通道內顆粒物的在位式檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及顆粒物檢測，尤其涉及氣體通道內顆粒物的在位式檢測裝置。
【背景技術】
[0002]目前，現有的粉塵儀普遍采用激光后散射技術，該技術的基本原理是:發射一束有角度的激光到煙囪里，當煙囪里有顆粒物/粉塵時候，照射到顆粒物/粉塵的產生的散射光(后散射光)被粉塵儀檢測到，粉塵儀根據能量的大小折算并得到煙囪里顆粒物/粉塵的濃度值。
[0003]在正常情況下，煙囪/煙道高度在50m以上，粉塵儀安裝點在距離煙囪底部1/3處，所以被測環境為純黑，沒有自然光線以及其他光源的干擾。但在陶瓷等行業普遍低空排放，煙囪高度只有1m左右，自然光嚴重干擾采用后散射技術的粉塵儀測量，嚴重地影響了粉塵儀的檢測精度。
【實用新型內容】
[0004]為了解決現有技術中存在的不足，本實用新型提供了一種檢測精度高、結構簡單的氣體通道內顆粒物的在位式檢測裝置。
[0005]本實用新型的實用新型目的通過以下技術方案得以實現:
[0006]一種通道內顆粒物的在位式檢測裝置，所述在位式檢測裝置包括光源、檢測器及分析單元；所述在位式檢測裝置進一步包括:
[0007]安裝件；
[0008]探頭，所述探頭固定在所述安裝件上，所述探頭內具有光學通道和氣體通道；所述光源發出的測量光依次穿過所述安裝件、光學通道后從所述探頭出射；所述氣體通道與所述光學通道在測量光束處交匯。
[0009]根據上述的在位式檢測裝置，可選地，所述在位式檢測裝置進一步包括:
[0010]連接件，所述連接件設置在所述探頭的氣體通道的出口處。
[0011]根據上述的在位式檢測裝置，優選地，所述探頭為筒狀部件，所述出口是所述筒狀部件的徑向的相對的兩側位置處具有沿著所述筒狀部件的軸向延伸的通孔；所述氣體通道和光學通道貫穿所述筒狀部件的內部。
[0012]根據上述的在位式檢測裝置，優選地，所述探頭包括:
[0013]第一平板，所述第一平板的一端固定在所述安裝件上；
[0014]第二平板，所述第二平板的一端固定在所述安裝件上，所述第一平板和第二平板之間的距離大于零；所述出口是所述第一平板和第二平板的側部間間隙，所述氣體通道和光學通道形成在所述第一平板和第二平板之間的空間內。
[0015]根據上述的在位式檢測裝置，優選地，所述第一平板和第二平板平行設置。
[0016]根據上述的在位式檢測裝置，優選地，所述側部是所述第一平板和第二平板的平行于所述測量光束的一側。
[0017]根據上述的在位式檢測裝置，優選地，所述安裝件是法蘭。
[0018]根據上述的在位式檢測裝置，可選地，所述探頭的內壁和外壁具有黑色涂層。
[0019]與現有技術相比，本實用新型具有以下有益效果:
[0020]1.檢測精度高，探頭能夠部分地遮擋了自然光，顯著地降低了自然光對檢測的影響，連接件和黑色涂層的使用則進一步地降低了自然光的影響，從而明顯地提高了氣體中顆粒物的檢測精度；
[0021]2.探頭可由普通的筒狀部件加工而成，或由兩塊平板固定而成，結構簡單，成本低。
【附圖說明】
[0022]參照附圖，本實用新型的公開內容將變得更易理解。本領域技術人員容易理解的是:這些附圖僅僅用于舉例說明本實用新型的技術方案，而并非意在對本實用新型的保護范圍構成限制。圖中:
[0023]圖1為本實用新型實施例1在位式檢測裝置的基本結構圖；
[0024]圖2為圖1的A-A圖；
[0025]圖3為本實用新型實施例2在位式檢測裝置的基本結構圖；
[0026]圖4為圖3的A-A圖。
【具體實施方式】
[0027]圖1-4和以下說明描述了本實用新型的可選實施方式以教導本領域技術人員如何實施和再現本實用新型。為了教導本實用新型技術方案，已簡化或省略了一些常規方面。本領域技術人員應該理解源自這些實施方式的變型或替換將在本實用新型的范圍內。本領域技術人員應該理解下述特征能夠以各種方式組合以形成本實用新型的多個變型。由此，本實用新型并不局限于下述可選實施方式，而僅由權利要求和它們的等同物限定。
[0028]實施例1:
[0029]圖1示意性地給出了本實用新型實施例的通道內顆粒物的在位式檢測裝置的結構圖，如圖1所示，所述在位式檢測裝置包括:
[0030]光源、檢測器及分析單元，這些部件都是本領域的現有技術，在此不再贅述；
[0031]安裝件11，如法蘭，便于將該在位式檢測裝置安裝在煙氣通道的壁上；
