一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型屬于平整度測量技術領域，特別涉及一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀。
【背景技術】
[0002]隨著我國科學技術的不斷發展，機械工業的不斷變革，對測量精度的要求也越來越高。平面的表面平整度在工業領域是一個常見且十分重要的一個測量項目，對于各類零件的定位，安裝及檢測等都有著廣泛而重要的應用。平整度是加工或生產工業零件時表面不會絕對平整，所不平與絕對平整之間所差數據就是平整度，一般指晶片表面與基準平面之間的最高點和最低點的差值。目前的平整度測量儀比較龐大，精度高的測量儀比較昂貴，缺乏自動化、高測量精度的便攜式平整度測量儀。
【發明內容】
[0003]本實用新型的目的是針對現有平整度測量儀存在的不足，提供一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀。
[0004]本實用新型的技術解決方案是:一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，包括機械探針，步進電機，磁柵尺、底座，在所述底座的兩端設有支架，支架的一端安裝有步進電機，在支架的中間設置絲杠導軌，步進電機與絲杠導軌連接，在絲杠導軌上設置滑塊;所述磁柵尺為開放式，包括磁條、磁頭;所述磁柵尺安裝在所述滑塊的外表面，在所述滑塊上設置固定架，所述探針直接與磁條固定在固定架上，所述磁頭設置在滑塊上，所述磁頭與探針相嵌入口 ο
[0005]進一步地，所述磁條的輸出端與微型PC機連接，所述探針的位移轉化為所述磁條的位移，所述磁條位移轉化為模擬量輸出至微型PC機。
[0006]進一步地，所述探針包括探針內芯、探針外芯，在探針內芯的下部設有彈簧。
[0007]進一步地，所述探針內芯的上部安裝支撐架，支撐架為倒“L”型，在“L”型的豎直邊安裝磁條。
[0008]進一步地，在所述磁條與所述探針內芯相平行。
[0009]進一步地，所述探針在固定架上的固定端利用彈簧保持探針始終與待測平面保持接觸。
[0010]本實用新型技術方案是通過磁柵尺進行位移測量結合微型控制面板進行自動補償的一種接觸式測量裝置，在滿足精度的要求下有效縮小裝置的尺寸，從而達到便攜的目的。
[0011]本實用新型設計的平整度測量儀適用于檢測中小型的金屬平面，相對輕巧，便于攜帶至實驗現場，將本平整度測量儀固定于待測平面上，滑塊在步進電機的驅動下，帶動探針沿著絲杠導軌來回做直線運動，垂直于工作表面的探針隨著工作表面的不平輪廓產生垂直方向的位移，再通過磁柵尺將位移量轉換成電量的變化輸入微型PC機，微型PC機將在所有點測量完之后進行數據處理和分析，從而測出被測表面的表面平整度，通過液晶顯示屏顯示，從而實現對待測表面平整度的測量。
[0012]本實用新型平整度測量儀采用阿貝原則，即被測零件的尺寸線和儀器中作為讀數用的基準線應順序排成一條直線，只存在二次微小誤差，所以精度較高。
[0013]本實用新型的有益效果是:相對輕巧，便于攜帶至實驗現場，尤其對于很多不便于拆卸的平面平整度能夠進行有效而便捷的測量;精度較高，無需人員讀數或者其余高難度操作；自動化程度高，能夠準確獲得位置信息及該位置的平整度信息;符合經濟原則，成本低，物美價廉。
【附圖說明】
[0014]圖1是一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀結構圖。
[0015]圖2是探針及磁條的裝配圖。
[0016]其中:1.步進電機;2.絲杠導軌;3.滑塊;4.固定架;5.支架;6.底座;7.探針;8.磁條;9.磁頭；10.待測平面；11.支撐架；12.探針內芯；13.探針外芯；14.彈
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【具體實施方式】
[0017]下面詳細描述本實用新型的實施例，所述實施例的示例在附圖中示出，其中自始至終相同或類似的標號表示相同或類似的元件或具有相同或類似功能的元件。下面通過參考附圖描述的實施例是示例性的，旨在用于解釋本實用新型，而不能理解為對本實用新型的限制。
[0018]在本實用新型的描述中，需要理解的是，術語“縱向”、“橫向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“豎直”、“水平”等指示的方位或位置關系為基于附圖所示的方位或位置關系，僅是為了便于描述本發明和簡化描述，而不是指示或暗示所指的裝置或元件必須具有特定的方位、以特定的方位構造和操作，因此不能理解為對本實用新型的限制。
