一種檢測彎頭內部和內表面缺陷的超聲檢測專用試塊的制作方法
【技術領域】
[0001] 本實用新型涉及一種超聲波試塊，具體涉及一種檢測彎頭內部和內表面缺陷的超 聲檢測專用試塊。
【背景技術】
[0002] 火力發電廠的彎頭，由于推制或擠壓工藝引起彎頭外側壁厚減小，內側壁厚增大， 而且常在徑向截面內產生橢圓度。橢圓短軸在回轉體的徑向彎頭承壓后有變圓趨勢，于是 在彎頭內、外側的外壁及中性面內壁產生拉應力，所以彎頭的外側或中性面處的當量應力 最大，加之其內部受到汽水介質的腐蝕和沖刷。所以彎頭運行一段時間經常在內壁出現裂 紋和腐蝕缺陷，從而引發彎頭爆裂事故，嚴重影響機組運行和人員生命的安全。
[0003] 對彎頭內壁裂紋或腐蝕缺陷的檢驗，超聲波檢測具有方便、快捷、成本低、檢出率 高等明顯優勢。本專利申請的試塊可以指導無損檢測人員順利地彎頭檢驗工作，以有效地 發現彎頭內壁裂紋，減少乃至杜絕因彎頭裂紋造成的爆管事故。
【發明內容】
[0004] 為了克服上述現有技術存在的問題，本實用新型的目的在于提供檢測彎頭內部和 內表面缺陷的超聲檢測專用試塊，通過設置通孔數量、尺寸，使彎頭超聲波檢驗中內壁和內 部的缺陷精確判定，解決了彎頭檢驗判定缺陷這一難題。
[0005] 為了達到上述目的，本實用新型所采用的技術方案是：
[0006] 一種檢測彎頭內部和內表面缺陷的超聲檢測專用試塊，包括對被檢部件壁厚為 20mm~50mm的彎頭檢驗采用的W-I試塊以及對被檢部件壁厚為50mm~160mm的彎頭檢驗 采用的W- II試塊；所述W-I試塊和W- II試塊包括方形部分1以及設置在方形部分1寬邊 上半徑為RIOOmm的用于斜探頭前沿距離測定的1/4圓弧面2,所述方形部分1和1/4圓弧 面2為一體結構，所述1/4圓弧面2與方形部分1的上檢驗面平齊；所述W-I試塊的厚度為 40mm、長度350mm、寬度120mm，所述W_ II試塊的厚度為40mm、長度350mm、寬度150mm ;所述 W-I試塊的方形部分1加工有6個用于制作DAC曲線的直徑1. 5mm的橫通孔，所述W- II試 塊的方形部分1加工有7個用于制作DAC曲線的直徑3. 0_的橫通孔。
[0007] 所述W-I試塊的方形部分1加工的6個用于制作DAC曲線的直徑1. 5mm的橫通孔 的排列位置為：距離W-I試塊的1/4圓弧面2為50mm處，沿寬度方向加工有一排三個直徑 1. 5mm的橫通孔，三個直徑1. 5mm的橫通孔距離W-I試塊的方形部分1上檢驗面的距離分別 為20mm、60mm、80mm ;距離遠離W-I試塊的1/4圓弧面2的一端50mm處，沿寬度方向加工有 一排三個直徑1. 5mm的橫通孔，三個直徑1. 5mm的橫通孔距離W-I試塊的方形部分1上檢 驗面的距離分別為10mm、50mm、90mm。
[0008] 所述W- II試塊的方形部分1加工的6個用于制作DAC曲線的直徑3. 0mm的橫通 孔的排列位置為：距離W- II試塊的1/4圓弧面2為50mm處，沿寬度方向加工有一排三個直 徑3. 0mm的橫通孔，三個直徑3. 0mm的橫通孔距離W- II試塊的方形部分1上檢驗面的距離 分別為30mm、70mm、110mm ;距離遠離W- II試塊的1/4圓弧面2的一端50mm處，沿寬度方向 加工有一排四個直徑3. 0_的橫通孔，四個直徑3. 0_的橫通孔距離W- II試塊的方形部分 1上檢驗面的距離分別為10mm、50mm、90mm、130mm。
[0009] 所述W-I試塊和W- II試塊的材料與所檢材料相同或相近，且無影響檢測質量的缺 陷存在。
[0010] 所述試塊適用于外徑彡219mm、厚度直徑比< 0. 23的三通及彎頭手工A型脈沖反 射法超聲波檢測。
[0011] 試塊橫孔分布情況及檢驗深度范圍見表1、表2。
[0012] 表1W-I試塊橫孔分布情況及檢驗深度范圍
[0013]
【主權項】
