一種探針檢測治具的制作方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及檢測治具應用領域，尤其涉及一種用于PCB開短路測試的探針檢測治具。
【背景技術】
[0002]目前，現有的PCB的開短路測試檢測治具存在如下缺點:一是該檢測治具中的最小測試探針的直徑一般為0.15mm，在高精密PCB的產品中該測試探針因直徑過大而無法進行正常的檢測；二是該檢測治具的測試探針一般不具備精準的卡環設計，而固定測試探針的黑膠棉無法起到穩定固定的作用，黑膠棉老化后，會導致測試探針掉落，從而導致壓傷或損壞所要測試的產品。
[0003]在2011.07.06公告的、公告號為CN20189269U的中國實用新型專利中，公開了一種改良的探針檢測結構，是指檢測治具的針板內設有預定數目的檢測用探針、供探針復位的彈性組件、及供檢測值傳輸至檢測機的導線；其中，針板包含有中間承板、底板和面板，它們相互通過數軸銷穿置結合，該中間承板設有容納孔供彈性組件容置，該底板位于中間承板下方承接著彈性組件，設有與中間承板的容納孔對應并呈較小的穿孔，該導線一端連接在彈性組件一端，另端連接在檢測機或接頭；其特征在于:該面板設有上板、下板和夾設在上、下板之間的彈性薄板，在上、下板分別設有與彈性組件相對應的針孔，該探針一端設為尖錐體，是由面板的上板針孔處插入，并刺破彈性薄板和經過下板針孔而插置在對應彈性組件的一端內徑位置。本實用新型制作更具簡易、方便和經濟性，及可使探針高密度的布設在檢測治具，并對具有高密度被檢測點的被測物實施精準、確實檢測效果，從而更加適于實用。
[0004]但該檢測結構是在針板內設置更多數目的探針，以高密度的布設來實現，因此，其仍沒有解決現有檢測治具中測試探針直徑過大和固定不穩定的缺點。
【發明內容】
[0005]為克服上述缺點，本實用新型的目的在于提供一種探針檢測治具，已達到減小測試探針的直徑，使其在高精密PCB的產品中正常檢測，并且使測試探針固定得更穩定，避免其掉落的目的。
[0006]為了達到以上目的，本實用新型采用的技術方案是:一種探針檢測治具，包括被測電路板、探針裝置和連接器，所述探針裝置包括針盤、探針和線盤，所述針盤內設置有卡住所述探針的卡槽，所述探針直徑設置為0.08mm，所述探針下部的八分之一處設置有卡環；所述線盤設置在所述針盤的下方，所述線盤內設置有與所述探針位置相配合的彈簧，所述彈簧的底端與所述連接器電連接，所述探針通過壓入彈簧內與所述連接器通電連接進而對被測電路板進行開短路檢測。通過將探針的直徑設置為0.08_，使其在高精密PCB的產品中可正常的檢測，探針可高密度分布，使其更高效的進行檢測；在探針的下部設置有卡環，卡環可較好的控制探針的突量，使探針固定的更加穩定，避免其掉落，也避免了壓傷或損壞所要測試的產品，有效的提升了測試的良品率。
[0007]進一步地，所述針盤設置為堆棧的板材結構，其包括面板、間隔層、導引層和擋針層，針盤采取多層堆棧的結構，以此替代傳統的黑膠棉，減少了探針上下運行的阻力，使探針運行更加順暢。
[0008]進一步地，所述針盤還包括一備用調節板，以調節探針露出所述面板的高度。
[0009]進一步地，所述針盤相鄰兩層之間設置有銅支柱，以銅支柱相連接及密合，使針盤更加牢固，還可使板材公差的可控范圍更小，保證了探針的突出量，有效的控制針痕。
[0010]進一步地，所述彈簧的表面鍍有一鍍金層，以增強彈簧的通導性。
【附圖說明】
[0011 ] 圖1為本實施例的結構示意圖。
[0012]圖中:
[0013]1-被測電路板；2_探針裝置；3_連接器；4-針盤；5-探針；6-線盤；7-卡槽；8-卡環；9-彈簧。
【具體實施方式】
[0014]下面結合附圖對本實用新型的較佳實施例進行詳細闡述，以使本實用新型的優點和特征能更易于被本領域技術人員理解，從而對本實用新型的保護范圍做出更為清楚明確的界定。
