一種深度測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
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[0001]本實用新型涉及一種深度測試裝置。
【【背景技術(shù)】】
[0002]目前在手機行業(yè)，產(chǎn)品深度尺寸的檢測，通常都是采用人工檢測，人力花費多，測試周期長、精度低，進而帶來生產(chǎn)效率低、品質(zhì)沒有保障等缺陷。
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【發(fā)明內(nèi)容】
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[0003]為了克服現(xiàn)有技術(shù)的不足，本實用新型提供了一種深度測試裝置，以提供檢測產(chǎn)品深度的效率和精度。
[0004]一種深度測試裝置，包括測微儀，所述測微儀包括測試桿和測試探針，所述測試探針安裝在所述測試桿上，還包括測試平臺、驅(qū)動氣缸和固定板，所述固定板位于所述測試平臺的下方，所述測試桿固定在所述固定板上，所述測試平臺上設(shè)有第一探針孔，所述測試探針穿過所述第一探針孔而露出所述測試平臺的上表面，所述驅(qū)動氣缸的輸出端與所述固定板固定，所述驅(qū)動氣缸用于驅(qū)動所述固定板靠近或遠離所述測試平臺。
[0005]在一個實施例中，還包括固定板滑塊和限位板，所述限位板固定在所述測試平臺的下表面，所述固定板位于所述限位板的下方，所述固定板滑塊固定在所述固定板的上表面，所述限位板上設(shè)有滑軌，所述固定板滑塊可沿所述滑軌滑動而靠近或遠離所述限位板。
[0006]在一個實施例中，所述氣缸固定在所述測試平臺的下表面。
[0007]在一個實施例中，所述測試平臺還包括基準(zhǔn)面，所述基準(zhǔn)面設(shè)置在所述測試平臺的上表面，所述基準(zhǔn)面上設(shè)有第二探針孔，所述測試探針依次穿過所述第一探針孔和第二探針孔而露出所述基準(zhǔn)面。
[0008]在一個實施例中，還包括與被測產(chǎn)品的孔的大小相匹配的產(chǎn)品匹配部件，所述產(chǎn)品匹配部件設(shè)置于所述基準(zhǔn)面上。
[0009]在一個實施例中，還包括用于壓緊被測產(chǎn)品的上壓塊，所述上壓塊設(shè)置在所述基準(zhǔn)面的上方。
[0010]在一個實施例中，還包括歸零蓋板，所述歸零蓋板用于放置在所述基準(zhǔn)面上將所述測試探針壓入所述基準(zhǔn)面內(nèi)。
[0011]本實用新型的有益效果是:本深度測試裝置可以高效地檢測產(chǎn)品的深度，同時能夠提尚檢測的精度。
【【附圖說明】】
[0012]圖1是本實用新型一種實施例的深度測試裝置。
【【具體實施方式】】
[0013]以下對實用新型的較佳實施例作進一步詳細說明。
[0014]如圖1所示，一種實施例的深度測試裝置，包括測微儀1、測試平臺5、驅(qū)動氣缸4和固定板2，所述測微儀I包括測試桿12和測試探針11，所述測試探針11安裝在所述測試桿12上，所述固定板2位于所述測試平臺5的下方，所述測試桿12固定在所述固定板2上，所述測試平臺5上設(shè)有第一探針孔，所述測試探針11穿過所述第一探針孔而露出所述測試平臺5的上表面，所述驅(qū)動氣缸4的輸出端與所述固定板2固定，所述驅(qū)動氣缸4用于驅(qū)動所述固定板2靠近或遠離所述測試平臺5，從而帶動測試探針11穿過并伸出測試平臺5的上表面，或者退回至測試平臺5的第一探針孔內(nèi)，甚至到達測試平臺5的下方。
[0015]測微儀是用于測量空間長度的裝置，其測試探針可伸縮，通過測試探針在測試前和測試后的伸縮長度之差，則可以測量出被測空間的長度。如在本實施例中，當(dāng)測試探針11被驅(qū)動氣缸4帶動至伸出測試平臺5的上表面時，此時測試探針11完全伸出，當(dāng)產(chǎn)品放在測試探針11上時，產(chǎn)品的被測部分使測試探針11收縮，測微儀2檢測到這個收縮量即可以識別產(chǎn)品被測部分的深度。
[0016]在一個實施例中，深度測試裝置還包括固定板滑塊22和限位板3，所述限位板3固定在所述測試平臺5的下表面，所述固定板2位于所述限位板3的下方，所述固定板滑塊22固定在所述固定板2的上表面，所述限位板3上設(shè)有滑軌31，所述固定板滑塊22可沿所述滑軌31滑動，從而靠近或遠離所述限位板3，當(dāng)固定板2運動到最大高度時，固定板2抵于限位板3，從而限制了測試探針11伸出于測試平臺5上表面的高度。
[0017]在一個實施例中，所述氣缸4固定在所述測試平臺5的下表面。
