一種玻璃表面缺陷檢測裝置的制造方法
【技術領域】
[0001]本實用新型涉及光電檢測技術領域，更具體地說，是涉及一種玻璃表面缺陷檢測
目.0
【背景技術】
[0002]蓋玻片(Cover Glass)作為一種特殊的玻璃，廣泛應用在日常生活中的手機、iPad、手提電腦等電子產品中。每年，在蓋玻片生產、加工、組裝的產線上，蓋玻片數量大，工藝質量要求高。因而其缺陷檢測和質量判定成了一個必不可少的環節。
[0003]蓋玻片的缺陷種類繁多，不易檢測，目前在產線上，蓋玻片的檢測由人工完成，很難發現細微的缺陷，并且檢測精度低。
【實用新型內容】
[0004]為解決以上技術問題，本實用新型的技術方案為提供一種玻璃表面缺陷檢測裝置，該檢測裝置針對電子產品生產、加工、組裝等過程中遇到的蓋玻片質量問題進行檢測，能夠達到蓋玻片在掃描時各種不同缺陷的高效檢測，加強蓋玻片的質量控制，提高產品總體質量。
[0005]本實用新型的技術方案是:
[0006]一種玻璃表面缺陷檢測裝置，包括上檢測成像光路和下檢測成像光路，所述上檢測成像光路包括上亮場照明線光源、暗場照明線光源、上表面掃描成像物鏡、及上線陣圖像傳感器，所述下檢測成像光路包括下亮場照明線光源、背光照明線光源、反射鏡、下表面掃描成像物鏡、及下線陣圖像傳感器。
[0007]進一步地，所述上亮場照明線光源和上表面掃描成像物鏡相對于被測玻璃的法線方向徑向布置。
[0008]進一步地，所述上表面掃描成像物鏡相對于被測玻璃法線方向的徑向方向與所述法線方向之間的夾角小于20度。
[0009]進一步地，所述暗場照明線光源布置在與所述徑向方向之間的夾角大于30度的方向。
[0010]進一步地，所述下亮場照明線光源相對于被測玻璃的法線方向徑向布置。
[0011]進一步地，所述下亮場照明線光源相對于被測玻璃法線方向的徑向方向與所述法線方向之間的夾角小于20度。
[0012]進一步地，所述下亮場照明線光源和所述下表面掃描成像物鏡相對于被測玻璃成鏡像布置。
[0013]本實用新型的有益效果:本實用新型提供的玻璃表面缺陷檢測裝置針對電子產品生產、加工、組裝等過程中遇到的蓋玻片質量問題進行檢測，能夠達到蓋玻片在掃描時各種不同缺陷的高效檢測，加強蓋玻片的質量控制，提高產品總體質量。
【附圖說明】
[0014]為了更清楚地說明本實用新型實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作一簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖是本實用新型的一些實施例，對于本領域普通技術人員來講，在不付出創造性勞動的前提下，還可以根據這些附圖獲得其它的附圖。
[0015]圖1為本實施例的掃描示意圖；
[0016]圖2為本實施例的結構示意圖；
[0017]圖3為本實施例的檢測示意圖。
[0018]附圖標記:1、運動臺，2、被測玻璃，3、暗場照明線光源，4、上亮場照明線光源，5、上表面掃描成像物鏡，6、上線陣圖像傳感器，7、下亮場照明線光源，8、反射鏡，9、下表面掃描成像物鏡，10、下線陣圖像傳感器，11、背光照明線光源。
【具體實施方式】
[0019]為使本實用新型實施例的目的、技術方案和優點更加清楚，下面將結合本實用新型實施例中的附圖，對本實用新型實施例中的技術方案進行清楚、完整地描述，顯然，所描述的實施例是本實用新型一部分實施例，而不是全部的實施例。基于本實用新型中的實施例，本領域普通技術人員在沒有做出創造性勞動前提下所獲得的所有其他實施例，都屬于本實用新型保護的范圍。
[0020]結合圖1、圖2、圖3所示的一種玻璃表面缺陷檢測裝置，包括上檢測成像光路和下檢測成像光路，所述上檢測成像光路包括上亮場照明線光源4、暗場照明線光源3、上表面掃描成像物鏡5、及上線陣圖像傳感器6，所述下檢測成像光路包括下亮場照明線光源7、背光照明線光源11、反射鏡8、下表面掃描成像物鏡9、及下線陣圖像傳感器10。
[0021]本實施例中，所述上亮場照明線光源4和上表面掃描成像物鏡5相對于被測玻璃2的法線方向徑向布置。
[0022]本實施例中，所述上表面掃描成像物鏡5相對于被測玻璃2法線方向的徑向方向與所述法線方向之間的夾角小于20度。
[0023]本實施例中，所述暗場照明線光源3布置在與所述徑向方向之間的夾角大于30度的方向。
[0024]本實施例中，所述下亮場照明線光源7相對于被測玻璃2的法線方向徑向布置。
[0025]本實施例中，所述下亮場照明線光源7相對于被測玻璃2法線方向的徑向方向與所述法線方向之間的夾角小于20度。