[0032]圖2示意性地給出了本實用新型實施例的探頭的剖視結構圖，如圖2所示，探頭為筒狀部件21，所述筒狀部件的徑向的相對的兩側位置處具有沿著所述筒狀部件的軸向延伸的通孔作為氣體通道的進口 23、出口 22，便于在現場工作時，煙氣通道內的氣體41從所述進口進入筒狀部件內，最后從所述出口排出，所述進口和出口之間的筒狀部件內的空間為氣體通道；所述光源發出的測量光51依次穿過所述安裝件、筒狀部件內部后從所述探頭出射，最后投射在所述煙氣通道的內壁上，產生的散射光反向穿過筒狀部件、法蘭后被所述探測器接收，送分析單元處理，從而在所述筒狀部件內形成有光學通道；可見，光學通道和氣體通道在測量光光束處交匯；
[0033]連接件31，所述連接件設置在所述出口的兩側的筒狀部件上，部分地遮擋所述出P ；
[0034]黑色涂層，所述黑色涂層設置在所述探頭的內壁和外壁上。
[0035]實施例2:
[0036]圖3示意性地給出了本實用新型實施例的通道內顆粒物的在位式檢測裝置的結構圖，如圖3所示，所述在位式檢測裝置包括:
[0037]光源、檢測器及分析單元，這些部件都是本領域的現有技術，在此不再贅述；
[0038]安裝件11，如不銹鋼圓板，中間具有通孔，便于將該在位式檢測裝置安裝在煙氣通道的壁上；
[0039]圖4示意性地給出了本實用新型實施例的探頭的剖視結構圖，如圖4所示，探頭包括分別固定在所述法蘭上的第一平板61、第二平板62，所述第一平板和第二平板平行安裝，且之間的距離大于零；所述第一平板和第二平板的平行于所述光源發出的測量光束的側部間間隙分別為氣體通道的進口 23和出口 22，便于在現場工作時，煙氣通道內的氣體41從所述進口進入平板之間，最后從所述出口排出，所述進口和出口之間的平板間的空間為氣體通道；所述光源發出的測量光51依次穿過所述法蘭、平板之間后從所述探頭出射，最后投射在所述煙氣通道的內壁上，產生的散射光反向穿過平板之間、法蘭后被所述探測器接收，送分析單元處理，從而在所述平板之間內形成有光學通道；可見，光學通道和氣體通道在測量光光束處交匯；
[0040]連接件31，所述連接件設置在所述出口的兩側的第一平板和第二平板上，部分地遮擋所述出口；
[0041]黑色涂層，所述黑色涂層設置在所述探頭的內壁和外壁上。
【主權項】
1.一種通道內顆粒物的在位式檢測裝置，所述在位式檢測裝置包括光源、檢測器及分析單元；其特征在于:所述在位式檢測裝置進一步包括: 安裝件； 探頭，所述探頭固定在所述安裝件上，所述探頭內具有光學通道和氣體通道；所述光源發出的測量光依次穿過所述安裝件、光學通道后從所述探頭出射；所述氣體通道與所述光學通道在測量光束處交匯。2.根據權利要求1所述的在位式檢測裝置，其特征在于:所述在位式檢測裝置進一步包括: 連接件，所述連接件設置在所述探頭的氣體通道的出口處。3.根據權利要求2所述的在位式檢測裝置，其特征在于:所述探頭為筒狀部件，所述出口是所述筒狀部件的徑向的相對的兩側位置處具有沿著所述筒狀部件的軸向延伸的通孔；所述氣體通道和光學通道貫穿所述筒狀部件的內部。4.根據權利要求2所述的在位式檢測裝置，其特征在于:所述探頭包括: 第一平板，所述第一平板的一端固定在所述安裝件上； 第二平板，所述第二平板的一端固定在所述安裝件上，所述第一平板和第二平板之間的距離大于零；所述出口是所述第一平板和第二平板的側部間間隙，所述氣體通道和光學通道形成在所述第一平板和第二平板之間的空間內。5.根據權利要求4所述的在位式檢測裝置，其特征在于:所述第一平板和第二平板平行設置。6.根據權利要求1所述的在位式檢測裝置，其特征在于:所述安裝件是法蘭。7.根據權利要求1所述的在位式檢測裝置，其特征在于:所述探頭的內壁和外壁具有黑色涂層。8.根據權利要求4所述的在位式檢測裝置，其特征在于:所述側部是所述第一平板和第二平板的平行于所述測量光束的一側。
【專利摘要】本實用新型公開了一種通道內顆粒物的在位式檢測裝置，所述在位式檢測裝置包括光源、檢測器及分析單元；進一步包括：安裝件；探頭，所述探頭固定在所述安裝件上，所述探頭內具有光學通道和氣體通道；所述光源發出的測量光依次穿過所述安裝件、光學通道后從所述探頭出射；所述氣體通道與所述光學通道在測量光束處交匯。本實用新型具有檢測精度高、結構簡單、低成本等優點。
【IPC分類】G01N15/06
【公開號】CN204740188
【申請號】CN201520499900
【發明人】王大偉, 于志偉, 楊鳳琴, 付聰
【申請人】杭州澤天科技有限公司
【公開日】2015年11月4日
【申請日】2015年7月8日