1. 一種檢測彎頭內部和內表面缺陷的超聲檢測專用試塊，其特征在于：包括對被檢部 件壁厚為20mm~50mm的彎頭檢驗米用的W-I試塊以及對被檢部件壁厚為50mm~160mm 的彎頭檢驗采用的W-II試塊；所述W-I試塊和W-II試塊包括方形部分（1)以及設置在方 形部分（1)寬邊上半徑為RlOOmm的用于斜探頭前沿距離測定的1/4圓弧面（2)，所述方形 部分（1)和1/4圓弧面（2)為一體結構，所述1/4圓弧面（2)與方形部分（1)的上檢驗面 平齊；所述W-I試塊的厚度為40mm、長度350mm、寬度120mm，所述W-II試塊的厚度為40mm、 長度350mm、寬度150mm;所述W-I試塊的方形部分（1)加工有6個用于制作DAC曲線的直 徑I. 5mm的橫通孔，所述W-II試塊的方形部分（1)加工有7個用于制作DAC曲線的直徑 3.Omm的橫通孔。
2. 根據權利要求1所述的檢測彎頭內部和內表面缺陷的超聲檢測專用試塊，其特征在 于：所述W-I試塊的方形部分（1)加工的6個用于制作DAC曲線的直徑I. 5mm的橫通孔的 排列位置為：距離W-I試塊的1/4圓弧面（2)為50mm處，沿寬度方向加工有一排三個直徑 I. 5mm的橫通孔，三個直徑I. 5mm的橫通孔距離W-I試塊的方形部分（1)上檢驗面的距離 分別為20mm、60mm、80mm;距離遠離W-I試塊的1/4圓弧面（2)的一端50mm處，沿寬度方向 加工有一排三個直徑I. 5mm的橫通孔，三個直徑I. 5mm的橫通孔距離W-I試塊的方形部分 (1)上檢驗面的距離分別為10_、50mm、90mm。
3. 根據權利要求1所述的檢測彎頭內部和內表面缺陷的超聲檢測專用試塊，其特征在 于：所述W-II試塊的方形部分⑴加工的6個用于制作DAC曲線的直徑3.Omm的橫通孔的 排列位置為：距離W-II試塊的1/4圓弧面（2)為50mm處，沿寬度方向加工有一排三個直徑 3.Omm的橫通孔，三個直徑3.Omm的橫通孔距離W-II試塊的方形部分⑴上檢驗面的距離 分別為30mm、70mm、IlOmm;距離遠離W-II試塊的1/4圓弧面（2)的一端50mm處，沿寬度方 向加工有一排四個直徑3.Omm的橫通孔，四個直徑3.Omm的橫通孔距離W-II試塊的方形部 分（1)上檢驗面的距離分別為10_、50mm、90mm、130mm。
4. 根據權利要求1所述的檢測彎頭內部和內表面缺陷的超聲檢測專用試塊，其特征在 于：所述W-I試塊和W-II試塊的材料與所檢材料相同或相近，且無影響檢測質量的缺陷存 在。
5. 根據權利要求1所述的檢測彎頭內部和內表面缺陷的超聲檢測專用試塊，其特征在 于：所述試塊適用于外徑彡219mm、厚度直徑比< 0. 23的三通及彎頭手工A型脈沖反射法 超聲波檢測。
【專利摘要】一種檢測彎頭內部和內表面缺陷的超聲檢測專用試塊，包括對被檢部件壁厚為20mm～50mm的彎頭檢驗采用的W-I試塊以及對被檢部件壁厚為50mm～160mm的彎頭檢驗采用的W-Ⅱ試塊；兩試塊包括方形部分以及設置在方形部分寬邊上半徑為R100mm的1/4圓弧面，方形部分和1/4圓弧面為一體結構，1/4圓弧面與方形部分的上檢驗面平齊；W-I試塊的厚度為40mm、長度350mm、寬度120mm，W-Ⅱ試塊的厚度為40mm、長度350mm、寬度150mm；W-I試塊的方形部分加工有6個直徑1.5mm的橫通孔，W-Ⅱ試塊的方形部分加工有7個直徑3.0mm的橫通孔；應用此試塊對儀器進行調整和校驗后對彎頭進行超聲檢測，缺陷檢出率明顯提高，對缺陷定位和定量準確，檢驗結果真實、可靠。
【IPC分類】G01N29-30
【公開號】CN204479523
【申請號】CN201520148238
【發明人】蔡暉, 殷尊, 李東江, 馬翼超, 秦承鵬, 梅寶
【申請人】西安熱工研究院有限公司
【公開日】2015年7月15日
【申請日】2015年3月16日