[0026]本實施例中，所述下亮場照明線光源7和所述下表面掃描成像物鏡9相對于被測玻璃2成鏡像布置。
[0027]本實施例中，兩條成像光路，分別對被測對象的上下兩個表面的缺陷進行檢測，上檢測成像光路包括上亮場照明線光源4、暗場照明線光源3、上表面掃描成像物鏡5、及上線陣圖像傳感器6，線光源和上線陣傳感器的線方向和掃描方向垂直布置，下檢測成像光路包括下亮場照明線光源7、背光照明線光源11、反射鏡8、下表面掃描成像物鏡9、及下線陣圖像傳感器10，線光源和下線陣傳感器的線方向和掃描方向垂直布置(掃描方向如圖1所示)°
[0028]本實用新型通過線陣圖像傳感器掃描成像，分別采用正光源、背光源、亮場、暗場等多種角度和照明方式來獲取蓋玻片的外觀圖像，在滿足檢測精度的同時，針對蓋玻片正面、背面同時進行準確檢測，然后由智能系統統計分析其表面的缺陷信息，并匯總輸出。
[0029]本實用新型用亮場照明可獲得大尺寸缺陷的信息，用暗場照明可獲得細小缺陷的信息，用背光照明可獲得蓋玻片的幾何尺寸信息，在對各種照明的圖像進行精準對位后，可以融合這些圖像，取得特征向量，進行更準確的缺陷分類。
[0030]一般缺陷有很多，但基本都是由點缺陷和線缺陷組成，如凹凸點缺陷與劃痕缺陷等，這些缺陷的大小由幾微米到幾百微米不等，而由于檢測視場較大，通常所用鏡頭的分辨率為十幾個微米以上，即在明場照明的情況下，檢測缺陷大于鏡頭分辨率能呈現出來，形成明亮背景上的較暗的缺陷圖像，但低于鏡頭分辨率(微米級)的缺陷就無法檢測，但在暗場強光照明的情況下，入射光受到小顆粒的散射，散射角度較大，一部分散射光被鏡頭捕獲形成圖像，而沒有缺陷的地方就沒有圖像，這樣形成暗背景上較亮的缺陷圖像，實現小缺陷的檢測(如圖3所示)。
[0031]以上所述僅為本實用新型的較佳實施例，并不用以限制本實用新型，凡在本實用新型的精神和原則之內，所作的任何修改、等同替換等，均應包含在本實用新型的保護范圍之內。
【主權項】
1.一種玻璃表面缺陷檢測裝置，其特征在于，包括上檢測成像光路和下檢測成像光路，所述上檢測成像光路包括上亮場照明線光源、暗場照明線光源、上表面掃描成像物鏡、及上線陣圖像傳感器，所述下檢測成像光路包括下亮場照明線光源、背光照明線光源、反射鏡、下表面掃描成像物鏡、及下線陣圖像傳感器。
2.如權利要求1所述的玻璃表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述上亮場照明線光源和上表面掃描成像物鏡相對于被測玻璃的法線方向徑向布置。
3.如權利要求2所述的玻璃表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述上表面掃描成像物鏡相對于被測玻璃法線方向的徑向方向與所述法線方向之間的夾角小于20度。
4.如權利要求3所述的玻璃表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述暗場照明線光源布置在與所述徑向方向之間的夾角大于30度的方向。
5.如權利要求1所述的玻璃表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述下亮場照明線光源相對于被測玻璃的法線方向徑向布置。
6.如權利要求5所述的玻璃表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述下亮場照明線光源相對于被測玻璃法線方向的徑向方向與所述法線方向之間的夾角小于20度。
7.如權利要求6所述的玻璃表面缺陷檢測裝置，其特征在于，所述下亮場照明線光源和所述下表面掃描成像物鏡相對于被測玻璃成鏡像布置。
【專利摘要】本實用新型公開了一種玻璃表面缺陷檢測裝置，包括上檢測成像光路和下檢測成像光路，所述上檢測成像光路包括上亮場照明線光源、暗場照明線光源、上表面掃描成像物鏡、及上線陣圖像傳感器，所述下檢測成像光路包括下亮場照明線光源、背光照明線光源、反射鏡、下表面掃描成像物鏡、及下線陣圖像傳感器。本實用新型提供的玻璃表面缺陷檢測裝置針對電子產品生產、加工、組裝等過程中遇到的蓋玻片質量問題進行檢測，能夠達到蓋玻片在掃描時各種不同缺陷的高效檢測，加強蓋玻片的質量控制，提高產品總體質量。
【IPC分類】G01N21-958
【公開號】CN204359710
【申請號】CN201420845881
【發明人】伍祥辰, 張國棟, 張沖, 諶家喜
【申請人】武漢中導光電設備有限公司
【公開日】2015年5月27日
【申請日】2014年12月29日