一種soc芯片測量設備的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及芯片測試技術領域，特別涉及一種SOC芯片測量設備。
【背景技術】
[0002]SOC芯片是目前電子電表芯片的發(fā)展方向，即一片芯片能夠獨立完成完整的量測功能，而不需要其他外圍芯片的配合，其中包含計量、MCU和電力載波等全部功能。把MCU、時鐘、非易失存儲器和一些標準接口繼承在一起，這在技術上容易實現(xiàn)，但是如何在這基礎上進行精確的測量則是技術難點。
[0003]電表芯片能夠精確量測耗電量的基礎就是一個相對穩(wěn)定的電壓參考源，但是在現(xiàn)有的半導體工藝上制造出的電壓參考源由于工藝問題不同芯片間都會存在差異，因此芯片在使用前必須進行修調(diào)，使的所有的電壓參考源的參考值都符合設計值。然而，對芯片進行修調(diào)的前提是對芯片的電壓參考源進行的電壓測量是準確無誤的，否則在誤差比較大的情況下進行修調(diào)，芯片最終會量測不準而成為廢品。
[0004]目前的一般的集成電路測試機在量測微小電壓(±lmV精度)上存在很大的難度，通常誤差可以到達20mV以上，無法精準的修調(diào)芯片的電路，造成批量生產(chǎn)的極大損失。
【發(fā)明內(nèi)容】
[0005]本實用新型的目的在于避免上述現(xiàn)有技術中的不足之處而提供一種能夠測量微小電壓，以便于測試機進行修調(diào)的SOC芯片測量設備。
[0006]本實用新型的目的通過以下技術方案實現(xiàn):
[0007]提供了一種SOC芯片測量設備，包括能夠?qū)Υ龣z測的SOC芯片進行功能測試的集成電路測試機，還包括電壓測試板，所述電壓測試板對待檢測的SOC芯片的電壓參考源進行電壓測量并將測量數(shù)據(jù)反饋至所述集成電路測試機，所述電壓測試板包括與所述待檢測的SOC芯片連接的測試電路和為所述測試芯片提供基準電壓的參考電壓電路。
[0008]其中，所述電壓測試板還包括主控制電路，所述主控制電路分別與集成電路測試機和測試電路進行通訊連接，并將所述測試電路的測試數(shù)據(jù)傳送至所述集成電路測試機。
[0009]其中，所述電壓測試板還包括電源電路，所述電源電路分別為所述的測試電路、參考電壓電路和主控制電路提供電源。
[0010]其中，所述測試電路包括從待測試的SOC芯片獲取數(shù)據(jù)的輸入電路和連接于輸入電路的輸出端的低通濾波電路。
[0011]其中，所述參考電壓電路包括基準電壓芯片和連接于所述基準電壓芯片輸出端的跟隨電路，所述跟隨電路基于運算放大器實現(xiàn)。
[0012]其中，所述基準電壓芯片是串行基準芯片。
[0013]本實用新型的有益效果:本實用新型通過增加電壓測試板來對SOC芯片的電壓參考源進行精準檢測并將測試數(shù)據(jù)反饋給集成電路測試機，以便于集成電路測試機對芯片進行修調(diào)，另外，電壓測試板由測試電路實現(xiàn)檢測，并且通過參考電壓電路為測試電路提供基準電壓，確保測試電路的測試穩(wěn)定精準。
【附圖說明】
[0014]利用附圖對本實用新型作進一步說明，但附圖中的實施例不構成對本實用新型的任何限制，對于本領域的普通技術人員，在不付出創(chuàng)造性勞動的前提下，還可以根據(jù)以下附圖獲得其它的附圖。
[0015]圖1為本實用新型SOC芯片測量設備的結構示意圖。
[0016]圖2為本實用新型SOC芯片測量設備的參考電壓電路的電路示意圖。
[0017]在圖1和圖2中包括有:
[0018]1--集成電路測試機、2--電壓測試板、21--測試電路、22--參考電壓電路、221——跟隨電路、23——控制電路、24——電源電路、3——待檢測的SOC芯片。
【具體實施方式】
[0019]結合以下實施例對本實用新型作進一步描述。
