一種超聲波綜合檢測試塊的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種檢測試塊，尤其是一種超聲波綜合檢測試塊。
【背景技術】
[0002]在超聲波檢測技術中，探頭與探傷儀的組合性能好壞直接影響到超聲波檢測結果。常用的標準超聲波檢測試塊有CSK-1 A、CSK-1I A、CSK-1IIA、WGT-l、WGT-2、WGT-3等，不同的標準試塊有不同的檢測功能。
【實用新型內容】
[0003]本實用新型要解決的技術問題是提供一種超聲波綜合檢測試塊，可以通過此試塊同時檢測單晶直探頭和雙晶直探頭的底面分辨力、近表面分辨力、靈敏度，探測儀的垂直性能、水平性能。
[0004]為了解決上述技術問題，本實用新型的技術方案為:
[0005]—種超聲波綜合檢測試塊，長105mm，寬40mm，高60mm，包括6個直徑1mm的平底孔，分別為第一平底孔、第二平底孔、第三平底孔、第四平底孔、第五平底孔、第六平底孔，其中第一平底孔埋藏深度為2.5mm，第二平底孔埋藏深度為5mm，第三平底孔埋藏深度為10mm，第四平底孔埋藏深度為15mm，第五平底孔埋藏深度為20mm，第六平底孔埋藏深度為100mmo
[0006]所述的第一、第二、第三、第四、第五平底孔處于同一水平線上，兩兩相隔20mm，位于試塊下部，開孔方向垂直于主視面向內。
[0007]所述的第六平底孔位于試塊上部，開孔方向垂直于左視面向內。
[0008]沿試塊主視面下105mm邊線去除一個長105mm，高20mm，寬15mm的長方體，形成一個厚度25mm的臺階面和一個厚度40mm的臺階面。
[0009]本實用新型整合6種不同埋藏深度的平底孔，并包含多個不同厚度的臺階面，使得本試塊可以同時檢測單晶直探頭和雙晶直探頭的底面分辨力、近表面分辨力、靈敏度，探測儀的垂直性能、水平性能，且體積小、攜帶方便。
【附圖說明】
[0010]圖1為本實用新型主視圖。
[0011]圖2為本實用新型俯視圖。
[0012]圖3為本實用新型左視圖。
[0013]圖4、圖5、圖6、圖7為本實用新型【具體實施方式】圖例。
【具體實施方式】
[0014]下面結合附圖和具體實施例對本實用新型作進一步詳細的說明。
[0015]一種超聲波綜合檢測試塊，如圖1、圖2、圖3所示，長105mm，寬40mm，高60mm，包括6個直徑1mm的平底孔，分別為第一平底孔K1、第二平底孔K2、第三平底孔K3、第四平底孔K4、第五平底孔K5、第六平底孔K6，其中第一平底孔K1埋藏深度為2.5mm，第二平底孔K2埋藏深度為5mm，第三平底孔K3埋藏深度為10mm，第四平底孔K4埋藏深度為15mm，第五平底孔K5埋藏深度為20mm，第六平底孔K6埋藏深度為100mm ;所述的第一平底孔K1、第二平底孔K2、第三平底孔K3、第四平底孔K4、第五平底孔K5處于同一水平線上，兩兩相隔20mm，位于試塊下部，開孔方向垂直于主視面向內；所述的第六平底孔K6位于試塊上部，開孔方向垂直于左視面向內。沿試塊主視面下105mm邊線去除一個長105mm，高20mm，寬15mm的長方體，形成一個25_的臺階面和一個40_的臺階面。
[0016]測定單晶直探頭的底面分辨力:將待測單晶直探頭與探傷儀連接，耦合在試塊右偵牝聲束朝向Φ l-100mm第六平底孔K6，如圖4所示，找到平底孔最大回波并調整其高度達到50%垂直滿意度，然后提高探傷儀增益，使平底孔最大回波后沿與底波前沿之間的波谷上升到50%垂直滿意度所需的分貝值即為待測單晶直探頭的底面分辨力。這是一種相對比較，分貝值越大，則該單晶直探頭的底面分辨力越好。
[0017]測定單晶直探頭的靈敏度:探頭位置不變，將探傷儀的靈敏度開到最大(以電噪聲不超過10%滿刻度為限)，然后降低探傷儀增益，使平底孔最大回波高度下降到50%垂直滿刻度所需的分貝值即為探傷靈敏度余量。測得分貝值越大，則該單晶直探頭的靈敏度余量越大，也就是說靈敏度越高。
