套(2)側面設有I個通孔和I個螺紋通孔，所述銅柱(4.1)側面設有I個孔和I個螺紋孔，且所述下護套(2)通孔和銅柱(4.1)孔對應設置，所述下護套(2)螺紋通孔和銅柱(4.1)螺紋孔對應設置。采用螺紋桿接線柱(4.2)，便于固定下護套(2)和銅柱(4.1);另外熱電偶(7)插入銅柱(4.1)，有利于精確探測銅柱(4.1)的溫度，能對試樣在高溫下進行極化測試。
[0022]所述銅柱(4.1)的圓形槽為樣品池(8)，小的樣品池(8)能有效節約極化硅油(10)，避免極化硅油(10)浪費。另外，樣品池(8)作為下電極(4)的一個有機部分，避免極化硅油
(10)的滲漏。
[0023]所述上護套(5)側面設有I個螺紋通孔，上護套(5)頂部設有I個通孔。光纖位移傳感器的光纖(9)從頂部通孔伸入到伸縮桿(6.2)的上方，通過探測伸縮桿(6.2)上表面的反射光，可以對試樣的壓電性能進行測試。
[0024]所述固定套(6.1)頂端開口、底端設有I個通孔，固定套(6.1)側面設有I個螺紋通孔，且與上護套(5)側面的螺紋通孔對應設置。利用螺紋桿接線柱(6.3)，可以有效固定上護套(5)和固定套(6.1)。
[0025]所述伸縮桿(6.2)下方直徑略小于上方直徑，且伸縮桿(6.2)穿過固定套(6.1)底端的通孔。通過固定套(6.1)固定伸縮桿(6.2)且保證伸縮桿(6.2)在一定范圍內自由上下伸縮。
[0026]所述的支撐底座(I)、下護套(2)和上護套(5)均由聚四氟乙烯制成便于隔熱絕緣。
[0027]所述上電極(4)和下電極(6)均由黃銅制成，既能保證良好的導電性，又能保證高的反射率。
[0028]上述具體實例方式為本發明的優選實施例，并不能對本發明進行限定，其他的任何未背離本發明的技術方案而所做的改變或其他等效的置換方式，都包含在本發明的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，包括支撐底座(I)、下護套(2)、加熱元件(3)、下電極(4)、上護套(5)和上電極(6)，其特征在于:所述支撐底座(I)與下護套(2)組成有機整體，所述支撐底座(I)上設有卡槽，所述加熱元件(3)為圓形陶瓷加熱片，所述圓形陶瓷加熱片安裝于所述卡槽內，所述下電極(4)包括上端帶有圓形槽的銅柱(4.1)和螺紋桿接線柱(4.2)，所述銅柱(4.1)安裝于底座(I)上且緊貼于陶瓷加熱片，所述上護套(5)安裝于下護套(2)的上方，所述上電極(6)包括固定套(6.1)、伸縮桿(6.2)和螺紋桿接線柱(6.3)。2.根據權利要求1所述的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，其特征在于:所述卡槽呈圓形，所述卡槽側面設有I個通孔，所述圓形陶瓷加熱片的電源引線從通孔穿出，連接到智能控溫儀的負載接線柱，通過程序控制使陶瓷加熱片升溫，以對銅柱(4.1)進行加熱控溫O3.根據權利要求1或2所述的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，其特征在于:所述卡槽的深度為I?3mm，根據陶瓷加熱片的厚度調整卡槽深度使銅柱(4.1)緊貼于陶瓷加熱片。4.根據權利要求1所述的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，其特征在于:所述下護套(2)側面設有I個通孔和I個螺紋通孔，所述銅柱(4.1)側面設有I個孔和I個螺紋孔，且所述下護套(2)通孔和銅柱(4.1)孔對應設置，所述下護套(2)螺紋通孔和銅柱(4.1)螺紋孔對應設置，螺紋桿接線柱(4.2)穿過所述下護套(2)的螺紋通孔固定下護套(2)和銅柱(4.1)05.根據權利要求1所述的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，其特征在于:還包括熱電偶(7)，所述熱電偶(7)穿過所述下護套(2)的通孔插入銅柱(4.1)，用于精確探測銅柱(4.1)的溫度。6.根據權利要求1所述的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，其特征在于:所述銅柱(4.1)的圓形槽為樣品池(8)。7.根據權利要求1所述的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，其特征在于:所述上護套(5)側面設有I個螺紋通孔，所述上護套(5)的頂部設有I個通孔。8.根據權利要求1所述的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，其特征在于:所述固定套(6.1)頂端開口、底端設有I個通孔，所述固定套(6.1)側面設有I個螺紋通孔，且所述固定套(6.1)側面的螺紋通孔與上護套(5)側面的螺紋通孔對應設置，螺紋桿接線柱(6.3)穿過所述上護套(5)側面的螺紋通孔固定上護套(5)和固定套(6.1)。9.根據權利要求1所述的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，其特征在于:所述伸縮桿(6.2)下方直徑略小于上方直徑，便于伸縮桿(6.2)穿過固定套(6.1)底端的通孔。10.根據權利要求1所述的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，其特征在于:所述支撐底座(I)、下護套(2)和上護套(5)均由聚四氟乙烯制成。11.根據權利要求1所述的一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，其特征在于:所述上電極(4)和下電極(6)均由黃銅制成。
【專利摘要】本實用新型涉及一種鐵電壓電測試系統的高溫測試夾具，包括支撐底座、下護套、加熱元件、下電極、上護套和上電極，所述支撐底座與下護套組成有機整體，所述支撐底座上設有卡槽，所述加熱元件為圓形陶瓷加熱片，所述圓形陶瓷加熱片安裝于所述卡槽內，所述下電極包括上端帶有圓形槽的銅柱和螺紋桿接線柱，所述銅柱安裝于底座上且緊貼于陶瓷加熱片，所述上護套安裝于下護套上方，所述上電極包括固定套、伸縮桿和螺紋桿接線柱。該測試夾具結構簡單、成本低廉；上下護套使用凹凸卡接方式，上下壓緊、固定效果好、隔熱絕緣、使用安全；通過加熱片對樣品池進行加熱，可對樣品在高溫下進行鐵電、壓電性能測試。
【IPC分類】G01R1/04
【公開號】CN205229190
【申請號】CN201520794679
【發明人】張景基, 王鴻, 王疆瑛, 高亞鋒
【申請人】中國計量學院
【公開日】2016年5月11日
【申請日】2015年10月10日