[0020]本實用新型SOC芯片測量設備的【具體實施方式】，如圖1所示，包括能夠?qū)Υ龣z測的SOC芯片3進行功能測試的集成電路測試機1，還包括電壓測試板2，所述電壓測試板2對待檢測的SOC芯片3的電壓參考源進行電壓測量并將測量數(shù)據(jù)反饋至所述集成電路測試機I，所述電壓測試板2包括測試電路21、參考電壓電路22、控制電路23和電源電路24，測試電路21與所述待檢測的SOC芯片3連接的測試電路21，參考電壓電路22為所述測試芯片提供基準電壓的參考電壓電路22，主控制電路23分別與集成電路測試機I和測試電路21進行通訊連接，并將所述測試電路21的測試數(shù)據(jù)傳送至所述集成電路測試機1，電源電路24分別為所述的測試電路21、參考電壓電路22和主控制電路23提供電源。
[0021]啟動檢測后，集成電路測試機I通過通信鏈路向測試板上的主控制電路23發(fā)送量測命令，主控制電路23通過IIC協(xié)議向測試電路21發(fā)送命令和并將測試電路21配置到量測狀態(tài)，測試電路21被配置完成后開始進行測試，并在測試完成后通過IIC將多次原始的測試結果發(fā)送給主控制電路23，主控制電路23通過運算將多次的測試結果匯總計算量測的電壓值。最后通過通訊鏈路將結果放回集成電路測試機1.本實用新型通過增加電壓測試板2來對S0c芯片的電壓參考源進行精準檢測并將測試數(shù)據(jù)反饋給集成電路測試機I，以便于集成電路測試機I對芯片進行修調(diào)，另外，電壓測試板2由測試電路21實現(xiàn)檢測，并且通過參考電壓電路22為測試電路21提供基準電壓，確保測試電路21的測試穩(wěn)定精準。
[0022]具體的，所述測試電路21包括從待測試的SOC芯片獲取數(shù)據(jù)的輸入電路和連接于輸入電路的輸出端的低通濾波電路，從而降低高頻噪聲對測試的影響，提高量測精度。
[0023]所述參考電壓電路22包括基準電壓芯片和連接于所述基準電壓芯片輸出端的跟隨電路221，所述跟隨電路221基于運算放大器實現(xiàn)。所述基準電壓芯片是串行基準芯片，穩(wěn)定性比并行基準芯片高。
[0024]最后應當說明的是，以上實施例僅用以說明本實用新型的技術方案，而非對本實用新型保護范圍的限制，盡管參照較佳實施例對本實用新型作了詳細地說明，本領域的普通技術人員應當理解，可以對本實用新型的技術方案進行修改或者等同替換，而不脫離本實用新型技術方案的實質(zhì)和范圍。
【主權項】
1.一種SOC芯片測量設備，包括能夠?qū)Υ龣z測的SOC芯片進行功能測試的集成電路測試機，其特征在于:還包括電壓測試板，所述電壓測試板對待檢測的SOC芯片的電壓參考源進行電壓測量并將測量數(shù)據(jù)反饋至所述集成電路測試機，所述電壓測試板包括與所述待檢測的SOC芯片連接的測試電路和為所述測試芯片提供基準電壓的參考電壓電路。2.如權利要求1所述的一種SOC芯片測量設備，其特征在于:所述電壓測試板還包括主控制電路，所述主控制電路分別與集成電路測試機和測試電路進行通訊連接，并將所述測試電路的測試數(shù)據(jù)傳送至所述集成電路測試機。3.如權利要求2所述的一種SOC芯片測量設備，其特征在于:所述電壓測試板還包括電源電路，所述電源電路分別為所述的測試電路、參考電壓電路和主控制電路提供電源。4.如權利要求1所述的一種SOC芯片測量設備，其特征在于:所述測試電路包括從待測試的SOC芯片獲取數(shù)據(jù)的輸入電路和連接于輸入電路的輸出端的低通濾波電路。5.如權利要求1所述的一種SOC芯片測量設備，其特征在于:所述參考電壓電路包括基準電壓芯片和連接于所述基準電壓芯片輸出端的跟隨電路，所述跟隨電路基于運算放大器實現(xiàn)。6.如權利要求5所述的一種SOC芯片測量設備，其特征在于:所述基準電壓芯片是串行基準芯片。
【專利摘要】本實用新型涉及芯片測試技術領域，特別涉及一種SOC芯片測量設備，該設備通過增加電壓測試板來對soc芯片的電壓參考源進行精準檢測并將測試數(shù)據(jù)反饋給集成電路測試機，以便于集成電路測試機對芯片進行修調(diào)，另外，電壓測試板由測試電路實現(xiàn)檢測，并且通過參考電壓電路為測試電路提供基準電壓，確保測試電路的測試穩(wěn)定精準。
【IPC分類】G01R31/28
【公開號】CN204731379
【申請?zhí)枴緾N201520371282
【發(fā)明人】盧旭坤
【申請人】廣東利揚芯片測試股份有限公司
【公開日】2015年10月28日
【申請日】2015年6月2日