[0018]測定雙晶直探頭的底面分辨力:把雙晶直探頭耦合在試塊厚度25_的臺階面上，聲束對準Φ l-20mm第五平底孔K5，如圖5所示，找到平底孔最大回波并調整其高度達到50%垂直滿刻度，測定該回波后沿與底波前沿之間的波谷上升到50%垂直滿刻度所需的分貝值，該分貝值即為底面分辨力。這是一種相對比較，分貝值越大，則該雙晶直探頭的底面分辨力越好。
[0019]測定單晶直探頭的近表面分辨力:單晶直探頭耦合在試塊右側，聲束朝向Φ l-100mm第六平底孔K6，如圖4所示，找到平底孔最大回波并調整其高度達到50%垂直滿刻度，然后把探頭耦合到試塊厚度25_的臺階面上，逐個探測第一平底孔K1、第二平底孔K2、第三平底孔K3、第四平底孔K4、第五平底孔K5，以最近的可分辨平底孔回波的埋藏深度作為近表面分辨力，此時該平底孔回波前沿與始波后沿之間的波谷應至少低至20%垂直滿刻度。
[0020]測定雙晶直探頭的近表面分辨力:把雙晶直探頭耦合到試塊厚度25_的臺階面上，聲束對準Φ l-20mm第五平底孔K5，找到平底孔最大回波并調整其高度達到50%垂直滿刻度，然后移動探頭逐個探測第四平底孔K4、第三平底孔K3、第二平底孔K2、第一平底孔K1，以最近的可分辨平底孔回波的埋藏深度作為近表面分辨力，此時該平底孔回波前沿與始波后沿之間的波谷應至少低至20%垂直滿刻度。
[0021]簡易測定探傷儀的垂直線性:將直探頭耦合在試塊頂面，聲束指向試塊底面，首先將直探頭移動至厚度60_—側，如圖6所示，注意避開平底孔的干擾，使第一次底波下降到50%垂直滿刻度，然后移動探頭至厚度40mm—側，如圖7所示，同樣注意避開平底孔的干擾。根據理論計算，其底波高度應升高3.5D，測試實際升高值并與理論值比較，作為相對比較，可以簡易評定超聲波探傷儀的垂直線性好壞。
[0022]簡易測定探傷儀的水平線性:把直探頭耦合在試塊厚度40mm的平面上，從試塊上的40mm厚度按一般通用方法(五次底波法、六次底波法等)校驗儀器的水平線性。
[0023]此外，利用本實用新型試塊也可以測定儀器的動態范圍、組合雙晶直探頭的靈敏度等，其方法與一般情況相同。
【主權項】
1.一種超聲波綜合檢測試塊，長105mm，寬40mm，高60mm，其特征在于:包括6個直徑1mm的平底孔，分別為第一平底孔(K1)、第二平底孔(K2)、第三平底孔(K3)、第四平底孔(K4)、第五平底孔(K5)、第六平底孔(K6)，其中第一平底孔(K1)埋藏深度為2.5mm，第二平底孔(K2)埋藏深度為5mm，第三平底孔(K3)埋藏深度為10mm，第四平底孔(K4)埋藏深度為15mm，第五平底孔(K5)埋藏深度為20mm，第六平底孔(K6)埋藏深度為100mm ;所述的第一平底孔(K1)、第二平底孔(K2)、第三平底孔(K3)、第四平底孔(K4)、第五平底孔(K5)處于同一水平線上，兩兩相隔20mm，位于試塊下部，開孔方向垂直于主視面向內；所述的第六平底孔(K6)位于試塊上部，開孔方向垂直于左視面向內。2.根據權利要求1所述的超聲波綜合檢測試塊，其特征在于:沿試塊主視面下105_邊線去除一個長105mm，高20mm，寬15mm的長方體，形成一個25mm的臺階面和一個40mm的臺階面。
【專利摘要】本實用新型涉及一種超聲波綜合檢測試塊，長105mm，寬40mm，高60mm，包括6個直徑1mm的平底孔，分別為第一至第六平底孔，其中第一平底孔埋藏深度為2.5mm，第二平底孔埋藏深度為5mm，第三平底孔埋藏深度為10mm，第四平底孔埋藏深度為15mm，第五平底孔埋藏深度為20mm，第六平底孔埋藏深度為100mm；所述的第一平底孔、第二平底孔、第三平底孔、第四平底孔、第五平底孔處于同一水平線上，兩兩相隔20mm，位于試塊下部，開孔方向垂直于主視面向內；所述的第六平底孔位于試塊上部，開孔方向垂直于左視面向內。本實用新型可以同時檢測單晶直探頭和雙晶直探頭的底面分辨力、近表面分辨力、靈敏度，探測儀的垂直性能、水平性能，且體積小、攜帶方便。
【IPC分類】G01N29/30
【公開號】CN205015314
【申請號】CN201520485820
【發明人】金世貴, 許蒙
【申請人】金世貴
【公開日】2016年2月3日
【申請日】2015年7月7日