一種新型探針檢測治具的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及檢測治具應用領域，尤其涉及一種用于PCB開短路測試的新型探針檢測治具。
【背景技術】
[0002]目前，現有的PCB的開短路測試檢測治具存在如下缺點:一是該檢測治具中的最小測試探針的直徑一般為0.15mm，在高精密PCB的產品中該測試探針因直徑過大而無法進行正常的檢測；二是該檢測治具一般不具備浮動的精準設計，使測試用的探針外露無法有效的保護探針，同時也影響了使其檢測的結果。
[0003]在2011.07.06公告的、公告號為CN20189269U的中國實用新型專利中，公開了一種改良的探針檢測結構，是指檢測治具的針板內設有預定數目的檢測用探針、供探針復位的彈性組件、及供檢測值傳輸至檢測機的導線；其中，針板包含有中間承板、底板和面板，它們相互通過數軸銷穿置結合，該中間承板設有容納孔供彈性組件容置，該底板位于中間承板下方承接著彈性組件，設有與中間承板的容納孔對應并呈較小的穿孔，該導線一端連接在彈性組件一端，另端連接在檢測機或接頭；其特征在于:該面板設有上板、下板和夾設在上、下板之間的彈性薄板，在上、下板分別設有與彈性組件相對應的針孔，該探針一端設為尖錐體，是由面板的上板針孔處插入，并刺破彈性薄板和經過下板針孔而插置在對應彈性組件的一端內徑位置。本實用新型制作更具簡易、方便和經濟性，及可使探針高密度的布設在檢測治具，并對具有高密度被檢測點的被測物實施精準、確實檢測效果，從而更加適于實用。
[0004]但該檢測結構是在針板內設置更多數目的探針，以高密度的布設來實現，因此，其仍沒有解決現有檢測治具中探針直徑過大和無法有效的保護探針的缺點。
【發明內容】
[0005]為克服上述缺點，本實用新型的目的在于提供一種新型探針檢測治具，已達到減小探針的直徑，使其在高精密PCB的產品中正常檢測，并且更有效的保護探針，使其檢測結果更加精準的目的。
[0006]為了達到以上目的，本實用新型采用的技術方案是:一種新型探針檢測治具，包括被測電路板、探針裝置和連接器，所述探針裝置包括針盤、探針和線盤所述針盤內設置有卡住所述探針的卡槽，所述探針直徑設置為0.04mm，所述探針的表面設置有絕緣層；所述線盤設置在所述針盤的下方，所述線盤的頂端設置有電極面，所述線盤內設置有浮動部件，其可帶動線盤進行上下的壓縮和伸出運動，所述電極面通過漆包線與所述連接器電連接，所述探針通過與電極面接觸后與所述連接器通電連接，對被測電路板進行開短路檢測。通過將探針的直徑設置為0.04_，使其在高精密PCB的產品中可正常的檢測，探針可高密度分布，使其更高效的進行檢測；在探針的表面設置絕緣層，可有效的避免因探針彎曲造成的誤測；在線盤內設置有浮動部件，浮動部件可根據需要對線盤進行壓縮或伸出，控制電極面與探針的接觸距離，可有效的控制探針突量，進而更有效的保護探針，還使其檢測結果更加精準，提高其檢測精度。
[0007]進一步地，所述針盤設置為堆棧的板材結構，多層堆棧的結構可減少探針上下運行的阻力，使探針運行更加順暢。
[0008]進一步地，所述針盤相鄰兩層之間設置有銅支柱，以銅支柱相連接及密合，使針盤更加牢固，還可使板材公差的可控范圍更小，有效的控制針痕。
[0009]進一步地，所述電極面的表面鍍有一鍍金層，以增強電極面的通導性，使其通導后反應更加靈敏。
【附圖說明】
[0010]圖1為本實施例的結構示意圖。
[0011]圖中:
[0012]1-被測電路板；2_探針裝置；3_連接器；4-針盤；5-探針；6-線盤；7-卡槽；8_電極面；9_浮動部件。
【具體實施方式】
[0013]下面結合附圖對本實用新型的較佳實施例進行詳細闡述，以使本實用新型的優點和特征能更易于被本領域技術人員理解，從而對本實用新型的保護范圍做出更為清楚明確的界定。