[0015]參見附圖1所示，本實施例的一種探針檢測治具，包括被測電路板1、探針裝置2和連接器3，探針裝置I包括針盤4、探針5和線盤6，針盤4內設置有卡住探針5的卡槽7，針盤4設置為多層堆棧的板材結構，可減少探針5上下運行的阻力，使探針5運行更加順暢；針盤4包括面板、間隔層、備用調節板、導引層和擋針層，面板位于自上而下的第一層，為測試點定位層，間隔層和導引層均設置有六層，間隔層與導引層穿插設置，備用調節板設置在面板與最上方的間隔層之間，以調節探針5露出面板的高度，擋針層位于最下層，防止探針5掉落；針盤4相鄰兩層之間設置有銅支柱，以銅支柱相連接及密合，使針盤4更加牢固，還可使板材公差的可控范圍更小，保證了探針5的突出量，有效的控制針痕。探針5直徑設置為0.08mm，使其在高精密PCB的產品中可正常的檢測，探針5可高密度分布，使其更高效的進行檢測；探針5下部的八分之一處設置有卡環8，卡環8可較好的控制探針5的突量，使探針5固定的更加穩定，避免其掉落，也避免了壓傷或損壞所要測試的產品，提升了測試的良品率；線盤6設置在針盤4的下方，線盤6內設置有與探針5位置相配合的彈簧9，彈簧9的表面鍍有一鍍金層，以增強彈簧9的通導性，彈簧9的底端與連接器3電連接，探針5通過壓入彈簧9內與連接器3通電連接，進而對被測電路板I進行開短路檢測。
[0016]以上實施方式只為說明本實用新型的技術構思及特點，其目的在于讓熟悉此項技術的人了解本實用新型的內容并加以實施，并不能以此限制本實用新型的保護范圍，凡根據本實用新型精神實質所做的等效變化或修飾，都應涵蓋在本實用新型的保護范圍內。
【主權項】
1.一種探針檢測治具，包括被測電路板(I)、探針裝置(2)和連接器(3)，其特征在于:所述探針裝置(2 )包括針盤(4 )、探針(5 )和線盤(6 )，所述針盤(4 )內設置有卡住所述探針(5)的卡槽(7)，所述探針(5)直徑設置為0.08_，所述探針(5)下部的八分之一處設置有卡環(8);所述線盤(6)設置在所述針盤(4)的下方，所述線盤(6)內設置有與所述探針(5)位置相配合的彈簧(9 )，所述彈簧(9 )的底端與所述連接器(3 )電連接，所述探針(5 )通過壓入彈簧(9 )內與所述連接器(3 )通電連接進而對被測電路板(I)進行開短路檢測。2.根據權利要求1所述的一種探針檢測治具，其特征在于:所述針盤(4)設置為堆棧的板材結構，其包括面板、間隔層、導引層和擋針層。3.根據權利要求2所述的一種探針檢測治具，其特征在于:所述針盤(4)還包括一備用調節板，以調節探針露出所述面板的高度。4.根據權利要求3所述的一種探針檢測治具，其特征在于:所述針盤(4)相鄰兩層之間設置有銅支柱。5.根據權利要求1所述的一種探針檢測治具，其特征在于:所述彈簧(9)的表面鍍有一鍍金層。
【專利摘要】本實用新型公開了一種探針檢測治具，包括被測電路板（1）、探針裝置（2）和連接器（3），探針裝置（2）包括針盤（4）、探針（5）和線盤（6），針盤（4）內設置有卡住探針（5）的卡槽（7），探針（5）直徑設置為0.08mm，探針（5）下部的八分之一處設置有卡環（8）；線盤（6）設置在針盤（4）的下方，線盤（6）內設置有與探針（5）位置相配合的彈簧（9），彈簧（9）的底端與連接器（3）電連接，探針（5）通過壓入彈簧（9）內與連接器（3）通電連接進而對被測電路板（1）進行開短路檢測。本實用新型減小了探針的直徑，使其在高精密PCB的產品中正常檢測，并使探針固定得更穩定，避免其掉落。
【IPC分類】G01R1/073
【公開號】CN204758649
【申請號】CN201520447950
【發明人】蘇軍梅
【申請人】深圳市芽莊電子有限公司
【公開日】2015年11月11日
【申請日】2015年6月26日