[0019]—種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，包括機械探針7，步進電機1，磁柵尺、底座6，在所述底座6的兩端設有支架5，支架5的一端安裝有步進電機1，在支架5的中間設置絲杠導軌2，步進電機1與絲杠導軌2連接，在絲杠導軌2上設置滑塊3;所述磁柵尺為開放式，包括磁條8、磁頭9;所述磁柵尺安裝在所述滑塊3的外表面，在所述滑塊3上設置固定架4，所述探針7直接與磁條8固定在固定架4上，所述磁頭9設置在滑塊3上，所述磁頭9與探針7相嵌合。
[0020]所述磁條8的輸出端與微型PC機連接，所述探針7的位移轉化為所述磁條8的位移，所述磁條8位移轉化為模擬量輸出至微型PC。
[0021 ]所述探針7包括探針內芯12、探針外芯13，在探針內芯12的下部設有彈簧14。
[0022]在所述探針內芯12的上部安裝支撐架11，支撐架11為倒“L”型，在“L”型的豎直邊安裝磁條8。
[0023]在所述磁條8與所述探針內芯12相平行。
[0024]所述探針7在固定架4上的固定端利用彈簧14保持探針7始終與待測平面10保持接觸。
[0025]盡管上面已經示出和描述了本實用新型的實施例，可以理解的是，上述實施例是示例性的，不能理解為對本實用新型的限制，本領域的普通技術人員在本實用新型的范圍內可以對上述實施例進行變化、修改、替換和變型。
【主權項】
1.一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，包括機械探針(7)，步進電機(1)，磁柵尺、底座(6)，其特征是在所述底座(6)的兩端設有支架(5)，支架(5)的一端安裝有步進電機(1)，在支架(5)的中間設置絲杠導軌(2)，步進電機(1)與絲杠導軌(2)連接，在絲杠導軌(2)上設置滑塊(3);所述磁柵尺為開放式，包括磁條(8)、磁頭(9);所述磁柵尺安裝在所述滑塊(3)的外表面，在所述滑塊(3)上設置固定架(4)，所述探針(7)直接與磁條(8)固定在固定架(4)上，所述磁頭(9)設置在滑塊(3)上，所述磁頭(9)與探針(7)相嵌合。2.根據權利要求1所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是所述磁條(8)的輸出端與微型PC機連接，所述探針(7)的位移轉化為所述磁條(8)的位移，所述磁條(8)位移轉化為模擬量輸出至微型PC。3.根據權利要求1所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是所述探針(7)包括探針內芯(12)、探針外芯(13)，在探針內芯(12)的下部設有彈簧(14)。4.根據權利要求2所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是在所述探針內芯(12)的上部安裝支撐架(11)，支撐架(11)為倒“L”型，在“L”型的豎直邊安裝磁條(8)。5.根據權利要求3所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是在所述磁條(8)與所述探針內芯(12)相平行。6.根據權利要求2所述的一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀，其特征是所述探針(7)在固定架(4)上的固定端利用彈簧(14)保持探針(7)始終與待測平面(10)保持接觸。
【專利摘要】本實用新型涉及一種基于磁柵尺的便攜平整度測量儀。包括機械探針7，步進電機1，磁柵尺、底座6，在所述底座6的兩端設有支架5，支架5的一端安裝有步進電機1，在支架5的中間設置絲杠導軌2，步進電機1與絲杠導軌2連接，在絲杠導軌2上設置滑塊3；所述磁柵尺為開放式，包括磁條8、磁頭9；所述磁柵尺安裝在所述滑塊3的外表面，在所述滑塊3上設置固定架4，所述探針7直接與磁條8固定在固定架4上，所述磁頭9設置在滑塊3上，所述磁頭9與探針7相嵌合。本實用新型便于攜帶至實驗現場，尤其對于很多不便于拆卸的平面平整度能夠進行有效而便捷的測量；精度較高，無需人員讀數或者其余高難度操作；自動化程度高，能夠準確獲得位置信息及該位置的平整度信息。
【IPC分類】G01B7/34
【公開號】CN205138418
【申請號】CN201520947558
【發明人】張代林, 朱鴻, 左蘇, 劉陽, 陳幼平, 李軼, 張興, 羅昕, 張湧正
【申請人】華中科技大學
【公開日】2016年4月6日
【申請日】2015年11月25日