一種測試編帶機的芯片探測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及LED測試編帶機技術領域，特別是涉及一測試編帶機的芯片探測
目.ο
【背景技術】
[0002]為了適應LED的SOD系列的芯片通過SMT技術貼裝至電路板的要求，SOD系列的芯片一般情況下需要進行編帶封裝，于是測試編帶機因此而存在。為了配合編帶機整機的自動化生產，編帶機中的SOD系列的芯片必須是方向一致的編帶產品。
[0003]現有技術中的SOD芯片的測試一般使用高速光學光譜儀、電參量測量儀和機械傳送系統。具體的，其機械傳送系統主要包括振動入料、吸料移送、芯片定位、芯片測試、芯片轉向、分料機構、芯片測試是測試編帶機的核心機構，中國專利201110242970.9公開了一種SMD LED貼片分光機用芯片探測裝置，該專利的驅動源驅動同步驅動機構，彈性探針組件在同步驅動機構的作用下可同時接觸或者遠離待測試芯片，這種結構在探測時一次只能進行一個芯片的測試，效率較低。
【實用新型內容】
[0004]本實用新型為了克服現有技術中一次只能探測一個芯片之效率較低的不足，提供了一次可探測多個芯片的高效率的測試編帶機的芯片探測裝置。
[0005]本實用新型是通過下述技術方案來解決上述技術問題的:
[0006]—種測試編帶機的芯片探測裝置，用于連接芯片與測試設備進行檢測，包括探測頭夾具和驅動探測頭夾具活動的驅動機構，所述探測頭夾具包括兩個主干臂，兩個主干臂的中心位置鉸接于一轉軸，兩個主干臂的端頭與所述轉軸之間設有連接兩個主桿的一拉簧，所述主干臂的端頭延伸出兩個分枝臂，所述兩個主干臂共延伸出八個分枝臂，每個分枝臂設有與芯片觸腳對應的彈性電極探針，所述驅動機構包括一底座、固定至底座上的減速電機以及與減速電機傳動相連的絲桿組件，所述絲桿組件的絲桿的兩端通過軸承座固定至底座上，所述絲桿的一端通過聯軸器與減速電機的動力輸出軸連接，所述探測頭夾具的兩主干臂的轉軸固連至絲桿組件的滑塊，所述兩主干臂之間設有一凸塊，所述凸塊固連至底座上，所述凸塊位于所述絲桿的軸心線的同一直線上。
[0007]更具體的，所述彈性電極探針的一端為一彈性觸頭，另一端通過導線與測試設備連接，所述導線與彈性觸頭連接。
[0008]更具體的，所述所述一個主干臂端頭延伸出的兩個分枝臂互相垂直，且每個分支臂和與該主干臂的夾角均為度。
[0009]更具體的，所述滑塊在轉軸的兩側分別設有兩個限位柱。
[0010]更具體的，所述凸塊為橢圓柱體或圓柱體。
[0011 ] 更具體的，所述主干臂端頭延伸出的兩個分枝臂與主干臂一體成型。
[0012]更具體的，還包括與探測頭夾具配合的真空吸嘴裝置，所述真空吸嘴裝置包括一個吸嘴架和固連至吸嘴架的四個真空吸嘴，所述四個真空吸嘴的位置與探測頭夾具中固定待測芯片的位置對應。
[0013]本實用新型的有益效果在于，本實用新型通過一對鉸接的十字架狀的主干臂結構，固定有四組彈性探測電極，相對的兩組彈性探測電極為對稱狀態，一次可同時探測一對芯片，位置精確，通過輕微的角度調整，可以使另一方向的對稱彈性探測電極探測另一對芯片，測試速度大大提升。
【附圖說明】
[0014]圖1為本實用新型的俯視圖。
[0015]圖2為本實用新型的真空吸嘴裝置的俯視圖。
【具體實施方式】
[0016]下面結合附圖給出本實用新型較佳實施例，以詳細說明本實用新型的技術方案。
[0017]如圖1，實施例包括探測頭夾具和驅動探測頭夾具活動的驅動機構，所述探測頭夾具包括兩個主干臂1，兩個主干臂I的中心位置鉸接于一轉軸2，兩個主干臂I的端頭與所述轉軸2之間設有連接兩個主桿I的一拉簧11，所述主干臂I的端頭延伸出兩個一體成型的分枝臂3，所述兩個主干臂I共延伸出八個分枝臂3，每個分枝臂3設有與芯片觸腳對應的彈性電極探針4。
[0018]所述驅動機構包括一底座6、固定至底座6上的減速電機5以及與減速電機5傳動相連的絲桿組件80，所述絲桿組件80的絲桿的兩端通過軸承座7固定至底座6上，所述絲桿的一端通過聯軸器51與減速電機5的動力輸出軸連接，所述探測頭夾具的兩主干臂I的轉軸2固連至絲桿組件80的滑塊81，所述兩主干臂I之間設有一凸塊84，所述凸塊84固連至底座6上，所述凸塊84位于所述絲桿的軸心線的同一直線上。
[0019]所述彈性電極探針4的一端為一彈性觸頭40，另一端通過導線41與測試設備連接，所述導線41與彈性觸頭40連接。
[0020]所述一個主干臂I端頭延伸出的兩個分枝臂3互相垂直，且每個分支臂3和與該主干臂I的夾角均為135度。
[0021]所述滑塊81在轉軸2的兩側分別設有兩個限位柱83。
[0022]所述凸塊84為橢圓柱體。
[0023]還包括與探測頭夾具配合的真空吸嘴裝置9，所述真空吸嘴裝置9包括一個吸嘴架90和固連至吸嘴架90的四個真空吸嘴91，所述四個真空吸嘴91的位置與探測頭夾具所探測的芯片位置對應。
