廣角鏡頭畸變測試裝置的制造方法
【技術(shù)領(lǐng)域】
[0001] 本實(shí)用新型屬光電測試領(lǐng)域，涉及一種廣角鏡頭畸變測試裝置。
【背景技術(shù)】
[0002] 目前，光學(xué)鏡頭畸變測試的常用裝置采用平行光管、高精度轉(zhuǎn)臺(tái)、CCD顯微測量系 統(tǒng)組成；通過在平行光管的焦面安裝星點(diǎn)板提供點(diǎn)目標(biāo)，在不同視場下，對CCD采集星點(diǎn)的 質(zhì)心進(jìn)行研判，結(jié)合高精度的位移臺(tái)或激光干涉測長儀給定不同視場下的線量；不同視場 的角度值由高精度轉(zhuǎn)臺(tái)給定，由精密測角法得到不同視場下的焦距值，由全視場畸變最小 擬合得到理想焦距，最終得到不同視場理想像高和實(shí)際像高的差異，即畸變。
[0003] 該方法在廣角鏡頭畸變測試過程中，由于廣角鏡頭自身的特點(diǎn)：視場大、中心視場 畸變小、畸變變化較緩；軸外視場畸變大、畸變變化較快，軸外視場彗差、象散較為嚴(yán)重，需 要特別考慮：
[0004] 1)畸變的測試是通過離散采集不同視場下的角度、對應(yīng)角度下的線量；畸變是通 過離散采樣得到的，傳統(tǒng)畸變測試過程中，對于測試間隔、測試點(diǎn)的選取是根據(jù)經(jīng)驗(yàn)、等間 隔選取。廣角鏡頭視場較大，軸上視場畸變變化較緩，軸外視場畸變局部變化較快。由采樣 定理可知，對于畸變變化較快的區(qū)域，測試間隔要小，測試點(diǎn)要多；對于畸變變化較緩的區(qū) 域，可適當(dāng)增大測試間隔，減少測試點(diǎn)，尤其是對于畸變變化較緩的區(qū)域中心視場附近，由 于角量和對應(yīng)的線量都較小，故測試誤差較大，減少測試點(diǎn)可減少由于采樣帶來的測試誤 差。合理的采樣方案是廣角鏡頭畸變測試的關(guān)鍵。
[0005] 2)畸變是垂軸像差，它只改變軸外物點(diǎn)在理想像面上的成像位置，使像的形狀產(chǎn) 生失真，但不會(huì)改變光學(xué)系統(tǒng)的成像質(zhì)量，故畸變不會(huì)引起星點(diǎn)能量分布的變化。傳統(tǒng)的 星點(diǎn)質(zhì)心研判是求不同視場下星點(diǎn)能量分布中心在CCD靶面的位移，結(jié)合高精度的位移臺(tái) 或激光干涉測長儀給定不同視場下的線量；而慧差、象散等像差會(huì)引起星點(diǎn)能量分布的變 化，故在畸變測試過程中，若采用星點(diǎn)質(zhì)心研判時(shí)，應(yīng)考慮慧差、象散等像差對畸變測試的 影響。
[0006] 由于廣角鏡頭軸外像差較大，采用星點(diǎn)質(zhì)心研判是求星點(diǎn)能量分布的中心，會(huì)將 慧差、象散等其他像差的影響帶入到畸變測試中。 【實(shí)用新型內(nèi)容】
[0007] 為了解決【背景技術(shù)】中存在的上述技術(shù)問題，本實(shí)用新型提供了一種可提高測試效 率以及測試精度的廣角鏡頭畸變測試裝置。
[0008] 本實(shí)用新型的技術(shù)解決方案是：本實(shí)用新型提供了一種廣角鏡頭畸變測試裝置， 包括目標(biāo)靶板，其特殊之處在于：所述目標(biāo)靶板是環(huán)形靶。
[0009] 上述環(huán)形革巴包括內(nèi)圓以及與內(nèi)圓同心的外圓；所述內(nèi)圓與外圓的半徑差由廣角鏡 頭的焦距、平行光管的焦距、CCD顯微測量系統(tǒng)的物鏡放大倍率以及CCD顯微測量系統(tǒng)的 CCD像元尺寸確定；所述環(huán)形靶內(nèi)圓與外圓之間形成透光區(qū)域；所述透光區(qū)域在CCD上所成 的像在環(huán)形靶半徑方向占3?5個(gè)像元；所述環(huán)形靶的內(nèi)圓在CCD上所成的像在半徑方向 占30?50個(gè)像元。
[0010] 上述內(nèi)圓與外圓的半徑差的確定方式是：
[0011]
【主權(quán)項(xiàng)】
1. 一種廣角鏡頭崎變測試裝置，包括目標(biāo)祀板，其特征在于：所述目標(biāo)祀板是環(huán)形祀； 所述環(huán)形祀包括內(nèi)圓W及與內(nèi)圓同屯、的外圓；所述內(nèi)圓與外圓的半徑差由廣角鏡頭 的焦距、平行光管的焦距、CCD顯微測量系統(tǒng)的物鏡放大倍率W及CCD顯微測量系統(tǒng)的CCD 像元尺寸確定；所述環(huán)形祀內(nèi)圓與外圓之間形成透光區(qū)域；所述透光區(qū)域在CCD上所成的 像在環(huán)形祀半徑方向占3?5個(gè)像元；所述環(huán)形祀的內(nèi)圓在CCD上所成的像在半徑方向占 30?50個(gè)像元。
2. 根據(jù)權(quán)利要求1所述的廣角鏡頭崎變測試裝置，其特征在于；所述內(nèi)圓與外圓的半 徑差的確定方式是：
其中： flEST是廣角鏡頭的焦距； fw是平行光管的焦距； W是CCD顯微測量系統(tǒng)的物鏡放大倍率； 屯n是CCD顯微測量系統(tǒng)的CCD像元尺寸； A d是環(huán)形祀的外圓和內(nèi)圓的半徑差。
【專利摘要】一種廣角鏡頭畸變測試裝置，包括目標(biāo)靶板，該目標(biāo)靶板是環(huán)形靶；環(huán)形靶包括內(nèi)圓以及與內(nèi)圓同心的外圓；內(nèi)圓與外圓的半徑差由廣角鏡頭的焦距、平行光管的焦距、CCD顯微測量系統(tǒng)的物鏡放大倍率以及CCD顯微測量系統(tǒng)的CCD像元尺寸確定；環(huán)形靶內(nèi)圓與外圓之間形成透光區(qū)域；透光區(qū)域在CCD上所成的像在環(huán)形靶半徑方向占3～5個(gè)像元；環(huán)形靶的內(nèi)圓在CCD上所成的像在半徑方向占30～50個(gè)像元。本實(shí)用新型提供了一種可提高測試效率以及測試精度的廣角鏡頭畸變測試裝置。
【IPC分類】G01M11-02
【公開號】CN204314054
【申請?zhí)枴緾N201420774294
【發(fā)明人】李坤, 陳永權(quán), 趙建科, 段亞軒, 龍江波, 曹昆
【申請人】中國科學(xué)院西安光學(xué)精密機(jī)械研究所
【公開日】2015年5月6日
【申請日】2014年12月9日