適用于led生產用藍寶石基板檢測與識別裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及一種光學檢測設備，尤其是一種適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置。
【背景技術】
[0002]在LED生產過程中，需要對用于其加工的藍寶石基板的位置進行確認，使得加工設備可對基板進行實時加工。傳統技術中對于藍寶石基板位置進行確認的方法為，將光線射入基板內，通過對光線被遮擋的位置以確定基板相對于加工工件的位置。但上述方法僅可針對透光度不高的硅基板材質，目前LED行業采用的藍寶石基板其透光度可達90%，幾乎無法對光線進行遮擋，故而傳統的識別方法難以對其進行識別。
[0003]現有技術中，部分相關設備利用光線的反射進行藍寶石基板位置的識別，但其往往需要采用大型的裝置平臺，使得藍寶石基板進行旋轉并進行檢測與識別；而藍寶石基板在旋轉過程中，受機械振動等因素影響，極有可能出現反射角度的偏差，從而影響了檢測與識別的精度。
【實用新型內容】
[0004]本實用新型要解決的技術問題是提供一種光學識別裝置，其可實現對高透光率的藍寶石基板的精確檢測與識別。
[0005]為解決上述技術問題，本實用新型涉及一種適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其包括有機架，機架中設置有藍寶石基板平臺，基板平臺上方設置有可見光發射器，以及可見光接收器，可見光發射器固定安裝于機架之上；所述機架中設置有移動平臺，移動平臺中設置有至少可在2個方向上進行運動的傳動機構，所述可見光接收器安裝于傳動機構之上。
[0006]作為本實用新型的一種改進，所述機架之中設置有沿水平方向進行延伸的旋轉圓盤，其通過轉軸連接至機架之上；所述旋轉圓盤的下端面設置有延其半徑進行延伸的滑槽；所述滑槽內部設置有與滑槽彼此嚙合的滑塊，所述可見光接收器安裝于滑塊下端面。采用上述設計，其可通過旋轉圓盤的旋轉，使得可見光接收器亦隨之旋轉，同時通過可見光接收器隨滑塊延旋轉圓盤半徑進行運動，從而使得可見光接收器在基板平臺上方各個位置的運動，進而使得可見光接收器檢測到藍寶石基板反射的光線，實現對藍寶石基板的檢測。
[0007]作為本實用新型的一種改進，所述機架中設置有旋轉電機，其主軸延豎直方向延伸，且與用于連接旋轉圓盤的轉軸彼此連接。采用上述設計，其可通過旋轉電機驅動旋轉圓盤快速旋轉，從而避免人工進行旋轉操作所造成的效率降低。
[0008]作為本實用新型的一種改進，所述滑槽與滑塊在豎直方向上均延伸至旋轉圓盤內部；所述旋轉圓盤中，其內部滑槽延伸位置上設置有延其半徑進行延伸的絲桿，所述滑塊固定于絲桿之上；所述絲桿于旋轉圓盤外部區域設置有驅動電機，驅動電機固定安裝在旋轉圓盤之上。采用上述設計，其可通過驅動電機驅動絲桿延其所在的旋轉圓盤半徑運動，從而帶動滑塊，以及可見光接收器延滑槽在旋轉圓盤的半徑上運動，進而與上述旋轉電機配合，使得可見光接收器可自行在藍寶石基板上方，對藍寶石基板反射的可見光進行檢測，使得其檢測效率與精度得以顯著改善。
[0009]作為本實用新型的一種改進，所述旋轉圓盤與藍寶石基板平臺共軸，旋轉圓盤的面積至少為基板平臺面積的1.2倍。采用上述設計，其可確保經由藍寶石基板反射的可見光落于旋轉圓盤之上，從而使得可見光接收器可對其進行檢測。
[0010]作為本實用新型的一種改進，所述機架外部設置有遮光罩，其可避免外部光源對檢測造成干擾，從而影響藍寶石基板位置檢測的精度。
[0011]采用上述適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其通過光線的反射原理進行藍寶石基板的檢測，實現了對高透光度藍寶石基板位置的精確識別；同時，上述識別裝置采用可見光接收器相對于待檢測基板運動，其即可實現對基板的全面檢測，又避免了藍寶石基板運動而導致的反射位置偏差，從而有效提高了檢測的全面性與精度。
【附圖說明】
[0012]圖1為本實用新型示意圖；
[0013]圖2為本實用新型中旋轉圓盤內部示意圖；
[0014]附圖標記列表:
[0015]I一機架、2 —LED基板平臺、3—可見光發射器、4一可見光接收器、5—旋轉圓盤、6 一轉軸、7—滑槽、8—滑塊、9 一旋轉電機、10 一絲桿、11 一驅動電機、12 一遮光罩。
【具體實施方式】
[0016]下面結合附圖和【具體實施方式】，進一步闡明本實用新型，應理解下述【具體實施方式】僅用于說明本實用新型而不用于限制本實用新型的范圍。需要說明的是，下面描述中使用的詞語“前”、“后”、“左”、“右”、“上”和“下”指的是附圖中的方向，詞語“內”和“外”分別指的是朝向或遠離特定部件幾何中心的方向。
[0017]實施例1
[0018]如圖1所示的一種適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其包括有機架1，機架I中設置有藍寶石基板平臺2，基板平臺2上方設置有可見光發射器3，以及可見光接收器4，可見光發射器3固定安裝于機架I之上；所述機架I中設置有延水平方向進行延伸的旋轉圓盤5，其通過轉軸6連接至機架I之上。
[0019]所述旋轉圓盤5的下端面設置有延其半徑進行延伸的滑槽7 ;所述滑槽7內部設置有與滑槽彼此嚙合的滑塊8，所述可見光接收器4安裝于滑塊8下端面。采用上述設計，其可通過旋轉圓盤的旋轉，使得可見光接收器亦隨之旋轉，同時通過可見光接收器隨滑塊延旋轉圓盤半徑進行運動，從而使得可見光接收器在基板平臺上方各個位置的運動，進而使得可見光接收器檢測到藍寶石基板反射的光線，實現對藍寶石基板的檢測。
