一種納米金標試紙檢測系統的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及檢測領域，尤其涉及一種納米金標試紙檢測系統。
【背景技術】
[0002]目前，試紙檢測主要依靠目測判決，即由人眼直接觀測測試結果，通過與標準比色卡對比，定性的得出檢測結果。這種檢測方法使檢測的結果準確性較差、可靠性較低。
【實用新型內容】
[0003]為解決上述技術問題，本實用新型提供一種納米金標試紙檢測系統。
[0004]本實用新型所采取的技術方案:
[0005]一種納米金標試紙檢測系統包括(XD傳感器，信號調理器，A/D轉換模塊，電平轉換模塊，CPLD，ARM處理器，以太網通訊模塊，FIFO緩存模塊，顯示模塊。所述(XD傳感器的輸出端連接信號調理器，所述信號調理器的輸出端連接A/D轉換模塊，所述A/D轉換模塊的輸出端連接電平轉換模塊，所述電平轉換模塊的輸出端連接CPLD，所述CPLD與ARM處理器雙向連接，所述ARM處理器與以太網通訊模塊雙向連接，所述FIFO緩存模塊與CPLD雙向連接，所述ARM處理器的輸出端連接顯示模塊，所述CPLD的輸出端分別連接CCD傳感器和A/D轉換模塊。
[0006]本實用新型的有益效果:本實用新型采用一種納米金標試紙檢測系統，通過采用光電檢測原理，使檢測結果得到了定量測量，測試結果更加準確、可靠。
【附圖說明】
[0007]圖1為本實用新型的結構示意圖。
[0008]以下將結合本實用新型的實施例參照附圖進行詳細敘述。
【具體實施方式】
[0009]實施例1 一種納米金標試紙檢測系統。
[0010]如圖1所示，一種納米金標試紙檢測系統包括(XD傳感器，信號調理器，A/D轉換模塊，電平轉換模塊，CPLD，ARM處理器，以太網通訊模塊，FIFO緩存模塊，顯示模塊。所述CCD傳感器的輸出端連接信號調理器，所述信號調理器的輸出端連接A/D轉換模塊，所述A/D轉換模塊的輸出端連接電平轉換模塊，所述電平轉換模塊的輸出端連接CPLD，所述CPLD與ARM處理器雙向連接，所述ARM處理器與以太網通訊模塊雙向連接，所述FIFO緩存模塊與CPLD雙向連接，所述ARM處理器的輸出端連接顯示模塊，所述CPLD的輸出端分別連接(XD傳感器和A/D轉換模塊。
[0011]使用時，由CCD傳感器采集試紙反射的光強度信號，并將該信號轉化為模擬電信號，模擬電信號經過信號調理器處理后得到穩定的模擬電信號，并保證模擬電信號符合A/D轉換的要求，模擬電信號經A/D轉換模塊后轉化為數字電信號，數字電信號經電平轉換模塊后，信號電壓達到了 CPLD的輸入要求，CPLD的輸出信號經ARM處理器處理后，部分發送至顯示模塊進行顯示，部分與以太網通訊模塊進行通信，進一步把測量結果和采集的數據傳送到計算機。由于CPLD的接收和處理速度有限，特設置FIFO緩存模塊來作為臨時數據存儲單元。
【主權項】
1.一種納米金標試紙檢測系統，其特征在于，包括CCD傳感器，信號調理器，A/D轉換模塊，電平轉換模塊，CPLD，ARM處理器，以太網通訊模塊，FIFO緩存模塊，顯示模塊，所述(XD傳感器的輸出端連接信號調理器，所述信號調理器的輸出端連接A/D轉換模塊，所述A/D轉換模塊的輸出端連接電平轉換模塊，所述電平轉換模塊的輸出端連接CPLD，所述CPLD與ARM處理器雙向連接，所述ARM處理器與以太網通訊模塊雙向連接，所述FIFO緩存模塊與CPLD雙向連接，所述ARM處理器的輸出端連接顯示模塊，所述CPLD的輸出端分別連接CCD傳感器和A/D轉換模塊。
【專利摘要】一種納米金標試紙檢測系統包括CCD傳感器，信號調理器，A/D轉換模塊，電平轉換模塊，CPLD，ARM處理器，以太網通訊模塊，FIFO緩存模塊，顯示模塊。所述CCD傳感器的輸出端連接信號調理器，所述信號調理器的輸出端連接A/D轉換模塊，所述A/D轉換模塊的輸出端連接電平轉換模塊，所述電平轉換模塊的輸出端連接CPLD，所述CPLD與ARM處理器雙向連接，所述ARM處理器與以太網通訊模塊雙向連接，所述FIFO緩存模塊與CPLD雙向連接，所述ARM處理器的輸出端連接顯示模塊，所述CPLD的輸出端分別連接CCD傳感器和A/D轉換模塊。通過采用光電檢技術測使檢測結果更加準確、可靠。
【IPC分類】G01N21/84
【公開號】CN205015279
【申請號】CN201520623689
【發明人】張貽琛, 楊嘉偉
【申請人】普生（天津）科技有限公司
【公開日】2016年2月3日
【申請日】2015年8月18日