[0018]在一個實施例中，所述測試平臺5還包括基準(zhǔn)面51、用于壓緊被測產(chǎn)品的上壓塊、歸零蓋板、與被測產(chǎn)品的孔的大小相匹配的產(chǎn)品匹配部件52，所述基準(zhǔn)面51設(shè)置在所述測試平臺5的上表面，所述基準(zhǔn)面51上設(shè)有第二探針孔，所述測試探針11依次穿過所述第一探針孔和第二探針孔而露出所述基準(zhǔn)面51，產(chǎn)品匹配部件52設(shè)置于所述基準(zhǔn)面51上，所述上壓塊設(shè)置在所述基準(zhǔn)面51的上方，所述歸零蓋板用于放置在所述基準(zhǔn)面51上將所述測試探針11壓入所述基準(zhǔn)面51內(nèi)。
[0019]測量產(chǎn)品的深度時，首先氣缸4帶動固定板2上升，使固定板2抵于限位板3 ;
[0020]然后將歸零蓋板壓在基準(zhǔn)面51上，使測試探針11縮入基準(zhǔn)面51內(nèi)，此時，測微儀2檢測到此時測試探針11的伸縮量；
[0021]拿開歸零蓋板，將產(chǎn)品放在基準(zhǔn)面51上，若與測試探針11對應(yīng)產(chǎn)品部分的深度大于零，測試探針11將會伸出一定長度，此時測微儀2檢測到測試探針11的伸縮量，即可以判斷產(chǎn)品該部分的深度。
[0022]以上內(nèi)容是結(jié)合具體的優(yōu)選實施方式對本實用新型所作的進一步詳細說明，不能認定本實用新型的具體實施只局限于這些說明。對于本實用新型所屬技術(shù)領(lǐng)域的普通技術(shù)人員來說，在不脫離本實用新型構(gòu)思的前提下，還可以做出若干簡單推演或替換，都應(yīng)當(dāng)視為屬于本實用新型由所提交的權(quán)利要求書確定的專利保護范圍。
【主權(quán)項】
1.一種深度測試裝置，包括測微儀，所述測微儀包括測試桿和測試探針，所述測試探針安裝在所述測試桿上，其特征是，還包括測試平臺、驅(qū)動氣缸和固定板，所述固定板位于所述測試平臺的下方，所述測試桿固定在所述固定板上，所述測試平臺上設(shè)有第一探針孔，所述測試探針穿過所述第一探針孔而露出所述測試平臺的上表面，所述驅(qū)動氣缸的輸出端與所述固定板固定，所述驅(qū)動氣缸用于驅(qū)動所述固定板靠近或遠離所述測試平臺。2.如權(quán)利要求1所述的深度測試裝置，其特征是，還包括固定板滑塊和限位板，所述限位板固定在所述測試平臺的下表面，所述固定板位于所述限位板的下方，所述固定板滑塊固定在所述固定板的上表面，所述限位板上設(shè)有滑軌，所述固定板滑塊可沿所述滑軌滑動而靠近或遠離所述限位板。3.如權(quán)利要求1所述的深度測試裝置，其特征是，所述氣缸固定在所述測試平臺的下表面。4.如權(quán)利要求1所述的深度測試裝置，其特征是，所述測試平臺還包括基準(zhǔn)面，所述基準(zhǔn)面設(shè)置在所述測試平臺的上表面，所述基準(zhǔn)面上設(shè)有第二探針孔，所述測試探針依次穿過所述第一探針孔和第二探針孔而露出所述基準(zhǔn)面。5.如權(quán)利要求4所述的深度測試裝置，其特征是，還包括與被測產(chǎn)品的孔的大小相匹配的產(chǎn)品匹配部件，所述產(chǎn)品匹配部件設(shè)置于所述基準(zhǔn)面上。6.如權(quán)利要求4所述的深度測試裝置，其特征是，還包括用于壓緊被測產(chǎn)品的上壓塊，所述上壓塊設(shè)置在所述基準(zhǔn)面的上方。7.如權(quán)利要求4所述的深度測試裝置，其特征是，還包括歸零蓋板，所述歸零蓋板用于放置在所述基準(zhǔn)面上將所述測試探針壓入所述基準(zhǔn)面內(nèi)。
【專利摘要】本實用新型公開了一種深度測試裝置，包括測微儀，所述測微儀包括測試桿和測試探針，所述測試探針安裝在所述測試桿上，還包括測試平臺、驅(qū)動氣缸和固定板，所述固定板位于所述測試平臺的下方，所述測試桿固定在所述固定板上，所述測試平臺上設(shè)有第一探針孔，所述測試探針穿過所述第一探針孔而露出所述測試平臺的上表面，所述驅(qū)動氣缸的輸出端與所述固定板固定，所述驅(qū)動氣缸用于驅(qū)動所述固定板靠近或遠離所述測試平臺。本深度測試裝置可以高效地檢測產(chǎn)品的深度，同時能夠提高檢測的精度。
【IPC分類】G01B21/18
【公開號】CN204666121
【申請?zhí)枴緾N201520333499
【發(fā)明人】劉名俊, 陳賢林, 楊柏格, 郭惠歐, 岳海英, 許偉鵬
【申請人】東莞勁勝精密組件股份有限公司, 東莞華晟電子科技有限公司
【公開日】2015年9月23日
【申請日】2015年5月20日