[0020]采用上述適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其通過光線的反射原理進行藍寶石基板的檢測，實現了對高透光度藍寶石基板位置的精確識別；同時，上述識別裝置采用可見光接收器相對于待檢測基板運動，其即可實現對基板的全面檢測，又避免了藍寶石基板運動而導致的反射位置偏差，從而有效提高了檢測的全面性與精度。
[0021]實施例2
[0022]作為本實用新型的一種改進，所述機架I中設置有旋轉電機9，其主軸延豎直方向延伸，且與用于連接旋轉圓盤5的轉軸6彼此連接。采用上述設計，其可通過旋轉電機驅動旋轉圓盤快速旋轉，從而避免人工進行旋轉操作所造成的效率降低。
[0023]本實施例其余特征與優點均與實施例1相同。
[0024]實施例3
[0025]作為本實用新型的一種改進，如圖2所示，所述滑槽7與滑塊8在豎直方向上均延伸至旋轉圓盤5內部；所述旋轉圓盤5中，其內部滑槽7延伸位置上設置有延其半徑進行延伸的絲桿10，所述滑塊8固定于絲桿10之上；所述絲桿10于旋轉圓盤5外部區域設置有驅動電機11，驅動電機11固定安裝在旋轉圓盤5之上。采用上述設計，其可通過驅動電機驅動絲桿延其所在的旋轉圓盤半徑運動，從而帶動滑塊，以及可見光接收器延滑槽在旋轉圓盤的半徑上運動，進而與上述旋轉電機配合，使得可見光接收器可自行在藍寶石基板上方，對藍寶石基板反射的可見光進行檢測，使得其檢測效率與精度得以顯著改善。
[0026]本實施例其余特征與優點均與實施例2相同。
[0027]實施例4
[0028]作為本實用新型的一種改進，所述旋轉圓盤5與基板平臺2共軸，旋轉圓盤5的面積為基板平臺面積2的1.5倍。采用上述設計，其可確保經由藍寶石基板反射的可見光落于旋轉圓盤之上，從而使得可見光接收器可對其進行檢測。
[0029]本實施例其余特征與優點均與實施例3相同。
[0030]實施例5
[0031]作為本實用新型的一種改進，所述機架I外部設置有遮光罩12，其可避免外部光源對檢測造成干擾，從而影響藍寶石基板位置檢測的精度。
[0032]本實施例其余特征與優點均與實施例4相同。
【主權項】
1.一種適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其特征在于，所述適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置包括有機架，機架中設置有藍寶石基板平臺，基板平臺上方設置有可見光發射器，以及可見光接收器，可見光發射器固定安裝于機架之上；所述機架中設置有移動平臺，移動平臺中設置有至少可在2個方向上進行運動的傳動機構，所述可見光接收器安裝于傳動機構之上。
2.按照權利要求1所述的適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其特征在于，所述機架之中設置有沿水平方向進行延伸的旋轉圓盤，其通過轉軸連接至機架之上；所述旋轉圓盤的下端面設置有延其半徑進行延伸的滑槽；所述滑槽內部設置有與滑槽彼此嚙合的滑塊，所述可見光接收器安裝于滑塊下端面。
3.按照權利要求2所述的適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其特征在于，所述機架中設置有旋轉電機，其主軸延豎直方向延伸，且與用于連接旋轉圓盤的轉軸彼此連接。
4.按照權利要求3所述的適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其特征在于，所述滑槽與滑塊在豎直方向上均延伸至旋轉圓盤內部；所述旋轉圓盤中，其內部滑槽延伸位置上設置有延其半徑進行延伸的絲桿，所述滑塊固定于絲桿之上；所述絲桿于旋轉圓盤外部區域設置有驅動電機，驅動電機固定安裝在旋轉圓盤之上。
5.按照權利要求4所述的適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其特征在于，所述旋轉圓盤與藍寶石基板平臺共軸，旋轉圓盤的面積至少為藍寶石基板平臺面積的1.2倍。
6.按照權利要求1所述的適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其特征在于，所述機架外部設置有遮光罩。
【專利摘要】本實用新型公開了一種適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其包括有機架，機架中設置有藍寶石基板平臺，基板平臺上方設置有可見光發射器，以及可見光接收器，可見光發射器固定安裝于機架之上；所述機架中設置有移動平臺，移動平臺中設置有至少可在2個方向上進行運動的傳動機構，所述可見光接收器安裝于傳動機構之上；采用上述適用于LED生產用藍寶石基板檢測與識別裝置，其通過光線的反射原理進行藍寶石基板的檢測，實現了對高透光度藍寶石基板位置的精確識別；同時，上述識別裝置采用可見光接收器相對于待檢測基板運動，其即可實現對基板的全面檢測，又避免了藍寶石基板運動而導致的反射位置偏差，從而有效提高了檢測的全面性與精度。
【IPC分類】G01N21-87, G01B11-00
【公開號】CN204495727
【申請號】CN201420567417
【發明人】史進, 伍志軍
【申請人】蘇州賽森電子科技有限公司
【公開日】2015年7月22日
【申請日】2014年9月29日