[0014]參見附圖1所示，本實施例的一種新型探針檢測治具，包括被測電路板1、探針裝置2和連接器3，探針裝置2包括針盤4、探針5和線盤6，針盤4內設置有卡住探針5的卡槽7，針盤4設置為多層堆棧的板材結構，可減少探針5上下運行的阻力，使探針5運行更加順暢；針盤4相鄰兩層之間設置有銅支柱，以銅支柱相連接及密合，使針盤4更加牢固，還可使板材公差的可控范圍更小，有效的控制針痕。探針5直徑設置為0.04_，使其在高精密PCB的產品中可正常的檢測，探針5可高密度分布，使其更高效的進行檢測；探針5的表面設置有絕緣層，使得探針5在彎曲時不易短路，具有較好的韌性；線盤6設置在針盤4的下方，線盤6的頂端設置有電極面8，電極面8的表面鍍有一鍍金層，以增強電極面8的通導性；線盤6內設置有浮動部件9，其可帶動線盤6進行上下的壓縮和伸出運動，以控制電極面8與探針5的接觸距離，可有效的控制探針5突量，進而更有效的保護探針5 ;電極面8通過漆包線與連接器3電連接，探針5通過與電極面8接觸后與連接器3通電連接，對被測電路板1進行開短路檢測。
[0015]探針5在未受壓力時藏在針盤4內，受到壓力后探針5再彈出，這樣可更有效的保護了探針5，延長其使用壽命。
[0016]本檢測治具可以通過連接器實現與ICT治具的配合，實現自動化測試的需求。
[0017]以上實施方式只為說明本實用新型的技術構思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術的人了解本實用新型的內容并加以實施，并不能以此限制本實用新型的保護范圍，凡根據本實用新型精神實質所做的等效變化或修飾，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍內。
【主權項】
1.一種新型探針檢測治具，包括被測電路板(1)、探針裝置(2)和連接器(3)，其特征在于:所述探針裝置(2 )包括針盤(4 )、探針(5 )和線盤(6 )，所述針盤(4 )內設置有卡住所述探針(5 )的卡槽(7 )，所述探針(5 )直徑設置為0.04mm，所述探針(5 )的表面設置有絕緣層；所述線盤(6 )設置在所述針盤(4 )的下方，所述線盤(6 )的頂端設置有電極面(8 )，所述線盤(6)內設置有浮動部件(9)，其可帶動線盤(6)進行上下的壓縮和伸出運動，所述電極面(8)通過漆包線與所述連接器(3)電連接，所述探針(5)通過與電極面(8)接觸后與所述連接器(3 )通電連接，對被測電路板(1)進行開短路檢測。2.根據權利要求1所述的一種新型探針檢測治具，其特征在于:所述針盤(4)設置為堆棧的板材結構。3.根據權利要求2所述的一種新型探針檢測治具，其特征在于:所述針盤(4)相鄰兩層之間設置有銅支柱。4.根據權利要求3所述的一種新型探針檢測治具，其特征在于:所述電極面(8)的表面鍍有一鍍金層。
【專利摘要】本實用新型公開了一種新型探針檢測治具，包括被測電路板（1）、探針裝置（2）和連接器（3），探針裝置（2）包括針盤（4）、探針（5）和線盤（6），針盤（4）內設置有卡住探針（5）的卡槽（7），探針（5）直徑設置為0.04mm，探針（5）表面設置有絕緣層；線盤（6）設置在針盤（4）下方，線盤（6）頂端設置有電極面（8），線盤（6）內設置有浮動部件（9），電極面（8）通過漆包線與連接器（3）電連接，探針（5）通過與電極面（8）接觸后與連接器（3）通電連接，對被測電路板（1）進行開短路檢測。本實用新型減小探針的直徑，使其在高精密PCB產品中正常檢測，更有效的保護探針，使其檢測結果更精準。
【IPC分類】G01R31/02, G01R1/067
【公開號】CN204989253
【申請號】CN201520452598
【發明人】蘇軍梅
【申請人】深圳市芽莊電子有限公司
【公開日】2016年1月20日
【申請日】2015年6月29日