[0024]工作原理:
[0025]本實施例中所述芯片10兩側各有兩個電極，真空吸嘴裝置9的四個真空吸嘴91會先吸取四個待檢測的芯片，如圖2。
[0026]初始狀態下，探測頭夾具的兩個主干臂I由于在拉簧11拉力的作用，兩個主干臂I會抵接限位柱83，從而使兩個主干臂I在拉簧方向呈較小的銳角狀態，隨后減速電機5驅動絲桿組件80，使與滑塊81連接的兩個主干臂I向前移動，兩個主干臂I隨轉軸2向前移動過程中，會抵接所述橢圓柱體的凸塊84，隨著轉軸2的向前移動，在凸塊84的反用力作用下，兩個主干臂I會克服拉簧11的拉力使兩個主干臂I在凸塊84和拉簧11方向的夾角越來越大，當夾角到達90度時，剛好使兩個主干臂I分成的四個空區大小一致，隨后真空吸嘴裝置9帶著四個芯片移動到四個空區內，隨后減速電機5驅動滑塊81及兩個主干臂I向后移動，使彈性電極探針4與一對芯片電極接觸，此時即可對其中一對芯片進行測試。測試完畢后，減速電機5驅動滑塊81和兩個主干臂I向前移動，改變夾角的大小，使彈性電極探針4與另一對芯片接觸，并檢測另一對芯片。
[0027]經過實驗表明，本實施例的測試速度可以達到現有技術的測試速度的4倍。
[0028]雖然以上描述了本實用新型的【具體實施方式】，但是本領域的技術人員應當理解，這些僅是舉例說明，本實用新型的保護范圍是由所附權利要求書限定的。本領域的技術人員在不背離本實用新型的原理和實質的前提下，可以對這些實施方式做出多種變更或修改，但這些變更和修改均落入本實用新型的保護范圍。
【主權項】
1.一種測試編帶機的芯片探測裝置，用于連接芯片與測試設備進行檢測，其特征在于，包括探測頭夾具和驅動探測頭夾具活動的驅動機構，所述探測頭夾具包括兩個主干臂，兩個主干臂的中心位置鉸接于一轉軸，兩個主干臂的端頭與所述轉軸之間設有連接兩個主桿的一拉簧，所述主干臂的端頭延伸出兩個分枝臂，所述兩個主干臂共延伸出八個分枝臂，每個分枝臂設有與芯片觸腳對應的彈性電極探針，所述驅動機構包括一底座、固定至底座上的減速電機以及與減速電機傳動相連的絲桿組件，所述絲桿組件的絲桿的兩端通過軸承座固定至底座上，所述絲桿的一端通過聯軸器與減速電機的動力輸出軸連接，所述探測頭夾具的兩主干臂的轉軸固連至絲桿組件的滑塊，所述兩主干臂之間設有一凸塊，所述凸塊固連至底座上，所述凸塊位于所述絲桿的軸心線的同一直線上。2.根據權利要求1所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，所述彈性電極探針的一端為一彈性觸頭，另一端通過導線與測試設備連接，所述導線與彈性觸頭連接。3.根據權利要求2所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，所述一個主干臂端頭延伸出的兩個分枝臂互相垂直，且每個分支臂和與該主干臂的夾角均為135度。4.根據權利要求3所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，所述滑塊在轉軸的兩側分別設有兩個限位柱。5.根據權利要求4所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，所述凸塊為圓柱體或橢圓柱體。6.根據權利要求5所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，所述主干臂端頭延伸出的兩個分枝臂與主干臂一體成型。7.根據權利要求6所述的測試編帶機的芯片探測裝置，其特征在于，還包括與探測頭夾具配合的真空吸嘴裝置，所述真空吸嘴裝置包括一個吸嘴架和固連至吸嘴架的四個真空吸嘴，所述四個真空吸嘴的位置與探測頭夾具中固定待測芯片的位置對應。
【專利摘要】本實用新型公開了一種測試編帶機的芯片探測裝置，包括探測頭夾具和驅動探測頭夾具活動的驅動機構，探測頭夾具包括兩個主干臂，兩個主干臂的中心位置鉸接于一轉軸，主干臂的端頭均延伸出兩個分枝臂，驅動機構包括一底座、固定至底座上的減速電機以及與減速電機傳動相連的絲桿組件，探測頭夾具的兩主干臂的轉軸固連至絲桿組件的滑塊，本實用新型的有益效果在于，本實用新型的有益效果在于，通過一對鉸接的十字架狀的主干臂結構，固定有四組彈性探測電極，相對的兩組彈性探測電極為對稱狀態，一次可同時探測一對芯片，位置精確，通過輕微的角度調整，可以使另一方向的對稱彈性探測電極探測另一對芯片，測試速度大大提升。
【IPC分類】G01R31/28
【公開號】CN204925336
【申請號】CN201520645769
【發明人】張萬功, 尹梓偉
【申請人】東莞中之光電股份有限公司
【公開日】2015年12月30日
【申請日】2015年8月25日